特表 2023-535835 合成工程を制御すること

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2023-08-21

(54)【発明の名称】合成工程を制御すること

(51)【国際特許分類】

   G16C 60/00 20190101AFI20230814BHJP

   G16C 20/10 20190101ALI20230814BHJP

【ＦＩ】

G16C60/00

G16C20/10

【審査請求】未請求

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2023506331

(86)(22)【出願日】2021-07-29

(85)【翻訳文提出日】2023-03-28

(86)【国際出願番号】 EP2021071327

(87)【国際公開番号】W WO2022023495

(87)【国際公開日】2022-02-03

(31)【優先権主張番号】20188937.5

(32)【優先日】2020-07-31

(33)【優先権主張国・地域又は機関】EP

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】508020155

【氏名又は名称】ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア

【氏名又は名称原語表記】ＢＡＳＦ ＳＥ

【住所又は居所原語表記】Ｃａｒｌ－Ｂｏｓｃｈ－Ｓｔｒａｓｓｅ ３８， ６７０５６ Ｌｕｄｗｉｇｓｈａｆｅｎ ａｍ Ｒｈｅｉｎ， Ｇｅｒｍａｎｙ

(74)【代理人】

【識別番号】110001195

【氏名又は名称】弁理士法人深見特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】アルント，マティーアス

(72)【発明者】

【氏名】イエリッヒ，ホルガー・カイ・ペーター

(72)【発明者】

【氏名】ゾルティース，トーマス

(57)【要約】

化学製品または生物学的製品のための合成工程を制御するためのコンピュータにより実施される方法は、合成仕様制御モジュールの処理デバイスにおいて、合成工程のための合成仕様を、通信インターフェースを介して受信するステップと、合成仕様から実験要件の集合を導出するステップと、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを、通信インターフェースデバイスを介して受信するステップと、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合を導出するステップと、実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップと、比較に基づいて制御データを生成するステップと、合成工程を制御することに適した制御データを、処理デバイスを使用して提供するステップとを含む。

【特許請求の範囲】

【請求項1】

化学製品または生物学的製品のための合成工程を制御するためのコンピュータにより実施される方法であって、前記方法が、
・合成仕様制御モジュールの処理デバイスにおいて、
・前記合成工程のための合成仕様を、通信インターフェースを介して受信するステップと、
・前記合成仕様から実験要件の集合を導出するステップと、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを、通信インターフェースデバイスを介して受信するステップと、
・前記少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データから機器特性の集合を導出するステップと、
・前記実験要件の前記集合を前記機器特性の前記集合と比較するステップと、
・前記比較に基づいて制御データを生成するステップと、
・前記合成工程を制御すること、および／または監視することに適した前記制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップと、
を含む、方法。

【請求項2】

前記少なくとも１つの実験室機器デバイスから前記少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データを要求するステップを更に含む、
請求項１に記載の方法。

【請求項3】

記憶された事前設定済みの合成仕様から合成仕様を選択するステップを含む、
先行する請求項のいずれか一項に記載の方法。

【請求項4】

前記制御データを提供する前記ステップが、前記機器特性の前記集合が前記合成仕様からの前記実験要件の前記集合に適合していることを示している制御データを提供するステップ、または、前記機器特性の前記集合が前記合成仕様からの前記実験要件の前記集合に適合していないことを示す制御データを提供するステップを含む、
先行する請求項のいずれか一項に記載の方法。

【請求項5】

前記合成仕様から前記実験要件の前記集合を導出する前記ステップが、
・前記合成仕様から機能要件の集合を導出するステップと、
・前記合成仕様から技術要件の集合を導出するステップと、
を含み、
前記少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データから前記機器特性の前記集合を導出する前記ステップが、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データから機器機能の集合を導出するステップと、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データから機器機能能力の集合を導出するステップと、
を含み、
前記処理デバイスを介して、前記実験要件の前記集合を前記機器特性の前記集合と比較する前記ステップが、
・前記機能要件の前記集合を前記機器機能の前記集合と比較するステップと、
・前記技術要件の前記集合を前記機器機能能力の前記集合と比較するステップと、
を含み、
前記制御データを提供する前記ステップが、
・前記機器機能の前記集合が前記機能要件の前記集合に適合していること、および前記機器機能能力の前記集合が前記技術要件の前記集合に適合していることを示す制御データを提供するステップ、
または、
・前記機器機能の前記集合が前記機能要件の前記集合に適合していないこと、および／または、前記機器機能能力の前記集合が前記技術要件の前記集合に適合していないことを示す制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップと、
を含む、
請求項４に記載の方法。

【請求項6】

－ 前記合成仕様から前記実験要件の前記集合を導出するステップが、設定要件を導出するステップを含み、
前記少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データからの前記機器特性の前記集合を導出する前記ステップが、機器設定を導出するステップを含み、
前記処理デバイスを介して、前記実験要件の前記集合を前記機器特性の前記集合と比較する前記ステップが、前記設定要件を前記機器設定と比較するステップを含み、
前記制御データを提供する前記ステップが、
・前記機器設定が前記設定要件に適合していることを示す制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップ、
または、
・前記機器設定が前記設定要件に適合していないことを示す制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップ、
を含む、
請求項４に従属する請求項のうちのいずれか一項に記載の方法。

【請求項7】

前記合成仕様から前記実験要件の前記集合を導出するステップが、構成要件を導出するステップを含み、
少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データからの前記機器特性の前記集合を導出する前記ステップが、機器構成を導出するステップを含み、
前記処理デバイスを介して、前記実験要件の前記集合を前記機器特性の前記集合と比較するステップが、前記機器構成を前記構成要件と比較するステップを含み、
前記制御データを提供する前記ステップが、
・前記機器構成が前記構成要件に適合していることを示す制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップ、
または、
・前記機器構成が前記構成要件に適合していないことを示す制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップ、
を含む、
請求項４に従属する請求項のうちのいずれか一項に記載の方法。

【請求項8】

どの前記実験要件に適合していないかを示す前記制御データを提供するステップが、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを提供するステップを含む、
先行する請求項のいずれか一項に記載の方法。

【請求項9】

ａ．前記合成仕様を修正すること、および／または、
ｂ．デバイスを、前記実験要件を提供する別のデバイスと置換すること、および／または、
ｃ．実験者に実験要件を割り当てること、
によりセットアップを変えるための提案を提供するステップを更に含む、
先行する請求項のいずれか一項に記載の方法。

【請求項10】

ａ．前記実験要件の前記集合が少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データからの前記機器特性の前記集合に適合するように、前記合成仕様を修正するステップ、および／または、
ｂ．前記実験要件に適合する別のデバイスを選択するステップ、および、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データを修正するステップ、および／または、
ｃ．適合していない前記実験要件を実験者に割り当てるステップ、および、前記少なくとも１つの実験室機器デバイスの前記実験室機器データを修正するステップ、
を更に含む、先行する請求項のいずれか一項に記載の方法。

【請求項11】

修正された前記合成仕様、および／または、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された前記実験室機器データを提供するステップを更に含む、
先行する請求項のいずれか一項に記載の方法。

【請求項12】

適合していない構成要件のリストを提供するステップの後に、前記構成要件に従って機器構成を変える命令を提供するステップが続く、
請求項８に記載の方法。

【請求項13】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データからの前記機器特性の前記集合が前記合成仕様からの前記実験要件の前記集合に適合していることを示す制御データを、前記処理デバイスを使用して提供するステップの後、前記制御データに基づく実験の実行が続く、
請求項４に記載の、または請求項４に従属する請求項のうちのいずれか一項に記載の方法。

【請求項14】

前記合成工程の実行のステップの後、前記合成工程が成功したか否かの分類が続く、
請求項１３に記載の方法。

【請求項15】

前記方法が、分類と一緒に合成仕様データベースに前記合成仕様を記憶するステップを更に含む、
請求項１３または請求項１４に記載の方法。

【請求項16】

前記合成仕様と一緒に、前記合成仕様データベースに、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した前記実験室機器データを記憶するステップを更に含む、
請求項１５に記載の方法。

【請求項17】

少なくとも１つの実験室機器デバイスと、入力インターフェース、出力インターフェース、および、請求項１から請求項１８のいずれか一項に記載の方法ステップを実施するように構成された処理デバイスを含む合成仕様制御モジュールとを備える、
化学製品または生物学的製品のための合成工程を制御するためのシステム。

