令和2(ワ)12013特許権侵害差止等請求事件

令和４年９月２７日判決言渡 同日原本交付 裁判所書記官
令和２年（ワ）第１２０１３号 特許権侵害差止等請求事件
口頭弁論終結日 令和４年６月１４日
判 決
原 告 日 本 発 條 株 式 会 社
原告訴訟代理人弁護士 高 橋 雄 一 郎
同 阿 部 実 佑 季
10 原告訴訟代理人弁理士 林 佳 輔
被 告 ユ ニ テ ク ノ 株 式 会 社
被告訴訟代理人弁護士 野 村 晋 右
15 同 池 原 元 宏
被告訴訟 復 代理人弁護 士 宮 國 尚 介
被 告 補 佐 人 弁 理 士 有 我 栄 一 郎
同 石 川 淳 浩
主 文
20 １ 原告の請求を棄却する。
２ 訴訟費用は原告の負担とする。
事 実 及 び 理 由
第１ 請求の趣旨
１ 被告は１億５０００万円及びこれに対する令和２年７月１日から支払済みま
25 で年５分の割合による金員を支払え。
２ 仮執行宣言
第２ 事案の概要等
１ 事案の概要
本件は、「マイクロコンタクタプローブと電気プローブユニット」の特許権を
5 有する原告が、被告が平成３１年１月２２日までに販売したプローブコンタク
トが同特許権に係る発明の技術的範囲に属するとして、不法行為に基づき同プ
ローブコンタクト及びこれが組み込まれたテスト用ＩＣソケットの販売につき
１億５０００万円の損害賠償及び令和２年７月１日（訴状送達の日の翌日）から
支払済みまで平成２９年法律第４４号による改正前の民法所定の年５分の割合
10 による遅延損害金を請求する事案である。
２ 前提事実（当事者間に争いがないか、後掲各証拠及び弁論の全趣旨によって容
易に認められる事実）
ア 原告は、測定機器及びその付属品、部分品の製造販売等を業とする会社で
ある。（弁論の全趣旨）
15 イ 被告は、計測器及び関連する電子部品の製造販売等を業とする会社であ
る。（弁論の全趣旨）
原告は、以下の特許権（以下、「本件特許権」といい、本件特許権に係る特
許を「本件特許」という。）を有している。（甲１、２）
特許番号 第４８８９１８３号
20 発明の名称 マイクロコンタクタプローブと電気プローブユニット
優先日 平成１２年６月１６日
出願日 平成１３年６月１５日
登録日 平成２３年１２月２２日
本件特許に係る請求項１、２１の記載は、以下のとおりである（以下、請求
25 項１、２１に記載された発明をそれぞれ「本件発明１」「本件発明２１」とい
、
い、本件発明１、２１を総称して「本件発明」という。また、本件特許権に係
る明細書を「本件明細書」と総称する。。
）
ア 請求項１
支持孔が形成された絶縁体と、
5 前記支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の導電アッセンブリと、を備え、
前記導電アッセンブリは、
検査対象に接触される、前記支持孔の一端から露出可能な第１のプランジ
ャと、
リード導体に接触する、前記支持孔の他端に臨む第２のプランジャと、
10 前記第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢するコイルばねと、を備え、
前記コイルばねは、摺動導通部と固定導通部とを有する筒状の密巻き部を
有し、
前記摺動導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプランジャ
の一方に摺動可能に接触し、
15 前記固定導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプランジャ
の他方に固定され、
前記第１及び第２のプランジャと前記密巻き部とにより構成される導通
経路には、前記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導通部として単に
１つの部位が存在し、前記検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制される
20 マイクロコンタクタプローブ。
イ 請求項２１
絶縁体に形成された支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の導電アッセン
ブリであって、
検査対象に接触される、前記支持孔の一端から露出可能な第１のプランジ
25 ャと、
リード導体に接触される、前記支持孔の他端に臨む第２のプランジャと、
前記第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢するコイルばねと、を備え、
前記コイルばねは、摺動導通部と固定導通部とを有する筒状の密巻き部を
有し、
5 前記摺動導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプランジャ
の一方に摺動可能に接触し、
前記固定導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプランジャ
の他方に固定され、
前記第１及び第２のプランジャと前記密巻き部とにより構成される導通
10 経路には、前記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導通部として単に
１つの部位が存在し、前記検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制される
導電アッセンブリ。
前記 の請求項は次のとおり分説される。（以下、それぞれの構成要件を符
号に従い、「構成要件１Ａ」などという。）
15 ア 請求項１
１Ａ 支持孔が形成された絶縁体と、
１Ｂ 前記支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の導電アッセンブリと、を備
え、
１Ｃ 前記導電アッセンブリは、検査対象に接触される、前記支持孔の一端
20 から露出可能な第１のプランジャと、
１Ｄ リード導体に接触する、前記支持孔の他端に臨む第２のプランジャと、
１Ｅ 前記第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢するコイルばねと、を
備え、
１Ｆ 前記コイルばねは、摺動導通部と固定導通部とを有する筒状の密巻き
25 部を有し、
１Ｇ 前記摺動導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプラン
ジャの一方に摺動可能に接触し、
１Ｈ 前記固定導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプラン
ジャの他方に固定され、
5 １Ｉ 前記第１及び第２のプランジャと前記密巻き部とにより構成される
導通経路には、前記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導通部と
して単に１つの部位が存在し、前記検査対象の検査時の抵抗のばらつき
が抑制される
１Ｊ マイクロコンタクタプローブ。
10 イ 請求項２１
２１Ａ 絶縁体に形成された支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の導電ア
ッセンブリであって、
２１Ｂ 検査対象に接触される、前記支持孔の一端から露出可能な第１のプ
ランジャと、
15 ２１Ｃ リード導体に接触される、前記支持孔の他端に臨む第２のプランジ
ャと、
２１Ｄ 前記第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢するコイルばねと、
を備え、
２１Ｅ 前記コイルばねは、摺動導通部と固定導通部とを有する筒状の密巻
20 き部を有し、
２１Ｆ 前記摺動導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプラ
ンジャの一方に摺動可能に接触し、
２１Ｇ 前記固定導通部は、電気的に導通可能に、前記第１及び第２のプラ
ンジャの他方に固定され、
25 ２１Ｈ 前記第１及び第２のプランジャと前記密巻き部とにより構成され
る導通経路には、前記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導
通部として単に１つの部位が存在し、前記検査対象の検査時の抵抗
のばらつきが抑制される
２１Ｉ 導電アッセンブリ。
5 被告は、遅くとも平成２８年３月から平成３１年１月２２日まで、別紙被告
製品目録記載の製品（以下、同目録記載１の製品を「被告製品１」、同記載２
の製品を「被告製品２」といい、両製品を総称して「被告製品」という。）を
販売していた。被告製品２は、概ね、別紙プローブコンタクトのとおりの構成
を有している。被告製品２は、２つのプランジャとコイルばねで構成されてお
10 り、片方のプランジャが中空で、他方のプランジャをはめ込む構造になってい
る（以下、被告製品の中空のプランジャを「第２プランジャ」、他方のプラン
ジャを「第１プランジャ」という。。そのコイルばねは、片方の末端から約１
）
３巻目（ただし、後記のとおり、正確には、１２巻目４分の３であるか、１３
巻目であるかについては当事者間に争いがある。）まで密に巻かれ、コイルば
15 ねに圧縮する力が加わっていない状態でも、１巻目と２巻目、２巻目と３巻目
はそれぞれ隙間なく常時接触するようになっており、上記約１３巻目までは、
同様である。上記約１３巻目の部分からコイルばねの巻かれる角度が変化して
疎に巻かれており、コイルばねが力を加えられていない状態では、密に巻かれ
た部分のように順次接触することはない（以下、被告製品２のコイルばねの比
20 較的密に巻かれている部分を「本件密部分」、疎にまかれている部分を「本件
疎部分」という。。
） コイルばねの両端から圧縮する方向に力が加えられると本
件密部分は基本的に縮まないため、主として本件疎部分が縮むことによってコ
イルばねの全長が縮むことになる。コイルばねは、第１プランジャに本件密部
分がはめ込まれ、第２プランジャに本件疎部分がはめ込まれることによって両
25 ブランジャに固定されている。第１プランジャのコイルばねをはめ込む部分に
は、全周にわたって出っ張り（プランジャの径が大きくなっている部分。以下
「本件突出部」という。）があり、本件密部分の末端０．５巻の部分の径が小
さくなっており、径が小さくなっている部分が本件突出部に引っかかってコイ
ルばねが第１プランジャから外れないようになっている（なお、本件突出部が、
5 コイルばねの中心軸を第１プランジャの中心軸と同一になるように固定でき
るだけの径と幅を有しているか（０．５巻以降のコイルばねの内径以上の径を
有しているか）については後記のとおり当事者間に争いがある。。
）（弁論の全
趣旨）
ア 被告製品１は、以下の構成を備え、構成要件１Ａから１Ｅ、１Ｊを充足す
10 る。（弁論の全趣旨）
１－ａ プローブコンタクトを嵌装するための内部空間が形成された絶縁
性のソケットベースと、
１－ｂ ソケットベースに嵌装されソケットベースからの脱落が防がれた、
弾発性を有するプローブコンタクトと、を備え、
15 １－ｃ プローブコンタクトは、検査対象に接触される、ソケットベースの
内部空間の一端から露出可能な第１のプランジャと、
１－ｄ ＤＵＴボードに接触する、ソケットベースの内部空間の他端に臨む
第２のプランジャと、
１－ｅ 第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢するコイルばねを備え
20 ている。
１－ｊ テスト用ＩＣソケット
イ 被告製品２は、以下の構成を備え、構成要件２１Ａから２１Ｄ、２１Ｉを
充足する。（弁論の全趣旨）
２－ａ ソケットベースに形成された内部空間へ嵌装し脱落を防いだ弾発
25 性を有するプローブコンタクトであって、
２－ｂ 検査対象に接触される、ソケットベースの一端から露出可能な第１
のプランジャと、
２－ｃ ＤＵＴボードに接触される、ソケットベースの他端に臨む第２のプ
ランジャと、
5 ２－ｄ 第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢するコイルばねを備え
ている。
２－ｉ プローブコンタクト
３ 争点
被告製品が本件発明の技術的範囲に属するか
10 ア 被告製品の「コイルばねは、摺動導通部」を有する「筒状の密巻き部を有
し、」
「前記摺動導通部は、電気的に導通可能に前記第１及び第２のプランジ
ャの一方に摺動可能に接触し」ているか（構成要件１Ｆ、１Ｇ、２１Ｅ、２
１Ｆ）（争点１－１）
イ 第１プランジャ、密巻き部、第２プランジャにより構成される導通経路に
15 は、一方のプランジャが摺動接触する摺動導通部として単に１つの部位が存
在し、検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制されるか（構成要件１Ｉ、
２１Ｈ）（争点１－２）
損害（争点２）
本件特許に無効理由があるか
20 ア 本件発明１、２１が、特開平３－１７９７４公報（以下「乙７公報」とい
う。）に記載された発明と同一であり、本件特許に新規性欠如の無効理由が
あるか（争点３－１）
イ 本件発明１、２１が、特開平８－７８０７８公報（以下「乙８公報」とい
う。）に記載された発明を主引例として容易に発明でき、本件特許に進歩性
25 欠如の無効理由があるか（争点３－２）
ウ 本件特許に、明確性要件違反の無効理由があるか（争点３－３）
エ 本件特許に、サポート要件違反の無効理由があるか（争点３－４）
オ 本件特許に、実施可能要件違反の無効理由があるか（争点３－５）
４ 争点に対する当事者の主張
5 被告製品の「コイルばねは、摺動導通部」を有する「筒状の密巻き部を有し、」
「前記摺動導通部は、電気的に導通可能に前記第１及び第２のプランジャの一
方に摺動可能に接触し」ているか（構成要件１Ｆ、１Ｇ、２１Ｅ、２１Ｆ）
（争
点１－１）
（原告の主張）
10 ア 「密巻き部」（構成要件１Ｆ、２１Ｅ）は、検査時の状態（プランジャに
ついて検査に応じたストローク（コイルばねの収縮によりプローブコンタ
クトが収縮すること）がされた状態）でコイルが密に巻かれた部分（ストロ
ークが大きくなるに応じて疎にまかれた部分も順次接触していくことによ
り密巻き部の範囲は広くなる）と解するのが相当である。被告は、本件特許
15 に係る無効審判においては、
「密巻き部」の範囲について、コイルばねが収
縮していない状態において決定されるものではないと主張していたのであ
り、これに反する主張は許されない。
また、
「摺動導通部」が「電気的に導通可能に」
「摺動可能に接触し」てい
る（構成要件１Ｆ、２１Ｆ等）とは、検査時にプランジャがコイルの「密巻
20 部」に接触していることが必要であり、かつ、それで足りると解すべきであ
る。したがって、被告が主張するようにプローブコンタクトについてストロ
ークが行われていない状態でコイルばねが「密巻き部」であった部分と接触
する必要はないし、一定の範囲のストロークにおいて常に摺動するプランジ
ャと「密巻き部」が導通可能に接触している必要もない。被告が主張する限
25 定を加えるべき記載は特許請求の範囲にも本件明細書にもなく、本件発明は
