特許 7604119 試験測定装置及び被試験材料特性測定方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2024-12-13

(45)【発行日】2024-12-23

(54)【発明の名称】試験測定装置及び被試験材料特性測定方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 22/00 20060101AFI20241216BHJP

【ＦＩ】

G01N22/00 S

G01N22/00 X

G01N22/00 V

【請求項の数】 6

(21)【出願番号】P 2020100990

(22)【出願日】2020-06-10

(65)【公開番号】P2020201264

(43)【公開日】2020-12-17

【審査請求日】2023-05-17

(31)【優先権主張番号】62/859,650

(32)【優先日】2019-06-10

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】16/892,071

(32)【優先日】2020-06-03

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(73)【特許権者】

【識別番号】391002340

【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド

【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．

(74)【代理人】

【識別番号】100090033

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 博司

(74)【代理人】

【識別番号】100093045

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 良男

(74)【代理人】

【識別番号】110001209

【氏名又は名称】特許業務法人山口国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】アレクサンダー・クラウスカ

【審査官】比嘉 翔一

(56)【参考文献】

【文献】特開２００９－２２４４１４（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１６／０１８７２６６（ＵＳ，Ａ１）

【文献】米国特許出願公開第２０１５／０３５５１０９（ＵＳ，Ａ１）

【文献】米国特許第０５６９１４７４（ＵＳ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ２２／００－Ｇ０１Ｎ２２／０４

ＪＳＴＰｌｕｓ／ＪＭＥＤＰｌｕｓ／ＪＳＴ７５８０（ＪＤｒｅａｍ３）

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

反射コンポーネント及び吸収コンポーネントを有し、被試験材料の第１面と接触するように構成される基準ユニットと、
上記被試験材料の上記第１面と反対側の第２面と接触するように構成される計測器と
を具え、
上記計測器が、
上記被試験材料を通して上記基準ユニットの上記吸収コンポーネントに向けて所定周波数の第１ミリ波信号を出力するように構成された第１送信機と、
上記被試験材料からの第１反射信号を受信するように構成された第１受信機と
上記被試験材料を通して上記基準ユニットの上記反射コンポーネントに向けて上記所定周波数の第２ミリ波信号を出力するように構成された第２送信機と、
上記反射コンポーネントからの第２反射信号を受信するように構成された第２受信機と
を有する試験測定装置。

【請求項2】

上記計測器は、上記第１ミリ波信号、上記第２ミリ波信号、上記第１反射信号及び上記第２反射信号に基づいて、上記被試験材料が所定要件を満たしているかどうかを判定するよう構成されるプロセッサを更に有する請求項１の試験測定装置。

【請求項3】

上記プロセッサは、上記第１反射信号に基づいて、上記被試験材料が反射基準に合格したかどうかを判定する更に構成される請求項２の試験測定装置。

【請求項4】

上記プロセッサは、上記第２反射信号に基づいて、上記被試験材料が透過基準に合格したかどうかを判定するように更に構成される請求項２又は３の試験測定装置。

【請求項5】

反射コンポーネント及び吸収コンポーネントを有し、被試験材料の第１面と接触するように構成される基準ユニットと、上記被試験材料の上記第１面と反対側の第２面と接触するように構成される計測器とを有する試験測定装置を用いて上記被試験材料の特性を測定する方法であって、
上記計測器の第１送信器が、上記被試験材料を通して上記基準ユニットの上記吸収コンポーネントに向かって所定周波数の第１ミリ波信号を送信する処理と、
上記計測器の第１受信器が、上記第１ミリ波信号の送信に応答して第１応答信号を受信する処理と、
上記計測器の第２送信器が、上記被試験材料を通して上記基準ユニットの上記反射コンポーネントに向かって上記所定周波数の第２ミリ波信号を送信する処理と、
上記計測器の第２受信器が、上記第２ミリ波信号の送信に応答して第２応答信号を受信する処理と、
上記計測器が、上記第１応答信号及び上記第２応答信号に基づいて、上記被試験材料の透過率、反射率又は挿入損失を求める処理と
を具える被試験材料特性測定方法。

