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特表2022-523159窒化ケイ素の選択的堆積

書誌要約請求の範囲詳細な説明課題実施例実施するための形態図面の説明

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2022-04-21

(54)【発明の名称】窒化ケイ素の選択的堆積

(51)【国際特許分類】

C23C 16/04 20060101AFI20220414BHJP

C23C 16/42 20060101ALI20220414BHJP

C23C 16/455 20060101ALI20220414BHJP

H01L 21/318 20060101ALI20220414BHJP

【ＦＩ】

C23C16/04

C23C16/42

C23C16/455

H01L21/318 B

【審査請求】有

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2021546688

(86)(22)【出願日】2020-02-12

(85)【翻訳文提出日】2021-10-04

(86)【国際出願番号】 US2020017960

(87)【国際公開番号】W WO2020167972

(87)【国際公開日】2020-08-20

(31)【優先権主張番号】62/805,644

(32)【優先日】2019-02-14

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】62/808,020

(32)【優先日】2019-02-20

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】505307471

【氏名又は名称】インテグリス・インコーポレーテッド

(74)【代理人】

【識別番号】110002077

【氏名又は名称】園田・小林特許業務法人

(72)【発明者】

【氏名】ワン，ハン

(72)【発明者】

【氏名】ヘンドリックス，ブライアンシー．

(72)【発明者】

【氏名】コンド，エリック

(72)【発明者】

【氏名】バウム，トーマスエイチ．

【テーマコード（参考）】

4K030

5F058

【Ｆターム（参考）】

4K030AA02

4K030AA13

4K030AA18

4K030BA40

4K030BB14

4K030CA04

4K030CA12

4K030DA02

4K030EA03

4K030FA10

4K030HA01

4K030JA09

4K030JA10

4K030LA02

4K030LA15

5F058BC08

5F058BF07

5F058BF24

5F058BF30

5F058BF37

5F058BJ04

(57)【要約】

本発明の特定の実施形態は、低温原子層堆積法を利用して、ケイ素及び窒素を含有する材料（例えば、窒化ケイ素）を形成する。原子層堆積法は、四ヨウ化ケイ素（ＳｉＩ_４）又は六ヨウ化二ケイ素（Ｓｉ_２Ｉ_６）を１つの前駆体として使用し、アンモニアなどの窒素含有材料を別の前駆体として使用する。二酸化ケイ素に対して窒化ケイ素を堆積する選択的堆積が望ましい状況では、基板表面を最初にアンモニアプラズマで処理する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

異なる組成の複数の表面を有するマイクロ電子デバイス基板上に窒化ケイ素を選択的に堆積するための方法であって、原子層堆積条件下において、約１５０℃～約４００℃の温度及び約１５Ｔｏｒｒ未満の圧力で、順次パルス化した四ヨウ化ケイ素又は六ヨウ化二ケイ素、及び窒素含有共反応物と前記基板とを接触させることを含む、方法。

【請求項2】

温度が約１７５℃～約３５０℃である、請求項１に記載の方法。

【請求項3】

温度が約２００℃～約２５０℃である、請求項１に記載の方法。

【請求項4】

前記基板をアンモニアプラズマで前処理するステップをさらに含み、その上に堆積される表面が、二酸化ケイ素、二酸化ゲルマニウム、ＳｉＣＯ、及びｌｏｗ－ｋ基板から選択される、請求項１に記載の方法。

【請求項5】

温度が約２００℃～約２５０℃であり、その上に堆積される基板が二酸化ケイ素以外である、請求項１に記載の方法。

【請求項6】

前記デバイス基板が、窒化ケイ素、窒化チタン、窒化タンタル、及び窒化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウム、並びにそれらの組み合わせから選択され、窒化ケイ素の堆積を抑制した二酸化ケイ素基板、二酸化ゲルマニウム基板、ＳｉＣＯ基板、及びｌｏｗ－ｋ基板から選択される同じ基板上の他の表面と比較して、窒化ケイ素の堆積が強化された、いくつかの表面を含む、請求項１に記載の方法。