検査時の抵抗のばらつきを抑制するものであるから被告の主張する限定解
釈は不当である。
イ 被告は、「密巻き部」に当たるためには、常時安定的な電気的導通する経
路になっている必要があると主張するが、プランジャとコイルの密となっ
5 ている部分が接触すれば電気が流れるのであるから、そのような接触があ
れば足りる。
ウ 原告は、被告製品２のサンプル（以下「本件サンプル」という。）を入手
しており、本件サンプルを用いた次の分析によれば、第２プランジャが「密
巻部」に電気的に導通可能に、摺動可能に接触することが認められる。本件
10 サンプルは、本件密部分の末端０．５巻の部分で径が小さくなっており、そ
の結果、第１プランジャとコイルばねの芯がずれ、このことも要因で本件密
部分が第２プランジャに接触する。
シミュレーション
原告は、本件サンプルを分解して各部品の寸法を計測し、その値を用い
15 てシミュレーションソフト上でプランジャとコイルばねからなるプロー
ブコンタクトを再現し、同ソフト上で同プローブコンタクトをストローク
させて、ストロークの量に応じたコイルばねと第２プランジャの距離（以
下「本件距離」という。）をシミュレートした（甲２５、２６、３１、３
９～４３。以下「本件シミュレーション」という。 。被告製品は、ソケッ
）
20 トにセットされるとストローク量は７００μｍ程度になり、フルストロー
クで１５００μｍになるところ、このストローク区間のほとんど全てにお
いて本件距離が０になっている。
また、ストロークしている間は瞬間的に本件距離が０にならない時があ
るが、ストロークが止まり検査するタイミングでは、密巻部の撓み（中心
25 から左右方向への動き）が止まることによって密巻部とプランジャは接触
して導通する。
摺動痕
本件サンプルを１０万回程度ストロークさせたところ、第２プランジャ
の表面には、第２プランジャの末端から６００μｍの範囲に摺動痕が残っ
5 た。検査では、６００μｍから７００μｍの位置で本件密部分がプランジ
ャに接するようにして行ったから、この摺動痕によってプランジャが密巻
部と接触していることが認められる。被告は、本件疎部分によって生じた
可能性があると主張するが、被告によれば本件疎部分の径は本件密部分の
径よりも広いのであるから、本件疎部分が接触しているのであれば、本件
10 密部分も接触していると認められる。
Ｘ線写真
本件サンプルをストロークさせて、第２プランジャが密巻部の高さにな
るようにしたところでＸ線写真（甲２４）を撮影したところ、第２プラン
ジャが密巻部に接していることが認められる。
15 （被告の主張）
ア 原告の主張は否認ないし争う
イ 密巻部の「密」とは、「すきまがないこと。ぎっしり詰まっていること」、
「こまかいこと。すきまのないこと」を意味するから、コイルばねのうち
「密」に巻かれた部分である「密巻き部」は、文言上バネが加重を受けてい
20 ない状態で巻き目と巻き目の間に隙間がないように巻かれている部分をい
う。本件明細書の図も、検査前の待機状態でいずれも巻き目と巻き目の間に
すきまがないように巻かれた状態で描かれている。加重を受けていない状
態はもちろんのこと、検査前の待機状態においても隙間がある１４巻き目
及び１５巻き目は、密巻き部に含まれない。原告の主張を前提にすると、バ
25 ネが加重を受けていない状態で密に巻かれた部分がなくてもストローク時
に隙間がなくなる部分があれば「密巻き部」に該当することになってしまう
が、その場合、密に巻かれた部分がないコイルばねを備えた構成である公知
技術も「密巻き部」を備えることになり、本件発明は新規性を失う。原告は、
本件特許に係る無効審判における被告の主張について指摘するが、被告は
5 原告が主張する趣旨の主張はしていない。
「摺動導通部」の「摺動」は、
「摺る」
（する）と「動く」からなる熟語で
あり、この「摺る」は、
「擦る」「する」又は「こする」
（ ）と同義であるとこ
ろ、これらは「物を他の物と触れ合わせて動かす」こと、「物と物を触れ合
わせる」ことや「他の物に触れてなでるようにこする」ことを意味する。ま
10 た、
「摺動」とは、特許技術用語として「接触してすり動くこと」
「接触状態
で摺り動かす」ことを意味すると説明されている。このように、
「摺動」は、
物と物とが常に触れ合った状態のまますり動くことを表す言葉であるから、
単なる「導通」ではなく「摺動導通」と記載した場合、
「摺動」しながら「電
気的に導通」すること、すなわち、「物と物とが常に触れ合った状態のまま
15 すり動きながら、電気的に導通し続けること」を意味するものと解される。
構成要件１Ｇ、２１Ｆにおいても、「摺動導通部」が、「電気的に導通可能」
な状態で、
「第１及び第２のプランジャの一方に」
「摺動可能」に「接触」す
ること、すなわち、「摺動導通部」は、電気的に常に導通した状態となるよ
うに、
「第１及び第２のプランジャの一方」と常に接触したまますり動く（常
20 に触れ合いながら動く）ことが記載されている。他の特許文献においても、
「摺動導通」の文言が同様の意味で用いられている。
本件発明において、コンタクトプローブは、検査前の待機状態からその後
のストローク中は常に摺動導通している必要があると解すべきであり、本件
明細書の実施例の記載（【００２６】【００３５】
、 ）もそのことを前提にして
25 いる。また、コンタクトプローブは、２０万回以上の検査で安定的に用いる
ことが前提とされ、また、顧客が任意のストローク量を設定して検査を行う
ことを想定してコンタクトプローブを設計、製造する必要があるため、検査
前の待機状態から最大限ストロークが可能な状態に至るまで、常に一定の接
触圧を受けながら電気的に導通し続けることが必要になる。
5 原告は、ある一点においてプランジャと「密巻き部」が接すれば良いと主
張するが、この解釈では「摺動」も、「摺動導通」も不要になり、特許請求
の範囲の文言に明らかに反する。また、原告の解釈を前提にある１点のみで
接触することで良いとすると、当該コンタクトプローブについては、当該一
点を検査の位置に調整して用いることになるが、そのようなことはおよそ不
10 可能であり、実用に耐えない。
ウ 原告は、プランジャと接触すれば導通する「密巻き部」に当たると主張す
るが、本件発明において、構成要件１Ｉ、２１Ｈの記載は密巻き部を介した
常時安定的な電気的導通を前提にしていることなどからすると、摺動導通す
る「密巻き部」といえるためには、その前提として、当該部位が常時安定的
15 な電気的導通をする部位であり、有意な導通経路であることが必要と解すべ
きである。コイルとプランジャとは別に第１プランジャと第２プランジャで
の導通を確保し、コイルの密の部分の金メッキが薄く、プランジャがコイル
に接触するとしても、その十分な接触圧がかからない場合には、プランジャ
と密巻き部の接触による経路については、常時安定的な電気的導通が確保さ
20 れていないことになるから、接触部位のコイルが密になっており、プランジ
ャと接触することがあったとしても、コイルの当該部位は「密巻き部」に当
たらない。
エ 原告は、本件サンプルが被告製品２であると主張するが、写真や図面だけ
では判断できず、否認する。
25 オ 被告製品２は、第２プランジャが本件密部分に接しないように設計されて
いるため、被告製品２は、本件密部分に接することがないものである。また、
仮に不具合によって接触することがあったとしても、導通に十分な接触圧
が生じることはない。原告は、本件密部分の末端０．５巻の径が小さくなっ
ていることによってコイルばねと第１プランジャの芯がずれると主張する
5 が、本件突出部によってコイルばねの向きが同一の軸線上に固定されるた
め、芯ずれは生じない。
原告が主張する本件サンプルを用いた分析は、次のとおり、いずれも第２
プランジャが「密巻き部」に、電気的に導通可能で摺動可能に接触すること
を認めるに足りるものではない。
10 シミュレーション
被告製品では、本件突出部が十分な径を有して、コイルばねの中心軸を
第１プランジャの中心軸に固定している。本件シミュレーションにはこの
点が反映されておらず、コイルばねの中心軸と第１プランジャの中心軸が
ブレる設定になっている。よって、本件シミュレーションは被告製品の仕
15 様を正確に反映したものであるとはいえない。
また、本件シミュレーションを前提としても、検査前の待機状態である
被告製品２を７００μｍストロークした状態からストロークが終了する
までの間に、１巻目から原告が本件密部分として主張する１３巻目の範囲
においてですら、本件距離が０にならないストローク量が複数あり、プラ
20 ンジャと本件密部分が常時接触しないことが示されている。なお、原告の
シミュレーションでは、ストローク量が飛び飛びの値になっているため、
ほかにも接触していないストローク量がある可能性もある。
摺動痕
原告が指摘する摺動痕は、本件疎部分によって生じた可能性を排除でき
25 ず、本件密部分によって生じたとは認められない。摺動痕が、原告が指摘
する範囲よりも広範囲に生じていることも被告の主張を裏付ける。
Ｘ線写真
原告が証拠として提出するＸ線写真は画像が不鮮明であり、本件密部分
と第２プランジャが接触しているかを判別できない。
5 第１プランジャ、密巻き部、第２プランジャにより構成される導通経路には、
一方のプランジャが摺動接触する摺動導通部として単に１つの部位が存在し、
検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制されるか（構成要件１Ｉ、２１Ｈ）
（争点１－２）
（原告の主張）
10 原告は、密巻き部の有無以外は被告製品２と変わらないプローブコンタクト
２つ（以下、両比較品を総称して「比較品１」という。その外観は別紙比較品
１のとおりである。）と本件サンプルの抵抗値を測定する比較実験をした。そ
の結果は、別紙比較品１実験結果記載のとおりであり（「本件対象製品」と記
載されている折れ線が本件サンプルに係る結果であり、「比較品１」「比較品
、
15 ２」と記載されている折れ線が２つの比較品１に係る結果である。、
） 抵抗値の
ばらつきが抑制されている。
比較品１は、原告と被告の共通の顧客から、原告に送られてきた修理依頼品
の中に混在していたプローブコンタクトである。同顧客がテスト用ソケットメ
ーカーとして認定しているのは、原告、被告及び山一電機株式会社の３社であ
20 るところ、山一電機株式会社のカタログによればその製造している製品は比較
品１の形状と明らかに異なるため、比較品１は被告が製造した製品である。し
たがって、比較品１は、密巻き部の有無以外は被告製品２と同じ仕様のはずで
ある。
さらに、原告は、本件サンプルを分解してコイルばねの向きを逆転させ、本
25 件密部分を第２プランジャ側に組付けた比較品を２つ作成した（以下、両比較
品を総称して「比較品２」という。その外観は、別紙比較品２のとおりである。。
）
比較品２は、本件サンプルの部品をそのまま利用しているので、密巻き部の有
無以外は本件サンプルと差がないはずである。本件サンプルと比較品２を用い
た実験結果は別紙比較品２実験結果のとおりである（「被告製品」と記載され
5 ている折れ線が本件サンプルに係る結果で、「比較品」と記載されている２つ
の折れ線が２つの比較品２に係る結果である。。
） この結果により、本件サンプ
ルが、比較品２に比べて抵抗値のばらつきが小さいことが示されている。この
結果からも、同様の傾向を示した比較品１が品質的に見て適切な比較対象とな
り得ないとはいえない。
10 被告も独自の比較実験を行っているが、その比較実験の評価については争
う。
また、構成要件１Ｉ及び２１Ｈの「前記検査対象の検査時の抵抗のばらつき
が抑制される」という効果は、「前記第１及び第２のプランジャと前記密巻部
とにより構成される導通経路には、前記一方のプランジャが摺動接触する前記
15 摺動導通部として単に１つの部位が存在し」という物理的な構成を備えること
から導かれる効果であるから、当該物理的構成を備えるものは当該効果を奏す
る。したがって、被告製品が当該物理的構成を備えることが証明されれば、当
該効果を奏することも同時に証明される。構成要件１Ｉ、２１Ｈの充足性の観
点からは、原告及び被告の実験はいずれも確認的、補足的な意味合いを持つに
20 すぎない。
（被告の主張）
本件サンプルが被告製品２であること、比較品１が被告が製造した製品であ
ることは否認する。
被告において、被告製品２と同等の構造を有する製品（被告製品２と寸法の
25 みが異なる製品。以下「被告比較品」という。）と、被告比較品のコイルばね
の向きを逆転させて本件密部分が第２プランジャ側にあるコンタクトプロー
ブと、被告比較品のコイルばねを本件密巻部を有さないコイルばねに置換した
コンタクトプローブとの３種で抵抗値を測定したところ、抵抗値に有意な差は
認められなかった。したがって、被告製品２を構成するコイルばねの本件密部
5 分には、検査時の抵抗のばらつきを抑制する効果はない。
原告の比較品１を用いた比較実験では、実験当初の１回目から１０回目付近
おいて、抵抗値がそれ以降に比べて高い数値を示している。これは、比較品１
の部材の接触面に変質等の劣化が生じていることが原因であると思われ、比較
品１は抵抗値を比較する検査対象として適格性を欠いている。
10 原告による比較品２を用いた実験についても、そもそも、被告製品２で使用
されているコイルばねは、第１プランジャと第２プランジャの側で内径の寸法
が異なっており、コイルばねを取り外してその方向を逆転して組み付けること
はできない。よって、比較品２を用いた実験は、原告の説明のとおりには実施
不可能であり、その結果には信ぴょう性がない。さらに、比較品２の２つのサ
15 ンプルは、実験初期（１００回から５００回）に大きな抵抗値の差が生じてお
り、また、片方は２万回を超えて測定不能となっているのに、もう片方は５万
回を超えてから測定不能になっている。同様の方法で作成した二つの比較品の
間でこのような差が生じるのは不自然であり、検査対象として不適切であった
ことが示されている。また、比較品２のうちの一方については、１５００回に
20 おいて標準偏差が突出しており、不自然であり、これは、実験結果が示す内容
が正確ではないか、用いた部品の品質や構造に問題があったことを示してい
る。
原告は、本件特許の審査過程においては、複数のサンプル間の特定のストロ
ーク回数における抵抗値のばらつきを問題にしていたところ、本件訴訟におい
25 ては、単一のサンプルにおける特定のストローク数の範囲における抵抗値のば
らつき（３０回から３５０回の抵抗値の標準偏差、５０１回から５５０回の抵
抗値の標準偏差等を算出し、これらの標準偏差の数値のばらつき）を問題にし
ている。構成要件１Ｉ、２１Ｈで問題としている抵抗のばらつきが、本件訴訟
において原告が主張する趣旨のばらつきであることは明細書には記載されて
5 おらず、審査過程において原告が説明していたばらつきの意味とも異なるか
ら、構成要件１Ｉ、２Ｈにおける「抵抗のばらつき」が原告が本件訴訟で主張
する趣旨のばらつきであるとはいえない。
⑶ 損害（争点２）
（原告の主張）
10 被告は、被告製品を平成２６年１月頃から５年間程度販売したため、原告が
