特表2022-545724波長分解軟Ｘ線反射率測定に基づく半導体計測のための方法及びシステム

発明の名称　波長分解軟Ｘ線反射率測定に基づく半導体計測のための方法及びシステム

出願人　ケーエルエー−テンカー　コーポレイション　（識別番号 500049141）

　　　　特許公開件数ランキング 344 位（86件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 276 位（96件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2022-545724

公報発行日　2022年10月28

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_P1-2022-545724

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