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ＫＡＢＵＳＨＩＫＩ ＫＡＩＳＨＡ ＮＩＨＯＮ ＭＩＣＲＯＮＩＣＳ商標一覧

2024年11月13日更新

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商標ランキング2018年 99位(3件) 　前年 109位(4件)
総区分数5区分1商標あたりの平均区分数1.67区分
類似群コード最頻出37D15 (出現率100%)区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ37類 & 9類 (出現率67%)
指定商品・指定役務総数311商標あたりの平均数10
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位エム (出現率33%)
1位キウ (出現率33%)
1位クダ (出現率33%)
1位メク (出現率33%)
－
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位エイ (出現率33%)
1位キス (出現率33%)
1位クス (出現率33%)
1位メク (出現率33%)
－

ＫＡＢＵＳＨＩＫＩ ＫＡＩＳＨＡ ＮＩＨＯＮ ＭＩＣＲＯＮＩＣＳ2018年の商標登録

3件
直近の商標登録(2024年11月13日発行公報)：商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務		 類似群コード
登録6074440
登録日：2018年8月24日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日：2017年12月6日
商願2017-160499
 商標登録6074440
クダックス
 9類
測定機械器具 半導体検査装置 半導体基板検査装置 電気磁気測定器 半導体の電気的特性検査装置 続く…
37類
測定機械器具の修理又は保守 半導体検査装置の修理又は保守 半導体基板検査装置の修理又は保守 電気磁気測定器の修理又は保守 半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守 続く…
10C01(第9類) 11A04(第9類) 37D15(第37類) 37D99(第37類)
登録6074439
登録日：2018年8月24日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日：2017年12月6日
商願2017-160496
 商標登録6074439
キュウデイシイシイエスエス
 9類
測定機械器具 半導体検査装置 半導体基板検査装置 電気磁気測定器 半導体の電気的特性検査装置 続く…
37類
測定機械器具の修理又は保守 半導体検査装置の修理又は保守 半導体基板検査装置の修理又は保守 電気磁気測定器の修理又は保守 半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守 続く…
10C01(第9類) 11A04(第9類) 37D15(第37類) 37D99(第37類)
登録6021496
登録日：2018年2月23日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日：2017年6月9日
商願2017-76948
 商標登録6021496
メック
エムイイケイ
 37類
測定機械器具の保守及び修理 半導体検査装置の保守及び修理 半導体基板検査装置の保守及び修理
37D15(第37類)

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