受けた損害は１億５０００万円を下らない。
（被告の主張）
原告の主張は争う。
⑷ 本件発明１、２１が、乙７公報で開示された発明と同一であり、本件特許に
15 新規性欠如の無効理由があるか（争点３－１）
（被告の主張）
ア 本件発明１について
乙７公報には、次の発明（以下「乙７－１発明」という。）が記載され
ている。
20 ａ 支持孔が形成された絶縁基板２と、
ｂ 支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の接触子１と、を備え、
ｃ 接触子１は、プリント配線板５上の導電パターン６に接触される、支
持孔の一端から露出可能な針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１
で構成されるプランジャと、
25 ｄ リード線２５に接続されたプラグ２６に接触する、支持孔の他端に臨
むレセプタクル３と、
ｅ 針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成されるプランジャ、
並びにレセプタクル３を逆方向に付勢する圧縮コイルばね９と、を備え、
ｆ 圧縮コイルばね９は、（上記プランジャを構成する）軸部８と摺動し
5 導通する部分（「摺動導通部」）とレセプタクル３の環状内向突部１２に
固定され導通する部分（「固定導通部」）とを有する筒状の密着巻部９ａ
を有し、
ｇ 摺動導通部は、電気的に導通可能に、（上記プランジャを構成する）
軸部８に摺動可能に接触し、
10 ｈ 固定導通部は、電気的に導通可能に、レセプタクル３の環状内向突部
１２に固定され、
ｉ 針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成されるプランジャ、
レセプタクル３並びに密着巻部９ａとにより構成される導通経路には、
針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成されるプランジャが
15 摺動接触する摺動導通部として単に１つの部位が存在し、
ｊ プリント配線板５上の導電パターン６の検査時の内部抵抗が低くか
つ安定化する
ｋ 絶縁基板２に保持される接触子１
本件発明１の構成要件１Ａから１Ｋと乙７―１発明における構成要件
20 ａからｋは、以下のとおり、全ての点において一致する。
（一致点１－１）
乙７－１発明における構成要件ａの「絶縁基板２」は、本件特許発明１
における構成要件１Ａの「絶縁体」に相当する。
（一致点１－２）
25 乙７－１発明における構成要件ｂの「接触子１」は、本件特許発明１に
おける構成要件１Ｂの「導電アッセンブリ」に相当する。
（一致点１－３）
乙７－１発明における構成要件ｃの「針状体４、胴体部７、軸部８及び
拡頭部１１で構成されるプランジャ」は、本件特許発明１における構成要
5 件１Ｃの「第１のプランジャ」に相当する。
（一致点１－４）
乙７－１発明における構成要件ｄの「レセプタクル３」は、本件特許発
明１における構成要件１Ｄの「第２のプランジャ」に相当する。
（一致点１－５）
10 乙７－１発明における構成要件ｅの「圧縮コイルばね９」は、本件特許
発明１における構成要件１Ｅの「コイルばね」に相当する。
（一致点１－６）
乙７－１発明における構成要件ｆの「密着巻部９ａ」は、本件特許発明
１における構成要件１Ｆの「密巻き部」に相当する。
15 （一致点１－７）
乙７－１発明における構成要件ｇの「摺動導通部」は、本件特許発明１
における構成要件１Ｇの「摺動導通部」に相当する。
（一致点１－８）
乙７－１発明における構成要件ｈの「固定導通部」は、本件特許発明１
20 における構成要件１Ｈの「固定導通部」に相当する。
（一致点１－９）
乙７－１発明における構成要件ｉの「針状体４、胴体部７、軸部８及び
拡頭部１１で構成されるプランジャ、レセプタクル３並びに密着巻部９ａ
とにより構成される導通経路」は、本件特許発明１における構成要件１Ｉ
25 の「導通経路」に相当し、上記導通経路には、構成要件１Ｉにおいて「前
記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導通部として単に１つの部
位が存在」するのと同様、「針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１
で構成されるプランジャが摺動接触する摺動導通部として単に１つの部
位が存在」する。
5 （一致点１－１０）
乙７－１発明における構成要件ｊの「プリント配線板５上の導電パタ－
ン６の検査時の内部抵抗が低くかつ安定化する」は、本件発明１における
構成要件１Ｊの「検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制される」に相
当する。
10 （一致点１－１１）
乙７－１発明における構成要件ｋの「絶縁基板２に保持される接触子１」
は、本件発明１における構成要件１Ｋの「マイクロコンタクタプローブ」
に相当する。
イ 本件発明２１について
15 乙７公報には、次の発明（以下「乙７－２発明」という。）が記載され
ている。
ｌ 絶縁基板２に形成された支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の接触
子１であって、
ｍ プリント配線板５上の導電パターン６に接触される、支持孔の一端か
20 ら露出可能な針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成される
プランジャと、
ｎ リード線２５に接続されたプラグ２６に接触される、支持孔の他端に
臨むレセプタクル３と、
ｏ 針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成されるプランジャ
25 並びにレセプタクル３を逆方向に付勢する圧縮コイルばね９と、を備え、
ｐ 圧縮コイルばね９は、（上記プランジャを構成する）軸部８と摺動し
導通する部分（「摺動導通部」）とレセプタクル３の環状内向突部１２に
固定され導通する部分（「固定導通部」）とを有する筒状の密着巻部９ａ
を有し、
5 ｑ 摺動導通部は、電気的に導通可能に、軸部８に摺動可能に接触し、
ｒ 固定導通部は、電気的に導通可能に、レセプタクル３の環状内向突部
１２に固定され、
ｓ 針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成されるプランジャ、
レセプタクル３並びに密着巻部９ａとにより構成される導通経路には、
10 針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１で構成されるプランジャが
摺動接触する摺動導通部として単に１つの部位が存在し、
ｔ プリント配線板５上の導電パターン６の検査時の内部抵抗が低くか
つ安定化する
ｕ 接触子１。
15 本件特許発明２１における構成要件２１Ａから２１Ｊと乙７－２発明
における構成要件ｌからｕは、以下のとおり、全ての点において一致する。
（一致点２１－１）
乙７－２発明における構成要件ｌの「接触子１」は、本件特許発明２１
における構成要件２１Ａの「導電アッセンブリ」に相当する。
20 （一致点２１－２）
乙７－２発明における構成要件ｍの「針状体４、胴体部７、軸部８及び
拡頭部１１で構成されるプランジャ」は、本件発明２１における構成要件
２１Ｂの「第１のプランジャ」に相当する。
（一致点２１－３）
25 乙７－２発明における構成要件ｎの「レセプタクル３」は、本件発明２
１における構成要件２１Ｃの「第２のプランジャ」に相当する。
（一致点２１－４）
乙７－２発明における構成要件ｏの「圧縮コイルばね９」は、本件発明
２１における構成要件２１Ｄの「コイルばね」に相当する。
5 （一致点２１－５）
乙７－２発明における構成要件ｐの「密着巻部９ａ」は、本件発明２１
における構成要件１Ｅの「密巻き部」に相当する。
（一致点２１－６）
乙７－２発明における構成要件ｑの「摺動導通部」は、本件発明２１に
10 おける構成要件２１Ｆの「摺動導通部」に相当する。
（一致点２１－７）
乙７－２発明における構成要件ｒの「固定導通部」は、本件発明２１に
おける構成要件２１Ｇの「固定導通部」に相当する。
（一致点２１－８）
15 乙７－２発明における構成要件ｓの「針状体４、胴体部７、軸部８及び
拡頭部１１で構成されるプランジャ、レセプタクル３並びに密着巻部９ａ
とにより構成される導通経路」は、本件発明２１における構成要件２１Ｈ
の「導通経路」に相当し、上記導通経路には、構成要件２１Ｈにおいて「前
記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導通部として単に１つの部
20 位が存在」するのと同様、「針状体４、胴体部７、軸部８及び拡頭部１１
で構成されるプランジャが摺動接触する摺動導通部として単に１つの部
位が存在」する。
（一致点２１－９）
乙７－２発明における構成要件ｔの「プリント配線板５上の導電パター
25 ン６の検査時の内部抵抗が低くかつ安定化する」は、本件発明２１におけ
る構成要件２１Ｉの「検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制される」
に相当する。
（一致点２１－１０）
乙７－２発明における構成要件ｕの「接触子１」は、本件発明２１にお
5 ける構成要件２１Ｊの「導電アッセンブリ」に相当する。
原告が主張する相違点１について、乙７公報に記載されている「針状体
４」は、
「絶縁基板２」の下端（すなわち「支持孔の一端」）から下方向に
露出可能となっており、「検査対象に接触される、支持孔の一端から露出
可能」との構成を備えていることは明らかである。本件発明１、２１の特
10 許請求の範囲において「第１のプランジャ」が「支持孔」に直接接触して
いるか否かの限定はなく、
「針状体４」と「絶縁基板２」との間に「レセプ
タクル３」が介在していることは、上記構成を備えるか否かの結論に影響
を及ぼすものではない。
原告が主張する相違点２は、乙７－１発明、乙７－２発明の「レセプタ
15 クル３」が「リード導体に接触する、前記支持孔の他端に臨む第２のプラ
ンジャ」を備えないとの主張を理由とするものである。しかし、本件発明
１、２１における特許請求の範囲では、「第２のプランジャ」について、
「前記支持孔の他端に臨む」との記載があるだけで、それ以上の構成の限
定はない。むしろ、例えば、本件明細書の図９で示された第８の実施態様
20 における「プランジャ４」は「リード導体１１」に固定され、検査対象に
接触されるのと反対の側が固定的な構造となっている。このような本件明
細書の記載からも「検査対象に接触されるのと反対の側は固定的な構造」
のものであっても本件発明における「プランジャ」から除外されるわけで
はないことは明らかである。
25 原告が主張する相違点３について、原告の主張は、相違点２と同様、乙
７－１発明、乙７－２発明の「レセプタクル３」が「リード導体に接触す
る、支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を備えていな
いとの主張を理由とするものであり、この主張が誤りであることは、相違
点２において述べたとおりである。
5 原告が主張する相違点４について、本件発明の特許請求の範囲の記載に
おいて、他に導通経路があるか否かの限定はないから、原告の上記主張は、
相違点に関する主張として意味をなさない。
原告が主張する相違点５について、原告の主張は、相違点２と同様に、
乙７－１発明、乙７－２発明の「レセプタクル３」が「リード導体に接触
10 する、支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を備えてい
ないとの主張を理由とするものであり、この主張が誤りであることは、相
違点２において述べたとおりである。
原告が主張する相違点６について、原告の主張は、相違点４において原
告が主張する理由と同じく、他の導通経路が存在することを理由とするも
15 のであり、この主張は、相違点４において述べたとおり、理由がない。
（原告の主張）
本件発明１と乙７－１発明、本件発明２１と乙７－２発明を対比すると、次
の相違点がある。
（相違点１）
20 本件発明１、２１は、「検査対象に接触される、前記支持孔の一端から露出
可能な第１のプランジャ」（構成要件１Ｃ、２１Ｂ）を備えるのに対し、乙７
－１発明、乙７－２発明の針状体４の胴体部７は、レセプタクル３の一端から
露出可能であるものの、絶縁基板２の孔の一端から露出しない点
（相違点２）
25 本件発明１、２１は、「リード導体に接触する、前記支持孔の他端に臨む第
２のプランジャ」
（構成要件１Ｄ、２１Ｃ）を備えるのに対し、乙７－１発明、
乙７－２発明は「針状体４と圧縮コイルばね９とからなるプローブ本体１４を
レセプタクル３に組付ける」構造であり、「前記支持孔の他端に臨む第２のプ
ランジャ」に対応する構成を有しない点
5 （相違点３）
本件発明１、２１は、「前記第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢する
コイルばね」（構成要件１Ｅ、２１Ｄ）を備えるのに対し、乙７－１発明、乙
７－２発明は「針状体４と圧縮コイルばね９とからなるプローブ本体１４をレ
セプタクル３に組付ける」構造であり、「前記支持孔の他端に臨む第２のプラ
10 ンジャ」に対応する構成を有しないため、コイルばね９が「『第２のプランジ
ャ』を付勢」し得ず、また、コイルばね９が「第１のプランジャを『第２のプ
ランジャと逆方向』に付勢」し得ない点
（相違点４）
本件発明１、２１の「コイルばね」は、「電気的に導通可能に、前記第１及
15 び第２のプランジャの一方に摺動可能に接触する摺動導通部を有する筒状の
密巻き部」（構成要件１Ｆ、１Ｇ、２１Ｅ、２１Ｆ）を有するのに対し、乙７
－１発明、乙７－２発明では、導電パターン６とリード線２５とが、針状体４
の胴体部７及びレセプタクル３を介して導通するものであるため、圧縮コイル
ばね９は摺動導通部を有しない点
20 （相違点５）
本件発明１、２１の「コイルばね」は、「電気的に導通可能に、前記第１及
び第２のプランジャの他方に固定される固定導通部を有する筒状の密巻き部」
（構成要件１Ｆ、１Ｈ、２１Ｅ、２１Ｇ）を有するのに対し、乙７－１発明、
乙７－２発明はレセプタクル３の内部に「針状体７とコイルばね９との２部品
25 を１体化してなるプローブ本体１４」を受容させる構造であり、「前記支持孔
の他端に臨む第２のプランジャ」を有しないため、コイルばね９が「第１及び
第２のプランジャの『他方』に固定」され得ない点
（相違点６）
本件発明１、２１では、
「前記第１及び第２のプランジャと密巻き部とによ
5 り構成される導通経路には、前記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導
通部として単に１つの部位が存在し、検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑
制される」（構成要件１Ｉ、２１Ｈ）のに対し、乙７－１発明、乙７－２発明
