特許 7720004 光路切替ノード、光ファイバネットワーク及び光ファイバネットワークの試験方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2025-07-30

(45)【発行日】2025-08-07

(54)【発明の名称】光路切替ノード、光ファイバネットワーク及び光ファイバネットワークの試験方法

(51)【国際特許分類】

   H04B 10/291 20130101AFI20250731BHJP

   H04B 10/077 20130101ALI20250731BHJP

【ＦＩ】

H04B10/291

H04B10/077

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2024504074

(86)(22)【出願日】2022-03-02

(86)【国際出願番号】 JP2022008787

(87)【国際公開番号】W WO2023166593

(87)【国際公開日】2023-09-07

【審査請求日】2024-08-09

(73)【特許権者】

【識別番号】000004226

【氏名又は名称】ＮＴＴ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110004613

【氏名又は名称】弁理士法人アイル知財事務所

(72)【発明者】

【氏名】中江 和英

(72)【発明者】

【氏名】片山 和典

(72)【発明者】

【氏名】渡邉 ひろし

(72)【発明者】

【氏名】川野 友裕

(72)【発明者】

【氏名】藤本 達也

【審査官】対馬 英明

(56)【参考文献】

【文献】米国特許出願公開第２０１１／０２５５８６０（ＵＳ，Ａ１）

【文献】特開平１１－２７２０８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－１９１２１２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１１－４３７７１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｈ０４Ｂ １０／００－１０／９０

Ｈ０４Ｊ １４／００－１４／０８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１のポートと第２のポートとが内部で接続され、第３のポートと第４のポートとが内部で接続される第１の接続状態、
前記第１のポートと前記第３のポートとが内部で接続され、前記第２のポートと前記第４のポートとが内部で接続される第２の接続状態、及び
前記第１のポートと前記第４のポートとが内部で接続され、前記第２のポートと前記第３のポートとが内部で接続される第３の接続状態のいずれかに切替可能な四方路光スイッチと、
前記第１のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第１の光カプラと、
前記第２のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第２の光カプラと、
前記第３のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第３の光カプラと、
前記第４のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第４の光カプラと、
を備える光路切替ノード。

【請求項2】

試験光を前記第１の光カプラ、前記第２の光カプラ、前記第３の光カプラ及び前記第４の光カプラのいずれかに向けて切替接続する試験光用スイッチをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の光路切替ノード。

【請求項3】

請求項１に記載の光路切替ノードと、
前記第１の光カプラを介して前記第１のポートに接続される第１の光ファイバと、
前記第２の光カプラを介して前記第２のポートに接続される第２の光ファイバと、
前記第３の光カプラを介して前記第３のポートに接続される第３の光ファイバと、
前記第４の光カプラを介して前記第４のポートに接続される第４の光ファイバと、
を備える光ファイバネットワーク。

【請求項4】

前記第１の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第５の光ファイバと、
前記第２の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第６の光ファイバと、
前記第３の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第７の光ファイバと、
前記第４の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第８の光ファイバと、
をさらに備えることを特徴とする請求項３に記載の光ファイバネットワーク。

【請求項5】

請求項２に記載の光路切替ノードと、
前記第１の光カプラを介して前記第１のポートに接続される第１の光ファイバと、
前記第２の光カプラを介して前記第２のポートに接続される第２の光ファイバと、
前記第３の光カプラを介して前記第３のポートに接続される第３の光ファイバと、
前記第４の光カプラを介して前記第４のポートに接続される第４の光ファイバと、
を備える光ファイバネットワーク。

【請求項6】

前記試験光用スイッチに試験光を入力する第９の光ファイバをさらに備えることを特徴とする請求項５に記載の光ファイバネットワーク。

【請求項7】

請求項４に記載の光ファイバネットワークの第５の光ファイバ、第６の光ファイバ、第７の光ファイバ及び第８の光ファイバの少なくとも１本に試験光を入力して、対応する第１の光ファイバ、第２の光ファイバ、第３の光ファイバ及び第４の光ファイバのいずれかを試験する光ファイバネットワークの試験方法。

