特許7861955IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体ナノ粒子の製造方法、半導体ナノ粒子及び発光デバイス

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

国際公開第2018/159699号には、バンド端発光を示す半導体ナノ粒子を得るにあたり、ワンポット合成による効率的な製造方法が開示されているものの、得られた半導体ナノ粒子のバンド端発光純度において、更なる改善の余地があった。また国際公開第2019/160094号及び国際公開第2020/162622号には、高いバンド端発光純度を示す半導体ナノ粒子が開示されているものの、効率的な製造方法という点では、更なる改善の余地があった。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

第一態様は、銀(Ag)塩と、インジウム(In)塩と、ガリウム(Ga)-硫黄(S)結合を有する化合物と、ガリウムハロゲン化物と、有機溶剤とを含む第1混合物を第1熱処理して第1半導体ナノ粒子を得ることを含む半導体ナノ粒子の製造方法である。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示の一態様によれば、バンド端発光を示し、高いバンド端発光純度を示す半導体ナノ粒子の効率的な製造方法を提供することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施例1及び比較例1の半導体ナノ粒子の発光スペクトルの一例を示す図である。
【図2】 実施例2、3、4及び5の半導体ナノ粒子の発光スペクトルの一例を示す図である。
【図3】 実施例6、7、8及び9の半導体ナノ粒子の発光スペクトルの一例を示す図である。
【図4A】 実施例2の半導体ナノ粒子についてのエネルギー分散型X線分析による組成のライン分析の軌跡を示す透過電子顕微鏡画像の一例である。
【図4B】 実施例2の半導体ナノ粒子についてのエネルギー分散型X線分析による組成のライン分析結果の一例を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

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