では、導電パターン６とリード線２５とが、針状体４の胴体部７及びレセプタ
クル３を介して導通するものであるため、圧縮コイルばね９は摺動導通部を有
10 しないため、「第１及び第２のプランジャと密巻き部とにより構成される導通
経路」「一方のプランジャが摺動接触する摺動導通部として単に１つの部位」
も
も存在せず、「検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制」されない点
本件発明１、２１と乙７－１発明、乙７－２発明との相違点は上述のとおり
であるから、少なくとも、被告主張の（一致点１－３）ないし（一致点１－１
15 ０）及び（一致点２１－２）ないし（一致点２１－９）は一致点ではない。
⑸ 本件発明１、２１に係る特許が、乙８公報で開示された発明を主引例とする
進歩性欠如の無効理由があるか（争点３－２）
（被告の主張）
ア 本件発明１について
20 乙８公報には、次の発明（以下「乙８－１発明」という。）が記載され
ている。
ａ 設置孔１４１及び貫通孔１４２で構成される支持孔が形成された壁
部１４と、
ｂ 支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性のコネクタ・ピン１と、を備え、
25 ｃ コネクタ・ピン１は、検査対象に接触される、貫通孔１４２の一端か
ら露出可能なプランジャ１０の可動接点頭部１０１と、
ｄ 固定電極１１３に接触する、貫通孔１４２の他端に臨む固定電極基部
１１１と固定接点接触部１１２からなる固定側電極１１と、
ｅ プランジャ１０と固定側電極１１を逆方向に付勢する付勢バネ１３
5 と、を備え、
ｆ 付勢バネ１３は、プランジャ１０と摺動し、導通する部分と固定側電
極１１に固定され導通する部分とを有し、
ｇ 付勢バネ１３がプランジャ１０と摺動し、導通する部分は、電気的に
導通可能に、プランジャ１０の外周面に摺動可能に接触し、
10 ｈ 付勢バネ１３が固定側電極１１に固定され導通する部分は、電気的に
導通可能に、固定側電極１１に固定され、
ｉ 固定側電極１１、プランジャ１０及び付勢バネ１３とにより構成され
る導通経路には、プランジャ１０が摺動接触する部分として単に１つの
部位が存在する
15 ｊ 壁部１４に保持されるコネクタ・ピン１
本件発明１と乙８－１発明は次の点で一致する。
（一致点１－１）
乙８－１発明における構成要件ａの「壁部１４」は、本件発明１におけ
る構成要件１Ａの「絶縁体」に相当する。
20 （一致点１－２）
乙８－１発明における構成要件ｂの「コネクタ・ピン１」は、本件発明
１における構成要件１Ｂの「導電アッセンブリ」に相当する。
（一致点１－３）
乙８－１発明における構成要件ｃの「プランジャ１０」は、本件発明１
25 における構成要件１Ｃの「第１のプランジャ」に相当する。
（一致点１－４）
乙８－１発明における構成要件ｄの「固定電極基部１１１と固定接点接
触部１１２からなる固定側電極１１」は、本件発明１における構成要件１
Ｄの「第２のプランジャ」に相当する。
5 （一致点１－５）
乙８－１発明における構成要件ｅの「付勢バネ１３」は、本件発明１に
おける構成要件１Ｅの「コイルばね」に相当する。
（一致点１－６）
乙８－１発明における構成要件ｇの「付勢バネ１３がプランジャ１０と
10 摺動し、導通する部分」は、本件発明１における構成要件１Ｇの「摺動導
通部」に相当する。
（一致点１－７）
乙８－１発明における構成要件ｈの「付勢バネ１３が固定側電極１１に
固定され導通する部分」は、本件発明１における構成要件１Ｈの「固定導
15 通部」に相当する。
（一致点１－８）
乙８－１発明における構成要件ｊの「壁部１４に保持されるコネクタ・
ピン１」は、本件発明１における構成要件１Ｋの「マイクロコンタクタプ
ローブ」に相当する。
20 本件発明１と乙８－１発明は、次の点で相違する。
（相違点１－１）
本件発明１のコイルばねは「密巻き部」を有している（構成要件１Ｆ）
のに対し、乙８－１発明の付勢ばね１３は「密巻き部」を有しているか否
か不明である点
25 （相違点１－２）
本件発明１には、第１及び第２のプランジャと密巻き部とにより構成さ
れる導通経路が示されている（構成要件１Ｉ）のに対し、乙８－１発明で
は、付勢ばね１３が「密巻き部」を有しているか否か不明である関係から、
「プランジャ１０」 固定電極基部１１１と固定接点接触部１１２からな
、
「
5 る固定側電極１１」及び「密巻き部」で構成される導通経路があるかが不
明である点
（相違点１－３）
本件発明１のマイクロコンタクトプローブは、「検査時の抵抗のばらつ
きが抑制される」（構成要件１Ｊ）のに対し、乙８－１発明のコネクタ・
10 ピン１は、検査時の抵抗のばらつきを抑制するか否か不明である点
特開２０００－４６８６７号公報（以下「乙９公報」という。）では、
プランジャとしての導電性針状体９が、コイルばねの密巻き部と電気的
に導通可能に摺動して接触すること、プランジャとしての導電性針状体
９、密巻き部及び配線パターン２ａで構成される導通経路において密巻
15 き部では、電流がコイル状に流れずに軸線方向に流れ得ることから、高
周波の場合に特に低インダクタンス化及び低抵抗化が向上され得ること
が開示されている（以下「乙９発明」という）。
前記 で主張したとおり、圧縮コイルばねのうち導通経路となり得る部
分に密巻き部を設けることにより、導通時に密巻き部において電流がコイ
20 ル状に流れずに軸線方向に流れ得ることによって、低インダクタンス化及
び低抵抗化の向上を図ることができることは、乙９公報に開示されている
（乙９公報【００１３】【００１４】
、 、図１）。
乙８－１発明及び乙９発明は、いずれも、導電性接触子の構造に関する
技術であり、技術分野が同一である。そして、乙８公報には、付勢ばねを
25 介した導通経路における技術課題として、付勢ばねの抵抗が非常に大きい
こと、そのため、電流が正常に流れないおそれがあることが明らかにされ
ている（乙８公報【０００３】。このような課題に対し、これを解決する
）
手段として、乙９発明では、導通経路を構成する付勢ばねに密巻き部を設
けることにより、通電時、電流がコイル状に流れずに軸線方向に流れ得る
5 ことによって、低インダクタンス化及び低抵抗化の向上を図ることができ
ることが具体的に示されている。
以上によれば、本件発明の属する技術の分野における通常の知識を有す
る者であれば、上記技術課題の解決手段として乙９公報に開示された技術
を乙８－１発明に適用することを考えることは極めて自然かつ容易であ
10 り、乙９公報に開示の内容を乙８－１発明に適用することは、その発明の
属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に推考し得るも
のである。
より具体的にいえば、乙８公報の図６の構成において、二つのプランジ
ャ間の圧縮コイルばねを介した導通経路を想定し、乙９発明の技術事項を
15 適用して、「付勢バネ１３がプランジャ１０と摺動し、導通する部分」を
密巻き部とすることは容易に推考し得るものである。これにより、付勢ば
ね１３は「密巻き部」を有することになる（相違点１－１に係る構成）。
そして、「プランジャ１０」「固定電極基部１１１と固定接点接触部１１
、
２からなる固定側電極１１」及び「密巻き部」で構成される導通経路（相
20 違点１－２に係る構成）においては、乙９発明によれば、導通時に密巻き
部において電流がコイル状に流れずに軸線方向に流れ得ることによって、
低インダクタンス化及び低抵抗化が向上し、検査時の抵抗のばらつきが抑
制されることになる（相違点１－３に係る構成）。
イ 本件発明２１について
25 乙８公報には、次の発明（以下「乙８－２発明」という。）が記載され
ている。
ｋ 壁部１４に形成された設置孔１４１と貫通孔１４２へ嵌装し脱落を
防いだ弾発性のコネクタ・ピン１であって、
ｌ 検査対象に接触される、貫通孔１４２の一端から露出可能なプランジ
5 ャ１０の可動接点頭部１０１と、
ｍ 固定電極１１３に接触される、貫通孔１４２の他端に臨む固定電極基
部１１１と固定接点接触部１１２からなる固定側電極１１と、
ｎ プランジャ１０と固定側電極１１を逆方向に付勢する付勢バネ１３
と、を備え、
10 ｏ 付勢バネ１３は、プランジャ１０と摺動し、導通する部分と固定側電
極１１に固定され導通する部分とを有し、
ｐ 付勢バネ１３がプランジャ１０と摺動し、導通する部分は、電気的に
導通可能に、プランジャ１０の外周面に摺動可能に接触し、
ｑ 付勢バネ１３が固定側電極１１に固定され導通する部分は、電気的に
15 導通可能に、固定側電極１１に固定され、
ｒ 固定側電極１１とプランジャ１０と付勢バネ１３とにより構成され
る導通経路には、プランジャ１０と付勢バネ１３が摺動接触する単に１
つの部位が存在する
ｓ コネクタ・ピン１。
20 本件発明２１と乙８－２発明は次の点で一致する。
（一致点２１－１）
乙８－２発明における構成要件ｋの「コネクタ・ピン１」は、本件発明
２１における構成要件２１Ａの「導電アッセンブリ」に相当する。
（一致点２１－２）
25 乙８－２発明における構成要件ｌの「プランジャ１０」は、本件発明２
１における構成要件２１Ｂの「第１のプランジャ」に相当する
（一致点２１―３）。
乙８－２発明における構成要件ｍの「固定電極基部１１１と固定接点接
触部１１２からなる固定側電極１１」は、本件発明２１における構成要件
5 ２１Ｃの「第２のプランジャ」に相当する。
（一致点２１－４）
乙８－２発明における構成要件ｎの「付勢バネ１３」は、本件発明２１
における構成要件２１Ｄの「コイルばね」に相当する。
（一致点２１－５）
10 乙８－２発明における構成要件ｐの「付勢バネ１３がプランジャ１０と
摺動し、導通する部分」は、本件発明２１における構成要件２１Ｆの「摺
動導通部」に相当する。
（一致点２１－６）
乙８－２発明における構成要件ｑの「付勢バネ１３が固定側電極１１に
15 固定され導通する部分」は、本件発明２１における構成要件２１Ｇの「固
定導通部」に相当する。
（一致点２１－７）
乙８－２発明における構成要件ｓの「コネクタ・ピン１」は、本件発明
２１における構成要件２１Ｊの「導電アッセンブリ」に相当する。
20 本件発明２１と乙８－２発明は、次の点で相違する。
（相違点２１－１）
本件発明２１のコイルばねは「密巻き部」を有している（構成要件２１
Ｅ）のに対し、乙８－２発明の付勢ばね１３は「密巻き部」を有している
か否か不明である点
25 （相違点２１－２）
本件発明２１には、第１及び第２のプランジャと密巻き部とにより構成
される導通経路が示されている（構成要件２１Ｈ）のに対し、乙８－２発
明では、付勢ばね１３が「密巻き部」を有しているか否か不明である関係
から、「プランジャ１０」「固定電極基部１１１と固定接点接触部１１２
、
5 からなる固定側電極１１」及び「密巻き部」で構成される導通経路がある
かが不明である点
（相違点２１－３）
本件発明２１の導電アッセンブリは、「検査時の抵抗のばらつきが抑制
される」（構成要件２１Ｉ）のに対し、乙８－２発明のコネクタ・ピン１
10 は、検査時の抵抗のばらつきを抑制するか否か不明である点
前記ア で主張したとおり、圧縮コイルばねのうち導通経路となりうる
部分に密巻き部を設けることにより、導通時に密巻き部において電流が
コイル状に流れずに軸線方向に流れ得ることによって、低インダクタン
ス化及び低抵抗化の向上を図ることができることは、乙９公報に開示さ
15 れている（乙９公報【００１３】【００１４】
、 、図１）。
乙８―２発明及び乙９発明は、いずれも、導電性接触子の構造に関する
技術であり、技術分野が同一である。そして、乙８公報には、付勢ばねを
介した導通経路における技術課題として、付勢ばねの抵抗が非常に大きい
こと、そのため、電流が正常に流れないおそれがあることが明らかにされ
20 ている（乙８公報【０００３】。このような課題に対し、これを解決する
）
手段として、乙９発明では、導通経路を構成する付勢ばねに密巻き部を設
けることにより、通電時、電流がコイル状に流れずに軸線方向に流れ得る
ことによって、低インダクタンス化及び低抵抗化の向上を図ることができ
ることが具体的に示されている。
25 以上によれば、乙９公報に接した本件発明の属する技術の分野における
通常の知識を有する者であれば、上記課題の解決手段として乙９公報に開
示された技術を乙８－２発明に適用することを考えることは極めて自然
かつ容易なことであり、乙９公報に開示の内容を乙８－２発明に適用する
ことは、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容
5 易に推考し得るものである。
より具体的にいえば、乙８公報の図６の構成において、２つのプランジ
ャ間の圧縮コイルばねを介した導通経路を想定し、乙９発明の技術事項を
適用して、「付勢バネ１３がプランジャ１０と摺動し、導通する部分」を
密巻き部とすることは容易に推考し得るものである。これにより、付勢ば
10 ね１３は「密巻き部」を有することになる（相違点２１－１に係る構成）。
そして、「プランジャ１０」「固定電極基部１１１と固定接点接触部１１
、
２からなる固定側電極１１」及び「密巻き部」で構成される導通経路（相
違点２１－２に係る構成）においては、乙９発明によれば、導通時に密巻
き部において電流がコイル状に流れずに軸線方向に流れ得ることによっ
15 て、低インダクタンス化及び低抵抗化が向上し、検査時の抵抗のばらつき
が抑制されることになる（相違点２１－３に係る構成）。
ウ 原告が主張する相違点１は、「固定側電極１１」が「第２のプランジャ」
に当たらないと主張するものと理解できるが、本件発明１、２１における特
許請求の範囲では、
「第２のプランジャ」について、
「前記支持孔の他端に臨
20 む」との記載があるだけで、それ以上の構成の限定はない。また、本件明細
書における記載にも、
「第２のプランジャ」の構成を限定するような文言は
なく、本件明細書の記載上、乙８公報で開示された構成（「固定電極側基部
１１１と固定接点接触部１１２からなる固定側電極１１」 が
） 「プランジャ」
から除外される根拠は何もないから、原告の主張には理由がない。
25 原告が主張する相違点２、相違点５及び相違点６の一部（「前記支持孔の
他端に臨む第２のプランジャに対応する構成を有しない」と主張する部分）
は、相違点１と同様、乙８発明の「固定側電極１１」が「リード導体に接触
する、支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を備えていな
いとの主張を理由とするものであり、この主張が誤りであることは、相違点
5 １において述べたとおりである。
原告が主張するその余の相違点は、乙８発明に本件発明１、２１における
「密巻き部」が開示されていないことを主張するものであるが、相違点に係
る構成が乙９発明によって容易に想到できることは前記ア、イで主張したと
おりである。
10 エ 原告は、乙９公報には本件発明１、２１と乙８発明との相違点に係る構成、
具体的には、原告が主張する相違点１、同２、同４ないし至同６に係る構成