【請求項18】

処理デバイスにおいて実行されたときに、請求項１から請求項１６のいずれか一項に記載の方法ステップを実施する、
コンピュータプログラム製品。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

分野
本開示は、化学製品または生物学的製品のための合成工程を制御するための、および／または、監視するためのシステム、方法、およびコンピュータプログラム製品に関する。

【背景技術】

【0002】

背景
化学工業では、実験室での実験が毎日の仕事の本質的な部分である。化学者は合成工程を計画し、および合成仕様を提案する。次に、合成工程は化学者とは限らない実験者により実行される。合成工程のために、実験者が合成仕様を評価することを必要とする。次に、必要な機器が割り当てられて適切な順序でセットアップされる必要があり、それに加えて、機器が構成される必要がある。これらのステップの全てが時間のかかるものであり、および退屈なものであり、したがって、合成工程を実行するためのより効率的でより安全な手法が必要とされる。

【発明の概要】

【課題を解決するための手段】

【0003】

概要
化学製品または生物学的製品のための合成工程を制御するための、および／または、監視するためのコンピュータにより実施される方法であって、
・合成仕様制御モジュールの処理デバイスにおいて、
・合成工程のための合成仕様を、通信インターフェースを介して受信するステップと、
・合成仕様から実験要件の集合を導出するステップと、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを、通信インターフェースデバイスを介して受信するステップと、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器特性の集合を導出するステップと、
・実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップと、
・比較に基づいて制御データを生成するステップと、
・合成工程を制御することに適した制御データを、処理デバイスを使用して提供するステップと、
を含む方法が提案される。

【0004】

合成工程の合成仕様という用語は、化学製品または生物学的製品の合成のためのレシピに関連し得る。レシピおよび合成仕様という用語は、同義語として使用され得る。合成仕様は、合成工程の材料および合成工程のための指示に関連した情報を含み得る。命令は、コンピュータ実行可能命令であり得る。これは、実験室機器デバイスによる合成仕様の自動的な実行を可能にする。

【0005】

合成工程のための合成仕様を処理デバイスにおいて受信することは、入力デバイスから合成仕様を受信することを含み得る。入力デバイスは、物理インターフェース（例えば、キーボード、タッチスクリーン、コンピュータマウスなど）、または、論理インターフェース（例えば、データベースへのコンピュータインターフェース、コンピュータまたはコンピュータネットワークへの有線または無線インターフェースなど）を備え得る。

【0006】

化学工業における合成工程のための合成仕様は、少なくとも１つの反応物から少なくとも１つの製品にどのように到達するかの命令の集合を説明し得る。合成工程のための合成仕様は、少なくとも１つの反応物から少なくとも１つの製品に到達するために必要とされるいくつかの工程ステップの説明であり得る。

【0007】

化学工業における合成工程のための合成仕様は、使用される化学成分のリストを含み得る。計画は、工程ステップのシーケンスを含み得る。計画は、例えば（例えば、加熱、冷却、混合、投与、圧力変化）などの命令を含み得る。合成仕様は、命令ステップを順序化するためのタイムスタンプを含み得る。合成仕様は、どの時点で各工程ステップが実施されるか、および更にどのくらいの長さにわたって特定の工程ステップが実施されるかという期間を規定する、例えば時間軸に沿った時系列的な順序を更に含み得る。合成仕様は、各機能要件に対して各時点における固有なセットポイントを更に含み得る。一例において、これは、混合器に対するセットされた回転速度、または、加熱器に対する温度セットポイントであり得る。合成仕様から導出された技術要件は、機能要件に対する全てのセットポイントの最大値であり得る。

【0008】

一態様において本方法は、前記少なくとも１つの実験室機器デバイスから少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを要求するステップを更に含み得る。

【0009】

これは、実験室機器デバイスとの直接的な通信を可能にし、ユーザーの誤りを防ぐ。更に、これは、合成工程のより安全な実行を可能にする。

【0010】

本方法は、記憶された事前設定済みの合成仕様から合成仕様を選択するステップを更に含み得る。これは、合成工程の効率的な制御を可能にする。記憶された事前設定済みの合成仕様の選択は、一貫性のない合成仕様に陥るリスクを減らす。実験室リソースのより効率的な使用を更に可能にする。

【0011】

一態様において、制御データを提供するステップは、機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを提供すること、または、機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを提供することを更に含み得る。

【0012】

これは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、または、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、出力デバイスを介した比較に依存したステップと理解され得る。

【0013】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、または、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、出力デバイスを介した比較に依存したステップは、機器が合成仕様を実行することに適しているか否かの簡単な特定を可能にする。それが、合成工程を成功裏に実施することができない実験合成工程を実施するリスクを減らすので、これは有益である。これは、合成工程に注ぎ込まれるリソースを減らし、更に安全性を高める。

【0014】

機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを制御データが示しているとき、制御データは、合成工程を実行するための制御信号を含み得る。

【0015】

これは、合成工程の効率的な制御を可能にする。一態様において少なくとも実験室デバイスは、合成工程を開始するための制御信号を受信するように構成される。一態様において、制御データは、合成仕様の制御パラメータを含む。合成の制御パラメータは、合成工程のためのリソースを減らすことを含み得る。

【0016】

合成仕様から導出された実験要件の集合は、合成仕様に従って合成工程を成功裏に実行するために適合していることを必要とする要件に関連する。

【0017】

合成仕様から実験要件の集合を導出することは、
・合成仕様から機能要件の集合を導出することと、
・合成仕様から技術要件の集合を導出することと、
を含み得る。

【0018】

合成仕様から導出された機能要件の集合は、合成仕様における特定の工程ステップにおいて必要とされる機能であり得る。

【0019】

機能要件の集合は、例えば、重さを量ること、混合、ポンプ搬送、加熱、冷却、温度制御、圧力制御、ボリュームの測定、制御ロジック、例えば自動化されたｐＨ制御または任意の他のインライン分析を含み得る。

【0020】

合成仕様から導出された技術要件の集合は、合成仕様における工程ステップを実施するために実現されることを必要とする技術要件であり得る。技術要件の集合は、例えば、温度、流量、加熱レート、冷却レート、混合器速度／トルク、圧力を含み得る。

【0021】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器特性の集合を導出することは、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器機能の集合を導出することと、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器機能能力の集合を導出することと、
を含み得る。

【0022】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから導出された機器特性の集合は、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データに含まれた機器の物理的特性または理論的特性に関連する。

【0023】

機器機能と機器能力との間の分離は、合成工程のセットアップに対する実験室機器のより効率的な割り当てを可能にする。

【0024】

必要な数の機能要件が最小の機器デバイスの集合に適合するように、機器がここで選択され得る。

【0025】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから導出された機器機能の集合は、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データに対して機器により実施され得る機能に関連し得る。１つの機器が、１つの機能をもってもよく、または、複数の機能をもってもよい。複数の機能は、１つより多い機能であり、より具体的には２つ以上の機能、より具体的には３つ以上の機能であり得る。機器機能は、例えば、重さを量ること、混合、ポンプ搬送、加熱、冷却、温度制御、圧力制御、測定、制御ロジック、例えば自動化されたｐＨ制御または任意の他のインライン分析を含み得る。２つの機能をもつ１つの機器の例は、加熱器／混合器デバイス、例えばホットプレート／撹拌器の組み合わせである。

【0026】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから導出された機器機能能力の集合は、機器から利用可能な機能の各々に対する利用可能な能力に関連し得る。機器機能能力の集合は、例えば、最小および／または最大温度、最小および／または最大流量、最小および／または最大加熱レート、最小および／または最大冷却レート、最小および／または最大混合器速度／トルク、最小および／または最大圧力、温度範囲、流量範囲、加熱レート範囲、冷却レート範囲、混合器速度／トルク範囲、圧力範囲を含み得る。

【0027】

処理デバイスは、プロセッサであり得る。処理デバイスは、１つより多いプロセッサまたはプロセッサのネットワークであり得る。入力デバイスおよび出力デバイスの各々は独立したプロセッサを備えてもよく、または、１つのプロセッサが入力デバイスおよび出力デバイスの各々を制御してもよい。

【0028】

処理デバイスを介して実験要件の集合を機器特性の集合と比較することは、比較が人間との対話を必要としないという利点をもつ。

【0029】

一態様において、処理デバイスを介して実験要件の集合を機器特性の集合と比較することは、
・機能要件の集合を機器機能の集合と比較することと、
・技術要件の集合を機器機能能力の集合と比較することと、
を含み得る。