【請求項7】

前記デバイス基板が、窒化ケイ素基板、二酸化ケイ素基板、二酸化ゲルマニウム基板、ＳｉＣＯ基板、及びｌｏｗ－ｋ基板から選択され、窒化チタン、窒化タンタル、窒化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化ジルコニウム、及び酸化アルミニウム、並びにそれらの組み合わせから選択される同じ基板上の他の表面と比較して、窒化ケイ素の堆積が強化された、いくつかの表面を含む、請求項４に記載の方法。

【請求項8】

前記デバイス基板が、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの酸化アルミニウム表面を含み、それによって前記窒化ケイ素が、前記少なくとも１つの酸化アルミニウム表面上に選択的に堆積される、請求項１に記載の方法。

【請求項9】

前記デバイス基板が、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの二酸化ジルコニウム表面を含み、それによって前記窒化ケイ素が、前記少なくとも１つの二酸化ジルコニウム表面に選択的に堆積される、請求項１に記載の方法。

【請求項10】

前記デバイス基板が、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの酸化アルミニウム表面を含み、それによって前記窒化ケイ素が、前記少なくとも１つの二酸化ケイ素表面上に選択的に堆積される、請求項４に記載の方法。

【請求項11】

前記デバイス基板が、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの二酸化ジルコニウム表面を含み、それによって前記窒化ケイ素が、前記少なくとも１つの二酸化ケイ素表面上に選択的に堆積される、請求項４に記載の方法。

【請求項12】

前記デバイス基板が、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの二酸化ハフニウム表面を含み、それによって前記窒化ケイ素が、前記少なくとも１つの二酸化ケイ素表面上に選択的に堆積される、請求項４に記載の方法。

【請求項13】

窒素含有前駆体化合物が、アンモニア、ジメチルヒドラジン、ｔ－ブチルヒドラジン、メチルヒドラジン、又はそれらの混合物から選択される、請求項１に記載の方法。

【請求項14】

Ｓｉ源がＰｒｏＥ－Ｖａｐ中で気化のために加熱される、請求項１に記載の方法。

【請求項15】

Ｓｉ源が融点を超えて加熱され、キャリアガスで気化される、請求項１に記載の方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、マイクロ電子デバイス上への窒化ケイ素の選択的堆積のための方法論に関する。

【背景技術】

【0002】

窒化ケイ素は、集積回路の製造に一般的に使用される。例えば、窒化ケイ素は、メモリセル、ロジックデバイス、メモリアレイなどの様々なマイクロ電子デバイスの製造において、絶縁材料として使用されることが多い。従来、窒化ケイ素膜は基板表面全体にわたって堆積されるものの、堆積は特定の領域においてのみ必要とされる場合がある。結果として、任意の不要な領域を除去するために、追加のリソグラフィ及びエッチングステップが利用される。製造の全体的なコストを低減するための手段として、関与するリソグラフィ及びエッチングステップの回数を低減することが非常に望ましい。さらに、窒化ケイ素が必要な場所にのみ選択的に堆積される場合、リソグラフィの誤差はコーティング領域の画定に影響を及ぼさない。

【発明の概要】

【0003】

窒化ケイ素の選択的堆積の使用は、窒化ケイ素を選択された所望の領域にのみ堆積させることを可能にすることによって、従来のパターニングステップを排除することができる。交互にＡＬＤ又はパルスＣＶＤ様式で熱窒素源と交互にヨウ化ケイ素前駆体を使用すると、露出した二酸化ケイ素表面への堆積が非常に制限された状態で、既存の窒化物表面（例えば、窒化ケイ素又は窒化アルミニウム）及び金属酸化物表面（例えば、酸化アルミニウム又は酸化ジルコニウム）に優先的に窒化ケイ素を堆積させることができる。さらに、本発明者らは、アンモニアプラズマを用いて異なる酸化物表面を前処理することによって、四ヨウ化ケイ素及びアンモニアなどの窒素化合物を介して数ナノメートルの窒化ケイ素を二酸化ケイ素表面に選択的に堆積させることができ、同時にいくつかの「隣接する」金属酸化物表面（例えば、Ａｌ_２Ｏ_３及びＺｒＯ_２）では堆積が達成されないか、又は限定的にしか達成されないことを見出した。したがって、この前処理ステップは、「選択的」窒化物成長の基礎である。

