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マルバーン パナリティカル ビー ヴィ商標一覧

2024年11月22日更新

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商標ランキング2012年 111位(2件)  前年 120位(2件)
総区分数4区分1商標あたりの平均区分数2区分
類似群コード最頻出10C01 (出現率100%)区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ37類 & 9類 他... (出現率50%)
指定商品・指定役務総数281商標あたりの平均数14
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位エキ (出現率50%)
1位エス (出現率50%)
1位セミ (出現率50%)
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位エス (出現率50%)
1位エト (出現率50%)
1位セス (出現率50%)

マルバーン パナリティカル ビー ヴィ2012年の商標登録

2件
直近の商標登録(2024年11月22日発行公報):商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務
類似群コード
登録5493065
登録日:2012年5月11日
商標ランキング 出願から12ヵ月
出願日:2011年5月23日
商願2011-35048
商標登録5493065
セミオス
セミヨス
9類
分析用又は分解用装置及びその部品・附属品 分光計及びその部品・附属品 X線蛍光分光計及びその部品・附属品 X線回折用及び分光分析用装置及びその部品・附属品 回折計及びその部品・附属品 続く…
37類
X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・回折計・X線回折計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の修理並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・回折計・X線回折計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の設置工事並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・回折計・X線回折計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の修理・保守並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導
42類
X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の貸与並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・回折計・X線回折計・X線蛍光分光計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の設計並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・回折計・X線回折計・X線蛍光分光計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の選択・操作・運用・稼働・使用に関する情報の提供及び助言・指導 工業上の分析及び工業生産・工業プロセス・産業プロセスで使用するサンプルの分析に関する情報の提供及び助言・指導 機械・装置若しくは器具(これらの部品を含む。)又はこれらの機械等により構成される設備の設計並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 続く…
10C01(第9類) 11C01(第9類) 11C02(第9類) 37A01(第37類) 37A02(第37類) 続く
登録5478463
登録日:2012年3月16日
商標ランキング 出願から27ヵ月
出願日:2009年12月24日
商願2009-97439
商標登録5478463
エキスパートエスエイエックスエス
エキスパート
エスエイエックスエス
9類
測定機械器具及びその部品・附属品 分析用又は分解用装置及びその部品・附属品 分光計及びその部品・附属品 試料前処理装置及びその部品・附属品 回折計及びその部品・附属品 続く…
10C01(第9類)

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