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特許7780961物体反射特性測定システムおよび物体反射特性測定方法
発明の名称 物体反射特性測定システムおよび物体反射特性測定方法
出願人 株式会社日立システムズ （識別番号 233491）
特許公開件数ランキング 685 位（35件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 1043 位（18件）（共同出願を含む）
出願人 国立大学法人 東京大学 （識別番号 504137912）
特許公開件数ランキング 225 位（288件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 196 位（281件）（共同出願を含む）
公報番号 特許-7780961
公報発行日 2025年12月5
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7780961
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