平成18(行ケ)10259審決取消請求事件

平成18年12月25日言渡
平成18年(行ケ)第10259号 審決取消請求事件
口頭弁論終結日 平成18年12月18日
判 決
原 告 コーニンクレッカ フィリップス
同 エレクトロニクス エヌ ヴィ
訴訟代理人弁理士 津 軽 進
同 宮 崎 昭 彦
同 笛 田 秀 仙
被 告 特 許 庁 長 官
中 嶋 誠
指 定 代 理 人 田 口 英 雄
同 佐 藤 敬 介
同 立 川 功
同 内 山 進
主 文
１ 原告の請求を棄却する。
２ 訴訟費用は原告の負担とする。
３ この判決に対する上告及び上告受理申立てのための付加期間を30日
と定める。
事 実 及 び 理 由
第１ 請求
特許庁が不服2003−14578号事件について平成18年１月17日にした審決を取
り消す。
第２ 事案の概要
本件は，後記特許の出願人である原告が，拒絶査定を受けたので，これを不服
として審判請求をしたところ，特許庁が同請求不成立の審決をしたため，その取
消しを求めた事案である。
第３ 当事者の主張
１ 請求原因
(1）特許庁における手続の経緯
原告は，名称を「Ｘ線検査装置」とする発明につき，平成６年３月28日
（パリ条約による優先権主張1993年〔平成５年〕３月30日，オランダ国）に
特許出願（特願平６−82506号，以下「本件出願」という。甲１）をした。
その後原告は，平成13年３月28日に手続補正（第１次補正，甲４）を，平成
15年３月18日に手続補正（第２次補正。請求項の数15。甲２）をしたが，拒
絶査定を受けたので，不服の審判請求をした。
特許庁は，同請求を不服2003−14578号事件として審理した上，平成18年
１月17日，「本件審判の請求は，成り立たない。」との審決をし，その謄本
は平成18年１月31日原告に送達された。なお，出訴期間として90日が附加さ
れた。
(2）発明の内容
第２次補正により補正された特許請求の範囲に記載された請求項の数は前
記のとおり15であるが，そのうち請求項１は，下記のとおりである（甲２。
以下，ここに記載された発明を「本願発明」という。）。
記
【請求項１】
被検査体に照射することによりＸ線画像を生成するＸ線源と，
前記Ｘ線画像を可視画像に変換する放射線変換手段を備えた画像化部と，
前記可視画像の一部分のサブ画像を基本電子サブ画像に変換する複数の画
像センサと，
前記基本電子サブ画像から再合成電子画像を生成する画像処理手段と，を
有するＸ線検査装置であって，
前記画像処理手段は，それぞれの基本電子サブ画像にそれぞれ幾何学的変
換処理を行うことにより変換電子サブ画像を生成する変換手段を含み，
前記変換手段は，それぞれの基本電子サブ画像の画素アドレスが割り当て
られる，それぞれの変換電子サブ画像の画素に対する画素値を決定する画
素値補間手段を含むことを特徴とするＸ線検査装置。
(3）審決の内容
ア 審決の内容は，別添審決写しのとおりである。
その理由の要点は，本願発明は，その出願前に頒布された下記引用例１
∼３に基づき当業者が容易に発明をすることができたから，特許法29条２
項により特許を受けることができない，等としたものである。
記
引用例１：米国特許第4503460号明細書（発行日1985年[昭和60年]３月５
日。甲５）
引用例２：特開平５−56251号公報（甲６）
引用例３：特開平１−228069号公報（甲７）
イ 上記判断をするに当たり，審決は，引用例１に記載された発明（以下
「引用発明１」という。）を次のとおり認定した上，本願発明との一致点
及び相違点を，次のとおりとした。
（引用発明１）
「Ｘ線管１を含むＸ線診断装置であって，Ｘ線管１はＸ線発生器２によ
つて動作し，Ｘ線管１からの照射ビームは患部３を通り，高電圧発生
器５に接続された映像増倍装置４の入力蛍光面上にＸ線像を形成し，
複数のレンズ６，８から成る光学結合装置により，映像増倍装置４の
出力像は半導体イメージセンサ７，９に伝達され，その際，レンズ
６，８は，Ｘ線映像増倍装置の出力蛍光面の各々の区域の像がそれぞ
れのイメージセンサ上に映されるように配置され，結果的に出力蛍光
面全体が走査されるが，この半導体イメージセンサは例えばセンサエ
レメントとしてフオトダイオードまたはＣＣＤイメージコンバータの
マトリクスで構成され，イメージセンサ７，９の出力は回路10へ供給
され，回路10は，イメージセンサの出力信号を映像信号に変換し，イ
メージセンサの位置誤差を検知して排除し，映像信号はビデオアンプ
