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ＫＡＢＵＳＨＩＫＩ ＫＡＩＳＨＡ ＮＩＨＯＮ ＭＩＣＲＯＮＩＣＳ商標一覧

2026年4月27日更新

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商標ランキング2026年 55位(2件) 　前年 107位(3件)
総区分数4区分1商標あたりの平均区分数2区分
類似群コード最頻出－ 区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ－
指定商品・指定役務総数191商標あたりの平均数10
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位エニ (出現率50%)
1位エム (出現率50%)
1位ユア (出現率50%)
1位ログ (出現率50%)
－
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位エア (出現率50%)
1位エイ (出現率50%)
1位エー (出現率50%)
1位ユー (出現率50%)
1位ロス (出現率50%)
－

ＫＡＢＵＳＨＩＫＩ ＫＡＩＳＨＡ ＮＩＨＯＮ ＭＩＣＲＯＮＩＣＳ2026年の商標登録

2件
直近の商標登録(2026年4月27日発行公報)：商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務		 類似群コード
登録7025205
登録日：2026年3月11日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日：2025年7月14日
商願2025079473
 商標登録7025205
エムジェイシイユアベストパートナーエムジェイシイエニタイムエニウエア
エムジェイシイユアベストパートナーエムジェイシイエニタイムエニホエア
エムジェイシイユアベストパートナー
エムジェイシイ
ユアベストパートナー
続く…
9類
測定機械器具 半導体試験用プローブ 半導体試験装置 半導体の電気的特性検査装置 半導体集積回路の電気的特性検査装置 続く…
37類
測定機械器具の修理又は保守 半導体集積回路の電気的特性検査装置の修理又は保守 半導体の検査及び試験装置の修理又は保守 半導体集積回路及び半導体基板の検査及び試験装置の修理又は保守
10C01(第9類) 11A04(第9類) 11C02(第9類) 37D15(第37類) 37D99(第37類)
登録7015710
登録日：2026年2月12日
商標ランキング 出願から6ヵ月
出願日：2025年8月12日
商願2025091955
 商標登録7015710
ログラス
ログルス
 9類
測定機械器具 電子応用機械器具及びその部品 半導体検査に使用するプローブカード プリント配線基板若しくは部品実装基板の電気検査用・測定用の接触端子板 多層配線基板 続く…
17類
絶縁層及び導電層を含む積層板 プラスチック基礎製品
10C01(第9類) 11A04(第9類) 11C01(第9類) 11C02(第9類) 34A01(第17類)

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