【図面の簡単な説明】

【0004】

【図1】図１は、図示のような様々な酸化物基板上への２００℃での窒化ケイ素（ＳｉＩ_４／ＮＨ_３）堆積の図である。オングストローム単位の厚さがサイクル数に対してプロットされている。

【図2】図２は、図示のような様々な酸化物表面上への２００℃での窒化ケイ素（ＳｉＩ_４／ＮＨ_３）堆積の図であり、各酸化物表面はアンモニウムプラズマを用いて前処理されている。オングストローム単位の厚さがサイクル数に対してプロットされている。

【発明を実施するための形態】

【0005】

本発明は、様々なマイクロ電子デバイス基板上への窒化ケイ素層の選択的原子層堆積（ＡＬＤ）のためのプロセスを提供する。本発明の目的のために、本発明者らは、ＡＬＤを、様々な反応物及び共反応物が空間又は時間において分離され、その結果、基板が共反応物とは別個に１つの反応物に交互に曝露される化学蒸着様式として定義する。第１の実施形態では、本発明は、異なる組成の複数の表面を有するマイクロ電子デバイス基板上に窒化ケイ素を選択的に堆積させるためのプロセスを提供し、前記プロセスは、原子層堆積条件下で、約１５０℃～約４００℃の温度及び約１５Ｔｏｒｒ未満の圧力で、前記基板を順次パルス化した四ヨウ化ケイ素又は六ヨウ化二ケイ素、並びに窒素含有共反応物と接触させることを含む。他の実施形態において、温度は、約１７５℃～約３５０℃、又は約２００℃～約２５０℃である。選択的堆積は、窒化ケイ素膜が露出面の一部にある製造可能な速度で堆積し、他の表面が無視できるか又は容易に除去される量の窒化ケイ素を受ける場合に達成される。

【0006】

特定の実施形態では、マイクロ電子デバイス表面の１つは、窒化チタン、窒化アルミニウム、又は窒化ケイ素などの窒化物表面を含む。他の実施形態では、マイクロ電子デバイス表面の１つは、二酸化ケイ素、酸窒化ケイ素、二酸化ゲルマニウム、ＳｉＣＯ、又はｌｏｗ－ｋ表面などの誘電体表面を含む。いくつかの実施形態では、誘電体は二酸化ケイ素を含む。いくつかの実施形態では、誘電体は多孔質材料である。いくつかの実施形態では、多孔質誘電体は、互いに接続された細孔を含有するが、他の実施形態では、細孔は互いに接続されていない。いくつかの実施形態では、誘電体は、約４．０未満の誘電値を有する絶縁体として定義されるｌｏｗ－ｋ材料を含む。いくつかの実施形態では、ｌｏｗ－ｋ材料の誘電値は、約３．５未満、約３．０未満、約２．５未満、又は約２．３未満である。いくつかの実施形態では、第２の表面はＳｉ－－Ｏ結合を含む。いくつかの実施形態では、第２の表面は、例えばプラズマ処理によって不活性化される。いくつかの実施形態では、第２の表面は非導電性表面である。特定の実施形態では、基板は第１の表面を含み、その一部は誘電体であり、その一部は金属相である。いくつかの実施形態では、表面の１つは二酸化ケイ素よりも誘電率が高い誘電体であり、例えば、酸化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化ジルコニウム、酸化チタン、酸化ランタニド、又はこれらの酸化物のいずれか若しくはすべての混合物である。

【0007】

特定の実施形態では、デバイス基板は、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの酸化アルミニウム表面から構成され、それによって前記窒化ケイ素は、前記酸化アルミニウム表面上に選択的に堆積される。

【0008】

特定の実施形態では、デバイス基板は、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの二酸化ジルコニウム表面から構成され、それによって前記窒化ケイ素は、前記少なくとも１つの二酸化ジルコニウム表面に選択的に堆積される。

【0009】

特定の実施形態では、デバイス基板は、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの酸化アルミニウム表面から構成され、デバイス表面はアンモニアプラズマで前処理され、それによって前記窒化ケイ素は、前記少なくとも１つの二酸化ケイ素表面に選択的に堆積される。

