2019年
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称呼傾向マップ 先頭2音ＫＡＢＵＳＨＩＫＩ ＫＡＩＳＨＡ ＮＩＨＯＮ ＭＩＣＲＯＮＩＣＳ2019年の商標登録
5件
全区分 第1類 第2類 第3類 第4類 第5類 第6類 第7類 第8類 第9類 第10類 第11類 第12類 第13類 第14類 第15類 第16類 第17類 第18類 第19類 第20類 第21類 第22類 第23類 第24類 第25類 第26類 第27類 第28類 第29類 第30類 第31類 第32類 第33類 第34類 第35類 第36類 第37類 第38類 第39類 第40類 第41類 第42類 第43類 第44類 第45類
| 番号・日付 | 商標 | 称呼 | 区分 指定商品・指定役務 |
類似群コード |
|---|---|---|---|---|
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9類
半導体検査に使用するプローブカード
半導体の電気的特性検査装置
半導体の磁気特性検査装置
ＩＣ測定冶具
液晶パネル検査装置
続く…
37類
半導体検査に使用するプローブカードの修理又は保守
半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守
半導体の磁気特性検査装置の修理又は保守
ＩＣ測定冶具の修理又は保守
液晶パネル検査装置の修理又は保守
続く…
42類
電子計算機用プログラムの設計・作成又は保守
電子計算機用プログラムの提供
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10C01(第9類) 11A03(第9類) 11A04(第9類) 37A01(第37類) 37D13(第37類) 続く | ||
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9類
半導体検査に使用するプローブカード
半導体の電気的特性検査装置
半導体の磁気特性検査装置
ＩＣ測定冶具
液晶パネル検査装置
続く…
37類
半導体検査に使用するプローブカードの修理又は保守
半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守
半導体の磁気特性検査装置の修理又は保守
ＩＣ測定冶具の修理又は保守
液晶パネル検査装置の修理又は保守
続く…
42類
電子計算機用プログラムの設計・作成又は保守
電子計算機用プログラムの提供
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10C01(第9類) 11A03(第9類) 11A04(第9類) 37A01(第37類) 37D13(第37類) 続く | ||
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9類
半導体検査に使用するプローブカード
半導体の電気的特性検査装置
半導体の磁気特性検査装置
ＩＣ測定冶具
液晶パネル検査装置
続く…
37類
半導体検査に使用するプローブカードの修理又は保守
半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守
半導体の磁気特性検査装置の修理又は保守
ＩＣ測定冶具の修理又は保守
液晶パネル検査装置の修理又は保守
続く…
42類
電子計算機用プログラムの設計・作成又は保守
電子計算機用プログラムの提供
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10C01(第9類) 11A03(第9類) 11A04(第9類) 37A01(第37類) 37D13(第37類) 続く | ||
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9類
バッテリー
蓄電池
その他の電池
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11A03(第9類) | ||
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9類
半導体の電気的特性検査装置
液晶表示パネル検査装置
ＩＣ測定治具
液晶表示パネル測定治具
電気磁気測定機械器具
続く…
37類
半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守
液晶表示パネル検査装置の修理又は保守
ＩＣ測定用固定治具の修理又は保守
液晶表示パネル測定用固定治具の修理又は保守
電気磁気測定機械器具の修理又は保守
続く…
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10C01(第9類) 11A03(第9類) 11A04(第9類) 11B01(第9類) 11C01(第9類) 続く |
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