ホーム > 特許ランキング > ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-03-12
(54)【発明の名称】ノイズ補正ジッタ測定装置及び方法
(51)【国際特許分類】
G01R 29/02 20060101AFI20240305BHJP
G01R 31/28 20060101ALI20240305BHJP
H04L 25/02 20060101ALI20240305BHJP
【ＦＩ】
G01R29/02 L
G01R31/28 R
H04L25/02 302A
【審査請求】未請求
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2023557445
(86)(22)【出願日】2022-03-15
(85)【翻訳文提出日】2023-09-19
(86)【国際出願番号】 US2022020438
(87)【国際公開番号】W WO2022197739
(87)【国際公開日】2022-09-22
(31)【優先権主張番号】63/161,937
(32)【優先日】2021-03-16
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】391002340
【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．
(74)【代理人】
【識別番号】100090033
【弁理士】
【氏名又は名称】荒船 博司
(74)【代理人】
【識別番号】100093045
【弁理士】
【氏名又は名称】荒船 良男
(72)【発明者】
【氏名】ギュンター・マーク・エル
【テーマコード（参考）】
2G132
5K029
【Ｆターム（参考）】
2G132AB07
2G132AB08
2G132AD10
2G132AH02
2G132AH03
2G132AL15
5K029KK23
(57)【要約】
試験測定装置は、複数の入力レベル遷移を有する試験波形を被試験デバイス（ＤＵＴ）から受信するための入力部と、試験波形の入力レベル遷移の２つ以上の所定パターンに一致する試験波形の部分のみをそれぞれ個別に抽出するように構成されたセレクタと、波形の抽出された部分のそれぞれについて、試験波形を受信する試験測定装置のランダム・ノイズに起因するジッタ測定値の成分を個別に決定及び除去するように構成されたノイズ補正部と、試験波形の抽出された部分からノイズ成分を除去したタイミング測定値の合成分布を生成するように構成された合算部と、合成分布からＤＵＴの第１ノイズ補正ジッタ測定値を決定するように構成されたジッタ・プロセッサとを有する。ノイズ補正ジッタ測定値を決定する方法も開示される。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
試験測定装置であって、複数の入力レベル遷移を有する試験波形を被試験装置（ＤＵＴ）から受信するための入力部と、
上記試験波形の入力信号レベルの遷移の２つ以上の所定パターンに一致する上記試験波形の部分のみをそれぞれ個別に抽出するように構成されたセレクタと、
上記波形の抽出された部分のそれぞれについて、上記試験波形を受信する上記試験測定装置のランダム・ノイズに起因するジッタ測定値の成分を個別に決定及び除去するように構成されたノイズ補正部と、
上記試験波形の抽出された部分からノイズ成分を除去したタイミング測定値の合成分布を生成するように構成された合算部と、
上記合成分布から上記ＤＵＴの第１ノイズ補正ジッタ測定値を決定するように構成されたジッタ・プロセッサと
を具える試験測定装置。
【請求項2】
上記合算部は、上記合成分布のテールを除外して中央合成分布を生成するよう構成され、上記ジッタ・プロセッサは、更に、上記中央合成分布から上記ＤＵＴの第２ノイズ補正ジッタ測定値を決定するように構成される請求項１の試験測定装置。
【請求項3】
上記第１ノイズ補正ジッタ測定はＪｒｍｓであり、上記第２ノイズ補正ジッタ測定はＪＮｕである請求項２の試験測定装置。
【請求項4】
上記試験波形の第１所定パターンに一致する遷移のスルーレートが、上記試験波形の第２所定パターンに一致する遷移のスルーレートと異なる請求項１の試験測定装置。
【請求項5】
上記ノイズ補正部は、上記所定パターンの１つに一致する上記試験波形の抽出された部分のタイミング・データのセットのヒストグラムを、ある曲線に適合させるように構成される請求項１の試験測定装置。
【請求項6】
上記ノイズ補正部は、タイミング・データのセットのヒストグラムを、ｑスケールの特性に基づいて上記曲線に適合させるように構成される請求項５の試験測定装置。
【請求項7】
上記曲線が、デュアル・ディラック・モデルに対応する確率分布である請求項５の試験測定装置。
【請求項8】
入力信号を受信するように構成された測定装置に起因するノイズが補正された、上記入力信号のジッタ測定値を決定する方法であって、被試験デバイス（ＤＵＴ）からの上記入力信号を上記測定装置で受信する処理と、
上記受信した入力信号から試験波形を生成する処理と、
上記入力信号の２つ以上の所定パターンにそれぞれ一致する上記試験波形の２つ以上の部分を選択する処理と、
上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定し、測定装置ノイズを補正したタイミング測定値のヒストグラムを個別に合成する処理と、
上記選択された２つ以上の部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算して、合成確率分布を生成する処理と、
上記合成確率分布から上記ＤＵＴのノイズが補正されたジッタ測定値を決定する処理と
を具えるジッタ測定値決定方法。
【請求項9】
測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定する処理が、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記試験波形の上記選択された部分のタイミング・エラーの未処理のヒストグラムを生成する処理と、
上記未処理のヒストグラムから上記タイミング・エラーの平均値を除去し、ゼロ平均ヒストグラムを生成する処理と、
デュアル・ディラック分析を実行して、上記ゼロ平均ヒストグラムのガウス成分と非ガウス成分を求めるために上記ゼロ平均ヒストグラムを適合させる処理と
を有する請求項８のジッタ測定値決定方法。
【請求項10】
上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分の各々について、上記ゼロ平均ヒストグラムからデュアル・ディラックの確定的ジッタを導出する処理と、
