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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2025-03-12
(45)【発行日】2025-03-21
(54)【発明の名称】質量分析支援方法、質量分析支援装置、及び、質量分析システム
(51)【国際特許分類】
G01N 27/62 20210101AFI20250313BHJP
【ＦＩ】
G01N27/62 B
【請求項の数】
7
(21)【出願番号】P 2023541146
(86)(22)【出願日】2021-08-10
(86)【国際出願番号】 JP2021029492
(87)【国際公開番号】W WO2023017558
(87)【国際公開日】2023-02-16
【審査請求日】2023-12-13
(73)【特許権者】
【識別番号】501387839
【氏名又は名称】株式会社日立ハイテク
(74)【代理人】
【識別番号】110001807
【氏名又は名称】弁理士法人磯野国際特許商標事務所
(72)【発明者】
【氏名】吉本 拓也
(72)【発明者】
【氏名】師子鹿 司
(72)【発明者】
【氏名】檜山 俊幸
【審査官】吉田 将志
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１２－１９５１０４（ＪＰ，Ａ）
【文献】特表２０２１－５１５２４２（ＪＰ，Ａ）
【文献】特表２０１１－５２３１７２（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許第８３８４０２２（ＵＳ，Ｂ１）
【文献】米国特許出願公開第２０２１／００９８２４１（ＵＳ，Ａ１）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ２７／６２
Ｈ０１Ｊ ４９／００ － Ｈ０１Ｊ ４９／４８
ＪＳＴＰｌｕｓ／ＪＭＥＤＰｌｕｓ／ＪＳＴ７５８０（ＪＤｒｅａｍＩＩＩ）
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数のスキャン速度がスキャン速度パターンとして予め記憶部に格納されている演算装置が、質量分析装置によって測定された結果である第１のマススペクトルを取得するマススペクトル取得ステップと、
ユーザによって表示部に表示された前記第１のマススペクトルの拡大範囲もしくは縮小範囲が指定されると、前記拡大範囲もしくは縮小範囲のｍ／ｚ範囲を取得するｍ／ｚ範囲取得ステップと、
前記スキャン速度パターンに格納されている前記スキャン速度を順に選択し、選択した前記スキャン速度で、前記質量分析装置による前記拡大範囲もしくは縮小範囲の前記ｍ／ｚ範囲に対する仮測定を実行させ、前記仮測定の結果得られる第２のマススペクトルを基に、前記拡大範囲もしくは縮小範囲の前記ｍ／ｚ範囲において前記スキャン速度を決定するスキャン速度変更処理ステップと、
を実行することを特徴とする質量分析支援方法。
【請求項2】
前記スキャン速度変更処理ステップでは、前記スキャン速度パターンから選択された前記スキャン速度のそれぞれによる前記仮測定で得られる前記第２のマススペクトルのそれぞれについて、もっとも高い信号強度を有する点に対するピーク間の谷部の最も深い点の信号強度の比が最も小さい前記第２のマススペクトルに対する前記スキャン速度が前記スキャン速度として決定される
ことを特徴とする請求項１に記載の質量分析支援方法。
【請求項3】
前記スキャン速度変更処理ステップは、前記第１のマススペクトルの拡大範囲もしくは縮小範囲の指定に基づいて行われることを特徴とする請求項１に記載の質量分析支援方法。
【請求項4】
前記拡大範囲もしくは縮小範囲の指定は、ユーザによるマウスの操作によって行われることを特徴とする請求項１に記載の質量分析支援方法。
【請求項5】
前記第１のマススペクトルがタッチパネル画面に表示され、前記拡大範囲もしくは縮小範囲の指定は、ユーザによるタッチパネルの操作によって行われる
ことを特徴とする請求項１に記載の質量分析支援方法。
【請求項6】
複数のスキャン速度がスキャン速度パターンとして予め記憶している記憶部と、質量分析装置によって測定された結果である第１のマススペクトルを取得するマススペクトル取得部と、
ユーザによって表示部に表示された前記第１のマススペクトルの拡大範囲もしくは縮小範囲が指定されると、前記拡大範囲もしくは縮小範囲のｍ／ｚ範囲を取得するｍ／ｚ範囲取得部と、
前記スキャン速度パターンに格納されている前記スキャン速度を順に選択し、選択した前記スキャン速度で、前記質量分析装置による前記拡大範囲もしくは縮小範囲の前記ｍ／ｚ範囲に対する仮測定を実行させ、前記仮測定の結果得られる第２のマススペクトルを基に、前記拡大範囲もしくは縮小範囲の前記ｍ／ｚ範囲において前記スキャン速度を決定するスキャン速度変更処理部と、
を有することを特徴とする質量分析支援装置。
【請求項7】
質量分析装置と、前記質量分析装置の制御を行う制御装置と、
を有し、
前記制御装置は、
複数のスキャン速度がスキャン速度パターンとして予め記憶している記憶部と、
質量分析装置によって測定された結果である第１のマススペクトルを取得するマススペクトル取得部と、
ユーザによって表示部に表示された前記第１のマススペクトルの拡大範囲もしくは縮小範囲が指定されると、前記拡大範囲もしくは縮小範囲のｍ／ｚ範囲を取得するｍ／ｚ範囲取得部と、
前記スキャン速度パターンに格納されている前記スキャン速度を順に選択し、選択した前記スキャン速度で、前記質量分析装置による前記拡大範囲もしくは縮小範囲の前記ｍ／ｚ範囲に対する仮測定を実行させ、前記仮測定の結果得られる第２のマススペクトルを基に、前記拡大範囲もしくは縮小範囲の前記ｍ／ｚ範囲において前記スキャン速度を決定するスキャン速度変更処理部と、
決定した前記スキャン速度を前記質量分析装置に設定する設定部と、
を有することを特徴とする質量分析支援システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、質量分析支援方法、質量分析支援装置、及び、質量分析システムの技術に関する。
【背景技術】
【0002】
質量分析の知識が乏しいユーザが質量分析装置を使用することは非常に難しい。また、ユーザが質量分析装置に関し十分な知識を保有していたとしても、質量分析装置のソフトウェアの全ての機能を網羅的に覚え、使いこなすことは非常に難しい。
【0003】
また、ユーザビリティの観点からも、質量分析の知識の有無にかかわらず、どんなユーザでも呈示されたグラフィカルユーザインタフェース（Graphical User Interface：ＧＵＩ）によって一定の操作を行えることが望ましい。
【0004】
例えば、質量分析装置のＧＵＩには、ｍ／ｚ値と検出したイオン強度との関係であるマススペクトルが表示される。マススペクトルは、質量分析装置が測定対象となるｍ／ｚ範囲を決められたスキャン速度で走査し、縦軸に検出されたイオン量に応じたイオン強度、横軸にイオンに対応したｍ／ｚ値を表示したグラフである。
【0005】
このような質量分析装置の操作に関する発明として、特許文献１には「大気圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのようなＭＳ1分析のマススペクトルから得られる情報が少ない装置においても、正確且つ迅速に、成分の特定を行うことが可能となる」質量分析方法および装置が開示されている（要約参照）。
【0006】
また、特許文献２には「試料上の指定された質量分析範囲内の各微小領域のＭＳ分析が実行され、それにより得られたデータに基づいて、指定されたm/z又はm/z範囲の分布画像が作成されて表示画面上に描出される（Ｓ１０～Ｓ１４）。オペレータがこれを見て関心物質を特定しそのm/zを指示すると（Ｓ１５）、ＭＳスペクトル上でそのm/zの強度が閾値以上である微小領域が抽出され、その微小領域に対して関心物質のm/zをプリカーサとしてＭＳ／ＭＳ分析が実行される（Ｓ２６、Ｓ２７）。得られた各微小領域のＭＳ／ＭＳスペクトルデータから平均ＭＳ／ＭＳスペクトルが算出され（Ｓ２８）、平均ＭＳ／ＭＳスペクトルに出現するピーク情報を利用して関心物質の同定が実行される（Ｓ１９）」質量分析装置が開示されている（要約参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【文献】特開２００１―２４９１１４号公報