【請求項6】

上記第１送信器が、上記被試験材料なしで、上記吸収コンポーネントに向かって所定周波数の上記第１ミリ波信号を送信する処理と、
上記第１受信器が、上記第１ミリ波信号の送信に応答して第３応答信号を受信する処理と、
上記第２送信器が、上記被試験材料なしで、上記反射コンポーネントに向かって上記所定周波数の上記第２ミリ波信号を送信する処理と、
上記第２受信器が、上記第２ミリ波信号の送信に応答して第４応答信号を受信する処理と
を有する校正処理を更に具える請求項５の被試験材料特性測定方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、被試験材料のレーダーに対する特性を測定する装置及び方法に関し、特に、被試験材料のレーダーの透過率や反射率を測定するミリ波材料試験装置及び方法に関する。

【背景技術】

【0002】

現在、多くの車両が、自動緊急ブレーキや車線変更アシストなどの高度運転支援システム（ADAS：advanced driver assistance systems）を有している。これらの高度運転支援システムには、多くの場合、レーダーを使用して他の車両又は他の物体が存在するかどうかを検出し、例えば、必要に応じて、車両を減速させる機能がある。レーダーは、電波を放射し、放射した対象物の表面からの電波の反射を受け取って、対象物の範囲、角度、相対速度を決定するために使用される。従来、多くのレーダー・システムは２４ＧＨｚ帯の周波数を使用してきたが、多くの新しい車両は７７ＧＨｚ帯の周波数を使用している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２００９－２２４４１４号公報

【非特許文献】

【0004】

【文献】「コーナーキューブ」の記事、Wikipedia（日本語版）、［オンライン］、［２０２０年６月８日検索］、インターネット<https://ja.wikipedia.org/wiki/コーナーキューブ>

【文献】「金型の抜き勾配」、ものづくりウェブ、［online］、［２０２０年６月８日検索］、インターネット<https://d-engineer.com/mold/nukikoubai.html>

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

車両の様々なコンポーネントは、レーダーの放射周波数と相互作用したり、レーダーの放射周波数をブロックしたりすることがある。このため、レーダー・システムが、これらの望ましい帯域の周波数で適切にレーダーを放射し、受信できるか、車両の様々なコンポーネントについて確認する試験を行う必要がある。従来、これらを試験するために、同軸ケーブル・システムが使用されている。しかし、７７ＧＨｚ帯の周波数を処理できる同軸ケーブルは、多くの場合、非常に高価で壊れやすい。

【0006】

本発明の実施形態は、これら及び他の従来技術の欠陥に対処する。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明は、被試験材料のレーダーに関する特性を測定できる小型で堅牢なミリ波の試験測定装置を提供する。試験測定装置には、計測器と基準ユニットがあり、試験材料を試験する際には、これらの間に被試験材料を挟んで使用する。基準ユニットには、被試験材料との接触面上に吸収コンポーネントと反射コンポーネントがある。基準ユニットは、被試験材料の第１面で被試験材料と接触する。計測器は、被試験材料の第１面の裏の第２面で被試験材料と接触する。

【0008】

計測器には、被試験材料の第２面と接触する接触面上に、レーダー信号の第１送信機及び第１受信機と、第２送信機及び第２受信機とを有する送受信面がある。第１送信機は、被試験材料を通して基準ユニットの吸収コンポーネントに向けて、所定周波数の第１レーダー信号を出力する。第１受信機は、被試験材料からの第１反射信号を受信する。このとき、吸収コンポーネントは、レーダー信号を吸収するので、第１レーダー信号を反射しない。よって、第１反射信号は、被試験材料からのものとなる。第２送信機は、被試験材料を通して基準ユニットの反射コンポーネントに向けて、所定周波数の第２レーダー信号を出力する。第２受信機は、反射コンポーネント及び被試験材料からの第２反射信号を受信する。反射コンポーネントには、例えば、コーナーキューブを用いても良く、これは、信号が入射された方向に向けて、信号を反射する（非特許文献１参照）。計測器は、第１及び第２反射信号に基づいて、被試験材料のレーダー信号に関する透過率、反射率、挿入損失等を求める。これらの結果は、表示部を通してユーザに表示されても良い。このとき、シンプルに、透過率、反射率、挿入損失等に関する基準に合格しているか否かだけを表示しても良い。

