特表 2023-515498 リアルタイム等価時間オシロスコープ

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2023-04-13

(54)【発明の名称】リアルタイム等価時間オシロスコープ

(51)【国際特許分類】

   G01R 13/20 20060101AFI20230406BHJP

【ＦＩ】

G01R13/20 L

【審査請求】未請求

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2022549895

(86)(22)【出願日】2021-02-22

(85)【翻訳文提出日】2022-08-19

(86)【国際出願番号】 US2021019102

(87)【国際公開番号】W WO2021168440

(87)【国際公開日】2021-08-26

(31)【優先権主張番号】62/980,071

(32)【優先日】2020-02-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】63/061,098

(32)【優先日】2020-08-04

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】391002340

【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド

【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．

(74)【代理人】

【識別番号】100090033

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 博司

(74)【代理人】

【識別番号】100093045

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 良男

(72)【発明者】

【氏名】タン・カン

(57)【要約】

アナログ帯域幅よりも低いナイキスト周波数を有するオシロスコープのような試験測定装置であって、この試験測定装置は、反復パターンを有する被試験信号を受けるように構成された入力部と、被試験信号を受けて複数の反復パターンにわたって被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングするように構成された単一のアナログ・デジタル・コンバータと、被試験信号の周波数を求め、信号の求めた周波数、被試験信号のパターン長、サンプル・レートに基づいて、トリガなしで被試験信号を再現するように構成された１つ以上のプロセッサとを有する。

【特許請求の範囲】

【請求項1】

アナログ帯域幅よりも低いナイキスト周波数を有するオシロスコープであって、
反復パターンを有する被試験信号を受信するように構成された入力部と、
上記被試験信号を受けて、複数の反復パターンにわたって上記被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングするように構成された単一のアナログ・デジタル・コンバータと、
上記被試験信号の周波数を求め、上記被試験信号の求めた周波数及び上記サンプル・レートに基づいてトリガなしで上記被試験信号を再現するよう構成された１つ以上のプロセッサと
を具えるオシロスコープ。

【請求項2】

上記１つ以上のプロセッサが、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、該アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態になるまで、上記被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、上記被試験信号の周波数を求めるように構成される請求項１のオシロスコープ。

【請求項3】

ユーザから上記被試験信号の周波数を受けるように構成されたユーザ入力部を更に具える請求項１のオシロスコープ。

【請求項4】

上記サンプル・レートが、毎秒１ギガ・サンプルと毎秒１００ギガ・サンプルの間である請求項１のオシロスコープ。

【請求項5】

上記サンプル・レートが、毎秒２ギガ・サンプルから毎秒２５ギガ・サンプルの間である請求項４のオシロスコープ。

【請求項6】

上記単一のアナログ・デジタル・コンバータは、少なくとも１２ビットのアナログ・デジタル・コンバータである請求項１のオシロスコープ。

【請求項7】

上記１つ以上のプロセッサは、求めた上記周波数及び上記サンプル・レートに基づいて、再現された上記被試験信号における上記被試験信号のサンプリングされた構成要素夫々の対応する位置を求めることによって、上記被試験信号の求めた周波数及び上記サンプル・レートに基づいてトリガなしで上記被試験信号を再現するよう構成される請求項１のオシロスコープ。

【請求項8】

上記１つ以上のプロセッサは、上記アナログ・デジタル・コンバータの上記サンプル・レートを調整し、上記アナログ・デジタル・コンバータに様々なサンプル・レートで上記被試験信号をサンプリングさせるように更に構成される請求項１のオシロスコープ。

【請求項9】

上記１つ以上のプロセッサは、様々なサンプル・レートでサンプリングされた上記被試験信号に基づいて、上記被試験信号の周波数を求めるように更に構成される請求項８のオシロスコープ。

【請求項10】

アナログ帯域幅よりも低いナイキスト周波数を有するオシロスコープにおいて被試験信号を再現する方法であって、
反復パターンを有する上記被試験信号を受ける処理と、
単一のアナログ・デジタル・コンバータを使用して複数の反復パターンにわたって上記被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングし、上記信号をデジタル化する処理と、
サンプリングされた上記被試験信号の周波数を求める処理と、
求めた上記周波数と上記サンプリング・レートに基づいてトリガを使用せずに上記被試験信号を再現する処理と
を具える被試験信号を再現する方法。

【請求項11】

被試験信号の周波数を求める処理が、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態になるまで、上記被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整する処理を含む請求項１０の方法。

【請求項12】

ユーザ入力部から上記被試験信号の周波数を受ける処理を更に具える請求項１０の方法。

【請求項13】

上記サンプル・レートは、毎秒１ギガ・サンプルと毎秒１００ギガ・サンプルの間である請求項１０の方法。

【請求項14】

上記サンプル・レートは、毎秒２ギガ・サンプルと毎秒２５ギガ・サンプルの間である請求項１３の方法。

【請求項15】

上記単一のアナログ・デジタル・コンバータは、少なくとも１２ビットのアナログ・デジタル・コンバータである請求項１０の方法。

【請求項16】

上記アナログ・デジタル・コンバータの上記サンプル・レートを調整し、上記アナログ・デジタル・コンバータに、様々なサンプル・レートで上記被試験信号をサンプリングさせる処理を更に具える請求項１０の方法。

【請求項17】

上記被試験信号の上記周波数を求める処理が、様々なサンプル・レートでサンプリングされた上記被試験信号に基づいて、上記被試験信号の上記周波数を求める処理を含む請求項１６の方法。

【請求項18】

試験測定装置の１つ以上のプロセッサによって実行されると、上記試験測定装置に、
反復パターンを有する被試験信号を受ける処理と、
単一のアナログ・デジタル・コンバータを用いて複数の上記反復パターンにわたって上記被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングして上記信号をデジタル化する処理と、
サンプリングされた上記被試験信号の周波数を求める処理と、
求めた上記周波数と上記サンプル・レートに基づいてトリガを使用せずに被試験信号を再現する処理と
を行わせる命令を含む１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項19】

上記試験測定装置に、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、該アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態になるまで、上記被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、上記被試験信号の周波数を求める処理を行わせる命令を更に含む請求項１８の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項20】

上記サンプル・レートが、毎秒１ギガ・サンプルと毎秒１００ギガ・サンプルの間である請求項１８の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項21】

リアルタイム・モード及びリアル等価時間モードを有するオシロスコープであって、
第１及び第２チャンネルと、
第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータと、
上記リアルタイム・モードの間、上記第１チャンネルを上記第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータの両方に電気的に結合し、上記第２チャンネルを上記第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータから電気的に切り離し、
上記リアル等価時間モードの間、上記第１チャンネルを上記第１アナログ・デジタル・コンバータに電気的に結合し、上記第２チャンネルを上記第２アナログ・デジタル・コンバータに電気的に結合するよう構成される１つ以上のプロセッサと
を具えるオシロスコープ。

【請求項22】

上記リアル等価時間モードの間、上記１つ以上のプロセッサが、上記第１チャンネルで受けた上記被試験信号の周波数を求め、上記被試験信号の求めた周波数及び上記第１アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートに基づいてトリガなしで上記被試験信号を再現するように構成される請求項２１のオシロスコープ。

【請求項23】

上記被試験信号が、反復パターンを含む請求項２２のオシロスコープ。

【請求項24】

上記１つ以上のプロセッサが、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、該アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態に達するまで、上記被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、上記被試験信号の周波数を求めるように構成される請求項２３のオシロスコープ。

【請求項25】

上記１つ以上のプロセッサが、更に、求めた上記周波数及び上記サンプル・レートに基づいて、再現された上記被試験信号中の上記被試験信号のサンプリングされた構成要素夫々の対応する位置を求めることによって、上記被試験信号の求めた上記周波数及び上記サンプル・レートに基づいてトリガなしで上記被試験信号を再現するように構成される請求項２３のオシロスコープ。

【請求項26】

上記１つ以上のプロセッサが、更に、上記アナログ・デジタル・コンバータの上記サンプル・レートを調整し、上記アナログ・デジタル・コンバータに、様々なサンプル・レートで上記被試験信号をサンプリングさせるように構成される請求項２３のオシロスコープ。

【請求項27】

上記１つ以上のプロセッサは、更に、様々なサンプル・レートでサンプリングされた上記被試験信号に基づいて上記被試験信号の周波数を求めるように構成される請求項２６のオシロスコープ。

