特許7930211IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

画像処理装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献１の技術を、例えば既存の画像処理装置に適用するには、処理を要する画像データが増加し、実現のためのコスト及び工数がかかってしまうという懸念がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、原稿に可視光および不可視光をそれぞれ照射する光源と、前記原稿によって反射した前記可視光および前記不可視光に対して前記原稿の背後に配置され、前記不可視光を吸収する背景部と、前記原稿によって反射した前記可視光および前記不可視光をそれぞれ受光して、前記可視光を光源とする前記原稿の可視画像と、前記不可視光を光源とする前記原稿の不可視画像とを撮像し・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、コスト及び工数を抑えつつ可視光と不可視光とに基づく原稿の角度補正を高精度に行うことができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、実施形態にかかる画像形成装置の構成の一例を示す模式図である。
【図2】 図２は、実施形態にかかる画像読み取り装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図3】 図３は、実施形態にかかる画像処理部の構成の一例を示すブロック図である。
【図4】 図４は、実施形態にかかる表面スキャナのハードウェア構成の一例を示す模式図である。
【図5】 図５は、実施形態にかかる表面スキャナの読み取り動作の一例を示す模式図である。
【図6】 図６は、実施形態にかかる表面スキャナの読み取り動作の一例を示す模式図である。
【図7】 図７は、実施形態にかかる表面スキャナの読み取り動作の一例を示す模式図である。
【図8】 図８は、実施形態にかかる画像処理部のエッジ検出動作の一例を示す模式図である。
【図9】 図９は、実施形態にかかる画像処理部のスキュー検知動作の一例を示す模式図である。
【図10】 図１０は、実施形態にかかる画像処理部の読み出し動作の一例を示す模式図である。
【図11】 図１１は、実施形態にかかる画像読み取り装置の各部の動作順を時系列で示す図である。
【図12】 図１２は、実施形態にかかる画像処理部による画像処理の手順の一例を示すフロー図である。
【図13】 図１３は、実施形態にかかる画像処理部による画像処理の手順の一例を示すフロー図である。
【図14】 図１４は、実施形態にかかるＣＰＵによる画像処理部の制御の手順の一例を示すフロー図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 画像形成装置 １１ 本体 １２ コンタクトガラス １３ 背景部 ２１ 光源 ２２ａ～２２ｃ ミラー ２３ レンズユニット ２４ 撮像部 ２４Ｂ センサ基板 ２４Ｃ 撮像素子 １００ 画像読み取り装置 １１１ 表面スキャナ １１２ 裏面スキャナ １２０，１３０ 画像処理部 １２０ａ 検知処理部 １２０ｂ 出力データ制御部 １２１ｎ，１２１ｒ エッジ検出部 １２２ｎ，１２２ｒ 上辺座標格納バッファ １２３ｎ，１２３ｒ 左辺座標格納バッファ １２４ 検知制御部 １２５ セレクタ部 １２６ スキュー検知部 １２７ 検知結果選択部 １２８ スキュー検知結果格納部 １２９ セレクタ １３０ｍ メモリ １３１，１３４ サブ画像処理部 １３２ 書き込み部 １３３ 読み出し部 １４０ ＣＰＵ １５１ 制御回路 １５１ｍ メモリ １５２ 制御ＣＰＵ

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