が開示されていないと主張する。しかし、乙８発明との相違点として原告が
挙げるものは、いずれも乙８発明の「固定側電極１１」が「リード導体に接
触する、支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を備えてい
15 ないとの主張を理由とするものであるところ、前記ウのとおり、この主張自
体が誤りであるから、原告の上記主張は失当である。
オ また、原告は、乙８－１発明、乙８－２発明に乙９発明の密巻き部１０ａ
を有する圧縮コイルばね１０を組み合わせることは困難であると主張する
が、乙８公報の図６に示された構成において、圧縮コイルばね１０のうち、
ガイド部１０３との摺動接触を考慮してその一部（下の図において青色で
示す部分）を密巻きにすることは可能であり、その際、
「ガイド部１０３を
伸長させ」たり、
「密巻き部１０ａを伸長させる」必要はない。したがって、
原告の主張は失当である。
5 そして、乙８公報及び乙９公報はいずれも、導電性接触子の構造に関する文
献であり、プランジャと摺動接触する箇所におけるコイルばねを密巻きとする
乙９の図１に接した当業者であれば、同じく導電性接触子の構造を示す乙８の
図６の構造においてプランジャと摺動接触する箇所において圧縮コイルばね
１０のうち、ガイド部１０３との摺動接触を考慮してその一部を密巻きとする
10 ことは、何の困難もなく容易にできることである。
（原告の主張）
ア 本件発明１、２１と乙８－１発明、乙８－２発明とを対比すると、少なく
とも以下の各点で両者は相違する。
（相違点１）
15 本件発明１、２は、「リード導体に接触する、支持孔の他端に臨む第２の
プランジャ」（構成要件１Ｄ、２１Ｃ）を備えるのに対し、乙８－１発明、
乙８－２発明は、設置孔１４１の開口端の一方から固定側電極１１を突設さ
せて固定し、設置孔１４１の開口端の他方にプランジャ１０を収納する構造
であり、「前記支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を有
20 しない点
（相違点２）
本件発明１、２１は、「前記第１及び第２のプランジャを逆方向に付勢す
るコイルばね」
（構成要件１Ｅ、２１Ｄ）を備えるのに対し、乙８－１発明、
乙８－２発明は、設置孔１４１の開口端の一方から固定側電極１１を突設さ
25 せて固定し、設置孔１４１の開口端の他方にプランジャ１０を収納する構造
であり、「前記支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を有
しないため、付勢バネ１３が「『第２のプランジャ』を付勢」し得ず、また、
付勢バネ１３が「第１のプランジャを『第２のプランジャと逆方向』に付勢」
し得ない点
5 （相違点３）
本件発明１、２１の「コイルばね」は、「電気的に導通可能に、第１及び
第２のプランジャの一方に摺動可能に接触する摺動導通部を有する筒状の
密巻き部」（構成要件１Ｆ、１Ｇ、２１Ｅ、２１Ｆ）を有するのに対し、乙
８－１発明、乙８－２発明では、プランジャ１０を貫通孔１４２側に常に押
10 圧させるための、スライダ部１０２と固定電極基部１１１との間に設置され
る付勢バネ１３が開示されているのみで、付勢バネ１３は摺動導通部を有す
る筒状の密巻き部を備えない点
（相違点４）
本件発明１、２１の「コイルばね」は、「電気的に導通可能に、第１及び
15 第２のプランジャの他方に固定される固定導通部を有する筒状の密巻き部」
（構成要件１Ｆ、１Ｈ、２１Ｅ、２１Ｇ）を有するのに対し、乙８－１発明、
乙８－２発明では、プランジャ１０を貫通孔１４２側に常に押圧させるため
の、スライダ部１０２と固定電極基部１１１との間に設置される付勢バネ１
３が開示されているのみで、付勢バネ１３は固定導通部を有する筒状の密巻
20 き部を備えない点
（相違点５）
本件発明１、２１の「コイルばね」は、「電気的に導通可能に、第１及び
第２のプランジャの他方に固定される固定導通部を有する筒状の密巻き部」
（構成要件１Ｆ、１Ｈ、２１Ｅ、２１Ｇ）を有するのに対し、乙８－１発明、
25 乙８－２発明は、設置孔１４１の開口端の一方から固定側電極１１を突設さ
せて固定し、設置孔１４１の開口端の他方にプランジャ１０を収納する構造
であり、「前記支持孔の他端に臨む第２のプランジャ」を有しないため、付
勢バネ１３が「第１及び第２のプランジャの『他方』に固定」され得ない点
（相違点６）
5 本件発明１、２１では、「第１及び第２のプランジャと密巻き部とにより
構成される導通経路には、一方のプランジャが摺動接触する摺動導通部とし
て単に１つの部位が存在し、検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制され
る」
（構成要件１Ｉ、２１Ｈ）のに対し、乙８－１発明、乙８－２発明では、
設置孔１４１の開口端の一方から固定側電極１１を突設させて固定し、設置
10 孔１４１の開口端の他方にプランジャ１０を収納する構造であり、「前記支
持孔の他端に臨む第２のプランジャ」に対応する構成を有しないことに加え、
プランジャ１０を貫通孔１４２側に常に押圧させるための、スライダ部１０
２と固定電極基部１１１との間に設置される付勢バネ１３が開示されてい
るのみで、付勢バネ１３は摺動導通部を有する筒状の密巻き部を備えないた
15 め、「第１及び第２のプランジャと密巻き部とにより構成される導通経路」
も「一方のプランジャが摺動接触する摺動導通部として単に１つの部位」も
存在せず、「検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制」されない点
したがって、少なくとも被告主張の一致点１－４ないし一致点１－７及び
一致点２１－３ないし一致点２１－６は一致点ではない。
20 イ 乙９公報には、少なくとも相違点１、２、４ないし６に係る各構成が開示
されていないから、当業者は、乙８公報及び乙９公報の記載を参照しても本
件発明１、２１に想到することはできない。
ウ そもそも、乙８－１発明、乙８－２発明と乙９発明とでは根本的な構造が
相違しているから、乙９発明の構造の一部を部分的に抜き出して乙８－１
25 発明、乙８－２発明の一部に部分的に適用することはできず、組み合わせが
不能である。
すなわち、乙８－１発明、乙８－２発明は、設置孔１４１の開口端の一方
から固定側電極１１を突設させて固定し、設置孔１４１の開口端の他方にプ
ランジャ１０を収納し、プランジャ内孔１００に固定側電極１１の固定電極
5 １１１３が配置され、プランジャ１０のスライダ部１０２と固定側電極１１
の固定電極１１３とが摺動接触して導通させるものであって、付勢バネ１３
は、単に、プランジャ１０を貫通孔１４２側に常に押圧させるためのものに
すぎない構造である。
したがって、乙８発明の付勢バネ１３は、プランジャ１０を貫通孔１４２
10 側に付勢する目的を達成するものであり、乙８の図６を参照しても、付勢バ
ネ１３が配置される部分はスライダ部１０２と固定電極基部１１１との間
の、孔の全長の半分以下の長さの短い領域である。
このような領域に、乙９発明の、密着巻き部１０ａを有する圧縮コイルば
ね１０を入れようとすれば、ガイド部１０３と密着巻き部１０ａとを摺動接
15 触させるために、ガイド部１０３を伸長させるか、密着巻き部１０ａを伸長
させる必要があるところ、これは、乙８発明に乙９発明を適用した上でさら
なる変更が必要になる、いわゆる「容易の容易」の類型に該当し、当業者が
容易に想到することができないものである。
10 図２２ 乙８ 図６ 図２３ 乙９ 図１
エ 乙８－１発明、乙８－２発明に乙９発明の密着巻き部１０ａを有する圧縮
コイルばね１０を組み合わせる動機付けは存在しない。
すなわち、乙８公報には、「従来のコネクタ・ピンにおいては、正常状態
では上述のとおり、電極ｂ、ケーシングａの内周面、スライダｄの外周面、
15 可動接点頭部ｅで形成される通電経路が存在しているが、スライダｄの外周
面とケーシングａの内周面との間に僅かな間隙があるために、通常はズレて
いるスライダｄの中心軸とケーシングａの中心軸とが一致すると、スライダ
ｄの外周面とケーシングａの内周面との間隙が全周にわたって存在するこ
とになり、上記通電経路が遮断され、ケーシングａとスライダｄとの間に付
20 勢バネｆが介在した通電経路のみが存在することになり、非常に抵抗の大き
い付勢バネｆを介して流れる電流が正常時の略２％程度に低下し、電源オフ
状態になる恐れがあった」
（乙８公報【０００３】）と記載されていることか
ら、乙８－１発明、乙８－２発明に用いられる付勢バネ１３は、その名の通
り、単に「付勢」することを目的としたバネにすぎない。
25 乙８－１発明、乙８－２発明においては、付勢バネ１３を、乙９発明の圧
縮コイルばね１０のように導通経路を構成する部材として用いることの示
唆は存在せず、単に「付勢」することを目的としたバネであることを説明す
るのみであるから、乙８公報に接した当業者は、付勢バネ１３を、導通経路
を構成する部材として用いる発想には至らない。
5 したがって、乙８－１発明、乙８－２発明に乙９発明の圧縮コイルばね１
０を組み合わせる動機付けは存在しない。
⑹ 本件特許に、明確性要件違反の無効理由があるか（争点３－３）
（被告の主張）
本件発明１及び本件発明２１における「密巻き部」は、摺動導通部と固定導
10 通部を有し筒状であること以外に構成についての限定がない。他方で、「前記
第１及び第２のプランジャと前記密巻き部とにより構成される導通経路には、
前記一方のプランジャが摺動接触する前記摺動導通部として単に１つの部位
が存在し、前記検査対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制される」（構成要件
１Ｉ及び２１Ｈ）とされ、検査時の抵抗のばらつきが抑制される」密巻き部」
「 「
15 であることが要件となっている。また、本件明細書の記載によれば、単に相対
的にみて「２つの摺動導通部」が存在するものよりも「抵抗のばらつき」が軽
減されればよいということではなく、「インダクタンス及び抵抗の増大」を伴
わないことが作用効果の前提となっている（【０１３７】【０１５０】。この
、 ）
ためには、コイルばねにおいて螺旋状に高周波信号が流れないようにすること
20 が必要となり、そのための構成が「密巻き部」であるものと理解される（【０
０３１】。本件発明１、２１の特許請求の範囲の文言は、具体的にどのような
）
構成の「密巻き部」であればインダクタンス及び抵抗の増大を伴わずに「検査
対象の検査時の抵抗のばらつきが抑制される」「密巻き部」に該当するのかが
不明であり、その技術的範囲は不明確である。原告の主張によれば、「密巻き
25 部」とは、単に「空間的にすき間が少なく巻かれた部分」をいい、また、実施
例の説明において記載されている「電流がかなりの割合で軸方法に略々ストレ
ートに流れる効果が生じる」ものには限定されないとのことであるから、一層、
その技術的範囲は不明確である。
本件発明１及び本件発明２１に係る特許は、特許法３６条６項２号が規定す
5 る「特許を受けようとする発明が明確であること」に違反する。
（原告の主張）
ア 「密」とは、時間的・空間的にすき間が少ないことをいうから（甲７）、
構成要件１Ｆ及び２１Ｅの「密巻き部」とは、その文言上、空間的にすき間
が少なく巻かれた部分をいうものと解釈される。
10 また、構成要件１Ｉ及び２１Ｈには「前記第１及び第２のプランジャと前
記密巻き部とにより構成される導通経路には・・・」という構成が規定され
ていることから、構成要件１Ｆ及び２１Ｅの「密巻き部」は、第１及び第２
のプランジャとともに導通経路を構成するものである（構成要件１Ｉ及び２
１Ｈ）。
15 「導通」とは、電流が通じていることをいい、「経路」とは、通過する道
すじをいうから（甲７）「導通経路」とは、電流が通じる道すじをいうもの
、
と解釈される。
よって、構成要件１Ｆ及び２１Ｅの「密巻き部」は、特許請求の範囲の文
言上、空間的にすき間が少なく巻かれた部分であって、第１及び第２のプラ
20 ンジャとともに電流が通じる道すじを構成する部分と解釈されるものであ
り、記載はそれ自体で明確である。
そして、本件明細書及び図面において、特許請求の範囲に記載された「密
巻き部」に対応する、実施形態における「密巻螺旋部１５ａ（筒状部１５）」
は、空間的にすき間が少なく巻かれた部分であって、第１及び第２のプラン
25 ジャとともに電流が通じる道すじを構成する部分であると説明されている・
したがって、本件特許の特許請求の範囲の請求項１及び２１は、記載がそ
れ自体で明確であり、用語についての明細書及び図面における定義又は説明
によってかえって記載が不明確になるという事情もないから、本件特許の特
許請求の範囲の記載において、特許を受けようとする発明は明確である。
5 イ 特許請求の範囲の記載がそれ自体で明確でないと仮定したとしても、上述
のとおり、本件明細書及び図面において、特許請求の範囲に記載された「密
巻き部」に対応する、実施形態における「密巻螺旋部１５ａ（筒状部１５）」
は、空間的にすき間が少なく巻かれた部分であって、第１及び第２のプラン
ジャとともに電流が通じる道すじを構成する部分であると説明されている
10 から、出願時の技術常識をもって考慮して特許請求の範囲の用語を解釈す
ると、その「密巻き部」は空間的にすき間が少なく巻かれた部分であって、
第１及び第２のプランジャとともに電流が通じる道すじを構成する部分で
あることが明確である。
したがって、特許請求の範囲の請求項１及び２１は、請求項に記載された
15 用語についての明細書及び図面における定義又は説明を出願時の技術常識
をもって考慮してその用語を解釈すると記載が明確であるから、本件特許の
特許請求の範囲の記載において、特許を受けようとする発明は明確である。
ウ 本件発明による抵抗のばらつきの抑制という効果は、２つのプランジャと
コイルの密巻き部とにより構成される導通経路において、２つの摺動導通
20 部を存在させず、１つの摺動導通部のみを存在させる構造により奏する効
果である（甲２、
【０００７】【００１１】等）から、請求項１及び２１に
、
おいて規定された構造を備えれば抵抗のばらつきの抑制という効果が得ら
れる。
⑺ 本件特許に、サポート要件違反の無効理由があるか（争点３－４）
25 （被告の主張）
本件発明の「密巻き部」は、特許請求の範囲において、摺動導通部と固定導
通部を有し筒状であること以外に構成の限定がなく、本件明細書で示された技
術事項を超える範囲を含み得る（例えば、本件明細書には、「このときの導通
経路Ｌは、唯一のコイルばね２を通ることになるので、その中間密巻螺旋部２
5 ａを通り、コイルばね２の軸線方向に沿って直線的に電気信号が流れ得ること
から、コイルばね２の粗巻螺旋部に高周波信号が流れることによるインダクタ
ンスおよび抵抗の増大が生じない」との記載がある（【０００６】）が、「摺動
導通部と固定導通部を有し筒状である密巻き部」との表現からは「軸線方向に
沿って直線的に電気信号が流れない」構成も含まれ得る。原告自身、「密巻き
10 部」とは、単に「空間的にすき間が少なく巻かれた部分」をいうものとし、「電