【0030】

処理デバイスを介して機能要件の集合を機器機能の集合と比較することは、機能要件の集合の各機能要件に対して、少なくとも対応する機器機能が機器機能の集合において利用可能であるか否かを評価することを含み得る。機能要件の集合の各機能要件に対して、対応する機器機能が機器機能の集合において利用可能なとき、機器機能の集合が機能要件の集合に適合していると考えられる。

【0031】

技術要件の集合を機器機能能力の集合と比較することは、技術要件の各々が機器機能能力のそれぞれの範囲内に収まるか否かを評価することを含み得る。実験室機器は多くの場合、物理的範囲を提供し、例えば、加熱器は実現され得る最大温度を提供し得る。この場合において、技術要件が加熱器の範囲内にあるか否かを識別することは、合成仕様からの温度要件＜技術的機器の最大温度といった、単純な比較として理解され得る。技術要件の集合が機器機能能力の集合の範囲内に収まっているとき、技術要件の集合が機器機能能力の集合に適合していると考えられる。

【0032】

・一態様において制御データを提供することは、機器機能の集合が機能要件の集合に適合していること、および機器機能能力の集合が技術要件の集合に適合していることを示す制御データを提供すること、または、機器機能の集合が機能要件の集合に適合していないこと、および／または、機器機能能力の集合が技術要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することを含む。

【0033】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、出力デバイスを介した比較に依存したステップは、機器機能の集合が機能要件の集合に適合していること、および機器機能能力の集合が技術要件の集合に適合していることを示す制御データを提供することを含み得、または、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することは、機器機能の集合が機能要件の集合に適合していないこと、および／または、機器機能能力の集合が技術要件の集合に適合していないことを示す制御データを提供することを含み得る。

【0034】

入力デバイスを介して合成仕様を提供するステップは、実験のための合成仕様を変えることにおいて高い柔軟性を提供する。化学工業製造では、新しい製品が継続的に開発されており、または、既存の製造工程が実験室において再検討されている。したがって、実験のための合成仕様は頻繁に変えられる。

【0035】

追加的に、または代替的に、合成仕様を提供するステップは、合成仕様を手動で入力することを含み得る。新しい合成仕様が最近開発されて初めて試験されなければならない場合、合成仕様を手動で入力することが有益である。

【0036】

追加的に、または代替的に、合成仕様を提供するステップは、合成仕様データベースから合成仕様を入手することを含み得る。合成仕様が以前に開発されている場合、合成仕様データベースから合成仕様を入手することが特に有用である。

【0037】

合成仕様から機能要件の集合を導出するステップは、機能要件と機器機能との簡単な比較を可能にする抽象化層を加える。合成仕様から機能の集合を導出するステップは、次に実験室の自動化により更に処理され得る一般的な比較可能なパラメータが生成されるという利点をもつ。

【0038】

合成仕様から技術要件の集合を導出するステップは、合成仕様からの技術要件の集合と技術的な機器機能能力との簡単な比較を可能にする抽象化層を加える。合成仕様から技術要件の集合を導出するステップは、次に実験室の自動化により更に処理され得る一般的な比較可能なパラメータが生成されるという利点をもつ。

【0039】

機能要件と技術要件とを分離することは、合成仕様を説明することにおいてより高い柔軟性を可能にする。更に、それは実験室リソースのより効率的な使用を可能にし、このようなリソースは実験室デバイスであり得る。

【0040】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを、入力デバイスを介して提供するステップは、実験室機器を評価することにおいて高い柔軟性を提供する。

【0041】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データは、実験室において現在設置されている、および／または構成されている実験室機器のリストであり得る。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データは空のリストであってもよく、現在設置されている、および／または構成されている実験室機器が存在しない場合、これが特に有用である。

【0042】

代替的に、または追加的に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データは、実験室の在庫において利用可能な機器のリストであり得る。

【0043】

代替的に、または追加的に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データは、企業の在庫リストにおいて利用可能な機器のリストであり得る。

【0044】

更なる機器は、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを修正することにより更に簡単に追加され得る。

【0045】

追加的に、または代替的に少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを提供するステップは、実験室機器のリストを手動で入力することを含み得る。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを手動で入力することは、新しい機器が追加されたとき有益である。実験室機器のリストが実験室において現在設置されている、および／または構成されている機器に関連しているとき、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを手動で入力することが有益である。

【0046】

追加的に、または代替的に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを提供するステップは、機器データベースから少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを入手することを含み得る。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが、実験室の在庫において利用可能な機器または企業の在庫リストにおいて利用可能な機器に関連している場合、機器データベースから少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データをロードすることは特に有用である。

【0047】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データは、実験室機器のブランド名および／またはデバイス名を含み得る。

【0048】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器機能の集合を導出するステップは、機能要件と機器機能との簡単な比較を可能にする抽象化層を加える。これはデバイスを一般化し、次に実験室の自動化により更に処理され得る一般的な比較可能なパラメータが生成されることをもたらす。この抽象化層は、１つの機器が１つの機能または複数の機能を含み得ることを考慮することを更に可能にする。磁気撹拌器は例えば多くの場合、組み込まれた加熱器機能を更にもつ。

【0049】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器機能能力の集合を導出するステップは、合成仕様からの技術要件の集合と技術的な機器機能能力との簡単な比較を可能にする抽象化層を加える。これはデバイスを一般化し、次に実験室の自動化において更に処理され得る一般的な比較可能なパラメータが生成されることをもたらす。

【0050】

機器機能と機器機能能力とを分離することは、機器を説明することにおいてより高い柔軟性を可能にする。

【0051】

機能要件の集合と機器機能の集合とを、処理デバイスを介して比較するステップは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した提供された実験室機器データから機器を使用するときに全ての要求される機能が実施され得るか否かを判定することを可能にする。これは、合成仕様の全ての要求される機能を実施することができるわけではないセットアップのための機器を選択することを防ぐ。例えば、合成仕様における機能要件が加熱器を必要とする場合、比較するステップは、加熱器機能を提供する１つの機器が少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データに存在するか否かを明らかにする。

【0052】

技術要件の集合と機器機能能力の集合とを、処理デバイスを介して比較するステップは、技術要件の集合に適合し得るか否かを判定することを可能にする。これは、合成仕様の全ての要求される機能を実施することができるわけではないセットアップのための機器を選択することを防ぐ。例えば、技術要件が温度１００℃を提供する加熱器を必要とする場合、比較するステップは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データの加熱器のうちのいずれかが温度１００℃を提供することができるか否かを明らかにする。

【0053】

機能の集合および合成仕様の要件に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して比較に依存して提供するステップは、ユーザーに制御データを提供することを含み得る。これは、計画された実験を実行するために必要な全ての機器のフィードバックを実験者に提供する利点をもつ。

【0054】

代替的に、または追加的に、機能の集合および合成仕様の要件に適合していることを示す制御データを、出力デバイスを介した比較に依存して提供するステップは、更なる方法ステップをトリガーすることを提供することを含み得る。

【0055】

これは、本方法により高い柔軟性をもたらし、実験を完全に自動化することさえ可能にし得る。

【0056】

機器機能の集合が機能要件の集合に適合していないこと、および／または、機器機能能力の集合が技術要件の集合に適合していないことを示す制御データを、出力デバイスを介した比較に依存して提供するステップは、ユーザーに制御データを提供することを含み得る。これは、計画された実験を実行に必要な全ての機器のフィードバックを実験者に提供する利点をもつ。

【0057】

代替的に、または追加的に、機器機能の集合が機能要件の集合に適合していないこと、および／または、機器機能能力の集合が技術要件の集合に適合していないことを示す制御データを、出力デバイスを介した比較に依存して提供するステップは、更なる方法ステップをトリガーすることを含み得る。

【0058】

これは本方法により高い柔軟性をもたらし、計画された実験をセットアップするためのセットアップワークフローを完全に自動化することさえ可能にし得る。

【0059】

一態様において、合成仕様は、規定の形式により提供され得る。規定の形式は、合成仕様から機能要件の集合を、および合成仕様から技術要件の集合をより高い信頼性で導出することを可能にする。規定の合成仕様の例は、例えば表、すなわち構造化テキスト形式を含み得る。適切な構造化テキスト形式は、ＪＳＯＮファイルまたはＪＳＯＮタイプファイルであり得る。