【請求項28】

ユーザから上記被試験信号の周波数を受けるように構成されたユーザ入力部を更に具える請求項２２のオシロスコープ。

【請求項29】

複数のスイッチを更に具え、上記１つ以上のプロセッサが、上記試験測定装置のモードに基づいて、上記第１及び第２チャンネルを上記第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータに電気的に結合するように、上記複数のスイッチの夫々を制御するように更に構成される請求項２１のオシロスコープ。

【請求項30】

上記１つ以上のプロセッサが、更に、
公称ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して第１周期を有する平均第１ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第１ウィンドウを取得する処理と、
上記平均第１ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して平均第２ユニット・インターバル値を求める処理を含む、上記サンプルの第１ウィンドウに関する上記ユニット・インターバルの調査範囲よりも狭いユニット・インターバルの調査範囲を有するサンプルの第２ウィンドウを取得する処理と、
上記サンプルの第１ウィンドウ及び上記サンプルの第２ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と、
正規化された上記サンプリング時間に基づいて上記被試験信号を再現する処理と
によって、上記リアルタイム・モード又は上記リアル等価時間モードのいずれかで上記被試験信号をサンプリングし、上記被試験信号を再現するように構成される請求項２１のオシロスコープ。

【請求項31】

被試験信号をサンプリングする処理と、
上記被試験信号に基づいて公称ユニット・インターバル値を求める処理と、
上記公称ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して第１周期値を有する平均第１ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第１ウィンドウを取得する処理と、
上記平均第１ユニット・インターバルに近いユニット・インターバル値を推定して平均第２ユニット・インターバル値を求める処理を含む、上記サンプルの第１ウィンドウに関する上記ユニット・インターバルの調査範囲よりも狭いユニット・インターバルの調査範囲を有するサンプルの第２ウィンドウを取得する処理と、
上記サンプルの第１ウィンドウ及び上記サンプルの第２ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と、
正規化された上記サンプリング時間に基づいて上記被試験信号を再現する処理と
を具えるオシロスコープにおいて被試験信号を再現する方法。

【請求項32】

上記被試験信号が反復パターンを含む請求項３１の方法。

【請求項33】

上記被試験信号をサンプリングする処理は、上記被試験信号をサンプリングするアナログ・デジタル・コンバータのナイキスト周波数よりも大きいアナログ帯域幅を有する被試験信号を取り込む処理を含む請求項３１の方法。

【請求項34】

上記サンプルの第２ウィンドウに関するユニット・インターバルの調査範囲は、上記サンプルの第１ウィンドウに関する上記ユニット・インターバルの調査範囲よりも狭く、上記平均第２ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して平均第３ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第３ウィンドウを取得する処理と、
上記サンプルの第１ウィンドウ、上記サンプルの第２ウィンドウ及び上記サンプルの第３ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と
を更に具える請求項３１の方法。

【請求項35】

試験測定装置の１つ以上のプロセッサによって実行されると、上記試験測定装置に、
リアルタイム・モードの間、第１チャンネルを第１アナログ・デジタル・コンバータ及び第２アナログ・デジタル・コンバータの両方に電気的に結合させ、第２チャンネルを第１アナログ・デジタル・コンバータ及び第２アナログ・デジタル・コンバータから電気的に切り離して、被試験信号を取り込む処理を行わせ、
リアル等価時間モードの間、上記第１チャンネルを上記第１アナログ・デジタル・コンバータだけに電気的に結合し、上記第２チャンネルを上記第２アナログ・デジタル・コンバータだけに電気的に結合し、上記被試験信号を上記第１チャンネル又は上記第２チャンネルのいずれかで取り込む処理を行わせる
命令を含む１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項36】

上記試験測定に、上記リアル等価時間モードの間に、上記第１チャンネルで受けた被試験信号の周波数を求める処理と、上記被試験信号の求めた上記周波数及び上記第１アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートに基づいてトリガなしで被試験信号を再現する処理を行わせる命令を更に含む請求項３５の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項37】

上記被試験信号が、反復パターンを含む請求項３６の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項38】

上記１つ以上のプロセッサが、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、該アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態に達するまで、上記被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、上記被試験信号の上記周波数を求めるように構成される請求項３７の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【請求項39】

リアルタイム・モード又はリアル等価時間モードのいずれかの上記試験測定装置に、
上記第１チャンネル又は上記第２チャンネルのいずれかで被試験信号をサンプリングする処理と、
上記被試験信号に基づいて公称ユニット・インターバル値を求める処理と、
上記公称ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して、第１周期値を有する平均第１ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第１ウィンドウを取得する処理と、
上記平均第１ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して平均第２ユニット・インターバル値を求める処理を含む、上記サンプルの第１ウィンドウに関する上記ユニット・インターバルの調査範囲よりも狭いユニット・インターバルの調査範囲を有するサンプルの第２ウィンドウを取得する処理と、
上記サンプルの第１ウィンドウ及び上記サンプルの第２ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と、
正規化された上記サンプリング時間に基づいて上記被試験信号を再現する処理と
を行わせる命令を含む請求項３５の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、試験測定システムに関連するシステム及び方法に関し、特に、試験測定装置におけるリアル等価時間等データ・アクイジションに関する。

【背景技術】

【0002】

従来のハイエンド等価時間（equivalent-time）オシロスコープ及び従来のリアルタイム・オシロスコープは、生産時や研究開発において、高速な信号のインテグリティ（integrity：忠実性、品質）測定やデバッグに使用できる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】米国特許出願公開第２００７／０１０９１５９号明細書

【特許文献2】米国特許出願公開第２００９／０００３５０２号明細書

【特許文献3】欧州特許出願公開第３７５４３４９号明細書

【0004】

しかし、従来のハイエンドの等価時間オシロスコープは、ハードウェア・トリガのためにアクイジション速度が遅く、コストが高い。従来のリアルタイム・オシロスコープは、アクイジション速度が極めて速いが、多数のアナログ・デジタル・コンバータなど、速いアクイジション速度を実現するのに必要となる多数のハードウェア・コンポーネントのために、コストが高い。また、アナログ・デジタル・コンバータが複数ある結果として、複数のトラック・ホールド回路及びアナログ・デジタル・コンバータ間の不整合（ミスマッチ）が原因で、エラーを生じることがある。

【0005】

本開示技術の実施例は、先行技術のこれら及び他の欠点に対処する。

【0006】

本開示技術の実施例の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照した以下の実施例の記載から明らかになるであろう。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】図１は、本開示技術の実施例に係る試験測定装置のブロック図である。

【図2】図２は、図１の試験測定装置によってサンプリングされて、エイリアシングが生じた被試験信号の一例である。

【図3】図３は、本開示技術のいくつかの実施例によるアイ・ダイアグラムの一例である。

【図4】図４は、本開示技術の他の実施例によるアイ・ダイアグラムの一例である。

【図5】図５は、図２のエイリアス信号に基づいて再現された信号の例である。

【図6】図６は、本開示技術の実施例による被試験信号のアクイジション及び再現方法の一例のフローチャートである。

【図7】図７は、リアルタイム・モードで動作する試験測定装置のブロック図である。

【図8】図８は、リアルタイム・モードで動作する試験測定装置の別のブロック図である。

【図9】図９は、リアル等価時間モードで動作する試験測定装置のブロック図である。

【図10】図１０は、図８の試験測定装置のリアルタイム・モード時に取得したリカバリ波形のプロットである。

【図11】図１１は、図９の試験測定装置のリアル等価時間モード中に取得したリカバリ波形のプロットである。

【図12】図１２は、クロック・データをリカバリし、サンプリングした波形を再現する動作例である。

【図13】図１３は、スペクトラム拡散クロックをオフにして、図１２の動作に基づいて生成されたアイ・ダイアグラムである。

【図14】図１４は、ユニット・インターバルを時間の関数としたときの図１２の動作に基づく図１３のプロットである。

【図15】図１５は、スペクトラム拡散クロックをオフにして、図１２の動作に基づいて再現された波形である。

【図16】図１６は、スペクトラム拡散クロックをオンにして、図１２の動作に基づいて生成されたアイ・ダイアグラムである。

【図17】図１７は、ユニット・インターバルを時間の関数としたときの図１２の動作に基づく図１６のプロットである。

【図18】図１８は、スペクトラム拡散クロックをオンにした図１２の動作に基づいて再現された波形である。

【発明を実施するための形態】

【0008】

本願は、広いアナログ帯域幅を有し、ソフトウェア・クロック・リカバリを使用して、データ信号からクロックを抽出し、抽出されたクロックに基づいて、取り込まれた信号のパターンを再現（reconstruct:再構成、再構築）するリアル等価時間オシロスコープを開示する。