【請求項8】

請求項６に記載の光ファイバネットワークの第９の光ファイバに試験光を入力して、前記試験光用スイッチで切替接続した第１の光ファイバ、第２の光ファイバ、第３の光ファイバ及び第４の光ファイバのいずれかを試験する光ファイバネットワークの試験方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、光路切替ノード、その光路切替ノードを適用した光ファイバネットワーク及びその光ファイバネットワークの試験方法に関する。

【背景技術】

【0002】

アクセス系の光ファイバネットワークでは、通信ビルに設置された通信装置とユーザ宅に設置されたユーザ端末とを光ファイバ心線で接続したり、光ファイバ心線のルートを変更する光路切替を行ったりしている。光路切替ノードに適用する四方路光スイッチの構成を図１に、図１の四方路光スイッチを適用した光ファイバネットワークの構成とその試験方法を図２、図３に示す（例えば、非特許文献１参照。）。

【0003】

図１において、１０は四方路光スイッチである。四方路光スイッチ１０は、３種類の接続状態が可能である。即ち、
（１）第１のポートＰ１と第２のポートＰ２とが内部で接続され、第３のポートＰ３と第４のポートＰ４とが内部で接続される第１の接続状態
（２）第１のポートＰ１と第３のポートＰ３とが内部で接続され、第２のポートＰ２と第４のポートＰ４とが内部で接続される第２の接続状態、及び
（３）第１のポートＰ１と第４のポートＰ４とが内部で接続され、第２のポートＰ２と第３のポートＰ３とが内部で接続される第３の接続状態
のいずれかに切替可能である。

【0004】

図２、図３において、１００は通信装置、１０１は配線架、１０２は上位ループ、１０３－１、１０３－２及び１０３－３は下位ループ、１０４はユーザ端末、２１０－１、２１０－２及び２１０－３は光路切替ノードである。光路切替ノード２１０－１、２１０－２及び２１０－３には、図１で説明した四方路光スイッチ１０がそれぞれ配置されている。四方路光スイッチ１０の第１のポートＰ１及び第２のポートＰ２は上位ループに接続され、第３のポートＰ３及び第４のポートは下位ループに接続されている。

【0005】

図２に示す光ファイバネットワークにおいて、通信ビルに設置された通信装置１００とユーザ宅に設置されたユーザ端末１０４とを光ファイバネットワークで接続するには、上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－１の四方路光スイッチを第一の接続状態とし、光路切替ノード２１０－２の四方路光スイッチを第２の接続状態とする。通信装置１００からの光ファイバルートは通信ビル内の配線架１０１を経て、上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－１を通過状態となり、光路切替ノード２１０－２で下位ループ１０３－２に連結され、ユーザ端末１０４に至る。

【0006】

図２に示す光ファイバネットワークの試験は、図３に示すような方法が採用されている。通信ビルの配線架１０１から、通信とは異なる波長の試験光（図３の破線）が波長多重で挿入され、上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－１、光路切替ノード２１０－２、下位ループ１０３－２を経て、ユーザ端末１０４までの区間が試験される（例えば、非特許文献２参照。）。試験光は通信光とは異なる波長のため、通信装置１００とユーザ端末１０４との間が通信中であっても、通信に影響を及ぼすことなく、試験を実施することができる。

【先行技術文献】

【非特許文献】

【0007】

【文献】川野友裕、藤本達也、中江和英、渡辺汎、片山和典、「将来光アクセス網に向けた遠隔光路切替ノードの検討」、２０２１年電子情報通信学会総合大会、Ｂ－１３－１６、２０２１

【文献】渡辺 汎、川野友裕、深井千里、小山良、中江和英、藤本達也、阿部宜輝、片山和典、「多段ループ型光アクセス網で運用する遠隔光路切替ノード」、２０２１年電子情報通信学会ソサエティ大会、ＢＫ－２－３、２０２１