【0060】

一態様において、合成仕様から実験要件の集合を導出するステップは、追加的に、または代替的に、設定要件を導出することを含み得る。

【0061】

設定要件は、実験の工程フローを反映するために機能がどのように設定される必要があるかを反映する。

【0062】

設定要件は、合成仕様を実行するために必要な特定の順序の機能と理解され得る。例えば、脈管が脈管内に流体を送達するタスクを実施する前に、脈管内に流体を送達するためのポンプが設定される必要がある。

【0063】

設定要件の使用は、合成仕様のワークフローをより正確に反映することを可能にする。
追加的に、または代替的に、設定要件は、機能間の必要な物理的な接続と理解され得る。

【0064】

一態様において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器特性の集合を導出するステップは、代替的に、または追加的に、機器設定を導出することを含み得る。機器設定は、機器がどのように設定されるかを反映し得る。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが実験室において現在設置されている、および／または構成されている実験室機器のリストを表すとき、これが特に有用である。機器設定は、他の機器との関連を含み得る。

【0065】

一態様において、実験要件の集合を機器特性の集合と、処理デバイスを介して比較するステップは、設定要件を機器設定と比較することを含み得る。設定要件を機器設定と比較することにより、更なる情報が取得される。この更なる情報は、合成仕様による合成工程の後のセットアップのために使用され得る。

【0066】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが、実験室において現在設置されている、および／または構成されている実験室機器のリストを表すとき、これが特に有益である。次に例えば、設定に対する修正を伴わずに、設置された実験室機器を使用することが決定され得る。

【0067】

・一態様において、制御データを提供することは、機器設定が設定要件に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供すること、または、機器設定が設定要件に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することを含む。

【0068】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、比較に依存したステップは、機器設定が設定要件に適合していることを示すことを備え得、または、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することは、機器設定が設定要件に適合していないことを示すことを含み得る。

【0069】

一態様において、合成仕様から実験要件の集合を導出するステップは、代替的に、または追加的に、構成要件を導出することを含み得る。

【0070】

構成要件は、１つの機器の機能的能力に対する制約または制限を含み得る。一例において、合成仕様が水を加熱することを必要とする場合、加熱デバイスの最大温度を１００℃未満の温度に制限することは有意であり得る。構成要件は、安全性に関する規則に関連していてもよい。特に化学工業では安全要求が重要である。

【0071】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器特性の集合を導出するステップは、代替的に、または追加的に、機器構成を導出することを含み得る。機器構成は、機器が現在どのように構成されているかを反映し得る。これは、例えば加熱デバイスの最大温度の最大加熱レートといった、１つの機器が提供することを可能にされる境界条件であり得る。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが、実験室において現在設置されている、および／または構成されている実験室機器のリストを表すとき、これが特に有用である。

【0072】

実験要件の集合を機器特性の集合と、処理デバイスを介して比較するステップは、機器構成を構成要件と比較することを含み得る。機器構成が実験要件に適合しているとき、機器構成が合成仕様要件に適合していると考えられる。機器構成が要求される構成からずれているとき、実験要件に適合していないと考えられる。

【0073】

構成要件を機器構成と比較することにより、更なる情報が取得される。この更なる情報は、合成仕様による合成工程の後のセットアップのために使用され得る。

【0074】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが実験室において現在設置されている、および／または構成されている実験室機器のリストを表すとき、これは有益である。次に例えば、機器の構成に対する修正を伴わずに、設置された実験室機器を使用することが決定され得る。

【0075】

・一態様において、制御データを提供することは、機器構成が構成要件に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供すること、または機器構成が構成要件に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することを含む。

【0076】

比較に依存したステップ、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することが、機器構成が構成要件に適合していることを示すことを含み得、
または、
・少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することが、機器構成が構成要件に適合していないことを示すことを含み得る。

【0077】

本方法における構成を含むことは、制約に違反し得るセッティングを使用して合成工程を実施するリスクを減らす。

【0078】

一態様において少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することの後に、制御データに基づく実験の実行が続く。

【0079】

一態様において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、出力デバイスを介した比較に依存したステップの後に、実験のステップが続き得る。

【0080】

これは、合成工程の自動化を可能にする。合成工程のために必要な全ての要件が確認され、検証後にのみ、合成工程を実行する制御データが提供される。

【0081】

一態様において、合成工程を実施するステップの後に、合成工程が成功したか否かの分類が続き得る。

【0082】

一態様において、本方法は、分類と一緒に合成仕様データベースに合成仕様を記憶することを更に含み得る。

【0083】

合成工程が成功したか否かの分類と一緒に合成仕様を記憶することは、その後の実験のための情報を入手することを可能にする。

【0084】

一態様において、記憶は、合成工程が修正された合成仕様を使用して実行されたという情報を記憶するステップを更に含み得る。

【0085】

合成工程が成功したか否かの分類と一緒に、修正された合成仕様を記憶することは、その後の実験のための情報を入手することを可能にする。合成工程が修正された合成仕様を使用して実行されたことの情報を記憶することは、将来の動作のための関連情報を提供する。

【0086】

一態様において、記憶は、合成工程が少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを使用して実行されたという情報を記憶することを更に含み得る。合成工程が成功したか否かの分類と一緒に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを記憶することは、その後の実験のための情報を入手することを可能にする。合成工程が少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを使用して実行されたことの情報を記憶することは、将来の動作のための関連情報を提供する。

【0087】

本方法は、合成工程が人間との対話を使用して実行されたことの情報を記憶するステップを更に含み得る。合成工程が人間との対話を使用して実行されたことの情報を記憶することは、将来の動作のための関連情報を提供する。

【0088】

一態様において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、比較に依存したステップの後に、どの実験要件に適合していないかの情報を提供することが続き得る。

【0089】

一態様において、どの実験要件に適合していないかを示す制御データを提供することは、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを提供することを含む。

【0090】

更なる態様において、どの実験要件に適合していないかの情報を提供することは、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを提供することを含み得る。

【0091】

このようなリストは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データにおける機器により、合成工程のどのステップが実施されることができないかを簡単に識別することを可能にする。

【0092】

更に、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを提供するステップは、技術要件と機器能力との間のずれに関連した定量的な値を含み得る。

【0093】

この更なる情報は、実験要件が修正されて機器能力に適合するように、実験者が合成仕様を修正することを可能にし、例えば、合成仕様からの技術要件が１５０℃を必要とするときであって、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データにおける利用可能な加熱デバイスが１４０℃しか提供し得ないとき、合成仕様が１４０℃しか必要としないように修正され得る。

【0094】

一態様において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供する、比較に依存したステップの後、
ａ．合成仕様を修正すること、および／または、
ｂ．デバイスを、実験要件を提供する別のデバイスで置換すること、および／または、
ｃ．実験者に実験要件を割り当てること
により、セットアップを変えるための提案を提供することが続き得る。

【0095】

一態様において、実験要件の集合が少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合に適合するように、合成仕様が修正され得る。一態様において、修正された合成仕様は、データベースに記憶され得る。

【0096】

一態様において、修正された合成仕様は、次に、合成仕様として処理デバイスに提供され得る。本方法は、次に再度導出するステップおよび比較するステップに進み得る。

【0097】

これは、実験に進む前に全ての実験要件に適合しているか否かが常に評価されるという利点をもつ。これは安全性を大幅に高める。

【0098】

合成仕様を修正するステップは、適合していない実験要件が少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データの機器機能に近いとき、特に有用であり得る。

【0099】

一態様において、本方法は、実験要件に適合していない少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからのデバイスを更に置換し、および、実験要件に適合している別のデバイスを選択し得る。

【0100】

この態様において、本方法は、選択されたデバイスが少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データに含まれるように、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを修正することを更に含み得る。

【0101】

本方法は次に、データベースに少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを記憶するステップを更に含み得る。本方法は次に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データとして、処理デバイスに、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを提供するステップを更に含み得る。本方法は次に再度、導出するステップおよび比較するステップに進み得る。

【0102】

これは実験を実施する前に全ての実験要件に適合していることを確実なものとする。
一態様において、本方法は、適合していない実験要件を実験者に割り当てることを更に含み得る。

【0103】

適合していない機能要件を割り当てることは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データにおけるデバイスを生成すること、および、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データに、その生成されたデバイスに割り当てられた実験要件を記憶することを含み得る。これは、どの物理的な機器も、合成仕様における全ての要求されるステップを実施することが可能であるわけではなくても、合成仕様に従って実験を実施することを可能にする。