上記ゼロ平均ヒストグラムからランダム・ジッタを導出する処理と
を更に具える請求項９のジッタ測定値決定方法。
【請求項11】
上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記測定装置のランダム・ノイズについて、上記試験波形の選択された部分の平均スルーレートの影響によって追加されるランダム・ジッタ成分を決定する処理と、
追加されたランダム・ジッタ成分を除去して、上記試験波形の上記選択された部分について補正されたランダム・ジッタ成分を生成する処理と
を更に具える請求項１０のジッタ測定値決定方法。
【請求項12】
上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記補正されたランダム・ジッタ成分を上記ゼロ平均ヒストグラムからのデュアル・ディラックの確定的ジッタと畳み込み演算することによって、上記試験波形の上記選択された部分の補正されたデュアル・ディラック・モデルを合成する処理を更に具える請求項１１のジッタ測定値決定方法。
【請求項13】
タイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算する処理が、上記２つ以上の選択された部分の夫々における入力信号の遷移の相対的な数に少なくとも部分的に基づいて、上記２つ以上の選択された部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムの重み付けされた合算を行う処理を有する請求項８のジッタ測定値決定方法。
【請求項14】
合成確率分布のテールを除外して中央合算分布を生成する処理と、上記中央合算分布からノイズ補正ジッタ値を決定する処理と
を更に具える請求項８のジッタ測定値決定方法。
【請求項15】
試験測定装置であって、被試験デバイス（ＤＵＴ）から入力信号を受信し、受信した入力信号から試験波形を作成するための入力部と、
１つ以上のプロセッサと
を具え、該１つ以上のプロセッサが、上記入力信号を受信する装置に起因するノイズが補正された上記入力信号中のジッタを求めるために、
上記受信する装置で上記入力信号を受信する処理と、
受信した上記入力信号から試験波形を生成する処理と、
上記入力信号の２つ以上の所定パターンにそれぞれ一致する上記試験波形の２つ以上の部分を選択する処理と、
上記２つ以上の選択された部分のそれぞれについて、測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定し、上記測定装置ノイズを補正したタイミング測定値のヒストグラムを個別に合成する処理と、
上記選択された２つ以上の部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算して合成確率分布を生成する処理と、
上記合成確率分布から上記ＤＵＴのノイズ補正ジッタ測定値を決定する処理と
を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう構成される試験測定装置。
【請求項16】
測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定する処理が、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記試験波形の第１部分のタイミング・エラーの未処理のヒストグラムを生成する処理と、
上記未処理のヒストグラムから上記タイミング・エラーの平均値を除去し、ゼロ平均ヒストグラムを生成する処理と、
デュアル・ディラック分析を実行して、上記ゼロ平均ヒストグラムのガウス成分と非ガウス成分を求めるように上記ゼロ平均ヒストグラムに適合させる処理と
を有する請求項１５の試験測定装置。
【請求項17】
上記１つ以上のプロセッサが、上記ゼロ平均ヒストグラムからデュアル・ディラックの確定的ジッタを導出する処理と、
上記ゼロ平均ヒストグラムからランダム・ジッタを導出する処理と
行うように更に構成される請求項１６の試験測定装置。
【請求項18】
上記１つ以上のプロセッサが、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記受信する装置のランダム・ノイズについて、上記試験波形の上記選択された部分の平均スルーレートの影響によって追加されるランダム・ジッタ成分を決定する処理と、
追加されたランダム・ジッタ成分を除去して、上記試験波形の選択した部分についての補正されたランダム・ジッタ成分を生成する処理と
を行うよう更に構成される請求項１７の試験測定装置。
【請求項19】
上記１つ以上のプロセッサが、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、補正されたランダム・ジッタ成分を上記ゼロ平均ヒストグラムからのデュアル・ディラックの確定的ジッタと畳み込み演算することによって、上記試験波形の選択された部分の補正されたデュアル・ディラック・モデルを合成する処理を行うよう更に構成される請求項１５の試験測定装置。
【請求項20】
上記１つ以上のプロセッサが、上記２つ以上の選択された部分の夫々における入力信号の遷移の相対的な数に少なくとも部分的に基づいて、上記２つ以上の選択された部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムの重み付けされた合算処理を行うことによって、タイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算する処理を行うよう更に構成される請求項１９の試験測定装置。
【請求項21】
上記１つ以上のプロセッサが、合成確率分布のテールを除外して中央合算分布を生成する処理と、
上記中央合算分布からノイズ補正ジッタ値を決定する処理と
を行うよう更に構成される請求項１５の試験測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、試験測定システムに関連するシステム及び方法に関し、特に、入力信号のジッタ成分を正確に定量化できる試験測定装置に関する。
【背景技術】
【0002】
多くの最新の電子デバイス及び通信システムは、デジタル・データ・ビットのシリアル化されたストリームを使用して、チャンネルを介してトランスミッタからレシーバにデジタル情報を転送する。エラー率を予測するため、ユーザにとって、送信又は受信信号の品質を測定することは、非常に興味深いことである。特に、ジッタ分析は、ビット・エラー・レートの予測や電子回路の開発やデバッグを目的として、理想的な位置からの立ち上がり波形エッジ又は立ち下がり波形エッジ夫々の時間的な変位であるジッタを測定し、次いで、このジッタを分析して個別のサブコンポーネントを特定するプロセスを指す。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】米国特許第８５９４１６９号明細書