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

しかし、光ファイバネットワークの構成には、図４に示すような形態も想定される。図４において、１００は通信装置、１０１は配線架、１０２は上位ループ、１０３－１、１０３－２及び１０３－３は下位ループ、１０４－１、１０４－２はユーザ端末、２１０－１、２１０－２及び２１０－３は光路切替ノードである。

【0009】

光路切替ノード２１０－２の四方路光スイッチが第３の接続状態に切替接続され、光路切替ノード２１０－３の四方路光スイッチが第２の接続状態に切替接続され、光ファイバルートが通信ビルを経ることなく、ユーザ端末１０４－１とユーザ端末１０４－２が直接接続されている。このときの光ファイバルートは下位ループ１０３－２のユーザ端末１０４－１から光路切替ノード２１０－２までの区間、上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－２から光路切替ノード２１０－３までの区間及び下位ループ１０３－３の光路切替ノード２１０－３からユーザ端末１０４－２までの区間となる。

【0010】

図４に示す光ファイバネットワークの試験は、図５、図６に示すような方法が想定される。図５、図６において、１００は通信装置、１０１は配線架、１０２は上位ループ、１０３－１、１０３－２及び１０３－３は下位ループ、１０４－１、１０４－２はユーザ端末、２１０－１、２１０－２及び２１０－３は光路切替ノードである。

【0011】

図４に示す光ファイバネットワークの試験は、下記Ａ区間及びＢ区間に分けられる。
Ａ区間：下位ループ１０３－２のユーザ端末１０４－１から光路切替ノード２１０－２までの区間
Ｂ区間：上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－２から光路切替ノード２１０－３までの区間及び下位ループ１０３－３の光路切替ノード２１０－３からユーザ端末１０４－２までの区間

【0012】

Ａ区間の試験は、図５に示すように、下記の手順で行う。
１．光路切替ノード２１０－２を第２の接続状態に切替える。
２．通信ビルの配線架１０１から試験光（図５の破線）を挿入し、上位ループ１０２を経由してＡ区間の光ファイバを試験する。

【0013】

Ｂ区間の試験は、図６に示すように、下記の手順で行う。
１．光路切替ノード２１０－２を第１の接続状態に切替える。
２．通信ビルの配線架１０１から試験光（図６の破線）を挿入し、上位ループ１０２を経由してＢ区間の光ファイバを試験する。

【0014】

上記の手順で光ファイバネットワークの試験を行うには、光路切替ノード２１０－２を通信状態の第３の接続状態から第２の接続状態又は第１の接続状態に切替えなければならないため、ユーザ端末１０４－１とユーザ端末１０４－２間の通信が途絶してしまう。通信が途絶する場合は、ユーザからの承諾が必要になる。ユーザから承諾が得られても、光路切替ノード２１０－２を複数回、切替えて試験し、試験後は光路切替ノード２１０－２を切戻すために、通信途絶状態が長引く恐れがある。

【0015】

本開示は、通信が途絶することなく光ファイバネットワークの試験を可能とする光路切替ノード、その光路切替ノードを適用した光ファイバネットワーク及びその光ファイバネットワークの試験方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0016】

本開示の光路切替ノードは、試験光を結合させる光カプラを備えることで、通信が途絶することなく光ファイバネットワークの試験を可能とする。

【0017】

具体的には、本開示の光路切替ノードは、
第１のポートと第２のポートとが内部で接続され、第３のポートと第４のポートとが内部で接続される第１の接続状態、
前記第１のポートと前記第３のポートとが内部で接続され、前記第２のポートと前記第４のポートとが内部で接続される第２の接続状態、及び
前記第１のポートと前記第４のポートとが内部で接続され、前記第２のポートと前記第３のポートとが内部で接続される第３の接続状態のいずれかに切替可能な四方路光スイッチと、
前記第１のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第１の光カプラと、
前記第２のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第２の光カプラと、
前記第３のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第３の光カプラと、
前記第４のポートからの光路に前記四方路光スイッチの外部方向へ試験光を結合させる第４の光カプラと、
を備える。