【0104】

本方法は次に、データベースに、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを記憶するステップを更に含み得る。本方法は次に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データとして、処理デバイスに、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを提供するステップを更に含み得る。本方法は次に、導出するステップおよび比較するステップに再度進み得る。

【0105】

これは、実験を実施する前に全ての実験要件に適合していることを確実なものとする。
任意選択的に、本方法は、合成仕様が修正された形態で実行されることを承認するユーザー入力を受信するステップを含み得る。

【0106】

一態様において、機器特性の集合および合成仕様の実験要件に適合していないことを示す制御データを提供するステップの後、人間との対話により、機能および適合していない合成仕様の要件を置換するための推奨案のリストを提供するステップが続き得る。これは、実験要件に適合するように、実験者が欠如した機能を実施するために、または機器能力をサポートするために人を介して対話することを可能にする。

【0107】

本方法は、実験を実行している間にどの機能が人間との対話により実施されなければならないかに関連したガイダンス情報を提供することを更に含み得る。これは、実験を手動で実行すること、および、合成仕様要件からのほんのわずかなずれのために実験セットアップを再構築することを回避することを可能にする。

【0108】

一態様において、機能の集合が合成仕様の要件に適合していないことを示す制御データを提供するステップの後、実験セットアップを再構築することを提案するステップが続き得る。このステップは、実験を再構築する提案を示す制御データを含み得る。どの実験要件に適合していないかの情報を提供するステップが、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを提供することを含み得る後に、このステップが実施され得る。

【0109】

再構築を提案するステップの後、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した在庫実験室機器データを、処理デバイスにおいて受信することが続き得る。

【0110】

機器リストの在庫は、実験室の在庫で利用可能な機器のリストであり得る。
代替的に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した在庫実験室機器データは、企業の在庫リストにおいて利用可能な機器のリストであり得るリストであり得る。

【0111】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した在庫実験室機器データを提供するステップの後、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した在庫実験室機器データから在庫機器特性の集合を導出するステップが続き得る。

【0112】

加えて、本方法は、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した在庫実験室機器データからの在庫機器特性の集合と、処理デバイスを介して比較するステップを含み得る。

【0113】

本方法は、適合している機器のリストを導出するステップを更に含み得る。適合している機器のリストは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した提供された実験室機器データにおいて適合していなかった機能要件および／または技術要件を提供する機器を含む。

【0114】

特に、適合している実験室機器のリストは、合成仕様の技術要件および機能要件に適合している全ての機器を含み得る。

【0115】

本方法は、適合している機器のリストを導出するステップの後、ユーザーに適合している実験室機器のリストを提供することが続き得ることを更に含み得る。

【0116】

１つより多い機器が機能要件および技術要件に適合している場合に、これが有益であり得る。実験者は次に、適合している実験室機器のリストからいくつかの機器を選び出し、および選択し得る。適合している実験室機器のリストは、アルファベット順であり得る。他の例において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した適合している実験室機器のデータは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した適合している実験室機器のデータにおける機器の利用可能性、または、デバイスの数に従って順序付けされ得る。他の例において、適合している実験室機器のリストは、実験室からの機器の物理的距離に応じて順序付けされ得る。

【0117】

適合している実験室機器のリストを実験者に提供するステップの後、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した適合している実験室機器のデータから機器を選択するステップが続き得る。

【0118】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した適合している実験室機器のデータから機器を選択するステップの後、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した適合している実験室機器のデータから選択された機器に応じて実験セットアップが変えられたことを承認することを実験者に要求するステップが続き得る。

【0119】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した適合している実験室機器のデータから選択された機器に従って実験セットアップが変えられたことの承認後に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した新しい実験室機器データが生成される。

【0120】

方法は次に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データを使用して実施され得る。合成仕様からの全ての実験要件に適合するまでこれが繰り返され得る。

【0121】

更なる態様において、どの実験要件に適合していないかの情報を提供することは、適合していない構成要件のリストを提供することを含み得る。

【0122】

更に、適合していない構成要件のリストを提供するステップの後、構成要件に従って機器構成を変える命令を提供することが続き得る。

【0123】

これは、全ての構成要件に適合しているわけではないことについて実験者の認識を高め、実験を準備することにおいてサポートを提供する。これは安全性を高め得る。

【0124】

代替例において、処理デバイスは、プログラミングインターフェースを介して構成要件に従って機器構成に適応するように構成され得る。

【0125】

これは実験者を更にサポートし、したがって、安全性を更に高め得る。
更なる態様において、どの実験要件に適合していないかの情報を提供することは、適合していない設定要件のリストを提供することを含み得る。

【0126】

更に、適合していない設定要件のリストを提供するステップの後、設定要件に従って機器設定を変える提案を提供することが続き得る。

【0127】

これは、全ての設定要件に適合しているわけではないことについて実験者の認識を高め、実験を準備することにおいてサポートを提供する。これは、安全性を高め得る。

【0128】

機器設定を変えることは手動の工程である。機器設定が変えられたことに対する実験者の承認を受信する更なるステップは、設定要件に従って機器設定を変える提案を提供するステップの後であり得る。

【0129】

これは実験者を更にサポートし、したがって安全性を高め得る。
代替的に、または追加的に、構成は、ユーザーに機能の仮想表現を提供することを含み得る。機能の仮想表現は、合成仕様における工程フローの順序で設定され得る。

【0130】

構成するステップは、各機能に対して合成仕様からの技術要件を規定することを更に備え得る。

【0131】

一態様において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することは、技術要件と機器機能能力との間のずれが閾値範囲内にあるときに、警告を提供することを更に含み得る。これは、合成仕様、および／または、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを修正せずに進むことを可能にし得る。

【0132】

一態様によると、処理デバイスによりロードされて実行されたときに本明細書において開示されている方法を実施するコンピュータ可読命令を含むコンピュータプログラムまたはコンピュータプログラム製品またはコンピュータ可読不揮発性記憶媒体。

【0133】

一態様によると、システムが提案され、システムは、入力デバイス、および、出力デバイス、および、本明細書において開示されている方法を実施するために構成された処理デバイスを備える。

【0134】

ある観点において、少なくとも１つの実験室機器デバイスと、入力インターフェース、出力インターフェース、および、本明細書において開示されているように制御する方法の方法ステップを実施するように構成された処理デバイスを含む合成仕様制御モジュールとを備える、化学製品または生物学的製品のための合成工程を制御するためのシステムが提案される。

【0135】

本開示は、同様に本明細書において開示されているシステム、方法、コンピュータプログラム、コンピュータ可読不揮発性記憶媒体、コンピュータプログラム製品に適用される。したがって、システム、方法、コンピュータプログラム、コンピュータ可読不揮発性記憶媒体、またはコンピュータプログラム製品の間に違いは生じない。全ての特徴が、本明細書において開示されているシステム、方法、コンピュータプログラム、コンピュータ可読不揮発性記憶媒体、および、コンピュータプログラム製品に関連して開示されている。

【図面の簡単な説明】

【0136】

【図1】開示されている方法のフロー図である。

【図2】本方法を実施するためのシステムの概略図である。

【図3】複数の実験室機器デバイスを含むシステムの例示的な実施形態を示す図である。

【図4】自動化された実験室の例示的なシステムアーキテクチャのブロック図である。

【図5】合成工程を制御するためのシステムの例示的なワークフローである。

【発明を実施するための形態】

【0137】

詳細な説明
一例において、合成仕様は、以下に提示される脂肪酸アルキルエステルの合成のための合成仕様であり得る。提供された２５０ｇの脂肪酸が磁気撹拌バーを備える丸底フラスコにおいて６０℃まで加熱される。１５分後、脂肪酸が溶かされ、結果として得られる混合体が１００ｒｐｍで１５分間撹拌される。次に、２００ｍｌのこの溶けた脂肪酸と、２０ｍｌの塩酸とが、２つの独立した投与ポンプを使用して１０分以内に蒸留ブリッジと２００ｒｐｍにセットされたアンカー撹拌器とを備える予熱された反応室（６０℃）内に送達される。次に、反応温度が１４０℃まで高められ、４８０ｍｌの総量のエチルアルコールが結果として得られる反応混合物に２４０分より長い期間にわたって投与される。過剰なアルコールおよび反応水が継続的に蒸留により除去される。反応混合物は更に１２０分間、１４０℃において２００ｒｐｍで撹拌される。その後、反応混合物が２０分以内に室温（２０℃）まで冷却されて、所望の脂肪酸アルキルエステルを生成する。