【0009】

計測器の被試験材料との接触面と、基準ユニットの被試験材料との接触面には、吸収コンポーネントと第１送機及び第１受信機の位置関係、反射コンポーネントと第２送信機及び第２受信機の位置関係が適切な位置関係となるようアライメントするアライメント機構を設けても良い。

【0010】

また、測定を開始する前に、被試験材料なしで、計測器の接触面と、基準ユニットの接触面とを接触させた状態にして、校正処理（例えば、計測器の目盛り（透過率、反射率、挿入損失等）をゼロにする処理）を行っても良い。また、被試験材料がない状態で、反射コンポーネントへ向けてレーダー信号を放射し、それに応じた反射信号を記録しておいても良く、被試験材料がある状態とない状態における反射信号の差異によって、被試験材料の特性を評価するようにしても良い。

【0011】

本発明の実施形態の態様、特徴及び効果は、図面を参照した以下の説明から明らかとなろう。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】図１は、本発明のいくつかの実施形態によるミリ波材料試験装置の例の図である。

【図2】図２は、被試験材料を試験するのに使用されている状態の図１のミリ波材料試験装置の例を示す。

【図3】図３は、図１のミリ波材料試験装置の接触面のブロック図である。

【図4】図４は、図１のミリ波材料試験装置の基準ユニットの接触面のブロック図である。

【図5】図５は、図１のミリ波材料試験装置の動作を示すフローチャートの例である。

【発明を実施するための形態】

【0013】

本願は、ミリ波（millimeter waves）材料試験装置を開示し、これは、手で持ち運びできるサイズ（ハンドヘルド）であり、自動車製造及び自動車修理の支援などに利用できる。ミリ波材料試験装置は、これらに限定するものではないが、例えば、塗料、コーティング、バンパー、ドア・パネルなどの材料を、レーダーの透過率、反射率、挿入損失等に関して試験ができる。ミリ波材料試験装置は、被試験材料について、レーダー信号が被試験材料を充分に通過するか、被試験材料から反射されるか等を確認するのに利用できる。

【0014】

図１は、本発明のいくつかの実施形態によるミリ波材料試験装置１００の例を示す。ミリ波材料試験装置１００には、計測器１０２と基準ユニット１０４があっても良い。計測器１０２には、試験の状態に関する情報をユーザに出力する表示部１０６があっても良い。ミリ波材料試験装置１００は、軽くてハンドヘルドな装置であり、レーダー・システム（特に自動車レーダー・システム）を適切に動作させる上で、材料がレーダーを適切に透過させることができるか確認するのに、材料を迅速に試験できる。いくつかの実施形態では、ミリ波材料試験装置１００が、バッテリ駆動であってもよい。

【0015】

また、ミリ波材料試験装置１００には、１つ以上のユーザ入力部があっても良く、これには、例えば、試験を実行するボタン１０８と、校正を実行するボタン１１０とがあっても良い。ただし、１つ以上のユーザ入力部は、図１に示すボタン１０８及び１１０に限定されず、限定するものではないが、例えば、スイッチ、ジョイスティック、タッチスクリーン、キーボードなど任意の入力装置があっても良い。

【0016】

また、計測器１０２は、被試験材料の第２面との接触面上の一部分が、レーダー信号の送受信面（transmitter and receiver surface）１１２となっており、基準ユニット１０４の対応する面４００（図１に示さず）や被試験材料と相互作用する。当業者であれば理解できるように、計測器１０２には、更に、限定するものではないが、１つ以上のプロセッサ、記憶媒体、通信インタフェース、電源など、多数のハードウェア・コンポーネントがあっても良い。

【0017】

図２は、材料２００を試験するのに使用されている状態のミリ波材料試験装置１００を示す。材料２００は、計測器１０２と基準ユニット１０４との間に配置される。以下で詳しく説明するように、計測器１０２の送受信面１１２と基準ユニット１０４の対応する面４００には、材料２００を介して計測器１０２と基準ユニット１０４を互いに位置合わせするアライメント機構がある。アライメント機構は、後述する吸収コンポーネント４０４と第１送信機及び第１受信機の位置関係、反射コンポーネント４０６と第２送信機及び第２受信機の位置関係が適切な位置関係となるようにアライメント（位置合わせ）を行う。アライメント機構としては、例えば、送受信面１１２と基準ユニット１０４の接触面４００との間に、対応する磁石、対応するピン及び穴、その他の何らかの位置合わせ機構があっても良い。