【0018】

具体的には、本開示の光路切替ノードは、、
試験光を前記第１の光カプラ、前記第２の光カプラ、前記第３の光カプラ及び前記第４の光カプラのいずれかに向けて切替接続する試験光用スイッチをさらに備えることを特徴とする。

【0019】

本開示の光ファイバネットワークは、本開示の光路切替ノードを備えることで、通信が途絶することなく光ファイバネットワークの試験を可能とする。

【0020】

具体的には、本開示の光ファイバネットワークは、
上記に記載の光路切替ノードと、
前記第１の光カプラを介して前記第１のポートに接続される第１の光ファイバと、
前記第２の光カプラを介して前記第２のポートに接続される第２の光ファイバと、
前記第３の光カプラを介して前記第３のポートに接続される第３の光ファイバと、
前記第４の光カプラを介して前記第４のポートに接続される第４の光ファイバと、
を備える。

【0021】

具体的には、本開示の光ファイバネットワークは、
前記第１の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第５の光ファイバと、
前記第２の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第６の光ファイバと、
前記第３の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第７の光ファイバと、
前記第４の光カプラに前記四方路光スイッチの外部方向への試験光を入力する第８の光ファイバと、
をさらに備えることを特徴とする。

【0022】

具体的には、本開示の光ファイバネットワークは、
上記に記載の光路切替ノードと、
前記第１の光カプラを介して前記第１のポートに接続される第１の光ファイバと、
前記第２の光カプラを介して前記第２のポートに接続される第２の光ファイバと、
前記第３の光カプラを介して前記第３のポートに接続される第３の光ファイバと、
前記第４の光カプラを介して前記第４のポートに接続される第４の光ファイバと、
を備える。

【0023】

具体的には、本開示の光ファイバネットワークは、
前記試験光用スイッチに試験光を入力する第９の光ファイバをさらに備えることを特徴とする。

【0024】

本開示の光ファイバネットワークの試験方法は、本開示の光路切替ノードを利用して、通信が途絶することなく光ファイバネットワークの試験を可能とする。

【0025】

具体的には、本開示の光ファイバネットワークの試験方法は、
上記に記載の光ファイバネットワークの第５の光ファイバ、第６の光ファイバ、第７の光ファイバ及び第８の光ファイバの少なくとも１本に試験光を入力して、対応する第１の光ファイバ、第２の光ファイバ、第３の光ファイバ及び第４の光ファイバのいずれかを試験する。

【0026】

具体的には、本開示の光ファイバネットワークの試験方法は、
上記に記載の光ファイバネットワークの第９の光ファイバに試験光を入力して、前記試験光用スイッチで切替接続した第１の光ファイバ、第２の光ファイバ、第３の光ファイバ及び第４の光ファイバのいずれかを試験する。

【0027】

なお、上記各開示の発明は、可能な限り組み合わせることができる。

【発明の効果】

【0028】

本開示によれば、通信が途絶することなく光ファイバネットワークの試験を可能とする光路切替ノード、その光路切替ノードを適用した光ファイバネットワーク及びその光ファイバネットワークの試験方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0029】

【図1】光路切替ノードに適用する四方路光スイッチの構成を示す。

【図2】光ファイバネットワークの構成の一例を示す。

【図3】光ファイバネットワークの試験の一例を示す。

【図4】光ファイバネットワークの構成の一例を示す。

【図5】光ファイバネットワークの試験の一例を示す。

【図6】光ファイバネットワークの試験の一例を示す。

【図7】光路切替ノードの構成の一例を示す。

【図8】四方路光スイッチの構成の一例を示す。

【図9】光路切替ノードの構成の一例を示す。

【図10】光ファイバネットワークの試験の一例を示す。

【図11】光ファイバネットワークの試験の一例を示す。

【図12】光ファイバネットワークの試験の一例を示す。

【発明を実施するための形態】

【0030】

以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

【0031】

本開示の光路切替ノード及び光ファイバネットワークの構成を図７に示す。図７において、１０は四方路光スイッチ、１１－１は第１の光カプラ、１１－２は第２の光カプラ、１１－３は第３の光カプラ、１１－４は第４の光カプラ、２０－１は第１の光ファイバ、２０－２は第２の光ファイバ、２０－３は第３の光ファイバ、２０－４は第４の光ファイバ、２０－５は第５の光ファイバ、２０－６は第６の光ファイバ、２０－７は第７の光ファイバ、２０－８は第８の光ファイバ、１１０は光路切替ノードである。

