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2018年 99位(3件) 前年 109位(4件)
| 総区分数 | 5区分 | 1商標あたりの平均区分数 | 1.67区分 |
|---|---|---|---|
| 類似群コード最頻出 | 37D15 (出現率100%) | 区分組み合わせ最頻出 | 37類 & 9類 (出現率67%) |
| 指定商品・指定役務 | 総数 | 31 | 1商標あたりの平均数 | 10 |
|---|
| 称呼パターン |
先頭2音 組み合わせ
|
1位エム (出現率33%)
1位キウ (出現率33%) 1位クダ (出現率33%) 1位メク (出現率33%) |
－ |
|---|---|---|---|
|
先頭末尾音 組み合せ
|
1位エイ (出現率33%)
1位キス (出現率33%) 1位クス (出現率33%) 1位メク (出現率33%) |
－ |
企業TOP/商標一覧
商標取得件数推移
商品役務 区分マップ
商品役務 区分組み合せマップ
称呼傾向マップ 先頭2音商標登録第6074440号
| 登録番号 | 6074440 |
|---|---|
| 標準文字 | |
| 商標タイプ | 標準文字商標 |
| 称呼 | クダックス |
| 区分 指定商品 指定役務 |
第9類
測定機械器具
第37類
半導体検査装置 半導体基板検査装置 電気磁気測定器 半導体の電気的特性検査装置 ＩＣ測定治具 液晶パネル検査装置 測定機械器具の修理又は保守
半導体検査装置の修理又は保守 半導体基板検査装置の修理又は保守 電気磁気測定器の修理又は保守 半導体の電気的特性検査装置の修理又は保守 ＩＣ測定治具の修理又は保守 液晶パネル検査装置の修理又は保守 |
| 類似群コード |
第9類 10C01 11A04第37類 37D15 37D99 |
| 権利者 |
識別番号000153018 株式会社日本マイクロニクス ＫＡＢＵＳＨＩＫＩ ＫＡＩＳＨＡ ＮＩＨＯＮ ＭＩＣＲＯＮＩＣＳ |
| 出願日 | 2017年12月6日 |
| 登録日 | 2018年8月24日 |
| 代理人 | 三好 秀和伊藤 正和松永 宣行 |