【文献】国際公開第２０１０／００１４３９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
ｍ／ｚ範囲やスキャン速度の指定は、予め固定されている場合が一般的であり、特許文献１に記載の技術のようにテキストボックスなどをユーザが編集し指定するものもある。
しかし、これらの手法では質量分析の知識を持たないユーザが操作を行う場合や、ユーザがＧＵＩ画面上のテキストボックスの位置を把握していない場合、ｍ／ｚ範囲やスキャン速度の変更が困難になる。
しかし、これらの手法では質量分析の知識を持たないユーザが操作を行う場合や、ユーザがＧＵＩ画面上のテキストボックスの位置を把握していない場合、ｍ／ｚ範囲やスキャン速度の変更が困難になる。
【0009】
このような背景に鑑みて本発明がなされたのであり、本発明は、容易な操作で質量分析を行うことができることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0010】
前記した課題を解決するため、本発明は、演算装置が、質量分析装置によって測定された結果である第１のマススペクトルを取得するマススペクトル取得ステップと、ユーザによって表示部に表示された前記第１のマススペクトルの拡大範囲もしくは縮小範囲が指定されると、前記拡大範囲もしくは縮小範囲のｍ／ｚ範囲を取得するｍ／ｚ範囲取得ステップと、前記スキャン速度パターンに格納されている前記スキャン速度を順に選択し、選択した前記スキャン速度で、前記ｍ／ｚ範囲に対する仮測定を実行させ、前記仮測定の結果得られる第２のマススペクトルを基に、前記スキャン速度を決定するスキャン速度変更処理ステップと、が実行されることを特徴とする。
その他の解決手段は実施形態中において適宜記載する。
その他の解決手段は実施形態中において適宜記載する。
【発明の効果】
【0011】
本発明によれば、容易な操作で質量分析を行うことができる
【図面の簡単な説明】
【0012】
【図1】第１実施形態に係る質量分析システムの構成例を示す図である。
【図2】演算装置における処理部の構成例を示す図である。
【図3】記憶部の構成例を示す図である。
【図4】演算装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図5】第１実施形態に係る全体処理の手順を示すフローチャートである。
【図6】第１実施形態におけるスキャン速度設定画面の例を示す図である。
【図7A】拡大処理前のマススペクトルを示す図である。
【図7B】拡大処理後のマススペクトルの一例を示す図である。
【図8】スキャン速度変更処理の詳細な処理手順を示す図である。
【図9A】仮測定によるマススペクトルの一例を示す図（その１）である。
【図9B】仮測定によるマススペクトルの一例を示す図（その２）である。
【図9C】仮測定によるマススペクトルの一例を示す図（その３）である。
【図10A】拡大処理前のマススペクトルの一例を示す図である。
【図10B】拡大処理御のマススペクトルの一例を示している。
【発明を実施するための形態】
【0013】
本発明を実施するための形態について、図面を参照して説明する。なお、本発明の実施の形態は、ここに示す実施例に限定されるものではない。
【0014】
＜第１実施形態＞
第１実施形態では、ユーザがマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）を拡大し、測定するｍ／ｚ範囲を記憶する。その後、ｍ／ｚ範囲に応じて、演算装置１００がスキャン速度を変更する処理を行う。
第１実施形態では、ユーザがマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）を拡大し、測定するｍ／ｚ範囲を記憶する。その後、ｍ／ｚ範囲に応じて、演算装置１００がスキャン速度を変更する処理を行う。
【0015】
［質量分析システムＺの構成］
図１は、第１実施形態に係る質量分析システムＺの構成例を示す図である。
質量分析システムＺは、演算装置１００、質量分析装置２００及び試料供給装置３００を備える。
演算装置１００は、表示部１０１、入力部１０２、処理部１１０、及び、記憶部１２０を有する。
処理部１１０及び記憶部１２０については後記する。
表示部１０１には、質量分析装置２００で測定された結果であるマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）等が表示される。
入力部１０２は、キーボードや、マウス等であり、ユーザによる情報の入力が行われる。
図１は、第１実施形態に係る質量分析システムＺの構成例を示す図である。
質量分析システムＺは、演算装置１００、質量分析装置２００及び試料供給装置３００を備える。
演算装置１００は、表示部１０１、入力部１０２、処理部１１０、及び、記憶部１２０を有する。
処理部１１０及び記憶部１２０については後記する。
表示部１０１には、質量分析装置２００で測定された結果であるマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）等が表示される。
入力部１０２は、キーボードや、マウス等であり、ユーザによる情報の入力が行われる。
【0016】
試料供給装置３００は、質量分析装置２００に試料成分を供給する。例えば、液体クロマトグラフやガスクロマトグラフ、試料を加熱し成分を気化させる装置などが試料供給装置３００である。
【0017】
質量分析装置２００は、イオン化部２０１と、質量分離部２０２と、イオン検出部２０３と、制御部２１０とを備える。
イオン化部２０１は、試料供給装置３００から供給される試料成分をイオン化する。
質量分離部２０２は、イオン化部２０１から供給されたイオンのフラグメンテーション、イオントラップ、イオン検出部２０３へ排出する特定のｍ／ｚ値を選別し、イオンをイオン検出部２０３へ送る。質量分離部２０２はシングルマスや、ＭＳ／ＭＳ、３段以上のＭＳが連結されたＭＳｎ等で構成することが可能である。
イオン検出部２０３は、質量分離部２０２から送られたイオンのイオン強度を測定する。
イオン化部２０１は、試料供給装置３００から供給される試料成分をイオン化する。
質量分離部２０２は、イオン化部２０１から供給されたイオンのフラグメンテーション、イオントラップ、イオン検出部２０３へ排出する特定のｍ／ｚ値を選別し、イオンをイオン検出部２０３へ送る。質量分離部２０２はシングルマスや、ＭＳ／ＭＳ、３段以上のＭＳが連結されたＭＳｎ等で構成することが可能である。
イオン検出部２０３は、質量分離部２０２から送られたイオンのイオン強度を測定する。
【0018】
制御部２１０は、演算装置１００による指示に従い、測定するｍ／ｚ範囲を更新し、スキャン速度の変更を行う制御を行う。そして、ｍ／ｚ値に対応するイオン強度のデータを演算装置１００に返す。
【0019】
なお、質量分離部２０２で選別するｍ／ｚ値を固定し、イオン強度の経時変化、すなわちクロマトグラムを得るのが選択イオンモニタリング（Selected Ion Monitoring：ＳＩＭ）や選択反応モニタリング（Selected Reaction Monitoring：ＳＲＭ）と呼ばれる定量測定である。
【0020】
（処理部１１０）
図２は、演算装置１００（図１参照）における処理部１１０の構成例を示す図である。
処理部１１０は、取得部１１１、スキャン速度変更処理部１１２、表示処理部１１３を有する。
取得部１１１は、質量分析装置２００から測定結果（マススペクトル情報）等を取得する。