【0009】

大量生産の環境では、従来の等価時間（equivalent-time）オシロスコープや従来のリアルタイム・オシロスコープよりも低コストでありながら、生産試験の要件を満たす試験測定装置が求められている。以下でより詳細に説明する本開示技術の実施例としては、広帯域幅、低ジッタ、より低い垂直ノイズ及びクロック・リカバリ能力を有する試験測定装置１００がある。

【0010】

被試験信号の速度は、より高いレートへと絶え間なく進歩しており、このため、試験測定装置１００が信号成分を忠実に捕捉するのには、十分に広い帯域幅が必要となる。被試験信号のビット・レートやボー・レートが増加すると、ユニット・インターバル（ＵＩ）が小さくなり、水平ジッタの許容誤差が低下する。また、被試験信号のビット・レートやボー・レートが増加すると、トランスミッタとレシーバでイコライザを使用しても、被試験信号に対するシンボル間干渉の影響が大きくなり、垂直方向のアイ・マージンが減少することになる。また、被試験デバイスで広く使用されている低電力シグナリング方式も、垂直方向のアイ・マージンを減少させることになる。多くの試験測定装置は、擬似ランダム・バイナリ・シーケンス（ＰＲＢＳ）信号やＳＳＰＲＱ（short stress pattern random-quaternary）信号などのデータ・パターンを繰り返す被試験信号をモニタ又は取り込むために使用される。試験測定装置１００は、以下でより詳細に説明するように、データ信号からクロックをリカバリ（再生）することができる。

【0011】

従来のリアルタイム・オシロスコープは、入力波形全体を１回の通過でサンプリングできる。即ち、アクイジション（acquisition：取り込み）と表示は、同じ時間フレームで行える。これを行うのに、従来のリアルタイム・オシロスコープは、被試験信号を高速で取り込む際のエイリアシングを防止するため、アナログ帯域幅に比較して十分に高いサンプリング・レートを備えている。例えば、リアルタイム・オシロスコープは、アナログ帯域幅が７０ＧＨｚ、サンプル・レートが２００ギガ・サンプル/秒（ＧＳ/ｓ）であっても良い。そのナイキスト周波数１００ＧＨｚは、アナログ帯域幅よりも高いため、エイリアシングは生じない。従来のリアルタイム・オシロスコープでは、ナイキスト・レートが非常に高いため、トリガなしで、かつ、エイリアシングなしでアナログの被試験信号を取り込むことができる。従来のリアルタイム・オシロスコープは、全て、アナログ帯域幅よりも高いナイキスト周波数を提供するサンプル・レートを備えている。しかし、従来のリアルタイム・オシロスコープは高価であり、生産試験用としては、過大なコストがかかる可能性がある。

【0012】

従来のハイエンドの等価時間サンプリング・オシロスコープは、信号の反復する特性を利用し、複数のトリガ・イベントからのサンプルを使用して波形をデジタル的に再現（reconstruct：再構築）する。等価時間オシロスコープのハードウェア・トリガにサンプルを取得させるのに、クロック及びデータ・リカバリ・ユニットを利用できる。反復信号がサンプリングされるため、等価時間スコープの帯域幅はサンプル・レートをはるかに超えることができる。例えば、等価時間サンプリング・オシロスコープは、２００キロ・サンプル/秒（ｋＳ／ｓ）など、非常に低いサンプル・レートが可能で、高い垂直分解能（通常、１２ビット以上の分解能）を持つことができる。従来の等価時間オシロスコープは、等価時間サンプリング技術を使用して、パターン・トリガに基づいて信号のパターン波形を再現する。

【0013】

図１は、本開示技術のいくつかの実施形態によるリアル等価時間試験測定装置１００のブロック図の例を示す。試験測定装置１００には、任意の電気信号媒体であっても良い１つ以上のポート１０２がある。ポート１０２は、トランスミッタ（受信回路）、レシーバ（送信回路）やトランシーバを有していても良い。各ポート１０２は、試験測定装置１００のチャンネルである。

【0014】

ポートからの信号は、次いで、受信信号のオフセット又はベース・ラインを調整できる垂直オフセット１０４に送られる。いくつかの構成又は実施例では、垂直オフセット１０４が、更に垂直利得調整を行っても良い。もし垂直利得調整がない場合、垂直ノイズを低減できるが、ダイナミック・レンジも小さくなる。これに対処するために、いくつかの例では、入力される被試験信号を減衰や増幅するために、外部の減衰回路や増幅回路を利用しても良い。信号は、垂直オフセット１０４からサンプラ・トラック・ホールド回路１０６へ送られる。トラック・ホールド回路１０６は、高分解能のアナログ・デジタル・コンバータ１０８でアクイジションするのに充分な期間、各信号を安定して保持する。

【0015】

アナログ・デジタル・コンバータ１０８は、トラック・ホールド回路１０６からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。アナログ・デジタル・コンバータ１０８のサンプリング・レートは、等価時間試験測定装置よりも大きく、リアルタイム試験測定装置よりも小さい。例えば、アナログ・デジタル・コンバータ１０８は、数ＧＳ/ｓから数１０ＧＳ/ｓまでの信号をサンプリングできる。実施形態によっては、アナログ・デジタル・コンバータ１０８は、１ＧＳ/ｓ～１００ＧＳ/ｓの間のアナログ信号をサンプリングできる。別の実施形態では、アナログ・デジタル・コンバータは、２ＧＳ/ｓ～２５ＧＳ/secondのアナログ信号をサンプリングできる。次いで、アナログ・デジタル・コンバータ１０８からのデジタル化された信号は、アクイジション・メモリ１１０に記憶される。つまり、サンプリング・レートは、サンプリング・レートの半分であるナイキスト周波数が、アナログ・デジタル・コンバータ１０８のアナログ帯域幅よりも低くなるように設定される。アナログ・デジタル・コンバータ１０８は、１２ビット・アナログ・デジタル・コンバータなどの単一の高分解能アナログ・デジタル・コンバータであっても良い。

【0016】

１つ以上のプロセッサ１１２は、メモリからの命令を実行するように構成されても良く、そのような命令によって示される任意の方法や関連するステップ、例えば、アクイジション・メモリ１１０から取り込まれた信号を受けて、ハードウェア・トリガを使用せずに被試験信号を再現する処理、あるいは、高いアクイジション・レートでサンプルを取り込む処理などを実行しても良い。

【0017】

試験測定装置１００上のメモリ１１０その他のメモリは、プロセッサ・キャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブ、その他の任意のメモリ形式で実装されても良い。メモリは、データ、コンピュータ・プログラム・プロダクト、その他の命令を記憶するための媒体として機能する。

【0018】

ユーザ入力部１１４は、１つ以上のプロセッサ１１２に結合される。ユーザ入力部１１４には、キーボード、マウス、トラックボール、タッチスクリーン、その他、ディスプレイ１１６上でＧＵＩを使ってインタラクティブに利用できる任意の操作装置が含まれても良い。ディスプレイ１１６は、デジタルスクリーン、ブラウン管ベースのディスプレイ、又は、波形、測定値、及び他のデータをユーザに表示するための他の任意のモニタであっても良い。試験測定装置１００のコンバータは、試験測定装置１００内に統合されているものとして描かれているが、当業者にはわかるように、これらのコンポーネントのいずれかが試験測定装置１００の外部にあっても良く、任意の従来の方法（有線や無線の通信媒体や機構）で試験測定装置１００に結合されても良い。例えば、実施例によっては、ディスプレイ１１６が、試験測定装置１００から遠隔にあっても良い。

【0019】

図２は、図１の試験測定装置を用いて取り込むことができるサンプリング波形のプロット２００を示す。被試験信号はサイン（sine：正弦）波信号であるが、図２に見られるように、試験測定装置１００がサンプルした信号には、エイリアスがあるように見える。これは、ナイキスト周波数が試験測定装置１００のアナログ帯域幅よりも低く、サイン信号の周波数よりも低いためである。図２の波形例では、１３.２８１２５ＧＨｚのサイン信号を３.１２４ＧＳ/ｓのサンプリング・レートで取り込み、図２のプロット２００に示すエイリアスのある波形が生じている。