【0032】

図７において、四方路光スイッチ１０は、３種類の接続状態が可能である。即ち、
（１）第１のポートＰ１と第２のポートＰ２とが内部で接続され、第３のポートＰ３と第４のポートＰ４とが内部で接続される第１の接続状態
（２）第１のポートＰ１と第３のポートＰ３とが内部で接続され、第２のポートＰ２と第４のポートＰ４とが内部で接続される第２の接続状態、及び
（３）第１のポートＰ１と第４のポートＰ４とが内部で接続され、第２のポートＰ２と第３のポートＰ３とが内部で接続される第３の接続状態
のいずれかに切替可能である。

【0033】

四方路光スイッチ１０の構成例を図８に示す。図８において、１５－１、１５－２、１５－３及び１５－４は１×３光スイッチである。１×３光スイッチ１５－１は光方路を他の１×３光スイッチ１５－２、１５－３及び１５－４のいずれにも切替えることができる。１×３光スイッチ１５－２、１５－３及び１５－４も同様である。１×３光スイッチ１５－１、１５－２、１５－３及び１５－４の光方路を切替えることによって、四方路光スイッチ１０は、３種類の接続状態が可能となる。１×３光スイッチとしては、機械的光スイッチやＭＥＭＳ光スイッチが例示できる。

【0034】

図７において、光路切替ノード１１０は、四方路光スイッチ１０に加えて、第１のポートＰ１からの光路に四方路光スイッチ１０の外部方向へ試験光を結合させる第１の光カプラ１１－１と、第２のポートＰ２からの光路に四方路光スイッチ１０の外部方向へ試験光を結合させる第２の光カプラ１１－２と、第３のポートＰ３からの光路に四方路光スイッチ１０の外部方向へ試験光を結合させる第３の光カプラ１１－３と、第４のポートＰ４からの光路に四方路光スイッチ１０の外部方向へ試験光を結合させる第４の光カプラ１１－４と、をさらに備える。

【0035】

試験用端子Ｍ１から入力された試験光は第１の光カプラ１１－１で結合され、通信用端子Ｔ１から出力される。試験用端子Ｍ２、Ｍ３及びＭ４から入力された試験光は、それぞれ第２の光カプラ１１－２、第３の光カプラ１１－３及び第４の光カプラ１１－４で結合され、それぞれ通信用端子Ｔ２、Ｔ３及びＴ４から出力される。

【0036】

第１の光カプラ１１－１、第２の光カプラ１１－２、第３の光カプラ１１－３及び第４の光カプラ１１－４には、光ファイバ型カプラや光導波路型カプラが適用できる。これらの光カプラの光路が接続されない端点には、無反射終端器を装着することが好ましい。光ファイバの試験の際に、不要な反射を防止するためである。

【0037】

図７において、本開示の光ファイバネットワークは、光路切替ノード１１０と、第１の光カプラ１１－１を介して第１のポートＰ１に接続される第１の光ファイバ２０－１と、第２の光カプラ１１－２を介して第２のポートＰ２に接続される第２の光ファイバ２０－２と、第３の光カプラ１１－３を介して第３のポートＰ３に接続される第３の光ファイバ２０－３と、第４の光カプラ１１－４を介して第４のポートＰ４に接続される第４の光ファイバ２０－４と、を備える。これらは通信用光ファイバである。