スキャン速度変更処理部１１２は、ユーザによるマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）の拡大又は縮小処理に基づいて、質量分析装置２００の適切なスキャン速度を決定する（測定に用いるスキャン速度を決定する）。そして、スキャン速度変更処理部１１２は決定したスキャン速度を質量分析装置２００に設定する。なお、本実施形態では拡大縮小されるマススペクトルをマススペクトルＭ１、マススペクトルを一般的に示す際にはマススペクトルＭとして区別している。ここで、適切なスキャン速度とは、分解能に優れたマススペクトルＭを取得することができるスキャン速度という意味である。なお、スキャン速度が速すぎても遅すぎても分解能が低下してしまう。
表示処理部１１３は、表示部１０１にマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）や、スキャン速度設定画面４００（図６参照）等を表示する。
図２は、演算装置１００（図１参照）における処理部１１０の構成例を示す図である。
処理部１１０は、取得部１１１、スキャン速度変更処理部１１２、表示処理部１１３を有する。
取得部１１１は、質量分析装置２００から測定結果（マススペクトル情報）等を取得する。
スキャン速度変更処理部１１２は、ユーザによるマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）の拡大又は縮小処理に基づいて、質量分析装置２００の適切なスキャン速度を決定する（測定に用いるスキャン速度を決定する）。そして、スキャン速度変更処理部１１２は決定したスキャン速度を質量分析装置２００に設定する。なお、本実施形態では拡大縮小されるマススペクトルをマススペクトルＭ１、マススペクトルを一般的に示す際にはマススペクトルＭとして区別している。ここで、適切なスキャン速度とは、分解能に優れたマススペクトルＭを取得することができるスキャン速度という意味である。なお、スキャン速度が速すぎても遅すぎても分解能が低下してしまう。
表示処理部１１３は、表示部１０１にマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）や、スキャン速度設定画面４００（図６参照）等を表示する。
【0021】
なお、本実施形態では処理部１１０の機能が質量分析装置２００とは別の装置である演算装置１００に備えられているものとしているが、質量分析装置２００の制御部２１０に処理部１１０の機能が備えられていてもよい。
【0022】
（記憶部１２０）
図３は、記憶部１２０の構成例を示す図である。
記憶部１２０にはスキャン速度パターン１２１及び変更ｍ／ｚ範囲１２２が格納されている。
スキャン速度パターン１２１には、後記する仮測定で使用される複数のスキャン速度がｍ／ｚ範囲毎に格納されている。
変更ｍ／ｚ範囲１２２は、後記するマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）の拡大又は縮小処理によって変更されたｍ／ｚ範囲である。後記するように、マススペクトルＭ１の拡大又は縮小処理は入力部１０２によって行われるため、変更ｍ／ｚ範囲１２２は入力部１０２から記憶部１２０に格納される。
図３は、記憶部１２０の構成例を示す図である。
記憶部１２０にはスキャン速度パターン１２１及び変更ｍ／ｚ範囲１２２が格納されている。
スキャン速度パターン１２１には、後記する仮測定で使用される複数のスキャン速度がｍ／ｚ範囲毎に格納されている。
変更ｍ／ｚ範囲１２２は、後記するマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）の拡大又は縮小処理によって変更されたｍ／ｚ範囲である。後記するように、マススペクトルＭ１の拡大又は縮小処理は入力部１０２によって行われるため、変更ｍ／ｚ範囲１２２は入力部１０２から記憶部１２０に格納される。
【0023】
また、スキャン速度変更処理部１１２は、変更ｍ／ｚ範囲１２２と、スキャン速度パターン１２１とを参照することで、後記する仮測定でのスキャン速度を選択する。
【0024】
［演算装置１００のハードウェア構成］
図４は、演算装置１００のハードウェア構成の一例を示す図である。
演算装置１００は、メモリ１３１、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１３２、ＨＤ（Hard Disk）や、ＳＳＤ（Solid State Disk）等の記憶装置１３３を有する。また、演算装置１００はキーボードや、マウス等の入力装置１３４、ディスプレイ等の表示装置１３５、通信装置１３６を有する。
記憶装置１３３にはプログラムが格納されており、このプログラムがメモリ１３１にロードされる。そして、ロードされたプログラムがＣＰＵ１３２によって実行される。これにより、図２の処理部１１０、処理部１１０を構成する取得部１１１、スキャン速度変更処理部１１２及び表示処理部１１３が具現化する。
ちなみに、入力装置１３４は図１の入力部１０２、表示装置１３５は図１の表示部１０１、記憶装置１３３は図１の記憶部１２０に相当する。
図４は、演算装置１００のハードウェア構成の一例を示す図である。
演算装置１００は、メモリ１３１、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１３２、ＨＤ（Hard Disk）や、ＳＳＤ（Solid State Disk）等の記憶装置１３３を有する。また、演算装置１００はキーボードや、マウス等の入力装置１３４、ディスプレイ等の表示装置１３５、通信装置１３６を有する。
記憶装置１３３にはプログラムが格納されており、このプログラムがメモリ１３１にロードされる。そして、ロードされたプログラムがＣＰＵ１３２によって実行される。これにより、図２の処理部１１０、処理部１１０を構成する取得部１１１、スキャン速度変更処理部１１２及び表示処理部１１３が具現化する。
ちなみに、入力装置１３４は図１の入力部１０２、表示装置１３５は図１の表示部１０１、記憶装置１３３は図１の記憶部１２０に相当する。
【0025】
［全体処理］
図５は、第１実施形態に係る全体処理の手順を示すフローチャートである。適宜、図１～図３を参照する。
まず、ユーザはスキャン速度設定画面４００（図６参照）でスキャン速度の設定を行う（Ｓ１）。ここでは、Ａｕｔｏ４０２（図６参照）が設定されたものとする。なお、スキャン速度設定画面４００については後記する。
図５は、第１実施形態に係る全体処理の手順を示すフローチャートである。適宜、図１～図３を参照する。
まず、ユーザはスキャン速度設定画面４００（図６参照）でスキャン速度の設定を行う（Ｓ１）。ここでは、Ａｕｔｏ４０２（図６参照）が設定されたものとする。なお、スキャン速度設定画面４００については後記する。
【0026】
続いて、質量分析装置２００による測定が行われ（Ｓ２）、演算装置１００の取得部１１１は測定の結果であるマススペクトル情報を取得する（Ｓ３）。なお、ステップＳ２で行われる測定で使用されるスキャン速度や、ｍ／ｚ範囲は制御部２１０によって自動で設定される。
そして、表示処理部１１３は取得したマススペクトル情報を基にマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）を表示部１０１に表示する。
そして、表示処理部１１３は取得したマススペクトル情報を基にマススペクトルＭ１（図７Ａ参照）を表示部１０１に表示する。
【0027】
次に、スキャン速度変更処理部１１２は、入力部１０２を介して表示部１０１に表示されているマススペクトルＭ１の拡大縮小処理が実行されたか否かを判定する（Ｓ４）。拡大縮小処理については後記する。
拡大縮小処理が実行されていない場合（Ｓ４→Ｎｏ）、スキャン速度変更処理部１１２はステップＳ４へ処理を戻す。
拡大縮小処理が実行されていない場合（Ｓ４→Ｎｏ）、スキャン速度変更処理部１１２はステップＳ４へ処理を戻す。
【0028】