【0138】

この例において、合成仕様はＪＳＯＮタイプファイルの形態で提供された。
材料：
材料Ｉ
脂肪酸
量：２５０ｇ
材料ＩＩ
塩酸
量：２０ｍｌ
材料ＩＩＩ
エチルアルコール
量：４８０ｍｌ
機能：
含有：
容器Ｉ
タイプ：丸底フラスコ
最小体積：３００ｍｌ
最大体積：＞３００ｍｌ
構成：材料Ｉにより充填された
接続先：投与ポンプＩ／／設定要件
容器ＩＩ
タイプ：フラスコ
最小体積：２５ｍｌ
最大体積：＞２５ｍｌ
構成：
充填物：材料ＩＩ
設定：
接続先：投与ポンプＩＩ
容器ＩＩＩ
タイプ：フラスコ
最小体積：５００ｍｌ
最大体積：＞５００ｍｌ
構成：
充填物：材料ＩＩＩ
設定：
接続先：投与ポンプＩＩＩ
容器ＩＶ
タイプ：反応室
最小体積：７５０ｍｌ
最大体積：＞７５０ｍｌ
充填物：材料Ｉ
材料ＩＩ
材料ＩＩＩ
生成物
設定：
接続先：投与ポンプＩ
投与ポンプＩＩ
投与ポンプＩＩＩ
加熱：
加熱器Ｉ：
タイプ：無関係
最小温度：６０℃
最大温度：＞＝６０℃
設定：
接続先：容器Ｉ
構成：
温度限界：７０℃／／過熱を回避する／／
加熱器ＩＩ：
タイプ：無関係
最小温度：１４０℃
最大温度：＞＝１４０℃
設定：
接続先：反応室Ｉ
構成：
温度限界：１５０℃／／過熱を回避する／／
混合：
混合器Ｉ：
タイプ：磁気撹拌器
最小ＲＰＭ：１００
最大ＲＰＭ：＞＝１００
設定：
接続先：容器Ｉ
構成：
ＲＰＭ限界：１０５／／こぼれを回避する／／
混合器ＩＩ：
タイプ：アンカー撹拌器
最小ＲＰＭ：２００
最大ＲＰＭ：＞＝２００
設定：
接続先：反応室Ｉ
構成：
ＲＰＭ限界：２１０／／こぼれを回避する／／
投与：
投与ポンプＩ：
タイプ：無関係
最小投与レート：＜＝２０ｍｌ／分
最大投与レート ＞＝２０ｍｌ／分
設定：
接続：
入力は容器Ｉに
出力は容器ＩＶに
構成：
投与限界：２５／／こぼれを回避する／／
投与ポンプＩＩ：
タイプ：無関係
最小投与レート：＜＝２ｍｌ／分
最大投与レート ＞＝２ｍｌ／分
設定：
接続：
入力は容器ＩＩに
出力は容器ＩＶに
構成：
投与限界：２．５／／こぼれを回避する／／
投与ポンプＩＩ：
タイプ：無関係
最小投与レート：＜＝２０ｍｌ／分
最大投与レート ＞＝２０ｍｌ／分
設定：
接続：
入力は容器ＩＩＩに
出力は容器ＩＶに
構成：
投与限界：２．５／／こぼれを回避する／／
通信：
タイプ：いずれも必要とされない
蒸留ブリッジ：
タイプ：Ｎ／Ａ
設定：
接続：
入力は容器ＩＶに
合成工程の工程は、ＪＳＯＮタイプファイル内のタイムテーブルの形態で提供され得る。以下を参照されたい。

【0139】

【表1】

【0140】

ｊｓｏｎタイプ形式により合成仕様を提供することは、パースすることにより実験要件を簡単に導出することを可能にする。この例において明らかな要件および機能のみが例示を目的として示される。合成仕様における技術要件のリストはより詳細であり得る。別の例において、反応における流体の粘性が提供され得、この場合において、粘性流体を撹拌するために必要なトルクが技術要件として提供される場合、それが有益である。

【0141】

実験室機器のリストも例示のためのものだけである。より多くの技術能力が同様に提供されてもよい。粘性が合成仕様において与えられる場合、混合器の利用可能なトルクに関する情報を提供し得る技術能力が提供されてもよい。

【0142】

この例において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データもＪＳＯＮタイプファイルの形態で提供される。他の例において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを提供する他のフォーマットも想定される。

【0143】

少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データ：
デバイス名：ＩＫＡ Ｃ－ＭＡＧ ＨＳ ７
・デバイス機能：
・加熱
タイプ：加熱プレート
加熱電力：１０００Ｗ
単位：℃
加熱範囲：
最小温度：室温
最大温度：５００℃
セッティング範囲：
最小温度：０℃
最大温度：５００℃
セッティング精度：５℃
構成：
温度限界：７０℃
・混合：
タイプ：磁気撹拌器
最小ＲＰＭ：５０
最大ＲＰＭ：１５００
構成：
ＲＰＭ限界１１０
設定：Ｎ／Ａ
デバイス名：Ｈｅｉｄｏｌｐｈ Ｈｅｉ－Ｃｏｎｎｅｃｔ
・デバイス機能：
・加熱
タイプ：加熱プレート
加熱電力：８００Ｗ
単位：℃
加熱範囲：
最小温度：２０℃
最大温度：３００℃
セッティング範囲：
最小温度：２０℃
最大温度：３００℃
セッティング精度：１℃
構成：
Ｎ／Ａ
・混合：
タイプ：磁気撹拌器
最小ＲＰＭ：１００
最大ＲＰＭ：１４００
デバイス名：Ｌａｕｄａ Ｐｒｏ Ｐ２Ｅ
・デバイス機能：
・加熱
タイプ：サーモスタット
加熱電力：２５００Ｗ
単位：℃
加熱範囲：
最小温度：８０℃
最大温度：２５０℃
セッティング範囲：
最小温度：８０℃
最大温度：２５０℃
セッティング精度：０．０５℃
構成：
Ｎ／Ａ
混合：
デバイス名：Ｈｅｉｄｏｌｐｈ Ｈｅｉ－ＴＯＲＱＵＥ Ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ １００
・デバイス機能：
・混合
タイプ：アンカー撹拌器
最小ＲＰＭ：１０
最大ＲＰＭ：２０００
最大トルク：１００Ｎｃｍ
最大粘性：６００００ｍＰａ
最大体積：５０Ｌ
設定：
Ｎ／Ａ
構成：
ＲＰＭ限界：Ｎ／Ａ
デバイス名：ＩＫＡ ＥＵＲＯＳＴＡＲ １００ ｃｏｎｔｒｏｌ
・デバイス機能：
・混合
タイプ：アンカー撹拌器
最小ＲＰＭ：０
最大ＲＰＭ：１３００
最大トルク：１００Ｎｃｍ
最大粘性：７００００ｍＰａ
最大体積：１００Ｌ
設定：
Ｎ／Ａ
構成：
ＲＰＭ限界：Ｎ／Ａ
デバイス名：ＩＫＡ ＥＵＲＯＳＴＡＲ ７．５ ｄｉｇｉｔａｌ
・デバイス機能：
・混合
タイプ：アンカー撹拌器
最小ＲＰＭ：５０
最大ＲＰＭ：２０００
最大トルク：７．５Ｎｃｍ
最大粘性：４０００ｍＰａ
最大体積：５Ｌ
設定：
Ｎ／Ａ
構成：
ＲＰＭ限界：Ｎ／Ａ
投与：
デバイス名：ＫＮＦ Ｓｉｍｄｏｓ０２
・デバイス機能：
投与
タイプ：
最小投与レート：０．０００３
最大投与レート０．０２Ｌ／分
最大圧力：６ｂａｒ
設定：
接続：
Ｎ／Ａ
構成：
Ｎ／Ａ
デバイス名：ＫＮＦ Ｓｉｍｄｏｓ１０
・デバイス機能：
投与
タイプ：
最小投与レート：０．００１
最大投与レート０．１Ｌ／分
最大圧力：６ｂａｒ
設定：
接続：
Ｎ／Ａ
構成：
Ｎ／Ａ
デバイス名：ＩＳＭＡＴＥＣ Ｒｅｇｌｏ ＩＣＣ
・デバイス機能：
投与
タイプ：
最小投与レート：０．００１ｍｌ／分
最大投与レート３５ｍｌ／分
最大圧力：１ｂａｒ
設定：
接続：
Ｎ／Ａ
構成：
Ｎ／Ａ
図１に、本発明によるワークフローの例が示されている。