流がかなりの割合で軸方法に略々ストレートに流れる効果が生じる」ものには
限定されないと主張している。このように、本件発明は、明細書の発明の詳細
な説明に開示された技術事項を超える広い特許請求の範囲を記載しているこ
とになり、明細書の発明の詳細な発明に記載されたものとは言えない。
15 本件発明１及び本件発明２１に係る特許は、特許法３６条６項１号が規定す
る「特許を受けようとする発明が発明の詳細な説明に記載したものであるこ
と」に違反する。
（原告の主張）
ア 本件明細書において、特許請求の範囲に記載された「密巻き部」に対応す
20 る、実施形態における「密巻螺旋部１５ａ（筒状部１５）」は、空間的にす
き間が少なく巻かれた部分であって、第１及び第２のプランジャとともに
電流が通じる道すじを構成する部分であることが説明されており、当該構
成を備えることにより「検査時の抵抗のばらつきが最小限に収まる」
（【００
３２】）ことが記載されているから、空間的にすき間が少なく巻かれた部分
25 であって、第１及び第２のプランジャとともに電流が通じる道すじを構成
する部分と解釈される構成要件１Ｆ及び２１Ｅの「密巻き部」を備える本件
発明１及び２１は、発明の詳細な説明において「発明の課題が解決できるこ
とを当業者が認識できるように記載された範囲」の発明である。
したがって、本件発明１、２１は、本件明細書の発明の詳細な説明におい
5 て「発明の課題が解決できることを当業者が認識できるように記載された範
囲」を超えるものでないから、本件特許の特許請求の範囲の記載において、
特許を受けようとする発明は発明の詳細な説明に記載したものである。
イ 本件発明１、２１による抵抗のばらつきの抑制という効果は、２つのプラ
ンジャとコイルの密巻き部とにより構成される導通経路において、２つの
10 摺動導通部を存在させず、１つの摺動導通部のみを存在させる構造により
奏する効果である（【０００７】【００１１】等）から、本件発明１及び２
、
１において規定された構造を備えれば抵抗のばらつきの抑制という効果が
得られる。
⑻ 本件特許に、実施可能要件違反の無効理由があるか（争点３－５）
15 （被告の主張）
本件発明の「密巻き部」については、摺動導通部と固定導通部を有し筒状で
あること以外に構成の限定がない一方で、「前記第１及び第２のプランジャと
前記密巻き部とにより構成される導通経路には、前記一方のプランジャが摺動
接触する前記摺動導通部として単に１つの部位が存在し、前記検査対象の検査
20 時の抵抗のばらつきが抑制される」
（構成要件１Ｉ及び２１Ｈ）とされ、
「検査
時の抵抗のばらつきが抑制される」「密巻き部」であることが要件となってい
る。また、前記 で主張したとおり、「密巻き部」はインダクタンス及び抵抗
の増大が伴わないような構成になっていることが前提となっている。しかし、
本件明細書の記載からは「密巻き部」をどのような構成とすればインダクタン
25 ス及び抵抗の増大を伴わずに本件発明の上記課題を解決できるのか不明であ
り、発明の詳細な説明に「密巻き部」の製造方法が具体的に記載されていると
は到底いえない。
なお、原告は「密巻き部」とは、単に「空間的にすき間が少なく巻かれた部
分」をいうとし、また、実施例の説明において記載されている「電流がかなり
5 の割合で軸方法に略々ストレートに流れる効果が生じる」ものには限定されな
いとするが、どのような構成の「密巻き部」であれば検査時の抵抗のばらつき
が抑制されることになるのかより一層不明である。
本件発明１及び本件発明２１に係る特許は、特許法３６条４項１項が規定す
る「その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者がその実施を
10 することができる程度に明確かつ十分に記載したものであること」に違反する
（原告の主張）
本件明細書において、特許請求の範囲の「密巻き部」に対応する、実施形態
における「密巻螺旋部１５ａ（筒状部１５）」は、空間的にすき間が少なく巻
かれた部分であって、第１及び第２のプランジャとともに電流が通じる道すじ
15 を構成する部分であることが説明されており、当該構成を備えることにより
「検査時の抵抗のばらつきが最小限に収まる」【００３２】
（ ）ことが記載され
ている。そうすると、空間的にすき間が少なく巻かれた部分であって、第１及
び第２のプランジャとともに電流が通じる道すじを構成する部分と解釈され
る構成要件１Ｆ及び２１Ｅの「密巻き部」を備える本件発明１及び２１は、当
20 業者が実施できる程度に明確かつ十分に記載されている。
したがって、本件明細書の発明の詳細な説明の記載は、発明の属する技術の
分野における通常の知識を有する者がその実施をすることができる程度に明
確かつ十分に記載したものである。
第３ 当裁判所の判断
25 １ 本件発明について
⑴ 本件明細書の記載（甲２）
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
5 本発明は、導電性針状体としてのプランジャを、液晶ディスプレイ用基板、
ＴＡＢ、あるいはパッケージ基板（ＰＫＧ）等の接触対象に接触させて電気信
号を取り出し、リード線等の信号伝送ラインを介して外部回路に伝える、導電
性の小形接触子、ソケットピン（ＳＣＰ）、または薄形プローブ（ＴＨＰ）等
のマイクロコンタクタプローブ（導電性接触子）に関する。本発明はさらに複
10 数のマイクロコンタクタプローブにより構成される電気プローブユニットに
関する。
【０００２】
【従来の技術】
プリント配線板の導体パターンあるいは電子素子等の電気的検査を行う従
15 来の電気プローブユニットには、導電性針状体としてのプランジャと、このプ
ランジャを軸線方向に出没自在に保持するホルダと、プランジャをその突出端
がホルダの前端（軸方向端）から突出する向きに弾発付勢するコイルばねとを
備えて構成され、プランジャの突出端を被検体の接触対象へ弾発的に接触させ
ることが可能なマイクロコンタクタプローブが用いられる。
20 【０００３】
そうした例として、図１３に示すマイクロコンタクタプローブ１００が知
られている。これは、日本国特開平１０－２３９３４９号公報に開示されたも
ので、一対のプランジャ３および４をコイルばね２の両端に結合したプランジ
ャアッシ５を絶縁性ホルダ６および７に形成された支持孔８および９に、一対
25 のプランジャ３および４の往復動を許容して収容した構成を有し、各プランジ
ャ３および４は外方へ突出する力を受けるが脱落阻止されている。
【図１３】
【０００４】
この取付状態で、プランジャ３および４は、それぞれの段部を上側ホルダ７
5 および下側ホルダ６に係合させて脱落阻止され、支持孔９および８内に収容さ
れる。コイルばね２は中間に密巻螺旋部２ａを備え、この中間の密巻螺旋部２
ａは、待機状態（プランジャ３が検査対象に接触してない状態）にあるプラン
ジャ３および４の軸部３ａおよび４ａに接触できる長さを有する。
【０００５】
10 このマイクロコンタクタプローブ１００は、上側のプランジャ４の突出端
を、ホルダ７に積層した配線プレート１０に固定したリード導体１１に弾接さ
せて電気的に接続し、下側のプランジャ３の突出端を検査対象１２へ弾発的に
接触させて用いる。この検査時の電気信号の導通経路Ｌは、図１３に実線の矢
印で示すように、検査対象１２から下側のプランジャ３を通り、その軸部３ａ
15 から中間密巻螺旋部２ａを介して上側のプランジャ４の軸部４ａに伝達され、
このプランジャ４を通ってリード導体１１に至る。これにより、基板１３上に
形成された検査対象１２である印刷回路にショートあるいは断線が無いか検
査する。
【０００６】
このときの導通経路Ｌは、唯一のコイルばね２を通ることになるので、その
中間密巻螺旋部２ａを通り、コイルばね２の軸線方向に沿って直線的に電気信
5 号が流れ得ることから、コイルばね２の粗巻螺旋部に高周波信号が流れること
によるインダクタンスおよび抵抗の増大が生じない。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このマイクロコンタクタプローブ１００は、導通経路Ｌに、
10 図１３に示すように、プランジャ３および４の軸部３ａおよび４ａと中間密巻
螺旋部２ａとの摺動導通部ＡおよびＢが存在し、この２つの摺動導通部Ａおよ
びＢの存在による抵抗の分散が、検査の精度を狭めるという課題がある。
【０００８】
またマイクロコンタクタプローブ１００は、検査対象１２上の酸化皮膜が
15 破れずに接触抵抗が高くなり不安定になるようなことがないように、検査対象
１２に対するプランジャ３の接触圧をある程度大きくするが、この大きくした
接触圧が同時にプランジャ４を介してリード導体１１にも作用し、量産工程で
使用する場合に、その接触圧がリード導体１１をテスト毎（数１０万～数１０
０万回）に加圧し、基板１３（または配線プレート１０）の早期損傷その他に
20 よる使用期間の狭まりに関係してくるという課題も有る。
【０００９】
そこで、本発明は、インダクタンスおよび抵抗の増大を伴うことなく、導通
経路中の摺動導通部の数を減少させて、検査精度を向上可能なマイクロコンタ
クタプローブ（導電性接触子）および電気プローブユニットを提供することを
25 目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく、本発明に係るマイクロコンタクタプローブは、開端
及び閉端を有する支持孔が形成された絶縁体と、前記支持孔内に前記閉端で露
5 呈するリード導体と、前記支持孔へ嵌装し脱落を防いだ弾発性の導電アッセン
ブリとを備え、このアッセンブリは、前記開端で外方へ露出する第１の導体部
と、前記リード導体に接触する第２の導体部とを備えるマイクロコンタクタプ
ローブであって、前記第１及び第２の導体部の一方は、前記第１及び第２の導
体部の他方にその一部分が摺動可能に接触する筒状導体部と、この筒状導体部
10 の別の部分に固定された固定導体部とを備えて成る。
【００１１】
この発明によれば、単一の摺動接触となる筒状導体部が、高周波でなおイン
ダクタンスを低減できる。
【００１８】
15 【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施態様を図面に基づき説明する。本発明の上記その他の目
的及び新規な特徴は以下の詳細な説明を添付図面に照らして読むことでより
完全となろう、図面中、同じ部材は同じ符号で表す。
【００２１】
20 図２に図１の電気プローブユニットＰＵの任意なマイクロコンタクタプロ
ーブ１を示す。
【図２】
【００２２】
プローブユニットＰＵは、前記モジュールハウジングＭＨ内に固定された
5 絶縁性板部材としての下側プローブホルダ６と、この下側プローブホルダ６の
上に積層された絶縁性板部材としての上側プローブホルダ７と、この上側プロ
ーブホルダ７の上に積層されリード導体１１が形成された絶縁性基板として
の配線プレート１０とを有する。これらプローブホルダ６および７と配線プレ
ート１０とは密に接合される。前記プローブ１毎に、下側ホルダ６に筒状の下
10 側支持孔８を縦通するとともに、その下端近くに内方への段差８ａを設けて端
部を縮径し、上側ホルダ７は、筒状の上側支持孔９を縦通し、その上端近くに
内方への段差９ａを設けて端部を縮径する。段差８ａおよび９ａ間では、上下
の支持孔８および９が上記縮径端部よりも大きな同一の径を持つ。上側支持孔
９の上端では、対応するリード導体１１の下端部が内方に露出する。
15 【００２３】
前記プローブ１は、下側支持孔８の大径部分へ軸方向摺動可能に嵌合させ
る中間部３ｂをフランジにした導電性の針状部材である下側のプランジャ３
と、上側支持孔９の大径部分へ軸方向摺動可能に嵌合させる中間部４ｂをフラ
ンジにした導電性の針状部材である上側のプランジャ４と、これら上下のプラ
ンジャ３および４のフランジになった部分３ｂおよび４ｂ間に縮装され各支
5 持孔８および９の大径部へ摺動可能に嵌合するコイルばね２とで構成され、従
ってプランジャ３および４は常時逆の方向に付勢される。その結果、下側のプ
ランジャ３は、フランジの部分３ｂで下側支持孔８の段差８ａに押し当てら
れ、これにより脱落阻止されて、その針頭部３ｃの錐状尖端が外方へ突出し、
上側のプランジャ４は、その針頭部４ｃの錐状尖端が前記リード導体１１下端
10 のパッド１１ａに押し当てられる。上下のプランジャ３および４は、工具鋼
（ＳＫ）をＮｉメッキで下処理し、Ａｕメッキにより０.１ｍｍの外径に仕上
げる。コイルばね２は、螺旋に巻いたピアノ線（ＳＷＰＡ）を０.３ｍｍ厚の
Ｎｉメッキで下処理し、０.３～０.５μｍ厚のＡｕメッキで仕上げる。
【００２４】
15 下側のプランジャ３は、前記フランジ部３ｂの上にボス部３ｄを備え、この
ボス部３ｄの上に上方へ延びる軸部３ａを備える。上側のプランジャ４は、前
記フランジ部４ｄの下にボス部４ｄを備える。コイルばね２は、比較的長い筒
状部１５を構成する上部の密巻の螺旋部１５ａと、短い筒部を構成する下端の
密巻の螺旋部と、その間に延在する粗巻の螺旋部とを有する。上記筒部では、
20 いずれも、ばね２の隣接する螺旋部のＡｕメッキが広い領域で密着し、電流が
かなりの割合で軸方向へ略々ストレートに流れる。長い方の筒状部１５は、上
側プランジャ４のボス部４ｄを圧入し、一体的にきつく嵌着して、筒部上端で
の通電に供する。短い方の筒部も、下側プランジャ３のボス部３ｄを圧入し、
きつく嵌着して通電に供する。粗巻螺旋部は下側プランジャ３の軸部３ａ周り
25 に遊嵌する。この軸部３ａの上端を上記長い筒状部１５の下部へ摺動可能に嵌
合し、軸部上端での通電に供する。
【００２５】
上記第１の実施態様では、コイルばね２の一端に密巻螺旋部１５ａとして
形成した前記筒状部１５を上側のプランジャにきつく固定し、上記密巻螺旋部
5 １５ａへ軸部３ａが摺動可能に接触する下側のプランジャ３をコイルばね２
の他端に嵌合密着させている。
【００２６】
より詳細には、前記フランジの部分３ｂを有する下側のプランジャ３は、そ
のフランジ部３ｂの一方の側に形成された針頭部３ｃと、フランジ部３ｂの他
10 方の側に前記ボス部３ｄを介し一体的に形成された比較的長いシャフト部分
である前記軸部３ａとを備える。この軸部３ａは、図２に示すような待機状態
（下側プランジャ３が検査対象１２に接触してない状態）の時にその先端が前
記密巻螺旋部１５ａに届くだけの長さを有し、また上記ボス部３ｄよりも少し
小さな直径で形成される。前記フランジの部分４ｂを有する上側のプランジャ
15 ４は、そのフランジ部４ｂの一方の側に形成された針頭部４ｃと、フランジ部
４ｂの他方の側に一体形成されたボス部４ｄとを備える。
【００２７】
コイルばね２は、一端に前記密巻螺旋部１５ａを形成し、残りの部分に前記
粗巻螺旋部を形成する。密巻螺旋部１５ａに前記ボス部４ｄを圧入し、これに
20 より上側プランジャ４を嵌合密着させ、また粗巻螺旋部の端に比較的短寸の密
巻螺旋部を設け、このコイルに前記軸部３ａ同様にボス部３ｄを挿入して、こ
のボス部３ｄにコイル端部を密巻した状態となし、これにより下側プランジャ