【特許文献2】米国特許第９２９４２３７号明細書
【特許文献3】米国特許第８８９１６０２号明細書
【特許文献4】米国特許第７５１６０３０号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
入力信号のジッタを分析する際の問題の１つは、測定装置が、入力信号自体のジッタ分析の前に、入力信号の処理の一部としてノイズを生成して導入することである。このノイズは、ジッタを決定する波形遷移の見かけの位置に影響する。従って、処理された入力信号のジッタを分析しても、被試験デバイス（ＤＵＴ）からのジッタと測定装置からのノイズが組み合わされるため、被試験デバイスを分離できない。また、測定装置のノイズが各遷移で測定されたジッタにバイアスをかけるところ、バイアス自体が入力信号の特定のシンボル・シーケンスの特定のエッジのスルーレートと相関するため、測定装置のノイズを除去することは困難である。つまり、測定装置のノイズは各遷移に異なる影響を与えるため、合成ノイズから測定装置のノイズを単純に差し引いて、入力信号のジッタを分析することはできない。
【0005】
本開示技術の実施形態は、従来技術のこれら及び他の欠陥に取り組むものである。
【0006】
本開示技術の実施形態の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照する実施形態の以下の説明から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【発明を実施するための形態】
【0008】
上述したように、従来のジッタ分析方法では、被試験デバイスの測定時に、測定装置のノイズを補正できない。ジッタ値を表現するには、同等の方法がいくつかある。１つの方法は、測定値ＪｒｍｓとＪＮｕを使用する。Ｊｒｍｓは、波形内の全ての無相関ジッタの二乗平均平方根値として定義される。ＪＮｕ（Ｎは整数）は、（１*１０-N）/２の観測値の最も低いものを除外し、更に（１*１０-N）/２の観測値の最も高いものを除外して、１－１*１０-Nの観測値の中央のみを残した範囲の相関のないジッタ値として定義される。無相関ジッタは、データ・パターンと相関する確定的（deterministic：ディターミニスティック）ジッタを差し引いた後に残るジッタとして定義される。データ・パターンと関連するこの確定的ジッタは、データ依存ジッタ（ＤＤＪ：Data Dependent Jitter）と呼ばれることがある。ＪｒｍｓとＪＮｕは、イーサネット（登録商標）（IEEE 802.3）やその他の高速シリアル規格に登場し、PCI-SIG（Peripheral Component Interface Special Interest Group）が、ジッタの調査と特定を目的として内部的に使用していた。PCIe Gen６規格の開発では、開発グループは特にジッタ測定ＪＮｕ（Ｎ＝６、つまり、Ｊ６ｕ）を使用し、装置のノイズを補正するいくつかの方法を模索していた。しかし、PCIe規格は、そのような測定をどのように行うかに関して明確ではない。本発明の実施形態は、そのような測定を行うことを可能にするノイズ補正ジッタ測定を提供し、そして、実際、ユーザは、データ規格やデバイスの一般的な試験に関するノイズ補正ジッタ測定の精度を非常に良く制御できる。
【0009】
PCIeで使用されるようなジッタ・コンプライアンス値は、上記で紹介したＪｒｍｓとＪＮｕで表すことができる。
【0010】
［数１］
ＴTX-UTJ＝Ｊ６ｕ
ＴTX-UTJ＝Ｊ６ｕ
【0011】
【数2】
【0012】
【数3】
【0013】
PCIe Gen６準拠（コンプライアンス）の目的で測定を行う場合、ＤＵＴは、４８個の遷移がある、５２個のＰＡＭ４（４値パルス振幅変調）シンボルの定義された周期パターンを送信する。例えば、開発中の物理デバイスがPCIe規格で指定された正確な５２シンボル・パターンを生成するように、まだ構成できていないなど、様々な理由がある場合には、別のパターン又は繰り返しパターンのないシンボルの任意のシーケンスについて、これら又は同様の測定を行うのも有益である。本発明の実施形態によれば、ユーザは、本願に記載されるように、任意のパターン又は一連のパターンを定義し、これらについて測定を行うことができる。本発明の実施形態を使用すると、ユーザは、PCIe Gen６や、他の様々なデータ通信規格について、所望のジッタ測定を迅速に実行できる。
【0014】
以下の説明において、「ノイズ」とは、信号パラメータの意図しない又は予期しない変動を指す。パラメータが時間（絶対値又はデルタ値）の場合、より具体的な用語「ジッタ」が概して使用される。パラメータが電圧の場合、「電圧ノイズ」、「垂直ノイズ」又は単に「ノイズ」という用語が使用され、最後の事例は文脈から明らかとなろう。「電圧」は、オシロスコープなどの装置によって測定される従属パラメータを表すために使用されるが、実際のパラメータは、使用するプローブのタイプに応じて、電流、光の大きさ又はその他の値である可能性がある。
【0015】
ＲＪ（ランダム・ジッタ）は、ガウス・ランダム・タイミング変動の標準偏差である。同様に、ランダム・ノイズを意味するＲＮは、ガウス・ランダム電圧変動の標準偏差である。標準偏差は、「シグマ」又はσで表すこともある。
【0016】
「遷移」と「エッジ」という用語は、同じ意味で使用され、シンボルのシーケンスにおける、ある公称レベルから別の異なるレベルへの信号の振幅遷移を指し、これはゼロではない時間インターバルで発生し、従って、無限大ではないスルーレートで行われる。
【0017】
図１は、被試験デバイス（ＤＵＴ）１０とオシロスコープなどの測定装置４０とを有する従来の試験測定システムにおけるジッタとノイズのブロック図モデルである。
図１のこのモデルでは、ＲＪiはＤＵＴ１０の固有ジッタの標準偏差を表しており、ＤＵＴによって生成される試験信号の振幅の結果とは関係のないクロック信号源のランダム変調を意味する。ＰＡＭ－Ｎ発生部１２からの純粋なデータ・シンボルは、Ｄフリップ・フロップ１６によって時間的に変調された後、Ｈu(t)１８によって有限の立ち上がり時間を有する信号遷移に変換されるが、これは、ＤＵＴ１０のトランスミッタの単位ステップ応答である。最後に、信号は、ＤＵＴ１０の固有の電圧ノイズＲＮiが信号に線形に追加されてから、ＤＵＴ１０の出力端子であるＴＰ１に現れる。データ生成部１２は、任意の数のＮ（Ｎ＝２、３、４等）のパルス振幅変調シンボルを生成するので、ＰＡＭ－Ｎとラベル付けされている。