【0144】

ステップ１００において、脂肪酸アルキルエステルの合成のための合成仕様が、図２に示されるプロセッサ４２００において受信される。この例において、合成仕様は、前述のＪＳＯＮ様構造をもつ。

【0145】

この例では、合成仕様がデータベース４５００から提供される。代替例では、合成仕様は、入力／出力デバイス４３００により提供されてもよい。

【0146】

ステップ２００において、実験要件の集合が合成仕様から導出される。この例において、導出するステップは、合成仕様から機能要件を導出するステップを含む。導出は、プロセッサ４２００を使用してＪＳＯＮタイプ合成仕様ファイルをパースすることにより実施される。この例において、機能要件は以下の機能要件、すなわち、含有：４ｘ；加熱：２ｘ；混合：２ｘ；投与：３ｘを必要とする。

【0147】

代替例において、要求される材料は、機能要件として提供されてもよい。
材料を提供することは、材料が実験のために利用可能か否かを実験者が承認する必要があり得る更なる確認リストを提供することを可能にする。

【0148】

合成仕様から実験要件の集合を導出するステップは、合成仕様から技術要件の集合を導出することを更に含む。

【0149】

一例として、脂肪酸を融解するために使用される加熱器Ｉからの技術要件が、より詳細に説明される。合成仕様のための技術要件は、特定のタイプの加熱器を必要とせず、最小温度６０℃に到達する必要がある。構成は、過熱を防ぐために７０℃の上限を必要とする。

【0150】

合成仕様から実験要件の集合を導出するステップは、以下のことを更に含む。
・合成仕様から実験要件の集合を導出することは、設定要件を導出すること、および、
・構成要件を導出すること、を含む。

【0151】

合成仕様は、実験セットアップの設定に関連した要件を更に提供する。
実験のレイアウトをどのようにセットアップするかのガイダンスを実験者に提供することをそれが可能にするので、これは有益である。

【0152】

ステップ３００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが、入力デバイスを介して処理デバイスにおいて受信される。この例において、入力デバイスは、データベース４５００であり得る。

【0153】

ステップ４００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合がプロセッサ４２００により導出される。この例において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器特性の集合を導出するステップは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器機能の集合を導出すること、および、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器機能能力の集合を導出することを含む。この例において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データは、どのデバイスが現在設置されているかの情報、および実験室におけるセットアップを含む。この例において、３つの加熱デバイスは少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データにおいて利用可能である。

【0154】

この例において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから機器特性の集合を導出するステップは、
・機器設定を導出すること、および、
・機器構成を導出すること
を更に含む。

【0155】

処理デバイスを介して実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップ５００は、この例において、機能要件の集合を機器機能の集合と比較すること、および、技術要件の集合を機器機能能力の集合と比較することを含む。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから、３つの加熱デバイスが存在するものとして導出される。したがって、機能要件の集合を機器機能の集合と比較するステップは、第１の加熱機能に関連した機能に適合していることを返す。技術要件の集合を機器機能能力の集合と比較するステップは、最小温度が８０℃であるので加熱器３の「Ｌａｕｄａ Ｐｒｏ Ｐ２Ｅ」が技術要件に適合していないことを返す。

【0156】

処理デバイスを介して、実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップ５００は、この例において、
・設定要件を機器設定と比較すること、および、
・機器構成を構成要件と比較すること
を更に含む。

【0157】

機器構成を構成要件と比較するステップは、加熱器１の「ＩＫＡ Ｃ－ＭＡＧ ＨＳ ７」が７０℃の温度限界の構成要件に既に適合していることを返す。

【0158】

設定要件を機器設定と比較するステップは、加熱器のうちのいずれも要件に適合していないことを返し、この例において、加熱器のうちのいずれも設定に関する情報を含まない。

【0159】

この例では、ステップ８００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することが、処理デバイスを使用して提供される。

【0160】

この例において、制御データが入力／出力デバイス４３００に提供される。
ステップ８００は、どの実験要件に適合していないかの情報を提供することを更に含む。この場合において、情報は、適合していない機能要件および／または技術要件のリストを含み、本例では、加熱器１の設定要件に適合していないことを含む。

【0161】

ステップ９００は、構成要件に従って機器構成を変える命令を提供することを含む。
ステップ９２０において、実験者が機器の構成を変え、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データがデータベース４５００に記憶される。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データが、次に、処理デバイスに、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データとして提供される。更に、本方法はステップ４００において再開する。

【0162】

ここで、処理デバイスを介して、実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が、合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを返す。ステップ６００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データが、この例ではタッチパッドである入力／出力デバイスに提供される。

【0163】

ステップ７００において、合成工程が実行される。任意選択的なセッティングでは、ガイド情報が提供される。合成仕様のステップを通して実験者をガイドするガイド情報。

【0164】

ステップ９４０において、合成工程が成功したか否かが分類される。
ステップ９６０において、合成工程が成功したか否かによらず、合成仕様が、分類器を使用してデータベース４５００に記憶される。この例において、合成工程を実施するために使用される少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが更にデータベース４５０に記憶される。

【0165】

上記の例は１つの加熱デバイスに関連したワークフローを明示的に説明するだけであるが、概して、本方法は、合成仕様の全ての機能および技術要件に対して実施され得ることが明らかである。

【0166】

上述の方法を実施することに適したシステム４０００の例が、図２に示されている。処理デバイス４２００は、記載されている方法ステップを実施するために構成される。データベース４５００は、処理デバイスに合成仕様を提供する。この例では、データベース４５００が、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データを更に提供する。他の例において、１つより多いデータベースが使用されてもよく、特に、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが、合成仕様データベースとは別のデータベースに含まれてもよい。この例における処理デバイスはサーバーであり、入力／出力インターフェース４３００はタッチスクリーンを備えるタッチパッドである。

【0167】

図３は、複数の実験室機器デバイスを含むシステムの例示的な実施形態を示す。
図３のシステムは、複数の実験室機器デバイス１１０２、１１０４、１１０６、合成仕様制御モジュール１１００、１つまたは複数のユーザーデバイス１１０８を含む分散型システムを示す。実験室機器デバイス１１０２、１１０４、１１０６は、様々なセンサーおよびアクターから収集されたデータ信号を送信し得る。このようなデータは、アクターセッティング、センサーデータセットポイント、セットポイントからのずれ、および／または、動作データ、例えば初期動作データ、更新された動作データ、または現在の動作データを含み得る。

【0168】

合成仕様制御モジュール１１００は、インターネットを介してアクセス可能な複数のクラウドサーバーにおいてデータを記憶するための、および演算するためのサーバーベースの分散型コンピューティング環境であり得る。合成仕様制御モジュールは、入力および出力インターフェースを含む処理デバイスでもあり得る。

【0169】

実験室機器デバイス１１０２、１１０４、１１０６は、合成仕様制御モジュール１１００を介してユーザーデバイス１１０８とデータ信号を共有し得る。ユーザーデバイス１１０８、実験室機器デバイス１１０２、１１０４、１１０６、および合成仕様制御モジュール１１００の間の通信チャンネルは、有線通信プロトコルまたは無線通信プロトコルを通して確立され得る。無線ローカルエリアネットワーク（ＷＬＡＮ）、例えばワイヤレス・フィディリティー（Ｗｉ－Ｆｉ）が確立され得る。

【0170】

第１の実験室機器デバイス１０２は、合成仕様工程における第１の機能を実施するように構成され得、第２の実験室機器デバイス１０４は、合成仕様における第２の機能を実施するように構成され得る。

【0171】

第１の機能は、反応室内への合成仕様の材料のポンプ搬送であり得、および第２の、および第２の関数は、材料を加熱することであり得る。

【0172】

図４は、実験室機器デバイス１１０２、ネットワーク１１５０、合成仕様制御モジュール１１００、およびクライアントデバイス１１０８を含む、合成工程を制御するための自動化された実験室システム１０００の例示的なシステムアーキテクチャのブロック図を示す。

【0173】

自動化された実験室システムは、実験室機器デバイス１１０２の一部として実験室機器デバイス層１１５２、および、合成仕様制御モジュール１１００に関連した合成仕様制御モジュール層１１５４、およびクライアントデバイス１１０８に関連した遠隔制御またはクライアント層１１５６を含む。

