平成17(ネ)10115損害賠償請求控訴事件

平成１７年(ﾈ)第１０１１５号 損害賠償請求控訴事件（原審・大阪地方裁判所平
成１６年(ﾜ)第７２３９号）
平成１８年７月６日 口頭弁論終結
判 決
控 訴 人 グ ン ゼ 株 式 会 社
訴訟代理人弁護士 松 本 司
同 山 形 康 郎
同 緒 方 雅 子
被 控 訴 人 日本写真印刷株式会社
訴訟代理人弁護士 岡 田 春 夫
同 辻 淳 子
同 森 博 之
同 中 西 淳
同 長 谷 川 裕
補佐人弁理士 植 木 久 一
同 菅 河 忠 志
主 文
１ 本件控訴を棄却する。
２ 控訴費用は控訴人の負担とする。
事 実 及 び 理 由
第１ 当事者の求めた裁判
１ 控訴人
(1) 原判決を取り消す。
(2) 被控訴人は控訴人に対し，１０億円及びこれに対する平成１５年１２月６
日から支払済みまで年５分の割合による金員を支払え。
(3) 訴訟費用は第１，２審とも被控訴人の負担とする。
-1 -
２ 被控訴人
主文同旨
第２ 事案の概要
控訴人は，「タッチスイッチ及びタッチスイッチ付ディスプレイ」の考案に
係る実用新案権（昭和６３年１２月６日出願，登録番号第２１４８７１０号。
平成１５年１２月６日存続期間満了）を有していた。
控訴人は，被控訴人が遅くとも平成１２年８月１日から製造販売しているパ
ーム社製モバイル端末「Ｐａｌｍ ｍ１００」用タッチスイッチ及び遅くとも
平成１４年３月１日から製造販売している同社製モバイル端末「Ｐａｌｍ ｍ
１３０」用タッチスイッチ（以下，これらを併せて「被告物件」という。）が，
いずれも，上記実用新案権に係る明細書（以下「本件明細書」という。）の実
用新案登録請求の範囲の請求項１記載の考案（以下「本件考案」という。）の
技術的範囲に属し，被告物件の製造販売が上記実用新案権を侵害すると主張し
て，被控訴人に対し，被控訴人が平成１５年１２月６日までに被告物件５００
万台を製造販売したことによる損害（実用新案法２９条２項）１０億円及び遅
延損害金の支払を求めた。
原判決は，被告物件は，本件考案の技術的範囲に属しないとして，控訴人の
請求を棄却したため，控訴人は，これを不服として，控訴を提起した。
１ 当事者の主張は，次の２及び３のとおり付加するほか，原判決の「事実及び
理由」の「第２ 事案の概要」の「１ 前提となる事実」「２ 争点」のとお
りであるから，これを引用する。
当裁判所も，上記の「本件考案」，「本件明細書」等のほか，「構成要件Ｃ
②」，「１９８２年ＪＩＳ規格」などの語を，原判決の用法に従って用いる。
２ 控訴人の当審における主張の要点
(1) 原判決は，本件考案の構成要件Ｃ②において，基板の凹凸の平均粗さを
「０．５∼５０μｍ」としていることについて，１９８２年ＪＩＳ規格（甲
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７，乙１。以下「甲７」のみを表示する。）における「区間表示」すなわち，
同規格の「３．６．４ 十点平均粗さの区間表示」の項に，「十点平均粗さ
をある区間で指示する必要があるときは，その区間の上限（表示値の大きい
方）及び下限（表示値の小さい方）に相当する数値を表６から選んで併記す
る。」とされている表示と解し，「上限５０μｍＲｚ，下限０．５μｍＲｚ
として十点平均粗さの区間が指示されているもの，すなわち‥‥‥基準長さ
８ｍｍで測定した十点平均粗さが５０μｍ以下であり，基準長さ０．２５ｍ
ｍで測定した十点平均粗さが０．５μｍ以上であることを意味するものと解
すべきである」（原判決１４頁９行∼１３行）としている。
(2) しかし，１９８２年ＪＩＳ規格にいう「区間表示」とは，「‥‥‥その区
間の上限（表示値の大きい方）及び下限（表示値の小さい方）に相当する数
値を表６から選んで併記する」ものであり，「例１：‥‥‥上限６．３μｍ
Ｒｚ，下限１．６μｍＲｚのときの区間表示は（６．３∼１．６）Ｚと表示