11で増幅され，モニタ12に示されるＸ線診断装置」
（一致点）
「被検査体に照射することによりＸ線画像を生成するＸ線源と，前記Ｘ
線画像を可視画像に変換する放射線変換手段を備えた画像化部と，前
記可視画像の一部分のサブ画像を基本電子サブ画像に変換する複数の
画像センサと，前記基本電子サブ画像から再合成電子画像を生成する
画像処理手段と，を有するＸ線検査装置。」である点
（相違点１）
本願発明は，「前記画像処理手段は，それぞれの基本電子サブ画像に
それぞれ幾何学的変換処理を行うことにより変換電子サブ画像を生成
する変換手段を含み」という構成を備えるのに対して，引用発明１で
は，その構成が備えられていない点。
（相違点２）
本願発明は，「変換手段は，それぞれの基本電子サブ画像の画素アド
レスが割り当てられる，それぞれの変換電子サブ画像の画素に対する
画素値を決定する画素値補間手段を含む」構成を備えるのに対して，
引用発明１では，その構成が備えられていない点。
(4）審決の取消事由
しかしながら，審決は，以下のとおり，本願発明の認定を誤った結果，相
違点２についての判断を誤ったものであり，違法として取消しを免れない。
ア 本願発明の「変換手段」の意義
本願発明によるＸ線検査装置は，可視画像を，例えば，左上部分，右上
部分，左下部分及び右下部分といった複数の領域に分け，分けられたそれ
ぞれの領域の可視画像を，それぞれの領域の基本電子サブ画像として記録
する。各基本電子サブ画像間の配置方向のずれ及び光学歪によるずれを補
正するために，幾何学的変換処理を画像処理手段内の変換手段により実行
する。これらの変換後の変換電子サブ画像から，可視画像全体を表わす再
合成電子画像を作成する。
本願発明では，幾何学的変換処理が，各基本電子サブ画像間の配置方向
のずれを補正するだけでなく，非線形な光学歪についても補正できるよう
にした。具体的には，ピンクッション歪又は樽型歪のような非線形歪は，
基本電子サブ画像の画素アドレスに依存する幾何学的変換処理により補正
されるのである。例えば，基本電子サブ画像が他の基本電子サブ画像に対
して左にずれていて，当該基本電子サブ画像の光学歪が樽型歪だとする。
この場合，当該基本電子サブ画像を右に移動させるだけの幾何学的変換処
理では不十分である。樽型歪によるずれは，基本電子サブ画像の真ん中の
部分が上下の部分より，ずれが大きく膨らんでいるからである。単に基本
電子サブ画像全体を右に移動させるという配置方向のずれを補正するため
の幾何学的変換は，画素アドレスに依存していない。一方，非線形な光学
歪を補正するため，当該基本電子サブ画像内のどの画素アドレスをどれだ
け幾何学的変換処理しなければならないかを，それぞれの画素アドレス毎
に決める。このように，単に基本電子サブ画像全体のずれ補正のためだけ
でなく，各画素アドレス毎に割り当てられる樽型歪修正を含む幾何学的変
換処理により，ずれがなく，光学歪を補償した再合成電子画像が得られ
る。
このことは，本件明細書（甲２の全文補正明細書）の段落【0011】の
「前記変換手段が，各基本電子サブ画像の画素アドレスが割り当てられる，変換された
各電子サブ画像の画素に対し，画素値を決定する画素値補間手段を有している」 ，段落
【0027】の「本発明のＸ線検査装置の別の望ましい実施例が特徴とする点は，前記幾何
学的変換処理が，基本サブ画像の画素の画素アドレスに依存している点である。」 ，段
落【0028】の「レンズ系から成るような光学結合手段は，基本電子サブ画像に光学歪
を発生させることがある。このような歪は非線形である。つまり，基本電子サブ画像内
の画素位置は，変換された電子画像内の画素位置とは非線形の関係にある。このような，
ピンクッション歪又は樽型歪のような，非線形歪は，問題の画素アドレスに依存する幾
何学的変換処理を利用することにより補正される。特に，幾何学的変換処理が変換マト
リクスにより決定される場合には，必要とされる依存性は，画素アドレス値に依存する
マトリクス要素を利用することにより導入される。」，段落【0045】の 「レンズ９ａ
−ｄがその原因となる光学歪も又，画素アドレスの値，つまり変換されるサブ画像内の
位置，に対応する幾何学的変換処理を採用することにより補正することが可能である。
このことは，例えば，位置に依存するマトリクス要素を有する変換マトリクスを有する
幾何学的変換処理を使用することにより達成される。」， 段落【0048】の「レンズ系