拡大縮小処理が実行されると（Ｓ４→Ｙｅｓ）、スキャン速度変更処理部１１２は拡大または縮小されたマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）におけるｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）を取得し、記憶部１２０に記憶する（Ｓ５）。ステップＳ５の処理については後記する。つまり、ステップＳ５以下の処理はステップＳ４の拡大実行処理が行われたことを契機として実行される。
【0029】
そして、スキャン速度変更処理部１１２は記憶部１２０に記憶した変更ｍ／ｚ範囲１２２を基に、適切なスキャン速度を算出し、算出したスキャン速度を質量分析装置２００の制御部２１０に設定するスキャン速度変更処理を行う（Ｓ６）。ステップＳ６の処理については後記する。なお、ステップＳ６においてスキャン速度変更処理部１１２は変更ｍ／ｚ範囲１２２に対して適切なスキャン速度を決定し、決定したスキャン速度を制御部２１０に設定する。
次に、制御部２１０はステップＳ６で設定されたスキャン速度で測定対象物の測定を開始する（Ｓ７）。
次に、制御部２１０はステップＳ６で設定されたスキャン速度で測定対象物の測定を開始する（Ｓ７）。
【0030】
［スキャン速度設定画面４００］
図６は、第１実施形態におけるスキャン速度設定画面４００の例を示す図である。図６に示すスキャン速度設定画面４００は、図５のステップＳ１の段階で表示部１０１に表示されているものである。
スキャン速度設定画面４００では、ユーザがスキャン速度の設定を行うことができる。そして、スキャン速度設定画面４００ではＮａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１、Ａｕｔｏ５１０、Ｆｕｌｌ Ｒａｎｇｅ４０３をユーザが設定することができる。
Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１が選択されると、質量分析において低速でスキャンが行われる。Ａｕｔｏ４０２が選択されると、ユーザによる拡大縮小処理により定められた変更ｍ／ｚ範囲１２２（図３参照）に応じたスキャン速度が自動で変更される。Ｆｕｌｌ Ｒａｎｇｅ４０３が選択されると、質量分析において高速でスキャンが行われる。本実施形態（スキャン速度を決定するスキャン速度変更処理ステップ）は、Ａｕｔｏ４０２が選択された場合に行われる処理である。なお、Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１は、使用不可となる場合があるが、この場合、Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１がグレーアウトし、選択不可となる。
図６は、第１実施形態におけるスキャン速度設定画面４００の例を示す図である。図６に示すスキャン速度設定画面４００は、図５のステップＳ１の段階で表示部１０１に表示されているものである。
スキャン速度設定画面４００では、ユーザがスキャン速度の設定を行うことができる。そして、スキャン速度設定画面４００ではＮａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１、Ａｕｔｏ５１０、Ｆｕｌｌ Ｒａｎｇｅ４０３をユーザが設定することができる。
Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１が選択されると、質量分析において低速でスキャンが行われる。Ａｕｔｏ４０２が選択されると、ユーザによる拡大縮小処理により定められた変更ｍ／ｚ範囲１２２（図３参照）に応じたスキャン速度が自動で変更される。Ｆｕｌｌ Ｒａｎｇｅ４０３が選択されると、質量分析において高速でスキャンが行われる。本実施形態（スキャン速度を決定するスキャン速度変更処理ステップ）は、Ａｕｔｏ４０２が選択された場合に行われる処理である。なお、Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１は、使用不可となる場合があるが、この場合、Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１がグレーアウトし、選択不可となる。
【0031】
Ｎａｒｒｏｗ Ｒａｎｇｅ４０１、Ａｕｔｏ４０３、Ｆｕｌｌ Ｒａｎｇｅ４０３のいずれかをユーザが選択した後、ＯＫボタン４１１が選択入力されることで選択が確定される。また、キャンセルボタン４１２が選択入力されることで、選択が解除される。
【0032】
［拡大縮小処理］
次に図７Ａ及び図７Ｂを参照して図５のステップＳ４における拡大縮小処理について説明する。なお、図７Ａ及び図７Ｂでは拡大処理について説明しているが、縮小処理についても同様の手順で可能である。
次に図７Ａ及び図７Ｂを参照して図５のステップＳ４における拡大縮小処理について説明する。なお、図７Ａ及び図７Ｂでは拡大処理について説明しているが、縮小処理についても同様の手順で可能である。
【0033】
図７Ａは、拡大処理前のマススペクトルＭ１を示す図である。
なお、図７Ａ及び図７Ｂにおいて横軸はｍ／ｚ値であり、横軸はイオン強度（Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ）である。
ユーザが、始点５０１から終点５０２までドラッグすることで拡大範囲５００が選択される。
例えば、ユーザは、表示装置１３５に呈示されているマススペクトルＭ１における任意の位置で左クリックを押下し、そこを始点５０１とする。その後、マススペクトルＭ１において、ユーザは測定したい任意の位置までクリックを押下した状態でマウスを移動させクリックボタンを離し、そこを終点５０２とする。
なお、図７Ａ及び図７Ｂにおいて横軸はｍ／ｚ値であり、横軸はイオン強度（Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ）である。
ユーザが、始点５０１から終点５０２までドラッグすることで拡大範囲５００が選択される。
例えば、ユーザは、表示装置１３５に呈示されているマススペクトルＭ１における任意の位置で左クリックを押下し、そこを始点５０１とする。その後、マススペクトルＭ１において、ユーザは測定したい任意の位置までクリックを押下した状態でマウスを移動させクリックボタンを離し、そこを終点５０２とする。
【0034】
拡大範囲５００の底辺に相当する符号Ｒで示されるｍ／ｚ範囲が拡大ｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）である。
【0035】
このような動作により、マススペクトルＭ１における始点５０１と終点５０２の座標を基に、新たなｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）が記憶部１２０に記憶される。そして、スキャン速度変更処理部１１２は記憶部１２０に記憶された変更ｍ／ｚ範囲１２２を読み込む。
スキャン速度変更処理部１１２は、読み込んだ変更ｍ／ｚ範囲１２２に基づいて、スキャン速度パターン１２１に保存されているスキャン速度を選択する。そして、スキャン速度変更処理部１１２は、選択したスキャン速度で仮測定を繰り返し、適切なスキャン速度を決定する。適切なスキャン速度の決定方法は後記する。更に、スキャン速度変更処理部１１２は、決定したスキャン速度に対応した高周波電圧を決定する。スキャン速度変更処理部１１２は、決定した高周波電圧と、変更ｍ／ｚ範囲１２２を制御部２１０に設定する。ちなみに、スキャン速度の制御は質量分離部２０２に印加される高周波電圧の制御によって行われる。
スキャン速度変更処理部１１２は、読み込んだ変更ｍ／ｚ範囲１２２に基づいて、スキャン速度パターン１２１に保存されているスキャン速度を選択する。そして、スキャン速度変更処理部１１２は、選択したスキャン速度で仮測定を繰り返し、適切なスキャン速度を決定する。適切なスキャン速度の決定方法は後記する。更に、スキャン速度変更処理部１１２は、決定したスキャン速度に対応した高周波電圧を決定する。スキャン速度変更処理部１１２は、決定した高周波電圧と、変更ｍ／ｚ範囲１２２を制御部２１０に設定する。ちなみに、スキャン速度の制御は質量分離部２０２に印加される高周波電圧の制御によって行われる。
