特許7848963改善されたミリング精度のための顕微鏡的フィードバック

発明の名称　改善されたミリング精度のための顕微鏡的フィードバック

出願人　エフ　イー　アイ　カンパニ　（識別番号 501233536）

　　　　特許公開件数ランキング 481 位（23件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 927 位（8件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7848963

公報発行日　2026年4月21

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7848963

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