３を嵌合密着させる。密巻螺旋部１５ａの軸長は、上記軸部３ａとボス部４ｄ
との間に、下側プランジャ３の検査操作を適切に行える軸方向距離を与えるよ
25 うに定める。
【００２８】
以上の導体（つまり、本例では、コイルばね２と上下のプランジャ３および
４）からなり弾発的に伸縮可能である導電性の組物を以下「プランジャアッシ」
と呼び、これを前記ホルダ６及び７内に取付け、その際、上側のプランジャ４
5 をホルダ７の支持孔９に位置させ、下側のプランジャ３をホルダ６の支持孔８
に位置させる。この取付状態では、それぞれ針頭部３ｃおよび４ｃの先端がホ
ルダ６および７の外へ突出した状態の上下のプランジャ３及び４が、支持孔８
および９内に往復動可能に収容されるが、前記フランジ部３ｂおよび４ｂが支
持孔８および９の段差８ａおよび９ａに当たるので、コイルばね２に弾発力が
10 あっても抜止めされる。
【００２９】
プローブ１は、上記ホルダ７の上面に配線プレート１０を積層して構成さ
れる。この積層により、上側プランジャ４がコイルばね２の弾発力に抗しつつ
支持孔９に没入し、針頭部４ｃの先端が配線プレート１０のリード導体１１の
15 パッド１１ａに弾性接触した状態となり、これにより電気的接続が得られる。
【００３０】
このように構成したプローブ１は、下側プランジャ３の針頭部３ｃの錐状
尖端を、基板１３上に形成された検査対象１２に弾性接触させることにより検
査に供される。この検査時に生じる電子信号の導通経路Ｌ１は、図２に実線の
20 矢印で示すように、検査対象１２から下側プランジャ３に延び、その軸部３ａ
から上側プランジャ４への通電は密巻螺旋部１５ａを経由し、更に上側プラン
ジャ４を通ってリード導体１１の（パッド１１ａ）に至り、これにより、基板
１３上に形成された印刷回路である検査対象１２に短絡または断線がないか
検査できる。
25 【００３１】
このように、マイクロコンタクタプローブ１では、コイルばね２により逆の
方向に付勢された一対のプランジャ３および４が、密巻螺旋部１５ａ（筒状部
１５）を介して電気的に連結され、別にインダクタンスおよび抵抗を有するコ
イルばね２の粗巻螺旋部へ高周波信号が流れるのを防ぎ、インダクタンスおよ
5 び抵抗の低減が可能となる。
【００３２】
また、密巻螺旋部１５ａ（筒状部１５）は、上側プランジャ４との間の電気
導通に関し一体的な状態にあり、その間に、摺動導通部でなく固定導通部とし
て機能可能な連結部Ｃが存在する。この状態で、プランジャ対３および４と密
10 巻螺旋部１５ａ（筒状部１５）とにより構成される前記導通経路Ｌ１には、プ
ランジャ３の軸部３ａが摺動接触する摺動導通部Ｄとして単に１つの部位が
存在し、検査時の抵抗のばらつきが最小限に収まる。
【００８１】
図９に本発明の第８の実施態様に係るマイクロコンタクタプローブ２６を
15 示す。このプローブ２６は、信号をリニアに流せる筒状部１５を上側プランジ
ャ４とコイルばね２とに設けた点で他の実施態様と異なる。
【図９】
【００８２】
より詳細には、プローブ２６は、その筒状部１５が、プランジャ４の延長部
である筒状部分１５ｂとコイルばね２の一方の側に形成した密巻螺旋部１５
ａとの２つの筒状部で構成される。下側プランジャ３は、軸部３ａを、上記筒
5 状部分１５ｂへ摺動可能に挿入する。
【００８３】
前記筒状部分１５ｂに軸部３ａを挿入して、対になったプランジャ３およ
び４を軸方向移動可能に整列する。コイルばね２は、軸部３ａおよび筒状部分
１５ｂの外側に配置する。密巻螺旋部１５ａは、筒状部分１５ｂへ摺動可能に
10 接触させ、その一端をプランジャ３に結合する。この螺旋部１５ａの他端をプ
ランジャ４に結合する。こうして、プランジャ対３および４が互いに連結され
る。
【００８４】
より詳細には、プランジャ３にフランジ部３ｂを設け、その一方の側に針頭
15 部３ｃを形成し、他方の側にボス部３ｄを介して長い軸部３ａを一体形成す
る。プランジャ４にもフランジ部４ｂを設け、その一方の側に針頭部４ｃを形
成し、他方の側にボス部４ｄを一体形成する。
【００８５】
筒状部分１５ｂは、ボス部４ｄまで延ばし、プランジャ４と一体に形成す
20 る。筒状部分１５ｂの中空部４ｅを、針頭部４ｃ側で針頭部４ｃの中間まで延
ばし、針頭部４ｃの端部に形成したメッキ用の孔４ｆを介して外部と連通させ
る。メッキ用孔４ｆは、メッキ液の流れを良くするためのもので、中空部４ｅ
壁面でのメッキを安定にし、軸部３ａの摺動抵抗を最小限に抑える。
【００８６】
25 コイルばね２は、その一方の側に密巻螺旋部１５ａを有し、他方の側に粗巻
螺旋部をを備える。密巻螺旋部１５ａでは、軸部３ａをコイルに挿入しボス部
３ｄをコイルの端部に圧入して下側プランジャ３を固定する。粗巻螺旋部の一
端で筒状部分１５をコイル内の軸部３ａの外側に挿入してプランジャ４を接
合し、コイル端部をボス部４ｄに密巻きする。
5 【００８７】
このようにプランジャアッシを構成し、第１の実施態様（マイクロコンタク
タプローブ１）における如く、プランジャ４をホルダ７の支持孔９に位置させ、
プランジャ３をホルダ６の支持孔８に位置させて、そのホルダ７の上面に配線
プレート１０を積層することにより組付を行う。
10 【００８８】
この組付により、マイクロコンタクタプローブ２６は、図９に示す待機状態
（プランジャ３が検査対象１２に接触してない状態）に置かれ、プランジャ４
の針頭部４ｃがリード導体１１のパッド１１ａに弾接し、プランジャ３の針頭
部３ｃが抜止めされた状態で外部へ突出する。この状態における筒状部分１５
15 ｂと密巻螺旋部１５ａとは待機状態にあってそれらの端部が互いに一部重な
り合い、それぞれ検査時にプランジャ３を押し戻せる長さを有する。筒状部分
１５ｂと軸部３ａとは、待機状態で軸部３ａを筒状部分１５ｂへ適宜挿入で
き、しかも検査時にプランジャ３の押し戻しが可能なる長さを有する。
【００８９】
20 このように構成したマイクロコンタクタプローブ２６では、対になったプ
ランジャ３および４に、可撓性のあるコイルばね２から、中心軸に直交する方
向で横向きの接触圧がかかる。この横向きの接触圧は、軸部３ａが筒状部分１
５ｂ（筒状部１５）に接触する摺動導通部Ｑによるプランジャ対３および４間
の連結により形成される第１の導通経路Ｌ６と、筒状部分１５ｂが密巻螺旋部
25 １５ａ（筒状部１５）に接触する摺動導通部Ｒによるプランジャ対３および４
間の密巻螺旋部１５ａを介した連結により形成される第２の導通経路Ｌ７と
の２つの導通経路をもたらす。
【００９０】
より詳細には、このプローブ２６での検査における信号は、図９に実線の矢
5 印で示すように、第１の導通経路Ｌ６と第２の導通経路Ｌ７とに沿って伝わ
る。第１の導通経路Ｌ６は、検査対象１２から下側プランジャ３へと延び、そ
の軸部３ａを通って筒状部分１５ｂおよび上側プランジャ４に至り、このプラ
ンジャ４を通ってリード導体１１（パッド１１ａ）に至る。第２導通経路Ｌ７
は、上記対象１２から下側プランジャ３へと延び、そのボス部３ｄから密巻螺
10 旋部１５ａおよび筒状部分１５ｂを介して上側プランジャ４に至り、この上側
プランジャ４を通ってリード導体１１（パッド１１ａ）に至る。
【００９１】
これら第１および第２導通経路Ｌ６およびＬ７は、コイルばね２の粗巻螺
旋部を含まずに構成され、従ってコイルに高周波信号が流れることによるイン
15 ダクタンスおよび抵抗の増加を防止でき、インダクタンスおよび抵抗が低くな
る。
【００９２】
密巻螺旋部１５ａはプランジャ３にしっかり固定され、このプランジャ３
と一体導通状態にあり、その接続部Ｐが摺動導通部でなく固定導通部をなす。
20 筒状部分１５ｂはプランジャ４の延長部である。従って、上記螺旋部１５ａお
よび筒状部分１５ｂを介し一体で連続した導通経路が形成される。
【００９３】
この状態で、第１の導通経路Ｌ６には、プランジャ３の軸部３ａが筒状部分
１５ｂと摺接する摺動導通部Ｑとして単に１つの部位が存在する。第２の導通
25 経路Ｌ７には、筒状部分１５ｂが密巻螺旋部１５ａと摺接する摺動導通部Ｒと
して単に１つの部位が存在する。第１および第２の導通経路Ｌ６およびＬ７
は、いずれも単一の摺動導通部を有し、検査時の抵抗のばらつきが最小限に収
まる。
【００９４】
5 従って、第１および第２の導通経路Ｌ６およびＬ７を備えるマイクロコン
タクタプローブ２６は、単一の導通経路を備える以上の実施態様に較べ、低抵
抗で、検査信号の導通がより安定する。
【０１０５】
以上の実施態様から分かるように、本発明の第１の実施様式として開示さ
10 れる導電性接触子（マイクロコンタクタプローブ）は、主コイルばねにより相
反する方向に付勢された一対の導電性針状体（プランジャ）を、絶縁体からな
るホルダに設けられた支持孔に往復動を許容して収容すると共に、一つの導電
性針状体が外方へ突出すると共に抜止めされて取り付けられており、かつ他の
導電性針状体が、前記ホルダに積層される配線プレートに電気的に接続して取
15 り付けられている導電性接触子であって、前記導電性針状体および主コイルば
ねの少なくとも一方に、電気信号の直線的な流れを可能とする筒状部が形成さ
れており、前記一対の導電性針状体の内、一方の導電性針状体が前記筒状部に
対して一体的な電気的導通状態になっており、他方の導電性針状体が前記筒状
部に対して摺動可能に電気的に接続されている。
20 【０１０６】
この第１の実施様式では、筒状部は、主コイルばねにのみ形成される場合
と、導電性針状体にのみ形成される場合と、あるいは主コイルばねおよび導電
性針状体の両方に形成される場合の３通りがある。いずれの場合でも、主コイ
ルばねにより相反する方向に付勢される一対の導電性針状体は、筒状部を介し
25 て電気的に接続されるので、コイルばねの粗巻き部にコイル状に高周波信号が
流れることによるインダクタンスおよび抵抗の増大が生じないため、低インダ
クタンス化および低抵抗化を図ることができる。
【０１０７】
また、筒状部は、一方の導電性針状体に対して一体的な電気的導通状態にな
5 っているので、この両者の接続部位は、摺動導通部とはならないで、固定導通
部となっている。これにより一対の導電性針状体と筒状部とで構成される導通
経路には、他方の導電性針状体が筒状部に摺動可能に当接する、１箇所の摺動
導通部のみが発生することになり、これにより検査時の抵抗値のばらつきを極
力抑制することができる。
10 【０１０８】
なお、
「導電性針状体が筒状部に対して一体的な電気的導通状態になってい
る」とは、筒状部が主コイルばねに形成される場合は、筒状部を導電性針状体
に、圧入、半田付け、あるいはロー付け等の手段で一体的に結合することを意
味し、あるいは筒状部が導電性針状体に形成される場合は、筒状部を導電性針
15 状体に、圧入、半田付け、あるいはロー付け等の手段で一体的に結合すること、
および筒状部を導電性針状体に一体形成することを意味する。
【０１２２】
この第８の実施様式によれば、主コイルばねにより付勢されて被検査体に
当接する導電性針状体は、密着巻き部からなる筒状部を介して配線プレートに
20 電気的に接続するので、コイルばねの粗巻き部にコイル状に高周波信号が流れ
ることによるインダクタンスおよび抵抗の増大が生じないため、低インダクタ
ンス化および低抵抗化を図ることができる。
【０１２３】
このときの導通経路には、被検査体に当接する導電性針状体の軸部が、密着
25 巻き部からなる筒状部に摺動可能に当接することにより、１箇所の摺動導通部
のみが発生することになり、これにより検査時の抵抗値のばらつきを極力抑制
することができる。
【０１２４】
また、配線プレート側の導電性針状体を不要としたので、その分、部品点数
5 の削減および導通経路を短くできる。
【０１２５】
また、導電性針状体は、被検査体に対しては大きな接触圧で弾接すると共
に、密着巻き部からなる筒状部は、配線プレートに対しては小さな接触圧で弾
接してそれぞれ電気的に接続することができる。
10 【０１３５】
以上、特定の用語により本発明の実施例を説明してきたが、そうした説明は
例示的なものであり、以下の請求の範囲を逸脱することなく変更および更改が
可能なこと理解できよう。
【０１３６】
15 以上の説明から分かるように、本発明は、配線プレートの導電部が銅箔を金
メッキして構成する等、小さい接触圧でも良好な接触状態が得られることに鑑
みてなされたものであり、従って、被検査体に接触する導電性針状体が、配線
プレートに電気的に接続されている導電性針状体よりも大きいばね荷重で付
勢されるようにして、以て検査精度の低下を伴うことなく、配線プレートの寿
20 命の向上を可能とした導電性接触子を提供することも目的としている。
【０１３７】
【発明の効果】
以上の説明から分かるように、第１の実施様式によれば、
（１）コイルばねにより相反する方向に付勢される一対のプランジャ（導電
25 性針状体）は、筒状部を介して電気的に接続されるので、コイルばねの密巻螺
旋部にコイル状に高周波信号が流れることによるインダクタンスおよび抵抗
の増大が生じないため、低インダクタンス化および低抵抗化を図ることができ
ること、および
（２）一方のプランジャに対して一体的な電気的導通状態になっているの
5 で、この両者の接続部位は、摺動導通部とはならないで、固定導通部となって
いる。これにより一対のプランジャと筒部とで構成される導通経路には、他方
のプランジャが筒部に摺動可能に当接する、１箇所の摺動導通部のみが発生す
ることになり、これにより検査時の抵抗値のばらつきを極力抑制することがで
きることにより、インダクタンスおよび抵抗の増大を伴うことなく、導通経路
10 中の摺動導通部の発生個数を減少させて、以て検査精度の向上を可能としたマ
イクロコンタクタプローブ（導電性接触子）を提供することができる。
【０１４４】
第８の実施様式によれば、第１の実施様式の効果に加えて、配線プレート側
のプランジャを不要としたので、その分、部品点数の削減および導通経路を短
15 くでき、これにより組付性および高周波特性の向上を図ることができる。
【０１４５】
また、プランジャは、検査対象に対しては大きな接触圧で弾接すると共に、
密巻螺旋部からなる筒部は、配線プレートに対しては小さな接触圧で弾接して
それぞれ電気的に接続することができ、これにより配線プレート側の損傷を抑
20 制することができると共に、検査対象に対しては安定した電気的接続状態が得
られ、ひいては配線プレートの寿命を向上させることができる。
【０１５０】
本発明は、マイクロコンタクタプローブ（導電性接触子）および電気プロー
ブユニットに適用して、インダクタンスおよび抵抗の増大を伴うことなく、導
25 通経路中の摺動導通部の数を減少させ、検査精度を向上させることができる。
⑵ 本件発明の意義
電気プローブユニットに用いられるマイクロコンタクタプローブとしては、
プランジャの突出端を被検体に弾発的に接触させて接触対象と導通させる必
要があるところ、従来技術として、一対のプランジャをコイルばねで接続させ
5 ることにより、コイルばねの弾性によって片方のプランジャが被検体に弾発的
に接触するとともに、被検体、プランジャ、コイルばね、他方のプランジャと
