特許7931427IP Force 特許公報全文掲載

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光線路試験装置及び光線路試験方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

特許文献１に記載された技術によれば、散乱光の位相に基づいて振動を測定するため、パルス光を生成する光源の線幅（周波数幅）に依存する位相雑音により、光ファイバに伝わる振動を測定する際の精度が制限される。位相雑音を低減するためには、パルス光を生成する光源の線幅は狭い方が望ましい。一方、非特許文献４に記載された技術によれば、フェーディング雑音を抑えるために周波数を変化させる必要がある。大きな周波数の変化幅を得るためには、光源の線幅が広いほうが望ましい。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

上述した課題を解決するために、本発明の一態様に係る光線路試験装置及び光線路試験方法は、レーザ光源からの出力光をプローブ光路とローカル光路とに分岐し、プローブ光路の入力光を変調した変調光を、パルス光を含むプローブ光に変換する。プローブ光を光ファイバの一端に入射させた際に一端から出射される信号光とローカル光路の入力光を干渉させてビート信号を生成し、ビート信号に基づいて光ファイバにおける後方散乱光・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、光ファイバに伝わる物理的な振動の測定と、光ファイバの損失の測定を、同じ光源を用いて実施することができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、本発明の一光線路試験装置の構成を示すブロック図である。
【図2】 図２は、変調器による周波数変調の一例を示す図である。
【図3】 図３は、ビート信号に含まれる強度信号の一例を示す図である。
【図4】 図４は、本発明の一光線路試験装置の処理を示すフローチャートである。
【図5】 図５は、コントローラのハードウェア構成を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 光線路試験装置 １０ 光源 １５，４１，４３，４７，４９ カプラ ２０ 変調器 ２１ 信号発生器 ２３ パルス発生器 ３０ サーキュレータ ４０ 干渉器 ４５ 位相シフタ ５１，５３ バランス検出器 ６０ 信号解析部 ６５，６７ ＡＤ変換素子 ８０ 光ファイバ １００ コントローラ

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