【0010】

特定の実施形態では、デバイス基板は、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの酸化ハフニウム表面から構成され、デバイス表面はアンモニアプラズマで前処理され、それによって前記窒化ケイ素は、前記少なくとも１つの二酸化ケイ素表面に選択的に堆積される。

【0011】

特定の実施形態では、デバイス基板は、少なくとも１つの二酸化ケイ素表面及び少なくとも１つの二酸化ジルコニウム表面から構成され、デバイス表面はアンモニアプラズマで前処理され、それによって前記窒化ケイ素は、前記少なくとも１つの二酸化ケイ素表面に選択的に堆積される。

【0012】

そのような実施形態では、「選択的に堆積させる」又は「選択性」という用語は、別の表面上に対するある表面上の窒化ケイ素の優先的な堆積を反映することを意図している。数値定義は、Ｇｌａｄｆｅｌｔｅｒ［Ｃｈｅｍ．Ｍａｔｅｒ．５、１３７２（１９９３）］によって、２つの表面間の被覆率の差を、その２つの表面の被覆率の合計に正規化した値として与えられている。実際には、プロセスの選択性は、一般に、膜の厚さに依存する。本発明は、１８Åにおいて９０％を超える選択性を可能にする。他の実施形態では、窒化ケイ素が１つの表面上に別の表面よりも優先的に堆積することが、１００Å超で９５％を超える発生率で生じる。

【0013】

このＡＬＤ方法論は、１つの「ケイ素」前駆体として四ヨウ化ケイ素（ＳｉＩ_４）又は六ヨウ化二ケイ素（Ｓｉ_２Ｉ_６）を使用し、共反応物又は別の前駆体として窒素含有材料を使用する。窒素含有材料は、有機（例えば、ｔ－ブチルヒドラジン）又は無機（例えば、ＮＨ_３）とすることができる。いくつかの実施形態では、窒素含有材料の混合物をＡＬＤの前駆体として利用してもよく、他の実施形態では、１つの窒素含有材料のみ（例えば、ＮＨ_３のみ、又はｔ－ブチルヒドラジンのみ）をＡＬＤの前駆体として利用してもよい。本明細書で使用される場合、「窒素含有材料」という用語は、純粋な（例えば、すべてＮＨ_３又はすべてｔ－ブチルヒドラジンである）前駆体材料を指すために利用してもよく、又は窒素含有材料の混合物の一部として「窒素含有材料」を含有する前駆体を指してもよい。特定の実施形態では、ＡＬＤを使用して、ケイ素及び窒素を含む材料を形成することができる。そのような材料は、窒化ケイ素を含んでもよく、本質的に窒化ケイ素からなってもよく、若しくは窒化ケイ素からなってもよく、かつ／又は他の組成を有してもよい。

【0014】

本発明者らは、アンモニアプラズマによって異なる酸化物表面を前処理することによって、四ヨウ化ケイ素及びアンモニアなどの窒素化合物を介して数ナノメートルの窒化ケイ素を二酸化ケイ素表面に選択的に堆積させることができ、同時にいくつかの金属酸化物表面（例えば、Ａｌ_２Ｏ_３及びＺｒＯ_２）では堆積が達成されないか、又は限定的しか達成されないことを見出した。窒化ケイ素の堆積が既存の窒化ケイ素、窒化アルミニウム、又は金属酸化物表面で優先的に行われること（かつ二酸化ケイ素表面では堆積が行われないこと）が望ましい場合、アンモニアプラズマによる前処理ステップは省略される。