図１のこのモデルでは、ＲＪiはＤＵＴ１０の固有ジッタの標準偏差を表しており、ＤＵＴによって生成される試験信号の振幅の結果とは関係のないクロック信号源のランダム変調を意味する。ＰＡＭ－Ｎ発生部１２からの純粋なデータ・シンボルは、Ｄフリップ・フロップ１６によって時間的に変調された後、Ｈu(t)１８によって有限の立ち上がり時間を有する信号遷移に変換されるが、これは、ＤＵＴ１０のトランスミッタの単位ステップ応答である。最後に、信号は、ＤＵＴ１０の固有の電圧ノイズＲＮiが信号に線形に追加されてから、ＤＵＴ１０の出力端子であるＴＰ１に現れる。データ生成部１２は、任意の数のＮ（Ｎ＝２、３、４等）のパルス振幅変調シンボルを生成するので、ＰＡＭ－Ｎとラベル付けされている。
【0018】
試験信号は、測定装置４０又は付属の試験プローブで受信されが、ここでＲＮsは、測定装置４０の付加ノイズを表す。ＲＮsは、他の変数と相関のない定常確率変数（stationary random variable）であると仮定される。信号源ＲＪi及びＲＮiは両方とも、特性が評価されるＪｒｍｓ及びＪ６ｕの値の正に一部であるが、ＲＮsの値は測定装置４０によって生成されるため、そうではない。ＲＮsは、測定装置４０が強いる測定の不完全さの単一で最大の要因である。従って、ＲＮsの影響は、ＪｒｍｓとＪ６ｕを求めて、レポートする前に除去する必要がある。
【0019】
本発明の実施形態は、ＤＵＴのノイズ又はジッタを測定する際に、測定装置自体の固有のランダム・ノイズに基づく影響を排除するために、データ分析の新しい処理の使用が含まれる。
【0020】
２つの無相関のガウス変数ＸとＹを重ね合わせると、以下の数式４のように標準偏差が計算された新しいガウス変数が得られる。
【0021】
【数4】
【0022】
標準偏差ＲＮを有するガウス・ランダム電圧ノイズが、スルーレートＳＲkの波形エッジｋに対して作用すると、結果として生じるジッタ（選択した固定の電圧基準値とエッジが交差する時間の変動として定義される）の標準偏差は、数式５のようになる。
【0023】
［数５］
ＲＪ(v),k＝ＲＮ／ＳＲk
ＲＪ(v),k＝ＲＮ／ＳＲk
【0024】
数式４と数式５を組み合わせると、エッジｋで観測（observed）される全ジッタは、数式６のように特性が示される。
【0025】
【数6】
【0026】
数式６を変形すると、エッジｋのノイズ補正ジッタの式が、数式７のように得られる。
【0027】
【数7】
【0028】
もし試験信号中の全て同じスルーレートを持つ複数のエッジの累積的な時間インターバル・エラー（ＴＩＥ：Time Interval Error）のみを測定する必要がある場合に、ＲＮのシグマ値が測定装置でわかっていれば、数式７を使用してＤＵＴの補正ランダム・ジッタを計算できる。しかし、多くの試験信号には、スルーレートの異なるエッジが含まれている。従って、スルーレートの異なる試験信号を送信するＤＵＴ（Ｎが２より大きいＰＡＭ－Ｎ生成デバイスを含む）のランダム・ジッタは、数式７から直接計算することができない。
【0029】
PCIe Gen6 パターンの場合、０から３への（0-to-3）エッジのような主要なＰＡＭ４エッジ形式は、予め定義された（predetermined：所定の）５２個のシンボルの繰り返し毎に４回現れる。技術的には、これら４つのエッジのそれぞれは、他の３つの０から３への遷移と比較して、前後のシンボル・シーケンスが異なるため、一意である。また、０から３への４個のエッジの夫々又は試験対象の他のエッジは、スルーレートが異なることがある。実際、入力試験信号中の０から１へのエッジなど、他のエッジ形式は、０から３へのエッジとは、スルーレートが大幅に異なる可能性が高い。
【0030】
本発明の実施形態は、異なる特性を有するエッジを分類又は定義する能力を提供する。例えば、Ｍ個の整数で構成されるテンプレートは、Ｍ個の連続して送信されるシンボルを表すことができる。ＰＡＭ４シンボルがアルファベット｛０,１,２,３｝を使用して表されている場合、［０ ３］の２シンボルのテンプレートは、全ての０から３への遷移を表す。［０ ０ ０ ３］の４シンボルのテンプレートは、０から３への遷移のより狭いサブセット、つまり、少なくとも３つの隣接する０シンボルのセットに続く０から３への遷移を表しても良い。通常、テンプレートが長いほどパターンの特異性が高くなるため、サブセットで表されるスルーレートの範囲が狭くなる。
【0031】
テンプレート定義のこのような特異性と、測定されたジッタのスルーレート及び電圧ノイズの影響に対する補正と組み合わせることによって、本発明の実施形態は、既知の他の任意の方法よりも高い精度で電圧ノイズを補正できる。
【0032】
図２は、本願に開示される開示技術の実施形態を実施するための、オシロスコープなどの例示的な試験測定装置２００のブロック図である。この装置２００には、１つ以上の入力部２２０があり、これは、任意の電気信号伝達媒体であってもよく、試験インタフェースとして機能しても良い。信号入力部２２０は、被試験デバイス２１０からデータを受信する。上述したように、ＤＵＴ２１０は、ＰＡＭ－Ｎ信号を送信しても良い。クロック・リカバリ２４０及び時間インターバル・エラー（ＴＩＥ）２５０は、入力信号に対して実行されても良い２つの処理である。クロック・リカバリ・プロセス２４０は、入力信号に対応するクロック周期及び正確なクロック・エッジ位置を決定し、一方、ＴＩＥプロセス２５０は、入力波形における各エッジについての時間インターバルのエラー（誤差）を計算する。試験信号は、クロック・リカバリ２４０及びＴＩＥプロセス２５０が実行される前又は後のいずれかで、アクイジション・メモリ２２２に記憶されても良い。
【0033】
ノイズ補正ジッタ・アナライザ２７０は、以下の図４及び図７を参照して説明されるように、複数のサブコンポーネント又はサブ処理を有していても良い。ジッタ・アナライザ２７０は、プログラムされた専用又は汎用コンピュータ・プロセッサ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、デジタル・シグナル・プロセッサ（ＤＳＰ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などの任意の処理回路として又はこれらの要素の組み合わせなどとして実装されても良い。いくつかの実施形態では、ジッタ・アナライザ２７０は、メモリ２６２又は他のメモリからの命令を実行するように構成されてもよく、そのような命令によって示される任意の方法や関連するステップを実行しても良い。
【0034】