【0020】

被試験信号が取り込まれると、プロセッサ１１２は、信号の正確なビット・レート又はボー・レートを決定でき、アクイジション・メモリ１１０で受けた信号のサンプルを再現できる。実施例によっては、ビット・レートは、ユーザがユーザ入力部１１４を介して被試験信号の周波数を入力することによって決定されても良い。しかし、被試験信号の周波数が不明な別の例では、プロセッサ１１２が、エイリアスのある波形信号を調整してアイ・ダイアグラムを生成する処理を、アイ・ダイアグラムが最も広い水平開口部を有するまで、繰り返しても良い。つまり、アイ・ダイアグラムのアイが最も開かれるまで、異なるビット・レートやボー・レートを選択できる。実施例によっては、ユーザが、ビット・レートやボー・レートの検出を、どの程度正確なものとするかを、ユーザ入力部１１４によって設定しても良い。例えば、図３及び図４は、アクイジション・メモリ１１０内に取り込まれたサンプルから求めたアイ・ダイアグラム３００及び４００を図示する。図３のアイ・ダイアグラム３００は、図４のアイ・ダイアグラム４００よりも開いており、従って、図４のアイ・ダイアグラムよりも正確なビット・レートやボー・レートを有する。アイ・ダイアグラムから、ビット・レートやボー・レートは、アイの水平開口部に基づいて決定できる。

【0021】

ビット・レートやボー・レートが決定されると、試験測定装置１００のサンプリング・レートは既知であるため、プロセッサ１１２は、次に、被試験信号を再現し、各受信サンプルを信号内の適切な位置に配置できる。プロセッサ１１２は、次いで、再現された信号をディスプレイその他の装置に出力できる。例えば、ビット・レート（即ち、信号の各ビットが受信される頻度）が既知であって、かつ、サンプルが取得される頻度が既知である場合、プロセッサ１１２は、この情報を使用して、再現された信号中に各サンプルを適切に配置できる。つまり、受信した全てのサンプルについて、ビット・レートやボー・レートと、サンプル・レートとがわかっている場合、再現された信号にサンプルを配置する前にスキップするべきビット数がわかる。試験測定装置１００では、クロックをリカバリするのに、ハードウェア・トリガやハードウェア・クロック・リカバリを使用しない。

【0022】

図５は、図２の取り込まれた信号を再現（reconstruct：再構築）した信号を示すプロット５００の一例である。プロセッサ１１２が、各ビットの正しい位置を決定すると、ビットはそれらの適切な位置に配置され、そして、再現された信号は、試験測定装置１００のディスプレイ１１６に表示されても良い。

【0023】

実施例によっては、試験測定装置１００が、位相ロック・ループ（ＰＬＬ）を含んでもよい。ＰＬＬは、出力クロック信号を生成し、その位相を入力信号の位相に関連させる制御システムである。ＰＬＬが低周波ジッタをトラッキングするためにいくつかの例で使用される場合、プロセッサ１１２は、ＰＬＬの効果を模倣するために、再現された波形のセクションに沿ってビット・レートやボー・レートを調整できる。アナログ・デジタル・コンバータ１０８は、数ギガ・サンプル毎秒でサンプルし、これは数十メガ・ヘルツの典型的なＰＬＬ帯域幅よりもはるかに高い。これにより、波形の局所的なセクションに十分なビット又はシンボルを用意して、ビット・レートやボー・レートを調整して低周波ジッタをトラッキングできる。

【0024】

プロセッサ１１２は、パターン長が正しく検出されるとアイ・ダイアグラムがパターン波形となることに基づいて、パターン長を検出することもできる。アイ・ダイアグラムとパターン波形の違いは、水平位置の夫々について、アイ・ダイアグラムでは、図３～４に示すように、垂直方向に複数の値を持つことがある一方、パターン波形では、図５に示すように垂直方向の値が１つである。図２～５に示すサンプルでは、被試験サイン信号は、パターン長が２の繰り返しパターンとして扱うことができる。サイン波の各周期に２つのビットがあるからである。パターン長を２に設定すると、パターン波形は、図５に示す再現波形５００となる。例えば、ＰＲＢＳ１５のパターンの場合、パターンの長さは、2^15-1である。パターン内の各ビットは、整数個のパターンが繰り返された後に繰り返される。

【0025】

いくつかの例では、プロセッサ１１２は、サンプル・レートが信号ビット・レートやボー・レートに同期する状況を回避するために、アナログ・デジタル・コンバータ１０８のサンプル・レートを調整しても良い。また、プロセッサ１１２がサンプル・レートを調整できるので、プロセッサ１１２は、同じ被試験信号を、多種多様なサンプル・レートを用いてサンプリングできる。１つの信号中の同じ周波数成分を、異なるサンプル・レートを使うことで、異なる周波数にエイリアスが生じるようにしても良い。プロセッサ１１２は、これら異なって取り込まれた信号の各々を使用することで、被試験信号を再現するのに、最も正確なクロック・リカバリを決定できる。

【0026】

図６は、本願に記載の実施例による試験測定装置１００の動作を示すフローチャートである。工程６００では、試験測定装置１００（そのアナログ帯域幅よりも低いナイキスト周波数を有する）が、被試験信号を受信する。試験測定装置１００において、サンプル・レートは、少なくとも２ＧＳ/ｓである。

【0027】

工程６０２において、試験測定装置１００のプロセッサ１１２は、工程６００中に取得してアクイジション・メモリ１１０に記憶された取得した信号に基づいて、被試験信号の周波数を求める。周波数を求めるために、いくつかの例では、プロセッサ６０２が、アイ・ダイアグラムを生成し、アイ・ダイアグラムが最も広い水平開口部を持つようになるまで、ビット・レート又はボー・レートを繰り返し調整する。

【0028】

ビット・レート又はボー・レートが求まると、プロセッサ１１２は、試験測定装置１００のサンプリング・レートと、工程６０４において求めた被試験信号のビット・レート又はボー・レートとに基づいて、被試験信号を再現（reconstruct：再構築、再構成）できる。プロセッサ１１２は、ビット・レートやボー・レートを決定し、ハードウェア・パターン・トリガを使用せずに被試験信号を再現できる。これにより、試験測定装置１００は、より速い速度でデータをサンプリングできるが、リアルタイム・サンプリング・オシロスコープを使用するよりも低コストである。

【0029】

本開示技術の実施例は、従来のリアルタイム試験測定装置及び等価時間試験測定装置に勝る利点を提供する。例えば、本開示技術の実施例は、リアルタイム試験測定装置及び等価時間試験測定装置と比較して、低い垂直ノイズ、少ない水平ジッタ、速いアクイジション速度が可能であり、どれも低コストである。

【0030】

等価時間試験測定装置は、そのストレートなアナログのシングル・パス、サンプリング技術及び高分解能アナログ・デジタル・コンバータに由来する非常に低いノイズ・フロアを備えている。リアルタイム試験測定装置は、ノイズが高くなるが、これは、アナログ信号パスに利得段があり、複数のトラック・ホールド回路及びアナログ・デジタル・コンバータの間のインタリーブは、これらインタリーブのパイプ処理間のミスマッチ（不整合）を完全には回避できないためである。ミスマッチは、校正によって軽減できるが、残存ミスマッチ・エラーがあるため、環境の変更がミスマッチに影響を与える可能性がある。しかし、本開示の実施例では、単一の高分解能アナログ・デジタル・コンバータを使用し、これは、リアルタイム試験測定装置で使用される複数の８ビットアナログ・デジタル・コンバータと比較して、量子化誤差（エラー）を低減できる。

【0031】

本開示の実施例では、アクイジションが短時間で行われ、リアルタイムの試験測定装置のようにインタリーブ誤差がないため、水平ジッタが少ない。等価時間試験測定装置では、高価な追加ハードウェアを使用することによってのみ水平ジッタを改善できる。

【0032】

本開示の実施例では、概して、数ＧＳ/ｓから数十ＧＳ/ｓ（例えば、いくつかの実施形態では１ＧＳ/ｓから１００ＧＳ/ｓ、あるいは、別の実施形態では２ＧＳ/ｓから２５ＧＳ/ｓ）の間に、高速アクイジション速度を備えており、これは、低垂直ノイズを達成するために２００ＫＳ/ｓのような低いサンプル・レートで発生する等価時間試験測定装置よりもはるかに速い。リアルタイム試験測定装置は、２００ＧＳ/ｓの非常に高速なアクイジションを備えているが、上述したインタリーブ方式を使用してこれを行っており、そのために、垂直ノイズと水平ジッタが発生し、コストが増加する。

