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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第424位 38件
(2024年:第544位 52件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第492位 28件
(2024年:第428位 66件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7701195 | プローブユニットの補正方法 | 2025年 7月 1日 | |
特許 7689866 | 顕微鏡ユニット | 2025年 6月 9日 | |
特許 7689894 | マルチポイント自動合焦を用いて光学アセンブリ部の光軸をワークピース表面に対して垂直に位置合わせするシステム及び方法 | 2025年 6月 9日 | |
特許 7684658 | 形状復元方法及び画像測定装置 | 2025年 5月28日 | |
特許 7674090 | レンジ及びスタンドオフ距離を調整可能なCPS光学ペン | 2025年 5月 9日 | |
特許 7672772 | 位置検出システム、位置検出方法及び三次元形状測定システム | 2025年 5月 8日 | |
特許 7665265 | 光学式プローブ及び形状測定装置 | 2025年 4月21日 | |
特許 7665463 | 座標測定装置用点検ゲージ及び異常判定方法 | 2025年 4月21日 | |
特許 7664719 | 位置測定装置 | 2025年 4月18日 | |
特許 7664767 | ワークピース画像の監視を含むワークピース検査及び欠陥検出システム | 2025年 4月18日 | |
特許 7660041 | 測定装置および穴位置検出方法 | 2025年 4月10日 | |
特許 7658756 | 一次元測定機および一次元測定機の制御プログラム | 2025年 4月 8日 | |
特許 7656442 | 画像プローブ | 2025年 4月 3日 | |
特許 7654453 | 測定装置および測定方法 | 2025年 4月 1日 | |
特許 7654490 | 位置制御機構 | 2025年 4月 1日 |
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7701195 7689866 7689894 7684658 7674090 7672772 7665265 7665463 7664719 7664767 7660041 7658756 7656442 7654453 7654490
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