【0036】
図７Ｂは、拡大処理後のマススペクトルＭ２の一例を示す図である。
図７Ｂでは、スキャン速度変更処理部１１２が図７Ａで選択された拡大範囲５００に基づいてｍ／ｚ範囲を更新し、更新されたｍ／ｚ範囲で測定が行われた結果であるマススペクトルＭ２が示されている。つまり、図７Ｂに示すマススペクトルＭ２は、スキャン速度変更処理部１１２が拡大範囲５００（図７Ａ参照）に基づいて決定したスキャン速度で測定された結果である。そのため、マススペクトルＭ２が、図７Ａに示すマススペクトルＭ１と形状が異なっている。マススペクトルＭ２は、図７Ａに示すマススペクトルＭ１と形状が異なっている理由はスキャン速度の違いによる。
図７Ｂでは、スキャン速度変更処理部１１２が図７Ａで選択された拡大範囲５００に基づいてｍ／ｚ範囲を更新し、更新されたｍ／ｚ範囲で測定が行われた結果であるマススペクトルＭ２が示されている。つまり、図７Ｂに示すマススペクトルＭ２は、スキャン速度変更処理部１１２が拡大範囲５００（図７Ａ参照）に基づいて決定したスキャン速度で測定された結果である。そのため、マススペクトルＭ２が、図７Ａに示すマススペクトルＭ１と形状が異なっている。マススペクトルＭ２は、図７Ａに示すマススペクトルＭ１と形状が異なっている理由はスキャン速度の違いによる。
【0037】
【0038】
図７Ｂに示すマススペクトルＭ２は、スキャン速度変更処理の各工程を経て、適切なスキャン速度で測定が行われているため、図７Ａに示すマススペクトルＭ１よりピーク間の谷が深くなっている。つまり、マススペクトルＭ２は、マススペクトルＭ１において、質量分解能の問題で確認できなかった同位体成分が分離された状態となっており、ユーザによる同位体成分の確認が行いやすくなっている。
【0039】
【0040】
（フローチャート）
図８は、図５のステップＳ６におけるスキャン速度変更処理の詳細な処理手順を示す図である。
まず、スキャン速度変更処理部１１２は図５のステップＳ４（拡大縮小処理）に基づいて拡大マススペクトル情報もしくは縮小マススペクトル情報（変更マススペクトル情報と称する）を取得する（Ｓ６０１）。
そして、スキャン速度変更処理部１１２は、取得した変更マススペクトル情報に基づくマススペクトルＭ（図７Ａ、図Ｂ参照：以下、変更マススペクトルと称する）が以下の条件を満たしているか否かを判定する（Ｓ６０２）。
（条件＃１）変更マススペクトルに少なくとも２つのピークが存在する。
（条件＃２）変更マススペクトルにおいて、最大イオン強度を１００％とした場合、２番目に大きいピークにおける最大イオン強度が５０％より大きい。
なお、条件＃１及び条件＃２の双方が満たされる場合、スキャン速度変更処理部１１２は、ステップＳ６０２で「Ｙｅｓ」を判定する。
図８は、図５のステップＳ６におけるスキャン速度変更処理の詳細な処理手順を示す図である。
まず、スキャン速度変更処理部１１２は図５のステップＳ４（拡大縮小処理）に基づいて拡大マススペクトル情報もしくは縮小マススペクトル情報（変更マススペクトル情報と称する）を取得する（Ｓ６０１）。
そして、スキャン速度変更処理部１１２は、取得した変更マススペクトル情報に基づくマススペクトルＭ（図７Ａ、図Ｂ参照：以下、変更マススペクトルと称する）が以下の条件を満たしているか否かを判定する（Ｓ６０２）。
（条件＃１）変更マススペクトルに少なくとも２つのピークが存在する。
（条件＃２）変更マススペクトルにおいて、最大イオン強度を１００％とした場合、２番目に大きいピークにおける最大イオン強度が５０％より大きい。
なお、条件＃１及び条件＃２の双方が満たされる場合、スキャン速度変更処理部１１２は、ステップＳ６０２で「Ｙｅｓ」を判定する。
【0041】
条件＃１または条件＃２を満たしていない場合（Ｓ６０２→Ｎｏ）、スキャン速度変更処理部１１２は処理を終了する。
条件＃１及び条件＃２を満たしている場合（Ｓ６０２→Ｙｅｓ）、スキャン速度変更処理部１１２は記憶部１２０からスキャン速度パターン１２１を読み込む（Ｓ６１１）。前記したように、スキャン速度パターン１２１は、後記する仮測定を行うためのスキャン速度が予め複数設定されているものである。
次に、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度パターン１２１からスキャン速度を１つ選択する（Ｓ６１２）。この際、スキャン速度変更処理部１１２は後記する仮測定で使用されていないスキャン速度を選択する。また、前記したように、スキャン速度パターン１２１には、変更ｍ／ｚ範囲１２２毎に複数のスキャン速度が格納されている。従って、スキャン速度変更処理部１１２は、ステップＳ６０１で取得した変更マススペクトルにおけるｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）に割り当てられているスキャン速度からスキャン速度を１つ選択する。
条件＃１及び条件＃２を満たしている場合（Ｓ６０２→Ｙｅｓ）、スキャン速度変更処理部１１２は記憶部１２０からスキャン速度パターン１２１を読み込む（Ｓ６１１）。前記したように、スキャン速度パターン１２１は、後記する仮測定を行うためのスキャン速度が予め複数設定されているものである。
次に、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度パターン１２１からスキャン速度を１つ選択する（Ｓ６１２）。この際、スキャン速度変更処理部１１２は後記する仮測定で使用されていないスキャン速度を選択する。また、前記したように、スキャン速度パターン１２１には、変更ｍ／ｚ範囲１２２毎に複数のスキャン速度が格納されている。従って、スキャン速度変更処理部１１２は、ステップＳ６０１で取得した変更マススペクトルにおけるｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）に割り当てられているスキャン速度からスキャン速度を１つ選択する。
【0042】
そして、スキャン速度変更処理部１１２はステップＳ６１２で選択したスキャン速度を質量分析装置２００の制御部２１０に設定する（Ｓ６１３）。
その後、制御部２１０は設定されたスキャン速度で、変更ｍ／ｚ範囲１２２における測定対象物の測定を行う。これを仮測定と称する。つまり、制御部２１０は設定されたスキャン速度で、変更ｍ／ｚ範囲１２２における仮測定を行う（Ｓ６１４）。仮測定の結果（具体的にはマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ））は、演算装置１００へ送られ、記憶部１２０に格納される。
続いて、スキャン速度変更処理部１１２は、スキャン速度パターン１２１において変更ｍ／ｚ範囲１２２に割り当てられているすべてのスキャン速度で仮測定済みであるか否かを判定する（Ｓ６２１）。
すべてのスキャン速度で仮測定済みではない場合（Ｓ６２１→Ｎｏ）、スキャン速度はステップＳ６１２へ処理を戻す。
その後、制御部２１０は設定されたスキャン速度で、変更ｍ／ｚ範囲１２２における測定対象物の測定を行う。これを仮測定と称する。つまり、制御部２１０は設定されたスキャン速度で、変更ｍ／ｚ範囲１２２における仮測定を行う（Ｓ６１４）。仮測定の結果（具体的にはマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ））は、演算装置１００へ送られ、記憶部１２０に格納される。
続いて、スキャン速度変更処理部１１２は、スキャン速度パターン１２１において変更ｍ／ｚ範囲１２２に割り当てられているすべてのスキャン速度で仮測定済みであるか否かを判定する（Ｓ６２１）。
すべてのスキャン速度で仮測定済みではない場合（Ｓ６２１→Ｎｏ）、スキャン速度はステップＳ６１２へ処理を戻す。
【0043】
すべてのスキャン速度で仮測定済みである場合（Ｓ６２１→Ｙｅｓ）、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度毎の仮測定の結果を比較する（Ｓ６３１）。この際、スキャン速度変更処理部１１２は、仮測定の結果（マススペクトルＭ）において最も深い点のイオン強度を比較する。なお、仮測定の結果の比較については後記する。