【0033】

即ち、リアルタイム試験測定装置は、非常に高いサンプル・レートを達成するために必要なハードウェアのためにコストが高い。等価時間試験測定装置も、サンプラをトリガするクロック信号源を必要とするため、コストが高くなる。しかし、本開示の実施例は、単一のアナログ・デジタル・コンバータを使用し、トリガ回路を使用しないで、高いアクイジション・レートを備えた低コストの試験測定装置を提供する。

【0034】

本開示のいくつかの実施例において、試験測定装置は、リアルタイム（real-time）モード及びリアル等価時間（real-equivalent-time）モードの両方を含むことができる。試験測定装置のリアルタイム・モードは、信号の全体像を提供し、リアル等価時間モードは、オシロスコープ内の同じ数のアナログ・デジタル・コンバータで、より広い帯域幅のチャンネルを提供できる。リアルタイム・モードでは、試験測定装置は、各チャンネルに複数のアナログ・デジタル・コンバータを使用するため、サンプル・レートが高くなる。リアル等価時間モードでは、各チャンネルに１つのアナログ・デジタル・コンバータのみを使用し、サンプル・レートは低くなるが、アクイジション速度は速くなる。

【0035】

図７～９は、リアルタイム・モードとリアル等価時間モードの両方を含む試験測定装置の一部分の例示的なブロック図を示している。当業者であればわかるように、図７～９の試験測定装置は、限定するものではないが、図示されていないコンポーネント、例えば、図１に示されるようなユーザ入力部、ディスプレイその他のハードウェア・コンポーネントを有していても良い。

【0036】

図７～９の試験測定装置７００では、説明を簡単にするため、４つのチャンネルを示しているが、本開示技術の実施例は、４つのチャンネルに限定されるものではない。各チャンネルには、上述した垂直オフセット１０４、サンプル・トラック・ホールド回路１０６及びアナログ・デジタル・コンバータ１０８と同様の、垂直利得／オフセット７０２、サンプラ・トラック・ホールド回路７０４及びアナログ・デジタル・コンバータ７０６がある。

【0037】

図７及び図８は、リアルタイム・モードで動作する試験測定装置７００を図示し、図８は、リアル等価時間モードで動作する試験測定装置７００を示す。この例では、図７に示すリアルタイム・モードの間、チャンネル２、３及び４のそれぞれが切断され、チャンネル１は、リアルタイム・モード・チャンネルとして動作する。被試験デバイスからの信号は、チャンネル１で受信され、垂直利得／オフセット７０２及びサンプラ・トラック・ホールド回路７０４を通して処理される。スイッチ７０８及びリレーが、多数の異なるアナログ・デジタル・コンバータ７０６に信号を配信（route）するために設けられても良い。

【0038】

この例では、スイッチが操作されて、サンプラ・トラック・ホールド回路７０４からの信号を、４つのアナログ・デジタル・コンバータ７０６の夫々に配信する。この例では、アナログ・デジタル・コンバータ７０６は、それぞれ５０ＧＳ/ｓであるため、サンプラ・トラック・ホールド回路７０４からの信号を４つのＡ／Ｄ変換器７０６の夫々に配信すると、２００ＧＳ/ｓのサンプリング・レートを達成できる。スイッチ７０８は、試験測定装置の選択されたモードに基づいて、プロセッサ７１２、又は、試験測定装置内の別のコントローラ・コンポーネントのいずれかによって操作されても良い。当業者であればわかるように、試験測定装置の選択されたモードは、例えば、図１に示すようなユーザ・インタフェースから選択されても良い。

【0039】

信号は、４つのアナログ・デジタル・コンバータ７０６によってサンプリングされても良く、リアルタイム・モードで、これらアナログ・デジタル・コンバータ７０６を時間インタリーブ処理するような既知の任意の方法を用いて、プロセッサ７１２によって再現（再構築）されても良い。

【0040】

試験測定装置７００は、オペレータが必要に応じて、また、被試験信号に基づいて、多数の異なるリアルタイム・モードの設定で使用できる。例えば、図７に示すようにリアルタイム・モードにおいて単一のチャンネルをアクティブにする代わりに、２つのチャンネルがリアルタイム・チャンネルとして設定され、アクティブ化されても良い。

【0041】

図８において、チャンネル１及び３を、この例では、２つのリアルタイム３３ＧＨｚチャンネルとして設定でき、１チャンネルあたり１００ＧＳ/ｓである。即ち、２つのチャンネル１及び３の夫々は、２つの５０ＧＳ/ｓアナログ・デジタル・コンバータ７０６を利用している。一方、チャンネル２及び４は切断され、このモード中、使用されない。リアルタイム・モードのサンプル・レートは、例えば、ユーザ・インタフェースを介して選択されても良い。次いで、試験測定装置内のコントローラ又はプロセッサが、スイッチを操作し、ユーザ・インタフェースは、どのチャンネルが現在リアルタイム・モードで動作しているかをユーザに通知しても良い。

【0042】

図９は、リアル等価時間モードにある試験測定装置を示し、チャンネル１～４の夫々が、それぞれの対応するアナログ・デジタル・コンバータ７０６に接続されている。このモードは、図１～図８に関して上述したように動作できる。リアルタイム・モードであろうとリアル等価時間モードであろうと、アナログ・デジタル・コンバータ７０６の出力は、図１に関して先に詳細に説明したように、アクイジション・メモリ７１０に送られ、プロセッサ７１２によって更に処理される。

【0043】

図７～９は、４つのチャンネル及び４つのアナログ・デジタル・コンバータ７０６のみを示すが、当業者にはわかるように、追加のチャンネルや追加のアナログ・デジタル・コンバータ７０６が、試験測定装置７００に用意されても良い。図７～図９で４つのチャンネルを示したのは、単に図示と説明を簡単にするためである。

【0044】

リアルタイム・モード及びリアル等価時間モードの両方を含む試験測定装置７００は、信号の取り込みデータ中にエイリアシングが無いか又はほとんど無いので、リアルタイム・モードを使用して、被試験信号の全ての成分をチェックできる。リアルタイム・モードは、シンボル・レートとパターンの長さを検出するためにも使用できる。リアル等価時間モードにおいて、リアルタイム・モードから検出されたシンボル・レート及びパターン長は、次いで、いくつかの例においてリアル等価時間モードにおいて使用されても良い。リアル等価時間モードでは、試験測定装置７００が、複数の信号を同時に測定するのに、より広い帯域幅のチャンネルを使うことができ、これを、例えば、被試験デバイスのコンプライアンス試験中に使用しても良い。

【0045】

上述のように、リアルタイム・モードでは、リアルタイム・アクイジションに使用されるチャンネルのサンプル・レートが高くなる。しかし、一部の広帯域幅の試験測定装置では、アナログ帯域幅とナイキスト周波数のギャップが小さい場合がある。例えば、リアルタイム・チャンネルが、５０ＧＳ/ｓのアナログ・デジタル・コンバータ７０６を使って、アナログ帯域幅が２０ＧＨｚ、ナイキスト周波数が２５ＧＨｚということもありえる。２０ＧＨｚにおいてマイナス３デシベル（ｄＢ）の利得を持つアナログ・フロントエンドであっても、２５ＧＨｚのアナログ帯域幅を超える信号成分のある程度を、ある程度の減衰で通過させることができる。これらの減衰された高周波成分には、トラック・ホールド・サンプラ７０４及びアナログ・デジタル・コンバータ７０６の後に、エイリアスが生じる。そのような状況では、以下で詳しく説明するように、ソフトウェア・データ・クロック・リカバリを使用して、試験測定装置のアナログ・フロントエンドを通過しているナイキスト周波数を超える大きな高周波成分があるかどうかを確認するのに、リアル等価時間モードを利用できる。

【0046】

また、試験測定装置７００のリアル等価時間モードは、いくつかの実施例では、反復パターンを持たない信号を測定するのに使用されても良い。反復的でないデータ信号の場合、リアル等価時間モードを使用してアイ・ダイアグラムを取得し、上述したアイ・ダイアグラムの測定を実行することができる。

