特許7830475半導体デバイスにおける欠陥ベースの試験カバレッジギャップを自動的に識別するためのシステムおよび方法

発明の名称　半導体デバイスにおける欠陥ベースの試験カバレッジギャップを自動的に識別するためのシステムおよび方法

出願人　ケーエルエー−テンカー　コーポレイション　（識別番号 500049141）

　　　　特許公開件数ランキング 280 位（39件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 457 位（19件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7830475

公報発行日　2026年3月16

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7830475

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