【0038】

図７においては、第１の光ファイバ２０－１は、通信用端子Ｔ１に終端され、通信用端子Ｔ１と第１のポートＰ１との間は第１の光カプラ１１－１を介して接続されている。第２の光ファイバ２０－２は、通信用端子Ｔ２に終端され、通信用端子Ｔ２と第２のポートＰ２との間は第２の光カプラ１１－２を介して接続されている。第３の光ファイバ２０－３は、通信用端子Ｔ３に終端され、通信用端子Ｔ３と第３のポートＰ３との間は第３の光カプラ１１－３を介して接続されている。第４の光ファイバ２０－４は、通信用端子Ｔ４に終端され、通信用端子Ｔ４と第４のポートＰ４との間は第４の光カプラ１１－４を介して接続されている。

【0039】

図７において、本開示の光ファイバネットワークは、第１の光カプラ１１－１に四方路光スイッチ１０の外部方向への試験光を入力する第５の光ファイバ２０－５と、第２の光カプラ１１－２に四方路光スイッチ１０の外部方向への試験光を入力する第６の光ファイバ２０－６と、第３の光カプラ１１－３に四方路光スイッチ１０の外部方向への試験光を入力する第７の光ファイバ２０－７と、第４の光カプラ１１－４に四方路光スイッチ１０の外部方向への試験光を入力する第８の光ファイバ２０－８と、をさらに備えてもよい。これらは試験用光ファイバである。

【0040】

図７においては、第５の光ファイバ２０－５は、試験用端子Ｍ１に終端され、試験用端子Ｍ１と通信用端子Ｔ１との間は、第１の光カプラ１１－１を介して接続されている。第６の光ファイバ２０－６は、試験用端子Ｍ２に終端され、試験用端子Ｍ２と通信用端子Ｔ２との間は、第２の光カプラ１１－２を介して接続されている。第７の光ファイバ２０－７は、試験用端子Ｍ３に終端され、試験用端子Ｍ３と通信用端子Ｔ３との間は、第３の光カプラ１１－３を介して接続されている。第８の光ファイバ２０－８は、試験用端子Ｍ４に終端され、試験用端子Ｍ４と通信用端子Ｔ４との間は、第４の光カプラ１１－４を介して接続されている。

【0041】

本開示の光路切替ノード及び光ファイバネットワークの他の構成を図９に示す。図９において、１０は四方路光スイッチ、１１－１は第１の光カプラ、１１－２は第２の光カプラ、１１－３は第３の光カプラ、１１－４は第４の光カプラ、１２は試験光用スイッチ、２０－１は第１の光ファイバ、２０－２は第２の光ファイバ、２０－３は第３の光ファイバ、２０－４は第４の光ファイバ、２０－９は第９の光ファイバ、１１０は光路切替ノードである。

【0042】

図７に示す光路切替ノードとの違いは、本開示の光路切替ノード１１０では、試験光を第１の光カプラ１１－１、第２の光カプラ１１－２、第３の光カプラ１１－３及び第４の光カプラ１１－４のいずれかに向けて切替接続する試験光用スイッチ１２をさらに備える点である。試験用端子Ｍ５から入力された試験光は試験光用スイッチ１２によって切替えられ、第１の光カプラ１１－１、第２の光カプラ１１－２、第３の光カプラ１１－３及び第４の光カプラ１１－４のいずれかで結合され、通信用端子Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３及びＴ４のいずれかから出力される。図７に示す光路切替ノードに比較して、本開示の光路切替ノード１１０では、試験光を入力する試験用光ファイバの本数を削減することができる。

【0043】

図９において、本開示の光ファイバネットワークは、光路切替ノード１１０と、第１の光カプラ１１－１を介して第１のポートＰ１に接続される第１の光ファイバ２０－１と、第２の光カプラ１１－２を介して第２のポートＰ２に接続される第２の光ファイバ２０－２と、第３の光カプラ１１－３を介して第３のポートＰ３に接続される第３の光ファイバ２０－３と、第４の光カプラ１１－４を介して第４のポートＰ４に接続される第４の光ファイバ２０－４と、を備える。これらは通信用光ファイバである。