【0015】

原子層堆積では、連続的な処理ステップは、一般に「パルス」又はサイクルと呼ばれる。したがって、ＡＬＤプロセスは、前駆体化学物質の制御された自己制限的な表面反応に基づいている。本発明は、完全に飽和した反応、又はより製造可能であれば、前駆体及び共反応体の単に別個のパルスで実施することができる。気相反応は、基板を前駆体に交互に順次接触させることによって実質的に回避される。これは、基板を異なる反応物及び共反応物の領域から移動させることによって、又はガス流を固定基板上で交互に送ることによって実施することができる。両方の場合において、気相反応物は、例えば、反応物パルス間に反応チャンバから過剰な反応物及び／又は反応物副生成物を除去することによって、時間的にかつ基板表面上で互いに分離される。いくつかの実施形態では、１つ以上の基板表面を、２つ以上の気相前駆体又は反応物と交互に順次接触させる。基板表面を気相反応物と接触させることは、反応物蒸気が基板表面と限られた時間接触することを意味する。言い換えれば、基板表面は、限られた時間、各気相反応物に曝露されると理解することができる。

【0016】

簡潔には、少なくとも第１の表面及び第２の異なる表面を含む基板を、一般に約０．５～１５Ｔｏｒｒの低い圧力で、１５０℃～４００℃の範囲の適切な堆積温度まで加熱する。他の実施形態において、温度は、約１７５℃～３５０℃又は２００℃～２５０℃である。堆積温度は、一般に、反応物の熱分解温度未満であるが、反応物の凝縮を回避し、所望の「選択的」表面反応の活性化エネルギーを提供するのに十分高い温度に維持される。例示的な表面には、ケイ素、チタン、及びアルミニウムの窒化物などの窒化物、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化ハフニウム、及び酸化ジルコニウムなどの酸化物が含まれる。

【0017】

基板の表面は、気相の第１の反応物と接触する。特定の実施形態では、気相の第１の反応物のパルスが、基板を含有する反応空間に供給される。他の実施形態では、基板を、気相の第１の反応物を含有する反応空間に移動させる。条件は一般に、約１層以下の第１の反応物質の単層が自己制限的に基板表面に吸着されるように選択される。適切な接触時間は、特定の条件、基板及び反応器構成に基づいて当業者によって容易に決定することができる。過剰な第１の反応物及び反応副生成物は、存在する場合、例えば不活性ガスでパージすることによって、又は存在する第１の反応物を基板から除去することによって、基板表面から除去される。

【0018】

パージとは、例えばチャンバを真空ポンプで排気することによって、及び／又は反応器内のガスをアルゴン若しくは窒素などの不活性ガスで置換することによって、気相前駆体及び／又は気相副生成物を基板表面から除去することを意味する。特定の実施形態では、パージ時間は、約０．０５～２０秒、約１～１０秒、又は約１～２秒である。しかし、超高アスペクト比の構造又は複雑な表面形態を有する他の構造を被覆する高度なコンフォーマルステップが必要な場合など、必要に応じて他のパージ時間を利用する可能性もある。

【0019】

基板の表面は、気相の第２のガス状反応物と接触する。特定の実施形態では、第２のガス状反応物のパルスが、基板を含有する反応空間に供給される。他の実施形態では、基板を、気相の第２の反応物を含有する反応空間に移動させる。過剰な第２の反応物及び表面反応のガス状副生成物は、存在する場合、基板表面から除去される。接触及び除去のステップは、所望の厚さの薄膜が基板の第１の表面上に選択的に形成されるまで繰り返され、各サイクルでは約１層以下の単層が残る。三元材料などのより複雑な材料を形成するためには、基板の表面を他の反応物と交互に順次接触させることを含む追加の段階を含む可能性がある。

【0020】

各サイクルの各段階は、一般に自己制限的である。過剰の反応物前駆体を各段階で供給して、影響を受けやすい構造表面を飽和させる。表面飽和は、すべての利用可能な反応部位（例えば、物理的サイズ又は「立体障害」制限を条件とする）の反応物占有を確実にし、したがって優れたステップ被覆率を確実にする。典型的には、材料の１層未満の分子層が各サイクルで堆積されるが、いくつかの実施形態では、サイクル中に１層より多くの分子層が堆積される。

【0021】

過剰な反応物を除去することは、反応空間の内容物の一部を排出すること、及び／又は反応空間をヘリウム、窒素、又は別の不活性ガスでパージすることを含むことができる。特定の実施形態では、パージは、反応空間に不活性キャリアガスを流し続けながら、反応性ガスの流れをオフにすることを含むことができる。別の実施形態では、パージステップは、表面から過剰な反応物質を除去するために真空ステップを利用することができる。