【0018】

ユーザは、試験実行ボタン１０８等を選択して、計測器１０２と基準ユニット１０２との間の材料２００を試験するように指示できる。以下でより詳細に説明するように、試験の結果に基づいて、表示部１０６が、ユーザに関連情報を表示できる。例えば、図２に示すように、表示部１０６は、被試験材料２００が透過試験及び反射試験に合格したか否かを出力しても良い。この例では、表示部１０６は、単純に材料２００が合格したか又は不合格かだけを出力しているが、本発明の実施形態は、こうした要約の出力に限定されず、材料の透過性、反射性、挿入損失等をグラフで表すなど、より多くの情報を提供してもよい。

【0019】

図３は、本発明のいくつかの実施形態による計測器１０２の送受信面１１２の例を示す。送受信面１１２には、第１及び第２トランスデューサ（transducer：送受信機）ペア３０５及び３０７がある。これら２つのトランスデューサ・ペアの夫々は、送信機ペア（２つの送信機）３０２と受信機ペア（２つの受信機）３０４から構成される。各トランスデューサ・ペアは、別々にアクティブ状態（能動状態）にできる。プリント回路基板でも良い送受信面１１２上に受信サイド及び送信サイドを配置でき、このため、一般的なアンテナのように、表面波の結合（送受信面１１２における伝播）は、正味ゼロであり、送受信面１１２と直交する信号に対して主に感度が良い。

【0020】

回路３０６は、送受信面１１２の端に位置する。回路３０６は、送受信面１１２上の保護パネルの下にあっても良い。回路３０６には、例えば、周波数変調（ＦＭ）連続波（ＣＷ）チャープ・レーダー集積回路があっても良く、これは、複数の入出力チャンネルをサポートしても良い。送信機３０２及び受信機３０４のアンテナは、送受信面１１２の表面に直接印刷しても良い。

【0021】

また、送受信面１１２には、アライメント機構がある。アライメント機構は、送受信面１１２が、基準ユニット１０４の対応する面４００と確実に位置合わせできるようにする。図３に示す実施形態では、送受信面１１２に多数の様々な磁石３０８（Ｎ極性又はＳ極性）があり、これらが、基準ユニット１０４内の反対極性の対応する磁石と、磁力で引き合うようになっている。このため、磁力によって、送受信面１１２と基準ユニット１０４の対応する面４００が自動で適切に位置合わせされる。

【0022】

図４は、基準ユニット１０４の面４００の例を示す。面４００は、被試験材料２００の第１面と接触する接触面でもある。基準ユニット１０４の面４００には、計測器１０２の送受信面１１２を基準ユニット１０４の面４００に位置合わせする対応するアライメント機構がある。図４では、アライメント機構には、送受信面１１２上の磁石に対して反対極性の対応する磁石４０２がある。これによって、後述する吸収コンポーネント４０４と送受信面１１２の第１送信機及び第１受信機（のアンテナ）の位置関係、反射コンポーネント４０６と送受信面１１２の第２送信機及び第２受信機（のアンテナ）の位置関係が適切な関係に位置合わせされる。

【0023】

面４００には、吸収（又は無反射）コンポーネント４０４と反射コンポーネント４０６もある。吸収コンポーネント４０４は、送信されたレーダーを吸収して、計測器１０２が材料２００から直接反射している信号を決定できるようにする。反射コンポーネント４０６は、計測器１０２に信号を反射して、被試験材料がどの程度うまく信号を通過させるかを計測器１０２が決定できるようにする。