【0044】
続いて、スキャン速度変更処理部１１２はステップＳ６３１の結果を基に（測定に用いる）スキャン速度を決定する（Ｓ６３２）。スキャン速度の決定方法については後記する。
そして、スキャン速度変更処理部１１２はステップＳ６３２で決定したスキャン速度を変更ｍ／ｚ範囲１２２に対して適切なスキャン速度として制御部２１０に設定する（Ｓ６３３）。
そして、スキャン速度変更処理部１１２はステップＳ６３２で決定したスキャン速度を変更ｍ／ｚ範囲１２２に対して適切なスキャン速度として制御部２１０に設定する（Ｓ６３３）。
【0045】
（スキャン速度変更処理の具体例）
次に、図９Ａ～図９Ｃを参照して、図８に示すスキャン速度変更処理の具体的な処理について説明する。なお、図９Ａ～図９Ｃでは、マススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）の拡大処理に伴うスキャン速度変更について記載しているが、縮小処理に伴うスキャン速度変更についても同様の処理が適用可能である。
まず、図７Ａに示すように、マススペクトルＭ１の全域が表示された状態から、ユーザが拡大処理（あるいは縮小処理）を行うことをスキャン速度変更のトリガとする。すなわち、図７Ａに示す拡大範囲５００が指定されると、図８のスキャン速度変更処理が実行開始される。この処理は、図５のステップＳ４で「Ｙｅｓ」が判定されたものに相当する。このように、ユーザが拡大処理（あるいは縮小処理）を行うことをスキャン速度変更のトリガとすることで、ユーザの操作を容易にすることができる。
次に、図９Ａ～図９Ｃを参照して、図８に示すスキャン速度変更処理の具体的な処理について説明する。なお、図９Ａ～図９Ｃでは、マススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）の拡大処理に伴うスキャン速度変更について記載しているが、縮小処理に伴うスキャン速度変更についても同様の処理が適用可能である。
まず、図７Ａに示すように、マススペクトルＭ１の全域が表示された状態から、ユーザが拡大処理（あるいは縮小処理）を行うことをスキャン速度変更のトリガとする。すなわち、図７Ａに示す拡大範囲５００が指定されると、図８のスキャン速度変更処理が実行開始される。この処理は、図５のステップＳ４で「Ｙｅｓ」が判定されたものに相当する。このように、ユーザが拡大処理（あるいは縮小処理）を行うことをスキャン速度変更のトリガとすることで、ユーザの操作を容易にすることができる。
【0046】
【0047】
また、前記したように、次に示す場合にはスキャン速度の変更が行われない。
（Ａ１）拡大範囲５００の内部に単一のピークしか存在しない場合、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度の変更を行わない。
（Ａ２）拡大後において、最大ピーク以外のピークの高さが最大ピークの５０％以下であれば、半値幅を取得できないため、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度の変更を行わない。
上記（Ａ１）、（Ａ２）は、図８のステップＳ６０２において条件＃１及び条件＃２が満たされていない場合に相当する。
（Ａ１）拡大範囲５００の内部に単一のピークしか存在しない場合、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度の変更を行わない。
（Ａ２）拡大後において、最大ピーク以外のピークの高さが最大ピークの５０％以下であれば、半値幅を取得できないため、スキャン速度変更処理部１１２はスキャン速度の変更を行わない。
上記（Ａ１）、（Ａ２）は、図８のステップＳ６０２において条件＃１及び条件＃２が満たされていない場合に相当する。
【0048】
また、前記したように予め登録されている複数のスキャン速度が変更ｍ／ｚ範囲１２２毎にスキャン速度パターン１２１に保持されている。
本実施形態では、例として、１００Ｄａ／ｓ、５００Ｄａ／ｓ、１０００Ｄａ／ｓのスキャン速度がスキャン速度パターン１２１に保持されているものとする。
次に、スキャン速度変更処理部１１２は、スキャン速度パターン１２１に保持されているスキャン速度を１つずつ選択し、選択したスキャン速度で一回ずつ測定対象の測定（仮測定）を行う。この処理は図８のステップＳ６１１～Ｓ６２１に相当する。
本実施形態では、例として、１００Ｄａ／ｓ、５００Ｄａ／ｓ、１０００Ｄａ／ｓのスキャン速度がスキャン速度パターン１２１に保持されているものとする。
次に、スキャン速度変更処理部１１２は、スキャン速度パターン１２１に保持されているスキャン速度を１つずつ選択し、選択したスキャン速度で一回ずつ測定対象の測定（仮測定）を行う。この処理は図８のステップＳ６１１～Ｓ６２１に相当する。
【0049】
その後、スキャン速度変更処理部１１２はそれぞれのスキャン速度による測定結果において、ピーク間の谷が最も深い点のイオン強度比を取得する。この処理は図８のステップＳ６３１の処理である。
ピーク間の谷が最も深い点のイオン強度比とは、最も高いピーク点を１００％とした場合におけるイオン強度比である。
ピーク間の谷が最も深い点のイオン強度比とは、最も高いピーク点を１００％とした場合におけるイオン強度比である。
【0050】
図９Ａはスキャン速度が１００Ｄａ／ｓの場合における仮測定結果を示す図である。図９Ｂはスキャン速度が５００Ｄａ／ｓの場合における仮測定結果を示す図である。そして、図９Ｃはスキャン速度が１０００Ｄａ／ｓの場合における仮測定結果を示す図である。
図９Ａに示すように、１００Ｄａ／ｓではマススペクトルＭ１１におけるピーク間の谷が一番深い点のイオン強度比が４２％となったものとする。また、図９Ｂに示すように、５００Ｄａ／ｓではマススペクトルＭ１２におけるピーク間の谷が一番深い点のイオン強度比は２５％となったものとする。さらに図９Ｃに示すように、１０００Ｄａ／ｓではマススペクトルＭ１３におけるピーク間の谷が一番深い点のイオン強度比が２７％となったものとする。
図９Ａに示すように、１００Ｄａ／ｓではマススペクトルＭ１１におけるピーク間の谷が一番深い点のイオン強度比が４２％となったものとする。また、図９Ｂに示すように、５００Ｄａ／ｓではマススペクトルＭ１２におけるピーク間の谷が一番深い点のイオン強度比は２５％となったものとする。さらに図９Ｃに示すように、１０００Ｄａ／ｓではマススペクトルＭ１３におけるピーク間の谷が一番深い点のイオン強度比が２７％となったものとする。
【0051】
そして、スキャン速度変更処理部１１２は、各スキャン速度とそれに対応したイオン強度比をデータとして記憶部１２０に保存する。図９Ａ～図９Ｃに示す例では、「１００Ｄａ／ｓ：４２％」、「５００Ｄａ／ｓ：２５％」、「１０００Ｄａ／ｓ：２７％」が記憶部１２０に保存される。
【0052】
その後、スキャン速度変更処理部１１２は、各イオン強度比を比較し（図５のＳ６３１）、イオン強度比が最も小さいスキャン速度を選択する。これによって、適切なスキャン速度が決定される（図５のＳ６３２）。
そして、スキャン速度変更処理部１１２は、読み出したスキャン速度を変更ｍ／ｚ範囲１２２に対して適切なスキャン速度として質量分析装置２００の制御部２１０に設定する（図５のＳ６３３）。具体的には、スキャン速度変更処理部１１２は決定したスキャン速度に対応する高周波電圧の値を制御部２１０に設定する。
質量分析装置２００の制御部２１０は、以後、設定されたスキャン速度で測定を行う。この測定の結果結果、図７Ｂに示すマススペクトルＭ２が得られる。
そして、スキャン速度変更処理部１１２は、読み出したスキャン速度を変更ｍ／ｚ範囲１２２に対して適切なスキャン速度として質量分析装置２００の制御部２１０に設定する（図５のＳ６３３）。具体的には、スキャン速度変更処理部１１２は決定したスキャン速度に対応する高周波電圧の値を制御部２１０に設定する。
