総区分数 | 4区分 | 1商標あたりの平均区分数 | 2区分 |
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類似群コード最頻出 | 10C01 (出現率100%) | 区分組み合わせ最頻出 | 37類 & 9類 他... (出現率50%) |
指定商品・指定役務 | 総数 | 28 | 1商標あたりの平均数 | 14 |
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称呼パターン |
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1位エキ (出現率50%)
1位エス (出現率50%) 1位セミ (出現率50%) |
- |
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1位エス (出現率50%)
1位エト (出現率50%) 1位セス (出現率50%) |
- |
登録番号 | 5493065 |
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商標タイプ | |
称呼 | セミオス セミヨス |
区分 指定商品 指定役務 |
第9類
分析用又は分解用装置及びその部品・附属品
第37類
分光計及びその部品・附属品 X線蛍光分光計及びその部品・附属品 X線回折用及び分光分析用装置及びその部品・附属品 回折計及びその部品・附属品 X線回折計及びその部品・附属品 X線分析装置及びその部品・附属品 半導体ウェハー分析装置及びその部品・附属品 X線管及びその部品・附属品 測定機械器具及びその部品・附属品 電子応用機械器具及びその部品・附属品 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・回折計・X線回折計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の修理並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導
第42類
X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・回折計・X線回折計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の設置工事並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・回折計・X線回折計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の修理・保守並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・X線蛍光分光計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の貸与並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導
X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・回折計・X線回折計・X線蛍光分光計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の設計並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 X線回折用及び分光分析用装置・X線分析装置・分光計・回折計・X線回折計・X線蛍光分光計・半導体ウェハー分析装置・X線管・電子応用機械器具・測定機械器具及びこれらの部品・附属品の選択・操作・運用・稼働・使用に関する情報の提供及び助言・指導 工業上の分析及び工業生産・工業プロセス・産業プロセスで使用するサンプルの分析に関する情報の提供及び助言・指導 機械・装置若しくは器具(これらの部品を含む。)又はこれらの機械等により構成される設備の設計並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 デザインの考案並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 電子計算機のプログラムの設計・作成又は保守並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 機械器具に関する試験又は研究並びにこれらに関する情報の提供及び助言・指導 |
類似群コード |
第9類 10C01 11C01 11C02第37類 37A01 37A02 37D06 37D15第42類 42N03 42P01 42P02 42Q01 42Q02 42Q03 42Q99 42X04 42X11 |
権利者 |
識別番号503310327 パナリティカル ビー ヴィ マルバーン パナリティカル ビー ヴィ |
出願日 | 2011年5月23日 |
登録日 | 2012年5月11日 |
代理人 | 勝沼 宏仁黒瀬 雅志塩谷 信中川 拓宮城 和浩今岡 智紀 |