【0022】

本明細書に記載の堆積には、薄膜を成長させるために使用することができる反応器を使用することができる。そのような反応器には、ＡＬＤ反応器、並びに前駆体を「パルス状」方式で供給するための適切な装置及び手段を備えたＣＶＤ反応器が含まれる。特定の実施形態によれば、シャワーヘッド型反応器を使用することができる。

【0023】

使用され得る好適な反応器の例としては、市販の装置、及び自作反応器が挙げられ、ＣＶＤ及び／又はＡＬＤの当業者に公知である。

【0024】

本発明は、その特定の実施形態の以下の実施例によってさらに説明することができるが、これらの実施例は単に例示の目的で含まれ、特に明記しない限り本発明の範囲を限定することを意図しないことが理解されよう。

【実施例】

【0025】

実験
実施例１
この実施例では、ＳｉＮは、基板の第３の異なる表面に対して、基板の第１及び第２の表面上に選択的に堆積された。この実施例では、基板の第１の表面は、ＡＬＤによって堆積されたＡｌ_２Ｏ_３を含み、基板の第２の表面は、ＡＬＤ堆積されたＺｒＯ_２を含み、第３の異なる表面は、（研磨された単結晶ケイ素表面上に環境条件下で成長した）天然酸化ケイ素を含んでいた。

【0026】

ＳｉＮ膜は、第１の前駆体として四ヨウ化ケイ素（ＳｉＩ_４）を使用し、第２の前駆体としてＮＨ_３を使用するＡＬＤプロセスによって選択的に堆積された。ＳｉＩ_４をＰｒｏＥ－Ｖａｐアンプルに収容し、１００℃に加熱した。Ｎ_２キャリアガスを固体ＳｉＩ_４の表面上に流し、基板を有する加熱されたチャンバにＳｉＩ_４蒸気を運んだ。各堆積サイクルは、２００℃の温度及び１．５Ｔｏｒｒの反応チャンバ圧力で基板と共に行われた。各堆積サイクルは、１０秒間のＳｉＩ_４蒸気パルス、１０秒間の不活性Ｎ_２パージ、１０秒間のＮＨ_３パルス及び１０秒間の不活性Ｎ_２パージを含んだ。図１を参照すると、１００回の堆積サイクルからなるＡＬＤプロセスでは、高誘電率膜上に１８Å堆積された際に、自然酸化ケイ素に対するＡｌ_２Ｏ_３及びＺｒＯ_２上に堆積されたＳｉＮ（いずれもＡＬＤによって堆積された）の選択比は、９０％であった。

【0027】

実施例２
この実施例では、ＳｉＮは、基板の第２及び第３の異なる表面に対して、基板の第１の表面上に選択的に堆積された。基板の第１の表面は、天然酸化ケイ素を含んでいた。基板の第２の表面は、ＡＬＤによって堆積されたＡｌ_２Ｏ_３を含んでいた。第３の表面は、ＡＬＤによって堆積されたＺｒＯ_２を含んでいた。ＳｉＮ堆積の前に、基板をＮＨ_３プラズマ処理プロセスに供した。

【0028】

実施例１に記載したのと同じプロセスを用いて、第１の前駆体として四ヨウ化ケイ素（ＳｉＩ_４）を使用し、第２の前駆体としてＮＨ_３を使用するＡＬＤプロセスによってＳｉＮ膜を選択的に堆積させた。試料は、１００から２００の堆積サイクルからなるＡＬＤプロセスを使用して堆積させた。図２に示すように、第１のプラズマ処理された天然酸化ケイ素表面上に堆積された材料の厚さを測定し、第２及び第３の表面、すなわちプラズマ処理されたＡｌ_２Ｏ_３及びＺｒＯ_２上に堆積された材料の厚さと比較した。図２は、プラズマ処理された天然酸化ケイ素を含む第１の表面上のＳｉＮ堆積が、プラズマ処理されたＡｌ_２Ｏ_３及びＺｒＯ_２表面の両方に対して非常に高い選択性を有したことを示す。（選択性は９５％超である）。

【図1】