により生じる歪は非線形特性を有している場合がある。このような歪は，変換される画
素アドレスに依存する幾何学的変換処理を使用することにより補正することができる。
このことは,例えば，変換される画素の座標に依存する，マトリックスＵ及びマトリック
ス要素とベクトル成分とを各々有しているベクトルｔを採用することにより得られ
る。」，という各記載から明らかである。
イ 審決の相違点２の判断の誤り
審決は，相違点２について，「幾何学変換処理において，変換された画素位置が
割り当てられた整数値の画素位置と一致しない場合，画素値補間手段を用いて，割り当
てられた整数値の画素位置での画素値を決定することは常套手段であり（特開平４−
88578号公報，特開平４−268975号公報，特開平５−73529号公報），引用発明１の画像処
理手段に，『それぞれの基本電子サブ画像にそれぞれ幾何学的変換処理を行うことによ
り変換電子サブ画像を生成する変換手段』を含むようにする際，該常套手段を含むよう
にすることは，当業者が，格別困難なくなし得たことである」（７頁第２段落） と判断
したが，上記アのとおりの本願発明の「変換手段」の意義を看過した判断
であって，誤りである。
審決が，相違点２についての発明が常とう手段であることを示す具体例
として例示した特開平４−88578号公報（甲８），特開平４−268975号公
報（甲９）及び特開平５−73529号公報（甲10）は，いずれも単に補間手
段を述べただけであり，それぞれの基本電子サブ画像の画素アドレスが割
り当てられて当該画素アドレスに基づいた幾何学的変換がなされることの
開示も示唆もない。よって，「それぞれの基本電子サブ画像の画素アドレ
スが割り当てられる，それぞれの変換電子サブ画像の画素に対する画素値
を決定する画素値補間手段」は，周知でない。
２ 請求原因に対する認否
請求原因(1)(2)(3)の各事実は認めるが，同(4)は争う。
３ 被告の反論
審決の判断には，原告主張の誤りはない。
(1）原告は，本願発明は，「基本電子サブ画像の画素アドレスに依存する」幾
何学的変換処理を行うことにより，「非線形な光学歪についても補正」する
ことを可能にしたものであると主張するが，本願発明（請求項１）には，こ
れらの旨の記載がなされていないことは明らかである。
また，本願発明の構成中，「前記変換手段は，それぞれの基本電子サブ画
像の画素アドレスが割り当てられる，それぞれの変換電子サブ画像の画素に
対する画素値を決定する画素値補間手段を含む」は，幾何学的変換一般にお
ける画素値補間手段のことを意味すると解されるのであって，原告が主張す
るように，「非線形な光学歪についても補正」するための幾何学的変換にお
ける画素値補間手段や，「基本電子サブ画像の画素アドレスに依存する」幾
何学的変換における画素値補間手段であると解釈することはできない。
むしろ，原告のいう本願発明の「変換手段」の意義なるものは，第２次補
正後の本件出願の【請求項10】「請求項９記載のＸ線検査装置であって，前
記幾何学的変換処理は，基本サブ画像の画素の画素アドレスに依存すること
を特徴とするＸ線検査装置。」に対応するものであり，本願発明（請求項
１）の特徴といえないのは明らかである。原告が援用する本件明細書（甲
２）の発明の詳細な説明の記載も，本願発明ではなく，請求項10に記載され
た発明をサポートするものであると解釈するのが自然であり，合理的であ
る。
したがって，本願発明における「変換手段」の意義についての原告の主張
は，誤っているというほかない。
(2）上記のとおり，本願発明では，幾何学的変換の方法について，「それぞれ
の基本電子サブ画像の画素アドレスが割り当てられて当該画素アドレスに基
づいた幾何学的変換がなされること」との限定はなされていない。原告は，
審決が例示した周知例(甲８∼10)には，上記のように限定された態様の幾何
学的変換がなされることの開示も示唆もないことを理由に，相違点２につい
ての審決の判断が誤りであると主張しているが，原告の主張は前提を欠き，
失当である。
第４ 当裁判所の判断
１ 請求原因(1)（特許庁における手続の経緯），(2)（発明の内容）及び(3)
（審決の内容）の各事実は，いずれも当事者間に争いがない。そこで，以下，
原告主張の取消事由に即して審決の適否について判断する。
２ 取消事由について
(1）本願発明の「変換手段」の意義につき