【0047】

試験測定装置７００の動作の一例としては、スペクトラム拡散クロック（ＳＳＣ）を伴い、ＰＲＢＳ１３Ｑような擬似ランダム・バイナリ・シーケンス（ＰＲＢＳ）を使った３２ＧＢａｕｄの４値パルス振幅変調（ＰＡＭ４）のデータ・パターンを生成する信号源からの信号が取り込まれる。リアルタイム・モードでは、信号は、３３ＧＨｚのアナログ帯域幅で、２００ＧＳ/ｓでサンプリングされ、リアル等価時間モードでは、信号は、３３ＧＨｚのアナログ帯域幅で５０ＧＳ/ｓでサンプリングされる。

【0048】

図１０は、試験測定装置７００のリアルタイム・モードを用いてリカバリされた波形のプロット１０００を示す。リアルタイム・モードのサンプル・レートは、３３ＧＨｚ帯域幅の信号には十分に高く、リカバリされた波形中にＰＡＭ４のパターンを見ることができる。一方、図１１は、リアル等価時間モードを用いたリカバリ波形のプロット１１００を示し、この例では、サンプル・レートは５０ＧＳ/ｓである。ナイキスト周波数は２５ＧＨｚで、アナログ帯域幅の３３ＧＨｚよりも低くなっている。しかし、信号には、２５ＧＨｚを超えたところに大きなエネルギーがあるため、リカバリされた波形には、エイリアスが見られ、ＰＡＭ４のパターンは見ることができない。

【0049】

高速シグナリングでは、ノン・リターン・トゥ・ゼロ（non-return to zero）又はＰＡＭ４の夫々について、公称ＵＩがあり、これは、公称ビット・レート又はボー・レートの逆数である。例えば、３２ギガ・ボー（ＧＢａｕｄ）が、シリアル・コンピュータ拡張バス規格のＰＣＩｅ（Peripheral Component Interconnect Express）６.０の公称ボー・レートである。ただし、実際のボー・レートは、データ伝送中に常に変化している。ＵＩ/ボー・レートの変化は、一部は仕様によるものである。例えば、ＳＳＣ方式は、システム・クロックを公称ボー・レートの５０００ｐｐｍ（つまり、０.５％）分、意図的に下げている。ＵＩ又はボー・レートが変化するもう１つの要因は、システム・クロックが完全なクロックではないことによる、固有の（intrinsic：内在的な）システム・クロック・ジッタに由来する。試験測定装置内のクロック・データ・リカバリ・ユニット（プロセッサの一機能であっても良い）は、リカバリされたクロックを、データ信号に埋め込まれたシステム・クロックの低周波成分に追跡させることによって、ＳＳＣを含む低周波ジッタの影響を除去又は低減するように設計されている。サンプリングされた生（raw：未加工）の波形データにエイリアスがない場合では、リアルタイム・オシロスコープ用に開発された様々なソフトウェア・クロック・データ・リカバリ（ＳＣＤＲ）がある。しかし、このようなＳＣＤＲは、生のサンプリング波形にエイリアスがある場合には機能しない。

【0050】

本開示の実施例は、リアル等価時間試験測定装置のためのクロック・データ・リカバリ、又は、試験測定装置のリアル等価時間モードのためのクロック・データ・リカバリに関する。リアル等価時間モード又はリアル等価時間試験測定装置用のクロック・データ・リカバリは、ＵＩの変化の低周波成分を追跡（track：トラック）できる。

【0051】

図１２は、本開示技術のいくつかの例によるリアル等価時間モード又は装置のソフトウェア・クロック・リカバリ及び被試験信号の再現を説明するフローチャートである。工程１２００において、装置は、電気信号に関して時間対電圧の組（ｔ，ｙ）又は光信号に関して時間対パワーの形式で波形をサンプリング又は取り込む。説明を簡単にするため、以下では電気信号を説明するが、当業者にはわかるように、信号は、いくつかの実施例では、光信号であっても良い。サンプリング時間ｔのベクトルは、一定間隔が開けられている。例えば、サンプル・レートが３.１２５ＧＳ/ｓの場合、ベクトルｔの間隔は、一定のサンプル・レートの逆数になる。

【0052】

工程１２０２では、サンプルの第１ウィンドウ(t_i, y_i, i＝1, 2, …, w)が得られる。ウィンドウ・サイズｗは、局所的な（ローカル）平均ＵＩ値を計算するのに十分なサンプルを得られるほど十分な大きさでありつつ、ＵＩ値のゆっくりとした変化を捕捉するのには十分な小ささに設定される。

【0053】

サンプルの第１ウィンドウを得るため、公称ＵＩ値の近辺で、推定ＵＩ値の集合{period_1_j, j＝1, 2,…, p}が定義される。サンプルの第１ウィンドウの場合、この集合には、大量の推定ＵＩ値がある。例えば、試験測定装置でＳＳＣがオンの場合、第１ウィンドウの平均ＵＩ値は、５０００ｐｐｍの範囲内の任意の値に、システム・クロックの不確実性を加えたものであるため、周期値ｐは、非常に大きな値に設定される。推定ＵＩの分解能は、反復調査（iterative search）によって改善できる。

【0054】

推定ＵＩ値「period_1_j」の夫々について、数式１に示すような時間ベクトルが、アイ・ダイアグラムの正規化された時間のオフセットとして定義される。

【0055】

t_eye_ij＝mod(t_i, period_1_j)/period_1_j (1)

【0056】

t_eye_ijは、t_iとの１対１のマッピングを持っているので、組(t_eye_ij, y_i, i＝1, 2, …, w)を決定することができ、この組からアイ・ダイアグラムを生成できる。period_1_jの推定ＵＩ値ごとに、アイ・ダイアグラムを生成できる。最適なアイ開口部を生じる最適なｊ値を選択するために、様々な処理を利用できる。

【0057】

例えば、最適なｊ値を選択するための処理の１つには、例えば、中央交差レベルの周辺のような、得られるサンプルの中央部分の範囲をカバーする垂直範囲{y_low, y_high}を定義する処理がある。ｊの夫々についてのt_mid_crossing_j＝{t_eye_j}の集合について、y_jは、垂直範囲{y_low, y_high}内に収まることがわかる。

【0058】

次に、数式２を使用して、e_j_kを求めることができる。

【0059】

e_j_k＝std(mod(t_mid_crossing_j + t_offset_1_k, 1)), k＝1, 2, …, q (2)

【0060】

ここで、t_offset_1_k, k＝1, 2, …, q は、[0, 1]の間のオフセット値の集合である。

【0061】

すると、各ｊ値に関して、最適なｋ値が見つかり、これは、jkOptimal（Optimal：最適な）と表記される。

【0062】

e_jkOptimal＝min({e_j_k}), k＝1, 2, …, q (3)

【0063】

jOptimalと表記される最適なｊ値は、次のように得られる。

【0064】

e_jOptimal＝min({e_jkOptimal}), j＝1, 2, …, p (4)

【0065】

(jkOptimal, jOptimal)の組は、後で使用するために保存しても良い。ここで jkOptimal は jOptimal に対応する。この時点で、第１ウィンドウの平均ＵＩ値は、period_1_jOptimalであり、水平オフセットは、t_offset_1_jkOptimalである。

【0066】

工程１２０２において、サンプルの第１ウィンドウに関する平均化されたＵＩを取得した後、工程１２０４において、同じウィンドウ・サイズwを有するサンプルの第２ウィンドウ(t_i, y_i, i＝w+1,w+2, …, 2w)を取得する。同じプロセスを使用して、第２ウィンドウ内のサンプルについて、平均ＵＩ値の周期「period_2_jOptimal」と、水平オフセット「t_offset_2_jkOptimal」を決定できる。サンプルの第２ウィンドウのユニット・インターバルの調査範囲は、サンプルの第１ウィンドウのユニット・インターバルの調査範囲よりも狭くなる。

【0067】

サンプルの第２集合を取得するプロセスは、推定ＵＩ値の集合{period_2_j}が、公称ＵＩ値の近辺ではなく、period_1_jOptimalの近辺に設定されるという点で若干異なる。また、クロック・データ・リカバリ速度を向上させるためには、ＵＩ値の低周波変化が大きすぎないように、又は、変化が速すぎないようにする必要があるので、周期値ｐがはるかに小さい値に設定される。

