発明の名称 小さなターゲットを使用して校正されるオーバーレイ誤差の測定
出願人 ケーエルエー−テンカー コーポレイション (識別番号 500049141)
特許公開件数ランキング 345 位(89件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 277 位(98件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7773630
公報発行日 2025年11月19
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7773630
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