ア 原告は，本願発明における「変換手段」は，基本電子サブ画像の画素ア
ドレスに依存する幾何学的変換処理を意味するところ，審決は，この点に
つき発明の認定を誤った結果，相違点２の判断を誤ったものであると主張
するので，まず，本願発明における「変換手段」の意義について検討す
る。
特許の要件を審理する前提としてされる特許出願に係る発明の要旨の認
定は，特許請求の範囲の記載の技術的意義が一義的に明確に理解すること
ができないなどの特段の事情がない限り，特許請求の範囲の記載に基づい
てされるべきであると解される（最高裁平成３年３月８日第二小法廷判決
・民集45巻３号123頁参照）。かかる観点に立って検討すると，本願発明
の特許請求の範囲（請求項１）には，幾何学的変換処理について，「それ
ぞれの基本電子サブ画像にそれぞれ幾何学的変換処理を行うことにより変
換電子サブ画像を生成する」と記載されているにとどまり，幾何学的変換
処理の具体的方法については何らの限定がない。そうすると，本願発明に
おける幾何学的変換処理の方法は，原告が主張するような，非線形の光学
歪によるずれを補正するための「基本電子サブ画像の画素アドレスに依存
する幾何学的変換処理」に限定されるものではなく，そのほかに，計算式
を用いた計算による幾何学的変換処理をも含むことは明らかである。
したがって，審決が，「変換手段」の意義を，基本電子サブ画像の画素
アドレスに依存して幾何学的変換処理が行われることに限定して認定しな
かったことに，原告主張の誤りはない。
イ 原告は，本件明細書（甲２）の段落【0011】，【0027】，【0028】，
【0045】，【0048】等の記載によれば，本願発明の幾何学的変換処理の特
徴は，基本電子サブ画像の画素アドレスに依存する幾何学的変換処理を行
うことにある，と主張する。上記アのとおり，本願発明の要旨の認定は，
特許請求の範囲の記載に基づいて行うべきものではあるが，念のため，発
明の詳細な説明におけるこれらの記載を参酌しても，以下のとおり，原告
の主張は採用することができない。
(ｱ）まず，段落【0011】，【0027】，【0028】はいずれも 「本発明のＸ線検
査装置の別の望ましい実施例」 についての記載であるから，これらの段落の
記載をもって，本願発明全体の特徴であるとすることはできない。
(ｲ）次に，段落【0045】について，原告は，「レンズ９a−dがその原因となる光
学歪も又，画素アドレスの値，つまり変換されるサブ画像内の位置，に対応する幾何
学的変換処理を採用することにより補正することが可能である。この事は，例えば，
位置に依存するマトリックス要素を有する変換マトリックスを有する幾何学的変換処
理を使用する事により達成される。」 との記載を援用する。しかし，段落
【0045】には，同記載に先立って，「………各々のサブ画像には，数多くの処
理オペレーション，つまり，半導体画像センサとレンズ9a-dとの配置方向のずれを補
正する幾何学的変換処理，が行われる。」 との記載もあるから，段落【0045】
の記載を全体としてみれば，本願発明における幾何学的変換処理が，基
本電子サブ画像の画素アドレスに依存して行われるものに特定されてい
るということはできない。
(ｳ）さらに，段落【0048】については，原告は，同段落の後半の「レンズ系
により生じる歪は非線形特性を有している場合がある。このような歪は，変換される
画素アドレスに依存する幾何学的変換処理を使用することにより補正することができ
る。このことは,例えば，変換される画素の座標に依存する，マトリックスＵ及びマト
リックス要素とベクトル成分とを各々有しているベクトルｔを採用することにより得
られる。」との記載を援用し，当該記載は，「画素アドレスに依存する」
幾何学的変換処理について述べたものであると主張する。しかし，段落
【0048】の前半には，「………画像変換をアフィン変換により行うこともでき
る。この方法はメモリ容量が少なくて済むという特徴を有している。このアフィン
変換の特徴は，変換函数Ｆの形態が，Ｆ（ｘ１，ｘ２）＝Ｕ（ｘ１，ｘ２）＋ｔで
ある（Ｕはスケーリングを伴った回転を表し，ｔは並進ベクトルである）点であ
る。全ての座標を直接テーブルから得ることに代えて，各組の座標は専用の処理ユ
ニットにより計算される。」と記載されている。アフィン変換は，乙１文献
（1990年11月30日発行 社団法人テレビジョン学会編「テレビジョン画