【0068】

工程１２０６では、残りの波形サンプルを、工程１２０４と同じ方法で反復処理して、平均ＵＩ値の配列{period_n_jOptimal, n＝1, 2, …, N}と、水平オフセットの配列{t_offset_n_jkOptimal, n＝1, 2, …, N}を求める。後続の各サンプルのウィンドウのＵＩの調査範囲は、サンプルの第１ウィンドウのユニット・インターバルの調査範囲よりも狭くなる。

【0069】

工程１２０８では、平均ＵＩ値の配列{period_n_jOptimal, n＝1, 2, …, N}と、水平オフセットの配列{t_offset_n_jkOptimal, n＝1, 2, …, N}とに基づいて、絶対サンプリング時間ｔが、オリジナル波形の組{t, y}の形式から、{t_normalized, y}に変換される。この正規化されたサンプリング時間t_normalizedは、サンプリング時間ｔで表される絶対時間ではなく、ＵＩを単位とする形式でサンプリング時間を表す。正規化サンプリング時間t_normalizedを計算するには、平均ＵＩ値{period_n_jOptimal, n＝1,2,….,N}をフィルタ処理することを含め、当業者には知られているであろう多種多様なアプローチを利用できる。

【0070】

工程１２０８では、既知のパターン長「PatternLength」を用いて、パターン正規化サンプリング時間を以下のように導出できる。

【0071】

t_pattern_normalized＝mod(t_normalized, PatternLength) (5)

【0072】

次に、工程１２１０において、{t_pattern_normalized, y}の組をt_pattern_normalizedに基づいて並べ替えて、{t_pattern, y_pattern}の組を生成できる。{t_pattern, y_pattern}の組は、リアル等価時間アクイジションからのリカバリ又は再現されたパターン波形を表す。いくつかの例では、このプロセス又は処理を用いて得られたリアル等価時間アクイジションからのパターン波形は、時間的に一定間隔でないことがある。しかし、いくつかの例では、パターン波形を時間的に一定間隔となるように再サンプリングしても良い。

【0073】

いくつかの例では、図１２に示すクロック・データ・リカバリの動作を、リアルタイム・オシロスコープで取り込まれたエイリアスのない信号のサンプルに用いても良い。

【0074】

数値的な例としては、ＳＳＣが有るか又は無い３２ギガ・ボー（GBaud）のＰＡＭ４ＰＲＢＳ１３Ｑデータ・パターンを生成する信号源からの信号が得られる。リアル等価時間モード又はリアル等価時間装置は、この信号を３.１２５ＧＳ/ｓでサンプリングする。この例のサンプル・レートは、３２ギガ・ボーの信号を捕捉するためのアナログ帯域幅よりもはるかに低いため、サンプリングされた波形には、エイリアスが生じる。

【0075】

図１３～１５は、ＳＳＣオフで得られた信号のアイ・ダイアグラム１３００、再現されたパターン波形の一部分のプロット１４００、時間の関数としてのＵＩのプロット１５００を夫々示す。ＳＳＣをオフにすると、システム・クロックは比較的安定する。アイ・ダイアグラム１３００は、工程１２０２、１２０４及び１２０６で生成されたアイ・ダイアグラムの各々をプロットする。プロット１４００は、工程１２００を用いて再現された波形を示す。図示するように、パターン波形は、ＰＲＢＳ１３Ｑ信号を示している。図１５のプロット１５００は、ＳＳＣがオフの状態で、システム・クロックとボー・レートがかなり安定していることを示している。

【0076】

図１６～１８は、ＳＳＣをオンにして得られた信号のアイ・ダイアグラム１６００、再現されたパターン波形の一部のプロット１７００、時間の関数としてのＵＩのプロット１８００を夫々示す。ＳＳＣをオンにすると、図１８は、ＳＳＣがボー・レートに、約５０００ｐｐｍまで下への広がりを提供することを示す。図１６のアイ・ダイアグラム１６００は、図１３のアイ・ダイヤグラム１３００とかなり近くマッチングしており、図１２に示した動作がＳＳＣの大部分を除去することを示していることから、図１６～図１８は、図１２に図示し、上述した動作が、ＳＳＣの大部分を除去できることを図示している。図１２の動作において、ウィンドウ・サイズを変更すると、より開いたアイ・ダイアグラムを可能にする位相ロック・ループ（ＰＬＬ）の様々な設定の影響をエミュレートする。

【0077】

本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

【0078】

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。

【0079】

コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。

【0080】

通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。

実施例

【0081】

以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

【0082】

実施例１は、アナログ帯域幅よりも低いナイキスト周波数を有するオシロスコープであって、反復パターンを有する被試験信号を受信するように構成された入力部と、被試験信号を受けて、複数の反復パターンにわたって上記被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングするように構成された単一のアナログ・デジタル・コンバータと、被試験信号の周波数を求め、求めた被試験信号の周波数及び上記サンプル・レートに基づいてトリガなしで被試験信号を再現（再構築）するよう構成された１つ以上のプロセッサとを具えている。

【0083】

実施例２は、実施例１のオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサが、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態になるまで、被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、被試験信号の周波数を決定するように構成されている。

【0084】

実施例３は、実施例１又は２のいずれかのオシロスコープであって、ユーザから被試験信号の周波数を受けるように構成されたユーザ入力部を更に具える。

【0085】

実施例４は、実施例１～３のいずれかのオシロスコープであって、サンプル・レートが、毎秒１ギガ・サンプルと毎秒１００ギガ・サンプルの間である。

【0086】

実施例５は、実施例４のオシロスコープであって、サンプル・レートが、毎秒２ギガ・サンプルから毎秒２５ギガ・サンプルの間である。

【0087】

実施例６は、実施例１～５のいずれかのオシロスコープであって、単一のアナログ・デジタル・コンバータは、少なくとも１２ビットのアナログ・デジタル・コンバータである。

【0088】

実施例７は、実施例１～６のいずれかのオシロスコープであって、上記１つ以上のプロセッサは、求めた上記周波数及び上記サンプル・レートに基づいて、再現された被試験信号における被試験信号のサンプリングされた構成要素夫々の対応する位置を決定することによって、被試験信号の求めた周波数及び上記サンプル・レートに基づいてトリガなしで被試験信号を再現（再構築）するよう構成される。

【0089】

実施例８は、実施例１～７のいずれかのオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートを調整し、アナログ・デジタル・コンバータに様々なサンプル・レートで被試験信号をサンプリングさせるように更に構成されている。

【0090】

実施例９は、実施例８のオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、様々なサンプル・レートでサンプリングされた被試験信号に基づいて、被試験信号の周波数を求めるように更に構成されている。

【0091】

実施例１０は、アナログ帯域幅よりも低いナイキスト周波数を有するオシロスコープにおいて被試験信号を再現（再構築）する方法であって、反復パターンを有する被試験信号を受ける処理と、単一のアナログ・デジタル・コンバータを使用して複数の反復パターンにわたって被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングし、上記信号をデジタル化する処理と、サンプリングされた被試験信号の周波数を求める処理と、求めた周波数とサンプリング・レートに基づいてトリガを使用せずに被試験信号を再現する処理とを具えている。

【0092】

実施例１１は、実施例１０の方法であって、被試験信号の周波数を求める処理が、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態になるまで、被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整する処理を含む。

【0093】

実施例１２は、実施例１０又は１１のいずれかの方法であって、ユーザ入力部から被試験信号の周波数を受ける処理を更に具える。

【0094】

実施例１３は、実施例１０～１２のいずれかの方法であって、サンプル・レートは、毎秒１ギガ・サンプルと毎秒１００ギガ・サンプルの間である。

【0095】

実施例１４は、実施例１３の方法であって、サンプル・レートは、毎秒２ギガ・サンプルと毎秒２５ギガ・サンプルの間である。

【0096】

実施例１５は、実施例１０～１４のいずれかの方法であって、単一のアナログ・デジタル・コンバータは、少なくとも１２ビットのアナログ・デジタル・コンバータである。

【0097】

実施例１６は、実施例１０～１５のいずれかの方法であって、アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートを調整し、上記アナログ・デジタル・コンバータに、様々なサンプル・レートで被試験信号をサンプリングさせる処理を更に具える。

【0098】

実施例１７は、実施例１６の方法であって、被試験信号の周波数を求める処理が、様々なサンプル・レートでサンプリングされた被試験信号に基づいて被試験信号の周波数を求める処理を含む。

