特許7744119試験測定装置及び論理値軌道セグメント検出方法

発明の名称　試験測定装置及び論理値軌道セグメント検出方法

出願人　テクトロニクス・インコーポレイテッド　（識別番号 391002340）

　　　　特許公開件数ランキング 963 位（23件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 944 位（20件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7744119

公報発行日　2025年9月25

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7744119

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