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KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS商標一覧

2024年11月13日更新

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商標ランキング2011年 119位(3件)  前年 位(件)
総区分数6区分1商標あたりの平均区分数2区分
類似群コード最頻出10C01... (出現率100%)区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ37類 & 9類 (出現率67%)
指定商品・指定役務総数361商標あたりの平均数12
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位エム (出現率33%)
1位コン (出現率33%)
1位バー (出現率33%)
1位ビイ (出現率33%)
1位ビー (出現率33%) 他
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位エイ (出現率33%)
1位コツ (出現率33%)
1位バー (出現率33%)
1位ビイ (出現率33%)
1位ビツ (出現率33%) 他

KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS2011年の商標登録

3件
直近の商標登録(2024年11月13日発行公報):商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務
類似群コード
登録5424606
登録日:2011年7月8日
商標ランキング 出願から7ヵ月
出願日:2010年12月8日
商願2010-95207
商標登録5424606
プロービングザフユーチャー
プロービングザヒューチャー
エムジェイシイ
9類
半導体の電気的特性検査装置 液晶表示パネル検査装置 IC測定治具 液晶表示パネル測定治具 電気磁気測定機械器具 続く…
37類
半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守 液晶表示パネル検査装置の修理又は保守 IC測定用固定治具の修理又は保守 液晶表示パネル測定用固定治具の修理又は保守 電気磁気測定機械器具の修理又は保守 続く…
10C01(第9類) 11A04(第9類) 37D06(第37類) 37D15(第37類) 37D99(第37類)
登録5410138
登録日:2011年4月28日
商標ランキング 出願から5ヵ月
出願日:2010年11月12日
商願2010-88419
商標登録5410138
ビーコンタクツ
ビー
ビイイイイイ
コンタクツ
9類
ICソケット コネクタ(電気用のもの) 光コネクタ プラグ 半導体検査装置用探針 続く…
10C01(第9類) 11A01(第9類) 11A04(第9類) 11A05(第9類) 11B01(第9類) 続く
登録5399916
登録日:2011年3月18日
商標ランキング 出願から10ヵ月
出願日:2010年5月31日
商願2010-42649
商標登録5399916
バーチャルターンキー
7類
太陽電池製造装置
9類
太陽電池セル・太陽電池の電気的特性検査装置 太陽電池用ウェハー・太陽電池セルの外観検査・その他の太陽電池の検査に用いる測定機械器具
37類
太陽電池の据付・修理・保守
09A68(第7類) 10C01(第9類) 11A04(第9類) 37A01(第37類) 37D13(第37類) 続く

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