特表2021-531663位相解明光学及びＸ線半導体計量

発明の名称　位相解明光学及びＸ線半導体計量

出願人　ケーエルエー−テンカー　コーポレイション　（識別番号 500049141）

　　　　特許公開件数ランキング 356 位（12件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 430 位（8件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2021-531663

公報発行日　2021年11月18

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-T-2021-531663

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