測定装置２００には、１つ以上のプロセッサ２６０があるむ。図示を簡単にするために、図２では１つのプロセッサ２６０のみが示されているが、当業者には理解されるように、単一のプロセッサ２６０ではなく、様々なタイプの複数のプロセッサを組み合わせて使用しても良い。１つ以上のプロセッサ２６０は、メモリ２６２と連動して動作し、メモリ２６２は、１つ以上のプロセッサを制御するための命令、測定装置２００の測定若しくは又は測定装置２００の一般的な動作に関連するデータ、又は、他のデータを記憶しても良い。メモリ２６２は、プロセッサ・キャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブ、又は、他の任意のメモリ形式として実装されても良い。そして、別個のメモリ２２２及び２６２として示されているが、いずれか一方、両方又は他のメモリが測定装置２００の様々な場所に存在しても良い。メモリ２２２、２６２又は他の場所のいずれかに記憶された任意のデータ又は命令も、測定装置２００内の任意のコンポーネントによってアクセス可能である。
【0035】
ユーザ入力部及びインタフェース２８０は、測定装置２００に結合されるか又は測定装置２００に統合される。ユーザ入力部２８０は、ユーザが測定装置２００をインタラクティブに操作するために利用できるキーボード、マウス、タッチスクリーンや他の任意の操作装置を有していても良い。ディスプレイ/出力部２９０は、ユーザ入力を受け入れ、装置の出力を提供するタッチスクリーン・ディスプレイであっても良い。又は、ディスプレイ/出力部２９０は、出力専用ディスプレイであっても良い。ディスプレイ/出力部２９０は、本願で説明するように、試験結果、タイム・スタンプ、ノイズ・レベル、ジッタ、ジッタ・データ又は他の結果をユーザに表示するためのデジタル・スクリーン、コンピュータ・モニタ又は他の任意のモニタであっても良い。ディスプレイ/出力部２９０は、視覚的な表示と相関しても良いし、相関しなくても良い１つ以上のデータ出力も有していても良い。ディスプレイ/出力部２９０からのデータ出力は、ローカル・エリア・ネットワークなどのデータ・ネットワークに送ることができ、ローカル・エリア・ネットワークは、データを見るためにホスト・コンピュータに結合されても良い。ディスプレイ/出力部２９０は、また、ホスト・コンピュータによってインターネットを介してアクセス可能なクラウド・ネットワークなどのリモート・ネットワークにデータを送信しても良い。試験測定装置２００のコンポーネント（構成要素）は、試験測定装置２００と一体化されているものとして描かれているが、これらのコンポーネントのいずれかが試験測定装置２００の外部にあっても良く、有線や無線の通信媒体その他の機構などの任意の従来の様式で試験測定装置２００に結合しても良いことが、当業者には理解できるであろう。
【0036】
測定装置２００は、概して、図示されていない１つ以上の測定ユニットを有していても良い。このような測定ユニットは、入力部２２０を介して受信される信号の特性（例えば、電圧、アンペア数、振幅など）を測定できる任意のコンポーネント（構成要素）を含むことができる。測定装置２００は、コンディショニング（調整）回路、アナログ・デジタル・コンバータや他の回路も有していても良い。
【0037】
図３Ａ及び図３Ｂは、合わせて、実施形態によるノイズ補正ジッタ測定を行うためのフロー３００における工程を説明する例示的なフロー図を示す。図３Ａ及び３Ｂ又は本願の他の箇所に記載される処理は、図２の装置２００などの測定装置によって実行されても良い。
【0038】
プロセス３００は、Ｋ個のテンプレートのセットを形成することによって工程３０２で開始し、この場合、Ｋ個のテンプレートのセットの個々のテンプレートｋは、図２のＤＵＴ２１０から送られる試験信号などの信号ストリーム内の複数の遷移中のターゲット・クラスを定義する。これらテンプレートは、通常、相互に排他的な遷移のセットを定義するように形成され、通常、ＰＡＭ－Ｎ生成部からのほとんど又は全てのあり得る遷移は、これらテンプレートの中の１つで表される。これらテンプレートは、事前定義されても良いし、ユーザが定義しても良い。図４は、ジッタ・プロセッサ４００のいくつかのコンポーネント（構成要素）又は処理のブロック図であり、これは、図２のノイズ補正ジッタ・アナライザ２７０の一実施形態であっても良い。言い換えると、ジッタ・プロセッサ４００は、ノイズ補正ジッタ・アナライザ２７０中に存在しても良い構成要素、機能又は処理を示す。
【0039】
図４を参照すると、図３Ａの工程３０２で参照されるテンプレートは、ユーザから受信されても良いし、予め定義され、テンプレート４０８のライブラリに格納されても良い。２シンボル・テンプレートの例では、試験データの特定の遷移を特定できる。例えば、テンプレート［０→３］は、入力信号のサンプル・ストリームの例「１-０-２-０-３-３-０-２」の下線付きの遷移と一致する。他のテンプレートでは、［０,０,３］、［１,０,３］、［２,０,３］、［３,０,３］のように、追加のシンボルを含んでも良い。一部のテンプレートでは、ワイルド・カードを使用しても良い。テンプレートは、任意の長さとすることができ、これによりユーザは、入力信号を分析する際に、大きな特異性（specificity：限定性、具体的指定性）を得ることができる。テンプレートは、スルーレートなど、受信したシンボル以外の様々な方法で特徴付けることもできる。
【0040】
次に、プロセス３００は、工程３０２で定義されたＫ個の遷移のそれぞれに関して実行されるループに入る。第１に、プロセス３０４は、現在のテンプレートｋに一致する入力信号中の遷移を特定し、分離する。
【0041】
次いで、入力信号のテンプレートに一致した遷移ごとに、平均スルーレートが工程３０６において求められる。工程３０８では、現在のテンプレートに一致した全ての遷移についてのＴＩＥの観測値が蓄積され、次いで、工程３１０において、ＴＩＥオブザベーションからヒストグラムが作成される。
【0042】
図４を参照すると、上述の工程の夫々は、ジッタ・プロセッサ４００の特定のコンポーネント（構成要素）又は処理によって実行されても良い。本願では、概してコンポーネント（構成要素）と呼ぶが、当業者であれば、ジッタ・プロセッサ４００を参照して説明される個々の機能が、１つ以上のプロセッサ上で動作する複合システムにおいて実装されても良いことが理解できよう。
【0043】
工程３０４、３０６及び３０８は、ジッタ・プロセッサ４００内の対応するコンポーネント（構成要素）によって実行されても良い。テンプレート又はパターン特定部４２０のコンポーネントは、試験対象の波形における分析のためにＫ個の定義されたテンプレートのグループから、現在のテンプレートｋを選択することによって、工程３０４を実行しても良い。工程３０６のスルーレートの測定は、スルーレート測定コンポーネント４３０によって実行されてもよく、工程３０８に基づくＴＩＥ値は、ＴＩＥアキュムレータ４４０に蓄積されても良い。工程３１０で言及されるヒストグラムは、ヒストグラム生成部４５０において生成されても良い。