【0024】

吸収コンポーネント４０４は、送信信号を吸収する任意のコンポーネント又は面であっても良く、また、反射コンポーネント４０６は、信号を反射する任意のコンポーネント又は面であっても良い。いくつかの実施形態において、反射コンポーネント４０６は、コーナーキューブであって、これは、相互に垂直に組み合わせた３つの平坦な面から構成されるレトロリフレクタ（retroreflector：再帰反射器）であり、信号が来た信号源の方向へ信号を反射する。コーナーキューブは、角度や配置に関係なく、非接触で反射率の高い区画が必要な状況に効果的である。コーナーキューブを使用すると、入射信号がアルミニウム、銀、銅などの高反射率材料の複数の面で反射され、配置にずれがある場合でも、信号源に直接戻ることができる（非特許文献１参照）。アルミニウムのような酸化被覆のある金属表面は、酸化物の形態が低損失であり、酸化被覆の下の反射するアルミニウムへの透過性が高いので、反射が良好に機能する。

【0025】

コーナーキューブは、金属で成形（鋳造）して、次いでめっきしても良いし、実施形態によっては、コーナーキューブをプラスチックで作り、次いでめっきしてもよい。コーナーキューブの露出領域は、表面全体に誘電体膜を取り付けて覆っても良いし、表面を保護処理しても良いし、自然に酸化させても良い。成形部品であるために、コーナーキューブは比較的低コストで入手可能であり、基準ユニット１０４の外側の端又は後方には、反射コンポーネント４０６を成形するコストを削減するために、大きな抜き勾配（draft angle：金型から成形品をスムーズに離型させるための勾配；非特許文献２参照）又は空洞を設けても良い。

【0026】

いくつかの実施形態では、面１１２及び４００の両方が、滑らかで摩耗を防止するようになっており、被試験材料に傷を付けることなく、被試験材料に沿って、計測器１０２及び基準ユニット１０４をスライドさせることが可能となっている。このため、例えば、１つの被試験材料（例えば、自動車のバンパーなど）の様々な部分を試験でき、更には、小型であることから、自動車本体に固定されてしまった部材であっても、場合によっては、被試験材料を移動させるのでなく、計測器１０２及び基準ユニット１０４の方を移動させて試験が行える。

【0027】

図５は、本発明のいくつかの実施形態によるミリ波材試験装置１００の動作例を示すフローチャートである。最初に、オプションの工程５００において、ユーザは、計測器１０２の校正を行なっても良い。これを行うために、ユーザは、基準ユニット１０４を計測器１０２上に直接配置して、計測器１０２と基準ユニット１０４の両方のアライメント機構で、計測器の送受信面１１２を、基準ユニットの面４００に位置合わせしても良い。次いで、ユーザは、ボタン１１０を選択して、計測器１０２を校正する（例えば、透過率、反射率、挿入損失等をゼロに合わせる）。

【0028】

工程５０２では、上述した材料２００のような被試験材料が、計測器１０２と基準ユニット１０４との間に配置される。材料２００は、例えば、車のフェンダー・パネル又はドア・パネルであってもよい。材料が大きい場合もあるので、面１１２及び４００のアライメント機構によって、計測器１０２と基準ユニット１０４が確実にアライメントできるようにして、材料の正確な測定を行えるようにする。

【0029】

工程５０４では、被試験材料の試験実行の入力を計測器１０２から受ける。材料の試験実行の入力を受けると、工程５０６において、第１トランスデューサ・ペア３０５の送信機３０２が、所定周波数の信号を出力し、対応する受信機３０４が戻ってくる信号（リターン信号）を測定しても良い。工程５０８では、第２トランスデューサ・ペア３０７の送信機３０２が、所定周波数の信号を出力し、対応する受信機３０４がリターン信号を測定しても良い。上述したように、１つ目の送信信号は、吸収コンポーネント４０４に向けて出力され、そのために、対応する受信機３０４によって測定されたリターン信号は、全信号が材料２００から反射されたものである。所定周波数で送信されるもう一方の信号は、反射コンポーネント４０６に向かって出力されるので、対応する受信機３０４で測定されたリターン信号は、反射コンポーネント４０６からの反射信号に、材料２００で反射された全信号を加えたものである。いくつかの実施形態では、所定の周波数は変更可能である。いくつかの実施形態では、計測器１０２が、複数の離散的な所定周波数で試験信号を送信及び測定できる。いくつかの実施形態では、計測器１０２は、所定の周波数範囲全体にわたって周波数掃引（周波数を連続的に変化させる）してもよい。