【0044】

図９においては、第１の光ファイバ２０－１は、通信用端子Ｔ１に終端され、通信用端子Ｔ１と第１のポートＰ１との間は第１の光カプラ１１－１を介して接続されている。第２の光ファイバ２０－２は、通信用端子Ｔ２に終端され、通信用端子Ｔ２と第２のポートＰ２との間は第２の光カプラ１１－２を介して接続されている。第３の光ファイバ２０－３は、通信用端子Ｔ３に終端され、通信用端子Ｔ３と第３のポートＰ３との間は第３の光カプラ１１－３を介して接続されている。第４の光ファイバ２０－４は、通信用端子Ｔ４に終端され、通信用端子Ｔ４と第４のポートＰ４との間は第４の光カプラ１１－４を介して接続されている。

【0045】

本開示の光ファイバネットワークは、試験光用スイッチ１２に試験光を入力する第９の光ファイバ２０－９をさらに備えてもよい。第９の光ファイバ２０－９は試験用光ファイバである。図９において、第９の光ファイバ２０－９は、試験用端子Ｍ５に終端されている。第９の光ファイバ２０－９からの試験光は試験光用スイッチ１２に入力され、第１の光カプラ１１－１、第２の光カプラ１１－２、第３の光カプラ１１－３及び第４の光カプラ１１－４のいずれかに切替接続されて、いずれかで外部方向へ結合される。

【0046】

本開示の光ファイバネットワークの試験方法を図１０、図１１及び図１２に示す。図１０、図１１及び図１２において、１００は通信装置、１０１は配線架、１０２は上位ループ、１０３－１、１０３－２及び１０３－３は下位ループ、１０４－１、１０４－２はユーザ端末、１１０－１、１１０－２及び１１０－３は光路切替ノード、１２０は試験用光ファイバである。

【0047】

図１０、図１１及び図１２の光路切替ノード１１０－２にとって、図７又は図９に示す第１の光ファイバ２０－１は上位ループ１０２の光路切替ノード１１０－２から光路切替ノード１１０－３の方向の光ファイバに相当し、第２の光ファイバ２０－２は上位ループ１０２の光路切替ノード１１０－２から光路切替ノード１１０－１の方向の光ファイバに相当し、第３の光ファイバ２０－３は下位ループ１０３－２の光路切替ノード１１０－２から図面上、左回りの光ファイバに相当し、第４の光ファイバ２０－４は下位ループ１０３－２の光路切替ノード１１０－２から図面上、右回りの光ファイバに相当する。

【0048】

図１０、図１１及び図１２において、光路切替ノード１１０－２が図７に示す構成であれば、図７に示す第５の光ファイバ２０－５、第６の光ファイバ２０－６、第７の光ファイバ２０－７及び第８の光ファイバ２０－８のいずれか選択されたものが、試験用光ファイバ１２０に相当する。図１０、図１１及び図１２において、光路切替ノード１１０－２が図９に示す構成であれば、図９に示す第９の光ファイバ２０－９が試験用光ファイバ１２０に相当する。

【0049】

図１０において、通信ビルの配線架１０１から試験用光ファイバ１２０を経由して、光路切替ノード１１０－２に試験光（図１０の破線）を入力する。光路切替ノード１１０－２に入力された試験光は、光路切替ノード１１０－２の備える第１の光カプラ１１－１、第２の光カプラ１１－２、第３の光カプラ１１－３及び第４の光カプラ１１－４のいずれかによって、対応する第１の光ファイバ２０－１、第２の光ファイバ２０－２、第３の光ファイバ２０－３及び第４の光ファイバ２０－４のいずれかに入力される。光ファイバネットワークの試験としては、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）やＯＦＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）が例示できる。

【0050】

従って、本開示の光ファイバネットワークの試験方法によれば、四方路光スイッチ１０の接続状態に依存せず、第１の光ファイバ２０－１、第２の光ファイバ２０－２、第３の光ファイバ２０－３及び第４の光ファイバ２０－４を試験することができる。試験光の波長を通信光の波長と異なるよう設定すれば、通信が途絶することなく、光ファイバネットワークの試験を可能とすることができる。