【0044】
ヒストグラム・アナライザ/プロセッサ４６０を使用して、生成されたヒストグラムに関する分析を実行しても良い。例えば、工程３１２（図３Ａ）において、ヒストグラム・アナライザ/プロセッサ４６０は、工程３１０において生成されたヒストグラムの平均値を計算しても良い。次いで、工程３１４は、この計算された平均値を除去し、新しいヒストグラム（これは、ゼロ平均ヒストグラム（zero-mean histogram）である）を生成する。
【0045】
次に、工程３１６において、ヒストグラム・アナライザ/プロセッサ４６０は、工程３１４で生成されたヒストグラムのガウス成分と、ヒストグラムの非ガウス成分とを決定する。ガウス・プロセッサと非ガウス・プロセッサは、プロセッサ４６２、４６４として図４に示されている。ガウス成分は、標準偏差によって特徴付けられ、非ガウス成分は、ヒストグラムに対応するデュアル・ディラック（dual-dirac）モデルのピーク・トゥ・ピーク部分によって特徴付けられる。
【0046】
曲線分析のいくつかの例を図５Ａ、５Ｂ及び５Ｃに示す。これらの図は、ガウス分布５０２が、様々な「ＤＪｄｄ」の量だけ間隔を空けて配置された一対のディラック関数５０４、５１４、５２４と組み合わされる又は畳み込み演算されたときに何が起こるかの３つの例を示す。これら３つの例では、同じガウス・シグマ５０２を使用しているが、ＤＪｄｄ値が異なるため、最終的に３つの異なる分布５０６、５１６及び５２６が得られる。これらの畳み込み演算は、デュアル・ディラック・モデル（dual-dirac model）と呼ばれることがある。
【0047】
その分析を実行する際、ガウス・プロセッサ４６２及び非ガウス・プロセッサ４６４は、工程３１４で生成されたヒストグラムなどのデータのヒストグラムを、ある曲線に適合（fit：フィット）させても良い。図６Ａ及び図６Ｂは、データ・ヒストグラムの例に基づくデータ６０２を曲線６１２に適合（フィット）させるプロセスの例を示す。これらの図は、曲線６１２を生成するために、異種（disparate）の離散データ・サンプル６０２の所与の分布について、どのようにヒストグラムを形成するか、測定データ６０２の挙動に最も一致する、つまり、測定データ６０２の挙動をモデル化する分布を与えるデュアル・ディラック・パラメータ｛σＲＪ，ＤＪｄｄ｝のセットをどのように求めることができるかを示す。図６Ａは、データ６０２及び曲線６１２の線形スケール表示を示す一方、図６Ｂは、対数スケール表示を示す。図６Ｂの対数スケール表示は、「テール（tails）」領域、即ち、中心から最も離れた曲線の両端における曲線６１２に対する測定データ６０２の一致に関して、より良い表示を提供する。当業者であれば、ｑスケール分析が、そのようなモデルを作成するための既知の１つのアプローチであるが、他のアプローチも使用されても良いことが理解できよう。
【0048】
図３Ａを再度参照すると、工程３１８において、ガウス・プロセッサ４６２及び非ガウス・プロセッサ４６４は、デュアル・ディラック・プロセッサ４７０と連動して、工程３１４で生成されたヒストグラムに基づくＲＪｄｄシグマ値及びＤＪｄｄ値を生成する。測定装置２００において観察されたこれらの値及び他の値に基づいて、工程３２０では、上記の数式５を用いて、測定装置自身によって導入されるノイズに起因する実効（effective）ランダム・ジッタを求める。なお、測定装置のイズに起因するこのランダム・ジッタは、個々のテンプレート・ベース、即ち、現在のテンプレートの記述ｋに一致する入力波形の部分のみについて決定される。後続のループでは、プロセス３００は、同様に、他のテンプレートに一致する入力データに関するランダム・ジッタを決定する。測定装置のノイズに起因するジッタの成分は、図４のジッタ・プロセッサ４００の測定装置ノイズ・コンポーネント４８０によって、又は、測定装置ノイズ・コンポーネント４８０と連動して決定されても良い。
【0049】
工程３２２では、上記の数式７を使用して、工程３２０で求めたランダム・ジッタがＲＪｄｄから除去され、補正されたＲＪｄｄを生成する。この補正されたＲＪｄｄは、ＲＪｄｄcompと呼ばれる。次に、ジッタ・プロセッサ４００は、工程３２２で求めたＲＪｄｄcompを使用して、デュアル・ディラック確率分布及び工程３１２で求めたＤＪｄｄ値を高解像度に合成する。このデュアル・ディラック・モデルによって表されるジッタのテール（tails）は、必ずしも実際のジッタ観測値に存在する確率や母集団に限定されない。
【0050】
次いで、フロー３００の工程３０４～３２４は、上述の工程３０２を参照して説明した一連のＫ個のテンプレート中の次のテンプレートｋについて繰り返される。図４を参照すると、フロー３００の複数の工程を実行するジッタ・プロセッサ４００のコンポーネントは、コンポーネントのグループ４１０として図示され、ジッタ・プロセッサ４００の一部が、テンプレート又はクラス定義によって定義されるデータのサブセットに対して動作し、ジッタ・プロセッサ４００のもう１つ別のコンポーネント４１４が、コンポーネント・グループ４１０によって生成されたデータの和（sum：全体）に対して動作することを示している。
【0051】
図３Ｂ及び図７を参照して、次に、本発明の実施形態による、ノイズ補正ジッタを生成するために更に使用される工程及びコンポーネントについて説明する。図３Ａからのフロー３００は、図３Ｂに示される工程３２６へと続く。工程３２６は、Ｋ個のテンプレートのセット内のテンプレートｋの夫々について、工程３２４で生成された合成確率分布関数を組み合わせる。言い換えると、工程３２６では、ｋ＝１に関して工程３２４で生成された確率関数が、ｋ＝２に関して工程３２４で生成された確率関数に追加され、このプロセスが、Ｋ個のテンプレートのセット内の全てのテンプレートｋに関して繰り返される。この組み合わせは、図４のジッタ・プロセッサ４００の一部である合算（summation）コンポーネント７１０（図７）によって実行されても良い。具体的には、図４で触れている合成処理４１６は、Ｋ個の分布の全てからの出力又はコンポーネント・グループ４１０からのヒストグラムを受信する。合算コンポーネント７１０は、工程３２８において、もはやデュアル・ディラック形式ではない合成分布を作成するが、合成分布は、テール（tails：裾）、即ち、中心から最も遠い分布の領域を含む。合成分布のテールは、図３Ａのフロー３００で分析されたデータの実際の母集団をはるかに超えて、合理的に外挿される。
【0052】
