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KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS商標一覧

2024年11月25日更新

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商標ランキング2017年 109位(4件)  前年 107位(3件)
総区分数4区分1商標あたりの平均区分数1区分
類似群コード最頻出10C01... (出現率75%)区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ
指定商品・指定役務総数421商標あたりの平均数11
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位クア (出現率25%)
1位クオ (出現率25%)
1位グン (出現率25%)
1位ジイ (出現率25%)
1位スク (出現率25%) 他
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位クン (出現率25%)
1位クー (出現率25%)
1位グズ (出現率25%)
1位ジズ (出現率25%)
1位スズ (出現率25%) 他

KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS2017年の商標登録

4件
直近の商標登録(2024年11月25日発行公報):商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務
類似群コード
登録5996913
登録日:2017年11月17日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日:2017年3月30日
商願2017-42969
商標登録5996913
スクルゼット
スクル
スクルズ
9類
ICソケット コネクタ(電気用のもの) 光コネクタ プラグ 半導体検査装置用探針 続く…
10C01(第9類) 11A01(第9類) 11A04(第9類) 11A05(第9類) 11B01(第9類) 続く
登録5969144
登録日:2017年8月4日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日:2016年12月28日
商願2016-145738
商標登録5969144
バトリー
9類
測定機械器具 半導体検査装置 半導体基板検査装置 電気磁気測定器 半導体の電気的特性検査装置
10C01(第9類) 11A04(第9類)
登録5969076
登録日:2017年8月4日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日:2016年12月9日
商願2016-138815
商標登録5969076
ジイエヌデイスクルズ
グンドスクルズ
9類
ICソケット コネクタ(電気用のもの) 光コネクタ プラグ 半導体検査装置用探針 続く…
10C01(第9類) 11A01(第9類) 11A04(第9類) 11A05(第9類) 11B01(第9類) 続く
登録5934932
登録日:2017年3月24日
商標ランキング 出願から7ヵ月
出願日:2016年8月24日
商願2016-92322
商標登録5934932
クオンパワー
クアンパワー
クオン
クアン
9類
バッテリー 蓄電池 その他の電池
11A03(第9類)

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