特許7921440IP Force 特許公報全文掲載

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L10型規則構造のFeNi規則合金を含む磁性体、磁石、および磁性体の製造方法に関するものである。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 磁石の概略図である。
【図2】 磁石に含まれる磁性体の概略図である。
【図3】 磁性体粒子の概略図である。
【図4】 磁性体粒子の断面構造を示す概略図である。
【図5】 磁性体粒子に含まれるL10型のFeNi規則合金の格子構造を示す模式図である。
【図6】 L10型のFeNi規則合金の前駆体であるFeNiNの格子構造を示す模式図である。
【図7】 磁性体の製造方法の一実施例の概要を示すフローチャートである。
【図8】 比較例1に係る磁性体の製造方法の概要を示すフローチャートである。
【図9】 比較例1と実施例1~3の評価結果を対比して示す表である。
【図10】 前駆体を示すSEM写真である。
【図11】 図10の領域Aを拡大したSEM写真である。
【図12】 図10の領域Bを拡大したSEM写真である。
【図13】 実施例と比較例のXRDパターンを示すグラフである。
【図14】 図13の領域Cを拡大したグラフである。
【図15】 実施例と比較例のヒステリシスカーブを示すグラフである。
【図16】 比較例1におけるFeNiN粒子のSEM写真である。
【図17】 実施例1におけるFeNiN粒子のSEM写真である。
【図18】 実施例2におけるFeNiN粒子のSEM写真である。
【図19】 実施例3におけるFeNiN粒子のSEM写真である。
【図20】 実施例と比較例における短軸長と規則度との関係を示すグラフである。
【図21】 実施例における長軸長と保磁力との関係を示すグラフである。
【図22】 実施例2におけるFeNiN粒子のTEM写真である。
【図23】 図22のFeNiN粒子の電子線回折像を示す写真である。
【図24】 図23の領域Fで示す回折スポットに対応する暗視野像を示す写真である。
【図25】 図23の領域Gで示す回折スポットに対応する暗視野像を示す写真である。
【図26】 実施例3におけるFeNiN粒子のTEM写真である。
【図27】 図26のFeNiN粒子の電子線回折像を示す写真である。
【図28】 比較例2に係る磁性体の製造方法の概要を示すフローチャートである。
【図29】 比較例2におけるFeNi粒子のSEM写真である。
【図30】 比較例2と実施例2の評価結果を示す表である。
【図31】 実施例4に係る磁性体の製造方法の概要を示すフローチャートである。
【図32】 実施例3と実施例4の評価結果を示す表である。
【図33】 実施例5に係る磁性体の製造方法の概要を示すフローチャートである。
【図34】 実施例3と実施例5の評価結果を示す表である。
【図35】 実施例3における磁性体粒子の断面形状を示すTEM写真である。
【図36】 実施例5における磁性体粒子の断面形状を示すTEM写真である。

代表図 図1本件の代表的な図

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