する。‥‥‥」とされているのであるから（１９８２年ＪＩＳ規格「３．６．
４」の例１。甲７の７頁２０行∼２１行），仮に本件考案の構成要件Ｃ②の
Ｒｚ値が，１９８２年ＪＩＳ規格にいう「区間表示」を意味するのであれば，
その表記は「（５０∼０．５）Ｚ」とされるべきものであるが，請求項１に
は，「０．５∼５０μｍ」としか記載されていない。また，１９８２年ＪＩ
Ｓ規格では，上限と下限に相当する数値は「表６から選んで併記する」と説
明されているが，「表６」の数列中の数字には構成要件Ｃ②のＲｚ値の上限
値「５０」は存在するものの，下限値「０．５」は存在しない。「区間表
示」とは，「基準長さ」の指定を伴う表記方法であるから，上記した１９８
２年ＪＩＳ規格の規定する形式で表記されていなければならないが，本件考
案の請求項１の記載（表記）は「０．５∼５０μｍ」であるから，「区間表
示」でなく，原判決の認定が誤っていることは明白である。
(3) 本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」については，１９８２年
-3 -
ＪＩＳ規格及び同規格制定当時（昭和５７年）の技術常識に照らせば，対象
物の表面の相当長い断面曲線をとって，その断面曲線からＲｚ値を推定し，
該Ｒｚ値に対応する「基準長さ」を同規格の表５から決定し，その「基準長
さ」だけの部分を断面曲線から抜き取り，Ｒｚ値を算出したものが，「０．
５∼５０μｍ」の間にあることを意味するものである。
すなわち，１９８２年ＪＩＳ規格の解説には，基準長さの抜き取り方法に
関して，「‥‥‥実際の測定では測定される表面全体としての表面粗さを求
めたいわけである。このような場合は，まず断面曲線を基準長さより相当長
く，できれば表面の数箇所でとる。その断面曲線の中できずのような大きな
山又は谷があるとか，曲線が全体として曲がっているような部分は避けて，
平らな部分を目測によって計算結果としての表面粗さが大体の平均値になり
そうな部分から基準長さだけの部分を抜き取る。この断面曲線の抜き取り部
分で，Ｒｍａｘ又はＲｚを求める。特に，表面粗さが小さく出そうな所を抜
き取ってはならない。‥‥‥」（甲７の１３頁末行∼１４頁４行）と記載さ
れている。
また，Ｒｚ値を測定するに当たって，上記のような方法によるべきことは，
N 博士作成の「 JIS B 0601 -1982 表面十点平均粗さＲｚの測定に関する回
答」と題する書面（甲１６の１）及び T 博士作成の「JIS B 0601-1982 表面
粗さ測定方法に関して」と題する書面（甲１７）によっても，明らかである。
(4) 仮に本件考案の構成要件Ｃ②の「平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍ」
を，原判決のように１９８２年ＪＩＳ規格の「区間表示」と解すると，本件
考案の実施例１のＲｚを「５μｍ」とした基板（本件明細書（甲２）５欄４
２行∼４３行），実施例２のＲｚを「３μｍ」とした基板（同６欄１２行）
を使用した構成も，本件考案の実施例ではなくなる可能性が出てくることに
なる。すなわち，「０．５∼５０μｍ」が１９８２年ＪＩＳ規格の「区間表
示」であるなら，「例２：上限と下限の基準長さの標準値（表５）が異なる
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場合」（甲７の７頁）であるから，５０μｍに対応する基準長さ８ｍｍで測
定した結果が５０μｍ以下で，０．５μｍに対応する基準長さ０．２５ｍｍ
で測定した結果が０．５μｍ以上であることを意味するが，これは，基準長
さ８ｍｍと０．２５ｍｍの２個の「基準長さ」しか測定に使用しないことを
意味することでもある。換言すれば，「０．８μｍ超で６．３μｍ以下の範
囲内のＲｚ」に対応する基準長さ０．８ｍｍ，及び，「６．３μｍ超で２５
μｍ以下の範囲内のＲｚ」に対応する基準長さ２．５ｍｍは測定に使用しな
