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KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS商標一覧

2025年9月1日更新

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商標ランキング2025年 80位(3件)  前年 位(件)
総区分数4区分1商標あたりの平均区分数1.33区分
類似群コード最頻出区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ17類 & 9類 (出現率33%)
指定商品・指定役務総数241商標あたりの平均数8
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位エク (出現率33%)
1位シイ (出現率33%)
1位テス (出現率33%)
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位エズ (出現率33%)
1位シル (出現率33%)
1位テオ (出現率33%)

KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS2025年の商標登録

3件
直近の商標登録(2025年9月1日発行公報):商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務
類似群コード
登録6956362
登録日:2025年8月8日
商標ランキング 出願から5ヵ月
出願日:2025年3月5日
商願2025022860
商標登録6956362
テスタリオ
9類
測定機械器具 電子応用機械器具及びその部品 理化学機械器具 電気通信機械器具 半導体の電気的特性検査装置 続く…
10A01(第9類) 10C01(第9類) 11A04(第9類) 11B01(第9類) 11C01(第9類) 続く
登録6956361
登録日:2025年8月8日
商標ランキング 出願から5ヵ月
出願日:2025年3月5日
商願2025022859
商標登録6956361
エクセライズ
エクセリーズ
9類
測定機械器具 電子応用機械器具及びその部品 半導体集積回路及び半導体基板の検査及び試験装置 理化学機械器具 半導体ウエハ検査装置 続く…
10A01(第9類) 10C01(第9類) 11A04(第9類) 11C01(第9類) 11C02(第9類)
登録6942890
登録日:2025年6月27日
商標ランキング 出願から6ヵ月
出願日:2024年12月18日
商願2024136221
商標登録6942890
シイエステイエル
9類
測定機械器具 電子応用機械器具及びその部品 半導体検査に使用するプローブカード プリント配線基板若しくは部品実装基板の電気検査用・測定用の接触端子板 多層配線基板 続く…
17類
絶縁層及び導電層を含む積層板 プラスチック基礎製品
10C01(第9類) 11A04(第9類) 11C01(第9類) 11C02(第9類) 34A01(第17類)

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