特許7557701IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

SiC基板の製造方法、その製造装置、及び、エピタキシャル成長方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献1に記載の発明では、結晶成長における原料であるSiC容器が成長プロセスを経る毎に消耗するため、経済性の観点において改善の余地がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するため、本発明は、相対する2つのSiC単結晶基板を加熱し、一方の前記SiC単結晶基板から他方の前記SiC単結晶基板に原料を輸送する。 これにより、相対するSiC単結晶基板表面を互いに結晶成長の原料とすることができるため、経済性に優れたSiC基板の製造方法を実現することができる。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

開示した技術によれば、新規なSiC基板の製造方法及びその製造装置、及び、エピタキシャル成長方法を提供することができる。

他の課題、特徴及び利点は、図面及び特許請求の範囲とともに取り上げられる際に、以下に記載される発明を実施するための形態を読むことにより明らかになるであろう。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一実施形態のSiC基板の製造方法の説明図である。
【図2】 本発明の一実施形態のSiC基板の製造方法の説明図である。
【図3】 本発明の一実施形態のSiC基板の製造方法の説明図である。
【図4】 本発明の一実施形態のSiC基板の製造装置の説明図である。
【図5】 本発明の一実施形態のSiC基板の製造装置の説明図である。
【図6】 参考例1におけるSiC基板におけるBPD数の評価に関する説明図。
【図7】 参考例2におけるSiC基板表面のSEM像である。
【図8】 参考例2におけるSiC基板表面のSEM像である。
【図9】 参考例3におけるSiC基板の成長速度と加熱温度との相関図である。

代表図 図1本件の代表的な図

S0 原料輸送空間 11、12、E10 SiC単結晶基板 113、123 主面 114、124 裏面 111、121、E11 成長層 20 本体容器 21、22 設置具 23、41 上容器 24、42 下容器 25、43 間隙 26 Si蒸気供給源 30 加熱炉 40 高融点容器 44 Si蒸気供給材料

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