【0051】

図１１及び図１２において、光路切替ノード２１０－２の四方路光スイッチが第３の接続状態に切替接続され、光路切替ノード２１０－３の四方路光スイッチが第２の接続状態に切替接続され、光ファイバルートが通信ビルを経ることなく、ユーザ端末１０４－１とユーザ端末１０４－２が直接接続されている。このときの光ファイバルートは下位ループ１０３－２のユーザ端末１０４－１から光路切替ノード２１０－２までの区間、上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－２から光路切替ノード２１０－３までの区間及び下位ループ１０３－３の光路切替ノード２１０－３からユーザ端末１０４－２までの区間となる。

【0052】

このような光ファイバネットワークの試験は、図１１、図１２に示すような方法が想定される。図１１、図１２に示す光ファイバネットワークの試験は、下記Ａ区間及びＢ区間に分けられる。
Ａ区間：下位ループ１０３－２のユーザ端末１０４－１から光路切替ノード２１０－２までの区間
Ｂ区間：上位ループ１０２の光路切替ノード２１０－２から光路切替ノード２１０－３までの区間及び下位ループ１０３－３の光路切替ノード２１０－３からユーザ端末１０４－２までの区間

【0053】

Ａ区間の試験は、図１１に示すように、通信ビルの配線架１０１から試験用光ファイバ１２１に試験光（図１１の破線）を入力し、Ａ区間の光ファイバネットワークを試験する。Ｂ区間の試験は、図１２に示すように、通信ビルの配線架１０１から試験用光ファイバ１２１に試験光（図１２の破線）を入力し、Ｂ区間の光ファイバネットワークを試験する。Ａ区間の試験とＢ区間の試験の順番は問わない。

【0054】

図１１及び図１２において、光路切替ノード１１０－２が図７に示す構成であれば、Ａ区間の試験では、第８の光ファイバ２０－８が試験用光ファイバ１２０に相当する。Ｂ区間の試験では、第５の光ファイバ２０－５が試験用光ファイバ１２０に相当する。図１１及び図１２において、光路切替ノード１１０－２が図９に示す構成であれば、Ａ区間の試験及びＢ区間の試験とも、第９の光ファイバ２０－９が試験用光ファイバ１２０に相当し、試験光用スイッチ１２は、Ａ区間の場合は第９の光ファイバからの光路を第４の光カプラ１１－４に、Ｂ区間の場合は第１の光カプラ１１－１に切替接続する。

【0055】

従って、本開示の光ファイバネットワークの試験方法によれば、ユーザ端末が直接接続されている場合でも、四方路光スイッチ１０の接続状態に依存せず、光ファイバネットワークを試験することができる。試験光の波長を通信光の波長と異なるよう設定すれば、通信が途絶することなく、光ファイバネットワークの試験を可能とすることができる。

【0056】

以上説明したように、本開示は、通信が途絶することなく光ファイバネットワークの試験を可能とする光路切替ノード、その光路切替ノードを適用した光ファイバネットワーク及びその光ファイバネットワークの試験方法を提供することができる。

【産業上の利用可能性】

【0057】

本開示は情報通信産業に適用することができる。

【符号の説明】

【0058】

１０：四方路光スイッチ
１１－１：第１の光カプラ
１１－２：第２の光カプラ
１１－３：第３の光カプラ
１１－４：第４の光カプラ
１２：試験光用スイッチ
１５－１、１５－２、１５－３及び１５－４：１×３光スイッチ
２０－１：第１の光ファイバ
２０－２：第２の光ファイバ
２０－３：第３の光ファイバ
２０－４：第４の光ファイバ
２０－５：第５の光ファイバ
２０－６：第６の光ファイバ
２０－７：第７の光ファイバ
２０－８：第８の光ファイバ
２０－９：第９の光ファイバ
１００：通信装置
１０１：配線架
１０２：上位ループ
１０３－１、１０３－２及び１０３－３：下位ループ
１０４－１、１０４－２：ユーザ端末
１１０－１、１１０－２及び１１０－３：光路切替ノード
１２０：試験用光ファイバ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】