発明の名称 酸化膜反応面制御剤、これを用いた酸化膜形成方法、これから製造された半導体基板及び半導体素子
出願人 ソウルブレイン シーオー., エルティーディー (識別番号 321001986)
特許公開件数ランキング 1003 位(22件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 2393 位(6件)(共同出願を含む)
公報番号 特表-2024-512848
公報発行日 2024年3月21
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_P1-2024-512848
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