７２０として図示される、テールを有する合成分布に基づいて、分布アナライザ７２２は、工程３３０においてｒｍｓ値を生成し、これは、Ｊｒｍｓとして生成される。テールの無い合成分布は、７２０用に作成された分布のテール部分を除去することによって、工程３３２において作成され、７３０として示されている。分布関数のテール部分を除去する処理は、上述した。テールの無い分布７３０に基づいて、分布アナライザ７３２は、工程３３４において、最小及び最大ジッタ値の範囲を生成し、これは、Ｊ６ｕとして記録される。
【0053】
Ｊｒｍｓ及びＪＮｕパラメータが生成されたら、数式１～３を使用して、Ｊｒｍｓ及びＪ６ｕと同等の様々なジッタ・パラメータを生成できる。他の等価パラメータも、レポートする対象の特定のパラメータに応じて、他の数式を使用して生成されても良い。
【0054】
本願で説明するジッタ測定の精度を高めるために、図３Ａ及び３Ｂの工程をＤＵＴからの他のサンプル集団を用いて繰り返して、Ｋ個のヒストグラムの夫々の集団を増加させても良い。
【0055】
本発明の実施形態によれば、テンプレートの生成が柔軟に行えるので、ユーザの測定装置は、ＤＵＴ２１０からのどのデータ遷移を特定の分析において使用するかを正確に指定することに関して、制御できる範囲が広い。
【0056】
本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。
【0057】
開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。
【0058】
コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。
【0059】
通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。
実施例
実施例
【0060】
以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。
【0061】
実施例１は、試験測定装置であって、複数の入力レベル遷移を有する試験波形を被試験装置（ＤＵＴ）から受信するための入力部と、上記試験波形の入力信号レベルの遷移の２つ以上の所定（predetermined：予め定めた）パターンに一致する上記試験波形の部分のみをそれぞれ個別に抽出するように構成されたセレクタと、上記波形の抽出された部分のそれぞれについて、上記試験波形を受信する上記試験測定装置のランダム・ノイズに起因するジッタ測定値の成分を個別に決定及び除去するように構成されたノイズ補正部と、上記試験波形の抽出された部分からノイズ成分を除去したタイミング測定値の合成分布を生成するように構成された合算部と、上記合成分布から上記ＤＵＴの第１ノイズ補正ジッタ測定値を決定するように構成されたジッタ・プロセッサとを具える。
【0062】
実施例２は、実施例１による試験測定装置であって、上記合算部は、上記合成分布のテールを除外して中央合成分布を生成するよう構成され、上記ジッタ・プロセッサは、更に、上記中央合成分布から上記ＤＵＴの第２ノイズ補正ジッタ測定値を決定するように構成される。
【0063】
実施例３は、実施例２による試験測定装置であって、上記第１ノイズ補正ジッタ測定はＪｒｍｓであり、上記第２ノイズ補正ジッタ測定はＪＮｕである。
【0064】
実施例４は、先行する実施例のいずれかによる試験測定装置であって、上記試験波形の第１所定（predetermined）パターンに一致する遷移のスルーレートが、上記試験波形の第２所定パターンに一致する遷移のスルーレートと異なる。
【0065】
実施例５は、先行する実施例のいずれかによる試験測定装置であって、上記ノイズ補正部は、所定パターンの１つに一致する試験波形の抽出された部分のタイミング・データのセットのヒストグラムを、ある曲線に適合（fit：フィット）させるように構成される。
【0066】
実施例６は、実施例５による試験測定装置であって、上記ノイズ補正部は、タイミング・データのセットのヒストグラムを、ｑスケールの特性に基づいて上記曲線に適合させるように構成される。
【0067】
実施例７は、実施例６による試験測定装置であって、上記曲線が、デュアル・ディラック・モデルに対応する確率分布である。
【0068】
実施例８は、入力信号を受信するように構成された測定装置に起因するノイズが補正された、上記入力信号のジッタ測定値を決定する方法であって、この実施例の方法は、被試験デバイス（ＤＵＴ）からの上記入力信号を上記測定装置で受信する処理と、上記受信した入力信号から試験波形を生成する処理と、上記入力信号の２つ以上の所定（predetermined：予め定めた）パターンにそれぞれ一致する上記試験波形の２つ以上の部分を選択する処理と、上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定し、測定装置ノイズを補正したタイミング測定値のヒストグラムを個別に合成する処理と、上記選択された２つ以上の部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算して、合成確率分布を生成する処理と、上記合成確率分布から上記ＤＵＴのノイズが補正されたジッタ測定値を決定する処理とを具える。
【0069】
実施例９は、実施例８による方法であって、測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定する処理が、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記試験波形の上記選択された部分のタイミング・エラーの未処理（raw：生）のヒストグラムを生成する処理と、上記未処理のヒストグラムから上記タイミング・エラーの平均値を除去し、ゼロ平均ヒストグラムを生成する処理と、デュアル・ディラック分析を実行して、上記ゼロ平均ヒストグラムのガウス成分と非ガウス成分を求めるために上記ゼロ平均ヒストグラムを適合させる処理とを有する。
【0070】
実施例１０は、実施例９による方法であって、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分の各々について、上記ゼロ平均ヒストグラムからデュアル・ディラックの確定的（ディターミニスティック）ジッタを導出する処理と、上記ゼロ平均ヒストグラムからランダム・ジッタを導出する処理とを更に具える。
【0071】
実施例１１は、実施例１０による方法であって、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記測定装置のランダム・ノイズについて、上記試験波形の選択された部分の平均スルーレートの影響によって追加されるランダム・ジッタ成分を決定する処理と、追加されたランダム・ジッタ成分を除去して、上記試験波形の上記選択された部分について補正されたランダム・ジッタ成分を生成する処理とを更に具える。
