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レーザーテック株式会社商標一覧

2024年11月11日更新

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商標ランキング2024年 87位(2件)  前年 位(件)
総区分数3区分1商標あたりの平均区分数1.5区分
類似群コード最頻出区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ9類 & 7類 (出現率50%)
指定商品・指定役務総数631商標あたりの平均数32
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位エム (出現率50%)
1位ライ (出現率50%)
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位エム (出現率50%)
1位ラン (出現率50%)

レーザーテック株式会社2024年の商標登録

2件
直近の商標登録(2024年11月11日発行公報):商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務
類似群コード
登録6785501
登録日:2024年3月7日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日:2023年7月14日
商願2023078790
商標登録6785501
ライタイコーデン
7類
半導体用フォトマスク欠陥修正装置 半導体用レチクル欠陥修正装置 半導体用ウエハ欠陥修正装置 フラットパネルディスプレイ用フォトマスク欠陥修正装置 フラットパネルディスプレイ用マスクブランクス欠陥修正装置
9類
半導体用フォトマスク検査装置 半導体用フォトマスク欠陥分析装置 半導体用フォトマスクパターン検査装置 半導体用フォトマスクパターン測定装置 半導体用フォトマスク撮像装置 続く…
09A68(第7類) 10A01(第9類) 10B01(第9類) 10C01(第9類) 11C01(第9類) 続く
登録6770792
登録日:2024年1月17日
商標ランキング 出願から22ヵ月
出願日:2022年3月9日
商願2022027357
商標登録6770792
エムピイエム
9類
測定機械器具 半導体検査装置 半導体用フォトマスク位相差測定装置 半導体用フォトマスク透過率測定装置 半導体用フォトマスク位相シフト量測定装置 続く…
10C01(第9類) 11C02(第9類)

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