特許7711350低温電子顕微鏡法における温度監視の方法

発明の名称　低温電子顕微鏡法における温度監視の方法

出願人　エフ　イー　アイ　カンパニ　（識別番号 501233536）

　　　　特許公開件数ランキング 450 位（23件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 872 位（8件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7711350

公報発行日　2025年7月23

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7711350

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