質量分析装置２００の制御部２１０は、以後、設定されたスキャン速度で測定を行う。この測定の結果結果、図７Ｂに示すマススペクトルＭ２が得られる。
【0053】
図９Ａ～図９Ｃに示す例では、５００Ｄａ／ｓにおいて谷が最も深くなっている。そのため、図９Ａ～図９Ｃに示す例では、ピーク間の谷が最も深いスキャン速度である５００Ｄａ／ｓ（図９）が適切なスキャン速度として決定される。
【0054】
このように、第１実施形態ではマススペクトルＭにおいて谷が最も深くなるスキャン速度が適切なスキャン速度として決定される。谷が最も深くなるということは、マススペクトルＭにおけるそれぞれのピークが明確になるということであり、良好な質量分解能が得られるということである。
【0055】
第１実施形態によれば、マウス等のポインティングデバイスを利用し、ＧＵＩを用いてｍ／ｚ範囲や、適切なスキャン速度を容易に設定することができる。これにより、ソフトウェアの説明や質量分析の知識を有していなくても、測定するｍ／ｚ範囲を変更し、ｍ／ｚ範囲に応じたスキャン速度で測定を行うことができ。この結果、質量分析の知識を持たないユーザや、ＧＵＩ画面上のテキストボックスの位置を把握していないユーザでも常に質量分解能を適切な状態に保つことができる。
【0056】
つまり、第１実施形態によれば、質量分析の知識を持たないユーザが、ｍ／ｚ値などの専門用語の知識を必要とせず直感的な動作で、マススペクトルＭの質量分解能が適切な状態による測定を行うことができる。また、ユーザが意識することなく質量分解能を適切な状態に保つことができる。
【0057】
また、第１実施形態によれば、マススペクトルＭに表示された同位体成分に関して、質量分解能の向上により成分（特に同位体）の同定精度の向上が期待できる。
【0058】
また、質量分析装置２００では、予めｍ／ｚ値が既知の試料を測定し、質量分析装置２００の質量校正を行う必要がある。質量校正とは、検出されたイオン強度を基にｍ／ｚ値のずれを校正することである。一般的に、質量分析装置２００においてｍ／ｚ値とｍ／ｚ値に対応する高周波電圧の関係が予め設定されることで校正が行われる。これにより、検出したい成分のイオンを質量分析装置２００の内部に留めるイオントラップや特定成分のイオンを排出する制御の精度を保つことが可能になる。
【0059】
だが、ｍ／ｚ値とｍ／ｚ値に対応する高周波電圧の関係は、温度や湿度などの変化を受けやすい。更に、温度や湿度は時間と共に変化するため、ｍ／ｚ値とｍ／ｚ値に対応する高周波電圧の関係が時間経過に伴い変化してしまう。このような関係の変化をｍ／ｚ値のずれと称する。
【0060】
ｍ／ｚ値のずれが生じると、検出されたイオンが真値から外れたｍ／ｚ値で観測されてしまい、測定対象である成分のｍ／ｚ値とは異なるｍ／ｚ値として判断されてしまう。この場合、一般的にユーザがｍ／ｚ値のずれを目視による判断や、自動検知による質量校正が行われる。
【0061】
第１実施形態によれば、前記したようにマススペクトルＭの拡大縮小が行われても、良好な質量分解能を得ることができる。このため、質量校正に用いられる成分の同定精度が向上され、ユーザは質量校正の必要性を容易に判断することができる。
また、本実施形態によれば、質量分析装置２００で質量校正に使用する試薬を、マススペクトルＭをモニタリングしながら、個々の質量分析装置２００の特性を考慮した成分を選定することができる。
また、本実施形態によれば、質量分析装置２００で質量校正に使用する試薬を、マススペクトルＭをモニタリングしながら、個々の質量分析装置２００の特性を考慮した成分を選定することができる。
【0062】
また、ｍ／ｚ値のずれが生じる要因としては、温度や湿度だけでなく、質量分析装置２００自体の問題も存在する。例えば、スキャン速度の変更に伴うものがある。
スキャン速度は、高速であるほど測定時に含まれている成分を定性的に見ることができる。また、スキャン速度が低速であるほど測定したい成分を定量的に測定することができる。しかし、質量分析においては、スキャン速度を低速から高速、高速から低速に変化させるとｍ／ｚ値のずれが生じるため、そのたびにｍ／ｚ値と高周波電圧の関係を修正する必要がある。
スキャン速度は、高速であるほど測定時に含まれている成分を定性的に見ることができる。また、スキャン速度が低速であるほど測定したい成分を定量的に測定することができる。しかし、質量分析においては、スキャン速度を低速から高速、高速から低速に変化させるとｍ／ｚ値のずれが生じるため、そのたびにｍ／ｚ値と高周波電圧の関係を修正する必要がある。
【0063】
第１実施形態では、前記した手法によりマススペクトルＭの拡大縮小に対して適切なスキャン速度が設定される。このため、スキャン速度の変更に伴う質量校正を行わなくてもよい。
【0064】
また、一般的にＭＳ／ＭＳにおけるＭＳ１分析において測定するｍ／ｚ範囲を更新することや、スキャン速度の変更は行われない。ちなみに、特許文献１や特許文献２では、ｍ／ｚ範囲の変更はＭＳ２分析に限定されている。
【0065】
これに対し、ＭＳ１分析時の測定結果に第１実施形態に示す手法を適用することで、スキャン速度変更処理部１１２がＭＳ１分析時のマススペクトルＭを拡大縮小した際のｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）に対応したスキャン速度に変更することができる。これにより、ＭＳ１分析において適切なスキャン速度による測定が行われ、良好な質量分解能を得ることができる。その結果、ＭＳ１の段階で良好な質量分解能を有するマススペクトルＭを取得することができるため、ＭＳ１における測定成分の取りこぼし等を防止することができる。従って、ＭＳ／ＭＳ全体の精度を向上させることができる。
【0066】
また、良好な質量分解能により、ＳＩＭや、ＳＲＭにおけるｍ／ｚ値のずれをユーザがマススペクトルＭで確認する際に、ＳＩＭ、ＳＲＭの対象成分だけではなく、ＳＩＭ、ＳＲＭの対象成分以外のｍ／ｚ値の同位体をユーザが確認することができる。そして、これにより、ユーザは、ＳＩＭ、ＳＲＭの対象成分以外の成分（同位体）についてｍ／ｚ値のずれも確認することができる。つまり、第１実施形態によれば、前記したように、マススペクトルＭの拡大縮小に対して適切なスキャン速度が制御部２１９に設定されることで、良好な質量分解能を得ることができる。これにより、ユーザは表示部１０２に表示されるマススペクトルＭ２で複数質量のイオン強度を確認することができる。従って、ＳＩＭやＳＲＭにおいて、ＳＩＭやＳＲＭに使用する成分のｍ／ｚ値のずれだけでなく、測定対象成分以外の成分や、同位体を含む成分のｍ／ｚ値のずれをユーザが評価し、ユーザによる質量校正の是非判断の補助を行うことができる。
【0067】
質量分解能を向上させる方法として、高周波電圧（即ちスキャン速度）を手動で調整し、ピーク幅を調整する方法が一般的にある。しかし、ピーク幅を削りすぎることにより感度が低下する恐れがある。
これに対し、本実施形態では、スキャン速度変更処理部１１２が拡大縮小したマススペクトルＭを基に適切なスキャン速度を決定する。この際、マススペクトルＭにおける谷の深さを基にスキャン速度が決定される。このため、ピーク幅を削りすぎることによる感度低下を防ぐことができる。
これに対し、本実施形態では、スキャン速度変更処理部１１２が拡大縮小したマススペクトルＭを基に適切なスキャン速度を決定する。この際、マススペクトルＭにおける谷の深さを基にスキャン速度が決定される。このため、ピーク幅を削りすぎることによる感度低下を防ぐことができる。
【0068】
また、第１実施形態では図７Ａに示すように、マススペクトルＭ１の拡大範囲５００（もしくは縮小範囲）がマウスによるドラッグで指定される。このようにすることで、質量分析に関する操作について知識を持たないユーザでも容易にマススペクトルＭ１の拡大又は縮小と、スキャン速度の変更を行うことができる。
【0069】
＜第２実施形態＞
次に、図１０Ａ及び図１０Ｂを参照して、本発明の第２実施形態を説明する。適宜、図１～図３を参照する。