【0030】

工程５１０では、２つのリターン信号を用いて、計測器１０２内のプロセッサが、材料２００が所定の周波数で信号を適切に通過させるか否かを判断しても良い。いくつかの実施形態では、計測器１０２内のプロセッサが、材料の挿入損失を求め、また、挿入損失が許容範囲内にあるかどうかを判定しても良い。挿入損失は、送信信号及び受信信号に基づく任意の既知方法を用いて求められる。プロセッサは、図２に示すように、合格／不合格の結果を出力するか、又は、プロセッサが送信信号の周波数に対する受信信号の応答をグラフで表示するなど、より詳細な結果を出力しても良い。所定周波数は、ユーザによって選択されても良いし、計測器１０２内のメモリに記憶されていても良い。図５に示す動作によれば、本発明によるミリ波材料試験装置１００は、塗料、コーティング、バンパー、ドア・パネルなどの材料を、レーダーの透過率や反射率などに関して試験し、材料がレーダー・システムを動作させるのに必要なレーダーを通過させるか否か（障害を発生させないか）等を迅速に出力できる。

【0031】

基準ユニット１０４と計測器１０２は、材料２００から分離でき、材料の別の部分を試験するために、材料２００に対して横に滑らせて移動させたりできる。また、磁石やピンとホール機構などのアライメント機構により、基準ユニット１０４と計測器１０２を、材料２００の次の読み取りのために確実にアライメント（位置合わせ）できる。本体が小型なこともあり、例えば、被試験材料が既に自動車本体に固定されているなど、移動させることが困難な状況であっても、状況によっては、試験を実施できる。

【0032】

本発明の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本発明の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本発明の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

【0033】

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含むことができる。

【0034】

コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。

【0035】

通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。

【0036】

実施例
以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

【0037】

実施例１は、試験測定装置であって、
反射コンポーネント及び吸収コンポーネントを有し、被試験材料の第１面と接触するように構成される接触面を有する基準ユニットと、
上記被試験材料の上記第１面と反対側の第２面と接触するように構成される接触面を有する計測器と
を具え、
上記計測器が、
上記被試験材料を通して上記基準ユニットの上記吸収コンポーネントに向けて所定周波数の第１信号を出力するように構成された第１送信機と、
上記被試験材料からの第１反射信号を受信するように構成された第１受信機と
上記被試験材料を通して上記基準ユニットの上記反射コンポーネントに向けて上記所定周波数の第２信号を出力するように構成された第２送信機と、
上記反射コンポーネントからの第２反射信号を受信するように構成された第２受信機と、
を有している。

【0038】

実施例２は、実施例１の試験測定装置であって、上記計測器は、上記第１信号、上記第２信号、上記第１反射信号及び上記第２反射信号に基づいて、上記被試験材料が所定の要件を満たしているかどうかを判定するよう構成されるプロセッサを更に有する。

【0039】

実施例３は、実施例２の試験測定装置であって、上記プロセッサは、上記第１反射信号に基づいて上記被試験材料が反射基準に合格したかどうかを判定し、上記第２反射信号に基づいて上記被試験材料が透過基準に合格したかどうかを判定するように更に構成される。

【0040】

実施例４は、実施例２又は３の試験測定装置であって、上記計測器は、上記被試験材料が所定の要件を満たすかどうかの判定結果を出力するよう構成された表示部を更に有している。

【0041】

実施例５は、実施例１から４のいずれかの試験測定装置であって、上記第１送信機及び上記第１受信機と上記吸収コンポーネントとを対応する位置関係にすると共に、上記第２送信機及び上記第２受信機と上記反射コンポーネントとを対応する位置関係にするために、上記基準ユニットの上記接触面を上記計測器の上記接触面とアライメントするように構成されたアライメント機構を更に具えている。