いう導通経路も同時に形成できる構成が開示されていた。もっとも、単純に２
つのプローブを最初から最後まで疎に巻かれたコイルばねで導通させると、コ
イルばねにプランジャの弾性の確保と導通経路という２つの役割を同時に担
10 わせることができるものの、コイルばねに電流が流れるときに、電流が螺旋状
に流れてしまい、抵抗及びインダクタンスの増大を招いてしまう結果になる。
そこで、特開平１０－２３９３４９号に記載された発明（以下「本件先行発明」
という。）では、コイルばねのうちその中央を、互いに接触するように密に巻
き、この部分を電流が流れるときには、電流がコイルばねに沿って螺旋状に流
15 れるのではなく、軸線方向に沿って直線的に流れるようにした上で、両プラン
ジャはコイルばねが接触状態になっている部分と接触するようにすることに
よって（前記⑴の図１３参照）、コイルばねによる弾性と導通経路を確保しつ
つ、電流がコイルばねを螺旋状に流れることによる弊害を防止することができ
るようになっている（【０００２】～【０００５】。
）
20 本件明細書には、本件先行発明について両プランジャがコイルばねの密に巻
かれた部分と接触して導通を確保しているものの、２つの「摺動導通部」が形
成されていることによる抵抗の分散が検査の精度を狭めてしまうという課題
があるとした上で（【０００７】、本件発明では、本件発明の構成をとること
）
で、インダクタンス及び抵抗の増大を伴うことなく、導通経路中の摺動導通部
25 の数を減少させて、検査精度を向上可能なコンタクタクタプローブを提供する
ことを目的とし 【０００９】、
（ ） その解決方法として、導通経路で「摺動可能」
に接触する部分を一つのみにし、その余の各導体間の接触部分を「固定された」
ものとしたことが記載されている。
２ 争点１－１（被告製品の「コイルばねは、摺動導通部」を有する「筒状の密巻
5 き部を有し、「前記摺動導通部は、電気的に導通可能に前記第１及び第２のプラ
」
ンジャの一方に摺動可能に接触し」ているか（構成要件１Ｆ，１Ｇ、２１Ｅ、２
１Ｆ））について
本件発明２１は、２つのプランジャとこれらを逆方向に付勢するコイルば
ねなどによって構成される導電アッセンブリ（以下、本件発明２１に係る導
10 電アッセンブリを「本件アッセンブリ」という。）に関する発明であり、本件
発明１は本件アッセンブリが組み込まれたマイクロコンタクタプローブに
関する発明である。
本件アッセンブリのコイルばねは、「筒状の密巻き部」を有するとともに
（構成要件１Ｆ、２１Ｅ）「筒状の密巻き部」は、
、 「摺動導通部」を有し（構
15 成要件１Ｆ、２１Ｅ）「摺動導通部」は、２つのプランジャの一方に「摺動可
、
能に接触し」ているとされている（構成要件１Ｇ、２１Ｆ）。
⑵ア 「密巻き部」の意義について検討すると、「密」は、文言上「すきまがな
いこと」を意味する（大辞泉第２版。乙３１）。そして、前記１⑵で認定し
たとおり、本件先行発明は、マイクロコンタクタプローブに必要とされる２
20 つのプランジャの導通と被検体への弾発的接触の２つの目的を同時に達成
するために２つのプランジャをコイルばねで接続する構成が考えられると
ころ、最初から最後まで疎に巻かれたコイルばねを用いると、電流が螺旋状
に流れて抵抗及びインダクタンスが増大してしまうのに対し、コイルばね
の中央部の密巻螺旋部において電流が軸線方向に沿って直線的に流れ得る
25 ようにし、２つのプランジャとコイルばねの接触個所をこの部分に限定す
ることによって抵抗及びインダクタンスの増大を生じさせることなく、被
検体への弾発的接触と２つのプランジャの導通を実現したものである。そ
して、本件発明は、本件先行発明ではコイルばねの「密巻螺旋部」と２つの
プランジャとの間それぞれに合計２つの「摺動導通部」が形成されているこ
5 とを課題として、これを解決する発明であるから、本件発明の「密巻き部」
は、本件先行発明における「密巻螺旋部」と同様、コイルばねに流れた電流
が螺旋状ではなく軸線方向に沿って直線的に流れるようになっているもの
であると解され、このように解することは、構成要件１Ｆ、２１Ｅの「筒状」
という文言にも沿うものといえる。
10 また、本件発明においては、本件アッセンブリが２つのプランジャとコイ
ルばねからなると記載され（構成要件１Ｃ～１Ｅ、２１Ｄ～２１Ｄ）、その
コイルばねが「筒状の密巻き部」を有しているとされている。コイルばねは、
圧縮圧力により疎に巻かれていた部分も接触状態になることがあるもので
あるところ、「筒状の密巻き部」を有するコイルばねが本件アッセンブリの
15 構成要素とされていることからは、そのコイルばねは、本件アッセンブリに
おいて、少なくとも圧縮圧力を加える前から「密巻き部」を有するものであ
り、その「密巻き部」は圧縮圧力を加える前から軸線方向において接触状態
にある部分をいうと理解するのが自然なものである。そして、特許請求の範
囲にも本件明細書にも、上記のような自然な理解と異なり、疎に巻かれてい
20 てアッセンブリにおいて圧縮圧力を加えた場合に初めて接触状態になる部
分について、本件発明のコイルばねの「密巻き部」ということを示唆する記
載もないし、そのような図面もない。
イ 「摺動導通部」の意義について検討すると、摺動は、文言上「接触してす
り動く」の意義を有する（特許技術用語集第３版。乙３６） また、
。 導通は、
25 文言上「電流が通じていること」の意義を有する（広辞苑第７版）。したが
って、
「摺動導通部」とは、接触したまますり動いて電気が通じることが可
能な部位の意義であると理解できる。
そして、摺動（すり動く）とは、一定のストローク区間においてその接触
が続くことを前提としているものであるから、その文言から、摺動導通部」
「
5 とは、プランジャと「密巻き部」が接触しながら動き、その間、連続して電
気的に導通していること、すなわち、本件アッセンブリが縮む過程の一点で
はなく、少なくとも一定の区間において、連続して電気的に導通しているこ
とを意味すると理解できる。
そして、特許請求の範囲の記載及び本件明細書において、「摺動導通部」
10 が形成される時点について、上記のような文言に反し、一定のストローク区
間のうちのある点において導通していればいいことを示唆する記載は何ら
ない。
また、本件発明は、本件先行発明では「摺動導通部」という不安定な導通
経路が２つあるのに対し、検査精度の向上のため、プランジャとコイルばね
15 間の導通経路をできる限り安定させることをその趣旨とするものといえる。
そうすると、「密巻き部」との「摺動導通」について、一定のストローク区
間において接触が続き連続して導通するのではなく、特定の部位、タイミン
グでのみ接触して導通経路が形成されれば足りるなど、ただでさえ固定導通
よりも不安定な摺動導通の通常の文言上の意義から離れて、さらに不安定な
20 限定的な接触で足りるとすることは、本件明細書から理解できる本件発明の
趣旨に反するものであるといえる。
そして、２つのプランジャからなる本件アッセンブリはソケットベースに
はめ込まれてマイクロコンタクタプローブを形成した上で用いられること
が前提になっているものの、被検体に適用されるにあたってどのストローク
25 区間によって用いられるかは一義的に定まる性質のものではない（弁論の全
趣旨）。
これらを考慮すると、本件アッセンブリは、少なくともソケットベースに
はめ込まれ、検査前の待機状態になった後は、ストローク中も含めて連続し
て電気的に導通している摺動導通部が形成されていることを前提としてい
5 ると解するのが相当である。
ウ この点について、原告は、本件発明には、本件発明が被検体を検査すると
きの抵抗のばらつきを低下させることに技術的意義があるところ、本件アッ
センブリをはめ込まれたマイクロコンタクタプローブは、現実に被検体を検
査するために用いられるときには特定のストロークで固定され、その上で電
10 流を流すのであるから、特定のストローク１点で、それもストロークを停止
した時に「密巻き部」が形成されている部分にプランジャが接触して導通す
れば、被検体を検査するときの抵抗のばらつきが低下するため、 密巻き部」
「
に摺動導通していると解するべきであると主張する。
しかし、被検体と接触して検査する１点において「密巻き部」がプランジ
15 ャと接触すれば足りると解すると、導電アッセンブリがソケットベースには
め込まれて検査前の待機状態になった後、フルストロークするまでのいずれ
か１点において「密巻き部」とプランジャが接触すれば足りると解釈するこ
とになるが、このような形態は「摺動」導通部という文言に反する。また、
前記のとおり、一般にこの種の導電アッセンブリは特定のストロークでのみ
20 用いることが想定されているわけではないところ、原告の解釈では、特定の
部位、タイミングでのみ接触して導通経路が形成されれば足りることとなる
が、これはできるだけ不安定な導通経路を排除しようとした本件発明の趣旨
に反するものである。
原告は、被告が、本件特許に係る無効審判においては、「密巻き部」の範
25 囲について、コイルばねが収縮していない状態において決定されるものでは
ないと主張していたことを理由にこれに反する主張は許されないと主張す
るが、被告がそのような趣旨の主張をしたことを認めるに足りる証拠はなく、
仮にそれが認められたとして、本件訴訟で無効審判におけるものと異なる解
釈を主張することが許されないとすべき事情もうかがえない。
5 ⑵ 以上によれば、本件アッセンブリのプランジャの一方が「密巻き部」の「摺
動導通部」に「摺動可能に接触する」とは、少なくとも本件アッセンブリがソ
ケットベースにセットされて検査前の待機状態になってからフルストローク
に至るまでの間、連続して、コイルばねが圧縮圧力を加える前から軸線方向に
おいて接触状態であった部位と第１または第２のプランジャに接触して導通
10 可能になっていることをいうものといえる。
以上を前提に、まず、被告製品２について、「コイルばねは、摺動導通部」
を有する「筒状の密巻き部を有し、「前記摺動導通部は、電気的に導通可能に
」
前記第１及び第２のプランジャの一方に摺動可能に接触し」ているか（構成要
件２１Ｅ、２１Ｆ）を検討する。
15 原告が、第２プランジャが「密巻き部」に接触していると主張する根拠は、
本件シミュレーションの結果、摺動痕及びＸ線写真である。
ア 本件シミュレーション結果について
本件シミュレーションは、原告が被告製品２であると主張する本件サンプ
ルを分解して計測し、その結果に基づいてプランジャとコイルばねからなる
20 導電アッセンブリをシミュレーションソフトウェア上で再現し、同ソフトウ
ェア上で導電アッセンブリをストロークさせてストローク量に応じたコイ
ルばねと第２プランジャの距離（本件距離）をシミュレートしたものである
（弁論の全趣旨） 本件シミュレーションでは、
。 シミュレーション開始時（ス
トロークが０の状態）においてコイルばねが接触状態にあった部位（本件密
25 部分）は、１３巻目までとして設定されている（なお、被告は被告製品２の
本件密部分が１３巻目までであることを否認している。。
） また、弁論の全趣
旨によれば、被告製品２は、検査前の待機状態ではソケットベースに７００
㎛ストロークされた状態でセットされることが想定されていると認められ
る。仮に原告が主張するように被告製品２のコイルばねの１３巻目までが圧
5 縮圧力を加えない状態において接触状態にあった部位であったとしても、本
件シミュレーションによれば、７００㎛以降のストローク区間においても、
０巻目から１３巻目までの間で本件距離が０にならないストローク点が相
当数存在する（乙４６）。そうすると、本件シミュレーションについて、被
告製品２のコイルばねの１３巻目までが圧縮圧力を加えない状態で接触状
10 態にあったのか否かや本件突出部の仕様が本件シミュレーションに正確に
再現されているか否かといった問題について検討するまでもなく、本件シミ
ュレーションからは、被告製品２がソケットベースにセットされて検査前の
待機状態になってからフルストロークまでの間、連続して、コイルばねが圧
縮圧力を加えない状態で軸線方向において接触状態であった部位と第２プ
15 ランジャが接触して導通可能になっていたと認めることはできない。
イ 摺動痕について
甲１２号証によれば、原告が本件サンプルを用いて１０万回程度ストロー
クをさせたところ、実験終了後、第２プランジャの先端から６００㎛の位置
にかけて傷跡がついていたことが認められる。
20 しかし、被告製品２は、第１プランジャとコイルばねの軸線が一致し、ス
トローク中も一切たわまないことを前提にすると、第２プランジャとコイル
ばねの間に隙間が生じてストロークの量にかかわらず接触しない設計にな
っていることが認められる（乙３）。そして、コイルばねの構造上、本件疎
部分の方がたわみやすいことに照らせば、原告が指摘する６００㎛の位置ま
25 でに生じた傷も、本件密部分ではなく、本件疎部分によって生じた可能性を
排除できない。そうすると、仮に、原告が行った実験の開始前には原告が指
摘する傷がなく、また、同実験において行われたストローク量が、本件密部
分が第２プランジャの先端から６００㎛の位置まで達するものであったと
しても、この傷が本件密部分との接触によって生じたものであると認めるに
5 足りる証拠はない。
なお、仮にこれが本件密部分によって生じた傷であったとしても、この結
果は、ストロークの過程で本件密部分と第２プランジャが接触したストロー
ク点が存在したことを示すにすぎず、ソケットケースに収められて検査前の
待機状態になって以降、連続して接触していたことを示す証拠であるとはい
10 えない。
ウ Ｘ線写真
原告は、甲２４号証のＸ線写真をもって本件密部分と第２プランジャが接
触していることが理解できると主張するが、同写真は不鮮明であり、この写
真をもって接触の有無は認定できない。
15 そうすると、本件シミュレーション、原告が実験によって生じたと主張する
摺動痕及びＸ線写真のいずれをもってしても、本件サンプルがソケットベー
スにセットされて検査前の待機状態になってからフルストロークまでの間、
第２プランジャが、連続して、コイルばねが圧縮圧力を加える前から軸線方
向において接触状態であった部位に接触して導通可能になっていたとは認め
20 られず、原告が主張するその他の事実を考慮してもこれを認めるに足りない。
よって、本件サンプルが被告製品２であるか否かについて判断するまでもな
く、被告製品２について、
「密巻き部」の「摺動導通部」が一方のプランジャ
と「摺動可能に接触」すると認めるに足りる証拠はないから、被告製品２は、
少なくとも構成要件１Ｆ、１Ｇを充足するとは認められない。
25 被告製品１は、被告製品２を組み合わせたものであるから、同様に、構成要件
２１Ｅ、２１Ｆを充足するとは認められない。
第４ 結論
以上のとおりであって、被告製品はいずれも本件特許権に係る発明の技術的
範囲に属するとはいえないから、その余の争点について判断するまでもなく、原
5 告の請求には理由がない。よって、主文のとおり判決する。
東京地方裁判所民事第４６部
裁判長裁判官 柴 田 義 明
裁判官 佐 伯 良 子
15 裁判官 仲 田 憲 史