【0099】

実施例１８は、１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、試験測定装置の１つ以上のプロセッサによって実行されると、試験測定装置に、反復パターンを有する被試験信号を受ける処理と、単一のアナログ・デジタル・コンバータを用いて複数の反復パターンにわたって被試験信号を特定のサンプル・レートでサンプリングして信号をデジタル化する処理と、サンプリングされた被試験信号の周波数を求める処理と、求めた周波数とサンプリング・レートに基づいてトリガを使用せずに被試験信号を再現する処理とを行わせる命令を含んでいる。

【0100】

実施例１９は、実施例１８の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、上記試験測定装置に、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態になるまで、被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、被試験信号の周波数を求める処理を行わせる命令を更に含む。

【0101】

実施例２０は、実施例１８又は１９のいずれかの１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、サンプル・レートは、毎秒１ギガ・サンプルと毎秒１００ギガ・サンプルの間である。

【0102】

実施例２１は、リアルタイム・モード及びリアル等価時間モードを有するオシロスコープであって、第１及び第２チャンネルと、第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータと、リアルタイム・モードの間、第１チャンネルを第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータの両方に電気的に結合し、第２チャンネルを第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータから電気的に切り離し、リアル等価時間モードの間、第１チャンネルを第１アナログ・デジタル・コンバータに電気的に結合し、第２チャンネルを第２アナログ・デジタル・コンバータに電気的に結合するよう構成される１つ以上のプロセッサとを具えている。

【0103】

実施例２２は、実施例２１のオシロスコープであって、リアル等価時間モードの間、１つ以上のプロセッサは、更に、第１チャンネルで受けた被試験信号の周波数を求め、被試験信号の求めた周波数及び第１アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートに基づいてトリガなしで被試験信号を再現（再構築）するように構成される。

【0104】

実施例２３は、実施例２２のオシロスコープであって、被試験信号が、反復パターンを含む。

【0105】

実施例２４は、実施例２３のオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態に達するまで、被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、被試験信号の周波数を求めるように構成されている。

【0106】

実施例２５は、実施例２３又は２４のいずれかのオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、更に、求めた周波数及びサンプル・レートに基づいて、再現された被試験信号中の被試験信号のサンプリングされた構成要素夫々の対応する位置を求めることによって、被試験信号の求めた周波数及びサンプル・レートに基づいてトリガなしで被試験信号を再現（再構築）するように構成されている。

【0107】

実施例２６は、実施例２３～２５のいずれかのオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、更に、アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートを調整し、アナログ・デジタル・コンバータに、様々なサンプル・レートで被試験信号をサンプリングさせるように構成されている。

【0108】

実施例２７は、実施例２６のオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、更に、様々なサンプル・レートでサンプリングされた被試験信号に基づいて被試験信号の周波数を求めるように構成されている。

【0109】

実施例２８は、実施例２２～２６のいずれかのオシロスコープであって、ユーザから被試験信号の周波数を受けるように構成されたユーザ入力部を更に具える。

【0110】

実施例２９は、実施例２１～２８のいずれかのオシロスコープであって、複数のスイッチを更に具え、１つ以上のプロセッサは、試験測定装置のモードに基づいて、第１及び第２チャンネルを第１及び第２アナログ・デジタル・コンバータに電気的に結合するように、複数のスイッチの夫々を制御するように更に構成されている。

【0111】

実施例３０は、実施例２１～２９のいずれかのオシロスコープであって、１つ以上のプロセッサは、更に、公称ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して第１周期を有する平均第１ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第１ウィンドウを取得する処理と、平均第１ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して平均第２ユニット・インターバル値を求める処理を含む、サンプルの第１ウィンドウに関するユニット・インターバルの調査範囲よりも狭いユニット・インターバルの調査範囲を有するサンプルの第２ウィンドウを取得する処理と、サンプルの第１ウィンドウ及びサンプルの第２ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と、正規化されたサンプリング時間に基づいて被試験信号を再現する処理とによって、リアルタイム・モード又はリアル等価時間モードのいずれかで被試験信号をサンプリングし、被試験信号を再現するように構成されている。

【0112】

実施例３１は、オシロスコープにおいて被試験信号を再現する方法であって、被試験信号をサンプリングする処理と、被試験信号に基づいて公称ユニット・インターバル値を求める処理と、公称ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して第１周期値を有する平均第１ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第１ウィンドウを取得する処理と、平均第１ユニット・インターバルに近いユニット・インターバル値を推定して平均第２ユニット・インターバル値を求める処理を含む、サンプルの第１ウィンドウに関するユニット・インターバルの調査範囲よりも狭いユニット・インターバルの調査範囲を有するサンプルの第２ウィンドウを取得する処理と、サンプルの第１ウィンドウ及びサンプルの第２ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と、正規化されたサンプリング時間に基づいて被試験信号を再現する処理とを具えている。

【0113】

実施例３２は、実施例３１の方法であって、被試験信号が反復パターンを含む。

【0114】

実施例３３は、実施例３１又は３２のいずれかの方法であって、被試験信号をサンプリングする処理は、被試験信号をサンプリングするアナログ・デジタル・コンバータのナイキスト周波数よりも大きいアナログ帯域幅を有する被試験信号を取り込む処理を含む。

【0115】

実施例３４は、実施例３１～３３のいずれかの方法であって、サンプルの第２ウィンドウに関するユニット・インターバルの調査範囲は、サンプルの第１ウィンドウに関するユニット・インターバルの調査範囲よりも狭く、平均第２ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して平均第３ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第３ウィンドウを取得する処理と、サンプルの第１ウィンドウ、サンプルの第２ウィンドウ及びサンプルの第３ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理とを更に具えている。

【0116】

実施例３５は、１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、試験測定装置の１つ以上のプロセッサによって実行されると、試験測定装置に、リアルタイム・モードの間、第１チャンネルを第１アナログ・デジタル・コンバータ及び第２アナログ・デジタル・コンバータの両方に電気的に結合させ、第２チャンネルを第１アナログ・デジタル・コンバータ及び第２アナログ・デジタル・コンバータから電気的に切り離して、被試験信号を取り込む処理を行わせ、リアル等価時間モードの間、第１チャンネルを第１アナログ・デジタル・コンバータだけに電気的に結合し、第２チャンネルを第２アナログ・デジタル・コンバータだけに電気的に結合し、被試験信号を第１チャンネル又は第２チャンネルのいずれかで取り込む処理を行わせる命令を含む。

【0117】

実施例３６は、請求項３５の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、上記試験測定に、上記リアル等価時間モードの間に、第１チャンネルで受けた被試験信号の周波数を求める処理と、被試験信号の求めた周波数及び第１アナログ・デジタル・コンバータのサンプル・レートに基づいてトリガなしで被試験信号を再現する処理を行わせる命令を更に含んでいる。

【0118】

実施例３７は、実施例３６の１つ以上のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であって、被試験信号は、反復パターンを含む。

【0119】

実施例３８は、実施例３８の１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、１つ以上のプロセッサが、アイ・ダイアグラムを自動的に生成し、アイ・ダイアグラムの水平開口部がその最も広い状態に達するまで、被試験信号の選択された周波数を繰り返し調整することによって、被試験信号の周波数を求めるように構成されている。

【0120】

実施例３９は、実施例３５～３８のいずれかの１つ以上のコンピュータ可読記憶媒体であって、リアルタイム・モード又はリアル等価時間モードのいずれかの試験測定装置に、第１チャンネル又は第２チャンネルのいずれかで被試験信号をサンプリングする処理と、被試験信号に基づいて公称ユニット・インターバル値を求める処理と、公称ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して、第１周期値を有する平均第１ユニット・インターバル値を求める処理を含むサンプルの第１ウィンドウを取得する処理と、平均第１ユニット・インターバル値に近いユニット・インターバル値を推定して平均第２ユニット・インターバル値を求める処理を含む、サンプルの第１ウィンドウに関するユニット・インターバルの調査範囲よりも狭いユニット・インターバルの調査範囲を有するサンプルの第２ウィンドウを取得する処理と、サンプルの第１ウィンドウ及びサンプルの第２ウィンドウに基づいてサンプリング時間を正規化する処理と、正規化されたサンプリング時間に基づいて被試験信号を再現する処理とを行わせる命令を含んでいる。

【0121】

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

【0122】

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例に関連して開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例との関連においても利用できる。

【0123】

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

【0124】

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【国際調査報告】