【0042】

実施例６は、実施例５の試験測定装置であって、上記アライメント機構は、上記基準ユニットの上記接触面上の磁石と、上記計測器の上記接触面上の対応する磁石とを有する。

【0043】

実施例７は、実施例１から６のいずれかの試験測定装置であって、上記基準ユニットは、校正動作中に、上記計測器と直接接触するよう更に構成される。

【0044】

実施例８は、実施例７の試験測定装置であって、上記計測器は、上記校正動作を開始するための入力手段を有する。

【0045】

実施例９は、実施例１から８のいずれかの試験測定装置であって、上記第１送信機と上記第１受信機は、２つの第１送信機と２つの第１受信機を有する第１トランスデューサ・ペアである。

【0046】

実施例１０は、実施例９の試験測定装置であって、上記第２送信機と上記第２受信機は、２つの第２送信機と２つの第２受信機を有する第２トランスデューサ・ペアである。

【0047】

実施例１１は、実施例１から１０のいずれかの試験測定装置であって、上記所定周波数は、レーダー・システムの出力信号に関する周波数である。

【0048】

実施例１２は、実施例１から１１のいずれかの試験測定装置であって、上記試験測定装置はハンドヘルドである。

【0049】

実施例１３は、被試験材料の特性を測定する方法であって、
被試験材料を通して吸収コンポーネントに向かって所定周波数の第１信号を送信する処理と、
上記第１信号の送信に応答して第１応答信号を受信する処理と
上記被試験材料を通して反射コンポーネントに向かって上記所定周波数の第２信号を送信する処理と、
上記第２信号の送信に応答して第２応答信号を受信する処理と、
上記被試験材料の挿入損失を求める処理と
を具えている。

【0050】

実施例１４は、実施例１３の方法であって、上記材料の上記挿入損失が所定要件を満たしているかどうかを判定する処理を更に具えている。

【0051】

実施例１５は、実施例１４の方法であって、上記被試験材料が上記所定要件を満たしているかどうかの判定結果を表示する処理を更に具えている。

【0052】

実施例１６は、実施例１３から１５のいずれかの方法であって、アライメント機構によって計測器の接触面と基準ユニットの接触面をアライメントさせる処理を更に具えている。

【0053】

実施例１７は実施例１６の方法であって、ここで、アライメント機構は、基準ユニットの上記接触面上の磁石と、上記計測器の上記接触面上の相補的な磁石と有している。

【0054】

実施例１８は、実施例１３から１７のいずれかの方法であって、
上記被試験材料なしで、上記吸収コンポーネントに向かって上記所定周波数の上記第１信号を送信する処理と、
上記第１信号の送信に応答して第３応答信号を受信する処理と、
上記被試験材料なしで、上記反射コンポーネントに向かって上記所定周波数の上記第２信号を送信する処理と
上記第２信号の送信に応答して第４応答信号を受信する処理と、
を有する校正処理を更に具えている。

【0055】

実施例１９は、実施例１３から１８のいずれかの方法であって、上記第１信号を送信する上記第１送信機と、上記第１応答信号を受信する上記第１受信機は、２つの第１送信機と２つの第１受信機とを有する第１トランスデューサ・ペアである。

【0056】

実施例２０は、実施例１３から１９のいずれかの方法であって、上記所定周波数はレーダー・システムの出力信号に関する周波数である。

【0057】

実施例２１は、実施例１３から２０のいずれかの方法であって、上記第２信号を送信する上記第２送信機と、上記第２応答信号を受信する上記第２受信機は、２つの第２送信機と２つの第２受信機とを有する第２トランスデューサ・ペアである。

【0058】

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

【0059】

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例の状況において開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例の状況においても利用できる。

【0060】

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

【0061】

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の特許請求の範囲を除いて限定されるべきではない。

【符号の説明】

【0062】

１００ ミリ波材料試験装置
１０２ 計測器
１０４ 基準ユニット
１０６ 表示部
１０８ 試験実行ボタン
１１０ 校正実行ボタン
１１２ 送受信面（接触面の一部分）
２００ 被試験材料
３０２ 送信機ペア
３０４ 受信機ペア
３０５ 第１トランスデューサ・ペア
３０６ 回路
３０７ 第２トランスデューサ・ペア
３０８ アライメント機構の磁石
４００ 基準ユニットの接触面
４０２ アライメント機構の磁石
４０４ 吸収コンポーネント
４０６ 反射コンポーネント

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】