像情報工学ハンドブック」オーム社）の408頁左欄15行∼23行の記載に
よれば，本件優先権主張日（1993年[平成５年]３月30日）において周知
の幾何学的変換処理の一例であって，計算式に基づき線形変換をするも
のであると認められるから，段落【0048】の記載を全体としてみれば，
本願発明における幾何学的変換処理が，基本電子サブ画像の画素アドレ
スに依存して行われるものに特定されているということはできない。
(ｴ）以上のとおり，明細書の詳細な説明の記載を参酌しても，本願発明に
おける「変換手段」を，画素アドレスに依存する幾何学的変換処理に限
定して解釈することはできない。
(2）相違点２の判断につき
ア 相違点２に係る本願発明の構成は，「変換手段は，それぞれの基本電子
サブ画像の画素アドレスが割り当てられる，それぞれの変換電子サブ画像
の画素に対する画素値を決定する画素値補間手段を含む」というものであ
る。この構成において，変換電子サブ画像の「画素」に，基本電子サブ画
像の「画素アドレス」が割り当てられるものとされているが，これは，幾
何学的変換処理において一般的に行われることであると認められ（乙１文
献の408頁(7･49)式参照），特段の技術的意義はない。そうすると，結
局，相違点２に係る本願発明の構成は，幾何学的変換処理の具体的方法を
特段限定することなく，本願発明が，幾何学的変換処理によって得られる
変換電子サブ画像の画素値を決定する画素値補間手段を有することをいっ
ているにすぎないこととなる。
原告は，「変換手段は，それぞれの基本電子サブ画像の画素アドレスが
割り当てられる，それぞれの変換電子サブ画像の画素に対する画素値を決
定する画素値補間手段を含む」とは，「それぞれの基本電子サブ画像の画
素アドレスが指定されて変換されたそれぞれの電子サブ画画素に対し，画
素値を決定する画素値補間手段を有している」と解釈すべきである，と主
張するが，特許請求の範囲の記載を離れた主張というほかなく，採用する
ことができない。
イ 原告は，審決が引用する周知例（甲８∼10）には，「それぞれの基本電
子サブ画像の画素アドレスが割り当てられて当該画素アドレスに基づいた
幾何学的変換がなされること」の開示も示唆もないから，審決が，これら
の周知例に示された常とう手段に基づいて，相違点２に係る本願発明の構
成を得ることは当業者（その発明の属する技術の分野における通常の知識
を有する者）が容易に想到し得たことであると認定したのは誤りである，
と主張する。しかし，原告の主張は，上記のとおり，本願発明の構成を特
許請求の範囲の記載に基づかずに認定すべきことを前提とするものであっ
て，採用することはできない。
そして，審決が周知技術の例として引用した甲８公報（特開平４−
88578号公報）には，幾何学的変換の一例であるアフィン変換に線形補間
補正を適用した画像処理技術が記載されており（２頁右下欄２行∼３頁左
上欄19行），甲９公報（特開平４−268975号公報）には，画像を拡大した
ときに補間処理を行う技術が記載されており（段落【0010】），甲10公報
（特開平５−73529号公報）には，画像を拡大縮小した場合に，画素位置
が整数値でなくなるので，双線形補間により，画素の値を補間補正するこ
とが記載されている（３頁右欄３行以下の「(b)拡大縮小率の指定」の段
の説明）。また，乙１文献にも，幾何学変換した場合に画素位置が整数画
素位置とはならないので濃度補間により補間補正をすることが記載されて
いる（408頁左欄「2.9.2濃度補間」以下の説明）。これらの記載からすれ
ば，画像に各種の幾何学的変換処理を行った場合に，変換後の画像の画素
値を決定するための画素値補間手段を設けるべきことが，当業者の技術常
識であったことは明らかである。
したがって，審決が，相違点２について，「幾何学変換処理において，変換さ
れた画素位置が割り当てられた整数値の画素位置と一致しない場合，画素値補間手段を
用いて，割り当てられた整数値の画素位置での画素値を決定することは常套手段」（７
頁６行∼９行）であることを前提に，相違点２に係る本願発明の構成も当業
者が容易に想到し得たものであると判断したことに，誤りはない。
３ 結語
以上の次第で，原告が取消事由として主張するところは理由がない。よっ
て，原告の本訴請求は理由がないからこれを棄却することとして，主文のとお
り判決する。
知的財産高等裁判所 第２部
裁判長裁判官 中 野 哲 弘
裁判官 岡 本 岳
裁判官 上 田 卓 哉