【0072】
実施例１２は、実施例１１による方法であって、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記補正されたランダム・ジッタ成分を上記ゼロ平均ヒストグラムからのデュアル・ディラックの確定的ジッタと畳み込み演算することによって、上記試験波形の上記選択された部分の補正されたデュアル・ディラック・モデルを合成する処理を更に具える。
【0073】
実施例１３は、上記実施例の方法のいずれかによる方法であって、タイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算する処理が、上記２つ以上の選択された部分の夫々における入力信号の遷移の相対的な数に少なくとも部分的に基づいて、上記２つ以上の選択された部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムの重み付けされた合算を行う処理を有する。
【0074】
実施例１４は、上記実施例の方法のいずれかによる方法であって、合成確率分布のテールを除外して中央合算分布を生成する処理と、上記中央合算分布からノイズ補正ジッタ値を決定する処理とを更に具える。
【0075】
実施例１５は、試験測定装置であって、被試験デバイス（ＤＵＴ）から入力信号を受信し、受信した入力信号から試験波形を作成するための入力部と、１つ以上のプロセッサとを具え、該１つ以上のプロセッサが、上記入力信号を受信する装置に起因するノイズが補正された上記入力信号中のジッタを求めるために、上記受信する装置で上記入力信号を受信する処理と、受信した上記入力信号から試験波形を生成する処理と、上記入力信号の２つ以上の所定（predetermined：予め定めた）パターンにそれぞれ一致する上記試験波形の２つ以上の部分を選択する処理と、上記２つ以上の選択された部分のそれぞれについて、測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定し、上記測定装置ノイズを補正したタイミング測定値のヒストグラムを個別に合成する処理と、上記選択された２つ以上の部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算して合成確率分布を生成する処理と、上記合成確率分布から上記ＤＵＴのノイズ補正ジッタ測定値を決定する処理とを上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう構成される。
【0076】
実施例１６は、実施例１５による試験測定装置であって、測定装置ノイズに起因するジッタの成分を個別に決定する処理が、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記試験波形の第１部分のタイミング・エラーの未処理のヒストグラムを生成する処理と、上記未処理のヒストグラムから上記タイミング・エラーの平均値を除去し、ゼロ平均ヒストグラムを生成する処理と、デュアル・ディラック分析を実行して、上記ゼロ平均ヒストグラムのガウス成分と非ガウス成分を求めるように上記ゼロ平均ヒストグラムに適合させる処理とを有する。
【0077】
実施例１７は、実施例１６による試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサが、上記ゼロ平均ヒストグラムからデュアル・ディラックの確定的ジッタを導出する処理と、上記ゼロ平均ヒストグラムからランダム・ジッタを導出する処理と行うように更に構成される。
【0078】
実施例１８は、実施例１７による試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサが、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、上記受信する装置のランダム・ノイズについて、上記試験波形の上記選択された部分の平均スルーレートの影響によって追加されるランダム・ジッタ成分を決定する処理と、追加されたランダム・ジッタ成分を除去して、上記試験波形の選択した部分についての補正されたランダム・ジッタ成分を生成する処理とを行うよう更に構成される。
【0079】
実施例１９は、実施例１５～１８のいずれかによる試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサが、上記試験波形の上記選択された２つ以上の部分のそれぞれについて、補正されたランダム・ジッタ成分を上記ゼロ平均ヒストグラムからのデュアル・ディラックの確定的ジッタと畳み込み演算することによって、上記試験波形の選択された部分の補正されたデュアル・ディラック・モデルを合成する処理を行うよう更に構成される。
【0080】
実施例２０は、実施例１９による試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサが、上記２つ以上の選択された部分の夫々における入力信号の遷移の相対的な数に少なくとも部分的に基づいて、上記２つ以上の選択された部分のタイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムの重み付けされた合算処理を行うことによって、タイミング測定値のノイズが補正されたヒストグラムを合算する処理を行うよう更に構成される。
【0081】
実施例２１は、実施例１５～２０のいずれかにより試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサが、合成確率分布のテールを除外して中央合算分布を生成する処理と、上記中央合算分布からノイズ補正ジッタ値を決定する処理とを行うよう更に構成される。
【0082】
開示された本件の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。
【0083】
加えて、本願の説明は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例に関連して開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例との関連においても利用できる。
【0084】
また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。
【0085】
説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。
【図1】
【図2】
【図3A】
【図3B】
【図4】
【図5A】
【図5B】
【図5C】
【図6A】
【図6B】
【図7】
【国際調査報告】