発明の名称 解析装置、解析方法、解析プログラム及びプラズマ処理制御システム
出願人 東京エレクトロン株式会社 (識別番号 219967)
特許公開件数ランキング 35 位(570件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 22 位(757件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7677730
公報発行日 2025年5月15
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7677730
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