【0174】

実験室機器デバイス層１１５２は、ハードウェア、ミドルウェア、およびインターフェース層といういくつかの階層に分割され得る。ハードウェア層は特に合成工程を制御するための、例えばセンサーおよびアクチュエータといったハードウェアリソースに関連している。ミドルウェアは、実験室または工場合成工程のための知られたミドルウェアのうちの任意のものに関連している。１つの例は、例えば低レベルデバイス制御およびメッセージ伝達といった、ハードウェア、ネットワーク、およびオペレーティングシステムに異なる抽象化を提供するＬＡＢＳ／ＱＭである。通信層は、通信プロトコルに関連しており、プロトコルのうちの１つが、実験室機器制御モジュールと実験室機器デバイスとの間のメッセージの交換を可能にする異なる伝送プロトコル（すなわちＵＤＰ、ＴＣＰ、テレメトリー）上で実現され得るＲＥＳＴであり得る。このようなメッセージは、例えば機器構成データ、機器機能データ、機器機能能力データ、機器設定データといった、実験室機器デバイスに関連した、例えば機器特性データを含み得る。このようなソフトウェアアーキテクチャは、ハードウェアと対話することを必要とせずに実験室機器デバイスを制御すること、および監視することを可能にする。更なるアプリケーション層は、実験室機器デバイスの機器構成を変えることを可能にする。アプリケーション層は、合成仕様制御モジュールにより提供される制御データに従ってアクチュエータを作動させることを更に可能にする。

【0175】

合成仕様制御モジュール層１１５４は、大容量ストレージ層、演算層、インターフェース層を含み得る。ストレージ層は、合成仕様のための大容量ストレージを提供するように構成される。ストレージ層は、実験室機器デバイスから提供されたデータのストリームのための大容量ストレージを受信するように更に構成される。各実験室機器デバイスは、リアルタイムに例えば動作データ、センサーデータ、ステータスデータをストリーミングするように構成され得る。ストレージ層は、実験室機器デバイスにより提供された実験室機器特性データを記憶するように更に構成される。実験室機器デバイスは、ネットワークインターフェースを介して合成仕様制御モジュールに機器特性データを提供するように構成され得る。このようなデータは、構造化データベース、例えばＳＱＬデータベースに、または、分散型ファイルシステム、例えばＨＤＦＳ、ＮｏＳＱＬデータベース、例えばＨＢａｓｅ、ＭｏｎｇｏＤＢに記憶され得る。合成仕様制御モジュール層は、アプリケーション層を備え得る。合成仕様制御モジュールがクラウドサービス上に配備された場合、コンピューティング層は、演算層、演算工程を実施するように標準的なクラウドサービスにより提供される機能をアプリケーション層がカスタマイズすることを可能にする。アプリケーション層は、例えば合成仕様、実験室機器特性データ、クライアントデバイスから受信された入力に基づいて演算工程を実施するように構成され得る。

【0176】

このような演算工程は、ａ）実験室機器デバイス１１０２により提供されたセンサーデータをストリーミングすることと、ｂ）実験室機器デバイス１１０２により提供された実験室機器特性データを分析することと、ｃ）実験室機器デバイス１１０２のための動作データを特定すること、または生成することと、ｄ）実験室機器デバイス１１０２のための動作データを更新することと、ｅ）実験室機器デバイス１１０２のための初期動作データを提供することと、ｆ）センサーデータに基づいて動作データを特定することとを含み得る。このような用途は、新しいイベントが検出されたときリアルタイムアプリケーション処理を必要とし得、および、合成の最適性を確実なものとするために制御データの動的な再調節を必要とし得る。

【0177】

インターフェース層は、ウェブサービス、ネットワークインターフェース、例えばＵＤＰまたはＴＣＰまたはＷｅｂｓｏｃｋｅｔインターフェースを実装し得る。このようなインターフェースは、実験室機器デバイス１１０２から送信されたＪＳＯＮタイプのシリアル化されたメッセージを聞くこと、および、ストリーミングアプリケーションを取り扱うことを可能にし得る。ネットワークインターフェース（ＵＤＰまたはＴＣＰ）は、連続ストリームを取り扱うために使用され得るが、ウェブサービスは、実験室機器デバイス１１０２に制御コマンドを送信するために、および、実験室機器デバイスから、またはクライアントデバイスから情報を入手するために使用され得る。

【0178】

図５は、合成工程を制御するためのシステムの例示的なワークフローを示す。
第１のステップ２１００において、合成工程のための合成仕様が、クライアントデバイス１１０８を介して選択される。選択後、合成仕様が合成仕様制御モジュールの処理デバイスにおいて入力インターフェースを介して受信される（２２００）。このために、クライアントデバイスは、仕様制御モジュールに接続し得る。合成制御モジュールの入力インターフェースは、図４を参照して説明されているネットワークインターフェースであり得る。合成仕様の選択は、クライアントデバイスに合成仕様を入力すること、または、合成仕様制御モジュールの大容量ストレージデバイスに記憶された合成仕様を選択することを含み得る。ステップ２３００において、合成仕様から実験要件の集合を導出する。ステップ２４００において、合成仕様制御モジュールは、少なくとも１つから実験室機器データを要求し得る。この要求は、全ての接続された実験室機器デバイスにブロードキャストして、接続された実験室機器デバイスの各々に繰り返しアドレスすることにより、または、データベースから少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連したデータを含むリストを取得することにより実施され得る。ステップ２４００において実験室機器データを受信した後、実験室機器データは、例えばｊｓｏｎタイプ形式により集められ得る。次のステップ２５００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が導出される。ステップ２６００において、処理デバイスを介して、実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップは、この例において、機能要件の集合を機器機能の集合と比較すること、および、技術要件の集合を機器機能能力の集合と比較することを含む。少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データから、３つの加熱デバイスが存在するものとして導出される。したがって、機能要件の集合を機器機能の集合と比較するステップは、第１の加熱機能に関連する機能に適合していることを返す。技術要件の集合を機器機能能力の集合と比較するステップは、最小温度が８０℃であるので加熱器３の「Ｌａｕｄａ Ｐｒｏ Ｐ２Ｅ」が技術要件に適合していないことを返す。

【0179】

処理デバイスを介して、実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップ２６００は、
この例では、
・設定要件を機器設定と比較すること、および、
・機器構成を構成要件と比較すること
を更に含む。

【0180】

機器構成を構成要件と比較するステップは、加熱器１の「ＩＫＡ Ｃ－ＭＡＧ ＨＳ ７」が既に７０℃の温度限界の構成要件に適合していることを返す。

【0181】

設定要件を機器設定と比較するステップは、加熱器のうちのいずれも要件に適合していないことを返し、この例では、加熱器のうちのいずれも設定に関する情報を含まない。

【0182】

この例では、ステップ２８００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していないことを示す制御データを、処理デバイスを使用して提供することが、処理デバイスを使用して提供される。

【0183】

この例において、制御データは入力／出力デバイス４３００に提供される。
ステップ２８００は、どの実験要件に適合していないかの情報を提供することを更に含む。この場合において、情報は適合していない機能要件および／または技術要件のリストを含み、本例では加熱器１の設定要件に適合していないことを含む。

【0184】

ステップ２９００において、実験室機器デバイスのための構成要件に従って更新された構成データを含む制御データが、要件に適合しない実験室機器デバイスに提供される。これは、検証後に承認されることを必要とし得る。

【0185】

ステップ２９２０において、実験室機器デバイスの構成は更新情報に従って変えられる。本方法はステップ２４００に続き、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した修正された実験室機器データが、要求２４００に応じて提供される。ステップ２５００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの新しい機器特性の集合が導出される。

【0186】

ここで、処理デバイスを介して、実験要件の集合を機器特性の集合と比較するステップは、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データを提供する。ステップ２６００において、少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データからの機器特性の集合が合成仕様からの実験要件の集合に適合していることを示す制御データが、入力／出力デバイスに提供される。制御信号は、合成工程を実施することに適したデータを含み得る。

【0187】

ステップ２７００において、合成工程が実施される。任意選択的なセッティングにおいて、ガイド情報が提供される。合成仕様のステップを通して実験者をガイドするガイド情報。

【0188】

ステップ２９４０において、合成工程が成功したか否かが分類される。
ステップ２９６０において、合成工程が成功したか否かによらず、合成仕様が分類器を使用してデータベース４５００に記憶される。この例において、合成工程を実施するために使用される少なくとも１つの実験室機器デバイスに関連した実験室機器データが更にデータベース４５００に記憶される。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【国際調査報告】