第１実施形態では、演算装置１００としてＰＣ（Personal Computer）が想定されているが、ＰＣの操作は手軽さにかけるという課題がある。第２実施形態では、第１実施形態よりも手軽さを向上させることを目的とする。
次に、図１０Ａ及び図１０Ｂを参照して、本発明の第２実施形態を説明する。適宜、図１～図３を参照する。
第１実施形態では、演算装置１００としてＰＣ（Personal Computer）が想定されているが、ＰＣの操作は手軽さにかけるという課題がある。第２実施形態では、第１実施形態よりも手軽さを向上させることを目的とする。
【0070】
第２実施形態では、図１に示す演算装置１００としてタブレット端末や、スマートフォン等といった携帯端末が使用され、表示部１０１及び入力部１０２がタッチパネルに置き換えられる例を示す。そして、第２実施形態ではタッチパネル上のピンチアウト動作でマススペクトルＭ（図７Ａ、図７Ｂ参照）を拡大する処理について記述する。
【0071】
図１０Ａ及び図１０Ｂは、第２実施形態における拡大縮小処理（図５のステップＳ４）の具体的な処理を示す図である。図１０Ａは拡大処理前のマススペクトルＭ２１の一例を示し、図１０Ｂは拡大処理御のマススペクトルＭ２１の一例を示している。
まず、ユーザは、図１０Ａに示すマススペクトルＭ２１において、符号６０１と符号６０２とで示されるタッチパネル画面の上の任意の２点を押下する。演算装置１００（携帯端末）は、押下されたユーザの指の位置情報を始点とする。次に、ユーザは、表示部１０１の画面上で押下された状態の指を符号６１１と符号６１２の位置までスライドさせ、指を離す。演算装置１００（携帯端末）は、これを終点とする。これによって、拡大範囲６００が設定される。
まず、ユーザは、図１０Ａに示すマススペクトルＭ２１において、符号６０１と符号６０２とで示されるタッチパネル画面の上の任意の２点を押下する。演算装置１００（携帯端末）は、押下されたユーザの指の位置情報を始点とする。次に、ユーザは、表示部１０１の画面上で押下された状態の指を符号６１１と符号６１２の位置までスライドさせ、指を離す。演算装置１００（携帯端末）は、これを終点とする。これによって、拡大範囲６００が設定される。
【0072】
この際、演算装置１００（携帯端末）は、符号６０２と符号６０２それぞれのｍ／ｚ値の情報を記憶部１２０に記憶する。更に、演算装置１００（携帯端末）は、符号６０１と符号６０１、符号６０２と符号６１２のｍ／ｚ軸に対する変化量を記憶する。そして、演算装置１００（携帯端末）は、符号６０１，６０２の位置情報に対し、変化量を足し合わせる。演算装置１００（携帯端末）は、これを新たなｍ／ｚ範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２（図３参照））とする。
【0073】
この結果、図１０Ｂに示される、図１０Ａに示されるマススペクトルＭ２１の一部を拡大したマススペクトルＭ２２が表示部１０１に表示される。なお、図１０Ｂに示されるマススペクトルＭ２２は決定された適切なスキャン速度による測定が行われた結果を示しているため、マススペクトルＭ２１とは形状が異なっている。
【0074】
スキャン速度変更処理部１１２は、このような動作により得られたｍ／ｚ範囲を新たなマススペクトルＭの測定範囲（変更ｍ／ｚ範囲１２２）として、記憶部１２０に記憶させる。そして、スキャン速度変更処理部１１２は、記憶部１２０に記憶された変更ｍ／ｚ範囲１２２を取得する。
【0075】
そして、スキャン速度変更処理部１１２は、取得した変更ｍ／ｚ範囲１２２の情報に基づき、スキャン速度パターン１２１に保存されているスキャン速度から適切なスキャン速度を決定する。適切なスキャン速度の決定処理は第１実施形態と同様であるため、ここでの説明を省略する。
【0076】
更に、スキャン速度変更処理部１１２は、決定したスキャン速度に対応した高周波電圧を決定する。スキャン速度変更処理部１１２は、決定した高周波電圧を制御部２１０に設定する。質量分析装置２００は変更ｍ／ｚ範囲１２２と、決定したスキャン速度で測定を開始する。
【0077】
第２実施形態では、演算装置１００としてタブレット端末や、スマートフォン等が使用され、指動作によって拡大又は縮小処理が行われる。これにより、第２実施形態は第１実施形態よりも手軽さを向上させることができる。
【0078】
本実施形態は、三連四重極やイオントラップを用いるタンデム質量分析において、プリカーサイオンの選択を行い、イオンを衝突誘起解離させた後に二段階目の質量分析でプロダクトイオンを検出するＭＳ／ＭＳで使用が可能である。また、質量分析処理を複数回（３回以上）繰り返すＭＳｎ分析でも同様に使用が可能である。
【0079】
本発明は前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明したすべての構成を有するものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【0080】
また、前記した各構成、機能、各部１１０，１１１～１１３、記憶部１２０等は、それらの一部又はすべてを、例えば集積回路で設計すること等によりハードウェアで実現してもよい。また、図４に示すように、前記した各構成、機能等は、ＣＰＵ１３２等のプロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、ＨＤに格納すること以外に、メモリ１３１や、ＳＳＤ等の記録装置、又は、ＩＣ（Integrated Circuit）カードや、ＳＤ（Secure Digital）カード、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の記録媒体に格納することができる。
また、各実施形態において、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしもすべての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、ほとんどすべての構成が相互に接続されていると考えてよい。
また、各実施形態において、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしもすべての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、ほとんどすべての構成が相互に接続されていると考えてよい。
【符号の説明】
【0081】
１００ 演算装置（制御装置）
１０１ 表示部
１１０ 処理部
１１１ 取得部（マススペクトル取得部）
１１２ スキャン速度変更処理部（ｍ／ｚ範囲取得部、設定部）
１１３ 表示処理部
１２０ 記憶部
１２１ スキャン速度パターン
１２２ 変更ｍ／ｚ範囲
２００ 質量分析装置
２１０ 制御部
３００ 試料供給装置
４００ スキャン速度設定画面
５００，６００ 拡大範囲
Ｍ，Ｍ１，Ｍ２，Ｍ１１～Ｍ１３，Ｍ２１，Ｍ２２ マススペクトル
Ｚ 質量分析システム
Ｓ３ マススペクトルの取得（マススペクトル取得ステップ）
Ｓ５ 変更ｍ／ｚ範囲の記憶（ｍ／ｚ範囲取得ステップ）
Ｓ６ スキャン速度変更処理部（スキャン速度変更処理ステップ）
１０１ 表示部
１１０ 処理部
１１１ 取得部（マススペクトル取得部）
１１２ スキャン速度変更処理部（ｍ／ｚ範囲取得部、設定部）
１１３ 表示処理部
１２０ 記憶部
１２１ スキャン速度パターン
１２２ 変更ｍ／ｚ範囲
２００ 質量分析装置
２１０ 制御部
３００ 試料供給装置
４００ スキャン速度設定画面
５００，６００ 拡大範囲
Ｍ，Ｍ１，Ｍ２，Ｍ１１～Ｍ１３，Ｍ２１，Ｍ２２ マススペクトル
Ｚ 質量分析システム
Ｓ３ マススペクトルの取得（マススペクトル取得ステップ）
Ｓ５ 変更ｍ／ｚ範囲の記憶（ｍ／ｚ範囲取得ステップ）
Ｓ６ スキャン速度変更処理部（スキャン速度変更処理ステップ）
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7A】
【図7B】
【図8】
【図9A】
【図9B】
【図9C】
【図10A】
【図10B】