いことを意味する。
一方，Ｒｚとは「十点平均粗さは，断面曲線から基準長さだけ抜き取った
部分において，平均線に平行，かつ，断面曲線を横切らない直線から縦倍率
の方向に測定した最高から５番目までの山頂の標高の平均値と最深から５番
目までの谷底の標高の平均値との差の値をマイクロメートル（μｍ）で表し
たものをいう。」（甲７の５頁）のであるから，基準長さの範囲内で山谷が
５個以上ずつ存在しなければならない。例えば，本件明細書で実施例として
挙げられている「５μｍ」及び「３μｍ」は，「０．８μｍ超で６．３μｍ
以下」の範囲内のＲｚであるから，基準長さは０．８ｍｍを標準値としてい
るため，０．５μｍのＲｚ（０．８μｍ以下のＲｚ）の基準長さ０．２５ｍ
ｍ内には山谷は５個以上ずつ存在するとは限らず，Ｒｚは求められないこと
になってしまうのである。
すなわち，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」の記載を「区
間表示」と解釈することは「０．８μｍ超６．３μｍ以下」及び「６．３μ
ｍ超２５μｍ以下」のＲｚにつき，対応しない基準長さ０．２５ｍｍで測定
することを意味し，実施例１及び２で掲げられた「５μｍ」及び「３μｍ」
のＲｚも，本件考案の技術的範囲に属さないかのような結果を導くことにな
るのである。
(5) したがって，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」とは，１９
-5 -
８２年ＪＩＳ規格にいう区間表示ではなく，控訴人主張の測定方法による数
値と解釈しなければならない。
これを具体的にいうと，
① ０．５μｍ以上で０．８μｍ以下のＲｚの基板とは，基準長さ０．
２５ｍｍで測定したＲｚが，例えば０．６μｍの基板，
② ０．８μｍ超で６．３μｍ以下のＲｚの基板とは，基準長さ０．８
ｍｍで測定したＲｚが，例えば３μｍ，５μｍの基板，
③ ６．３μｍ超で２５μｍ以下のＲｚの基板とは，基準長さ２．５ｍ
ｍで測定したＲｚが，例えば１０μｍの基板，
④ ２５μｍ超で５０μｍ以下のＲｚの基板とは，基準長さ８ｍｍで測
定したＲｚが，例えば３０μｍの基板を
意味するのである。
(6) 本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」を控訴人主張の測定方法
による数値と解釈しなければならないことは，Ｒｚ値と本件考案の作用効果
との関係からも明らかである。
すなわち，そもそもＲｚ（十点平均粗さ）とは「山谷の平均標高差」のみ
を要素とする概念ではなく，「山谷の密度」をも要素とする概念である。そ
して，本件考案においては，この山谷（凹凸）の平均標高差と密度を限定す
ること，すなわちＲｚの範囲を限定する構成を採用することで，所定の作用
効果を奏するのである。以下，詳述する。
Ｒｚ（十点平均粗さ）とは，「‥‥‥断面曲線から基準長さだけ抜き取っ
た部分において，平均線に平行，かつ，断面曲線を横切らない直線から縦倍
率の方向に測定した最高から５番目までの山頂の標高の平均値と最深から５
番目までの谷底の標高の平均値との差の値をマイクロメートル（μｍ）で表
したものをいう。」（１９８２年ＪＩＳ規格。甲７の５頁）のであるから，
基準長さの範囲内に山谷が５個以上ずつ存在しなければならない。
-6 -
例えばＲｚが「０．６μｍ」である場合は，対応する（標準）基準長さ０．
２５ｍｍの範囲内に５個以上の山谷を有することを意味する。すなわち，１
ｍｍ間隔で２０個ずつ以上の山谷（凹凸）が存在することを前提としている。
これを山谷の「密度」（２０個／ｍｍ以上）と表現すれば，Ｒｚとは，山谷
の平均標高差だけではなく，山谷の密度をも要素とする概念である。
したがって，本件考案の「平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍ」とは，
① Ｒｚが「０．５μｍ以上で０．８μｍ以下」（基準長さ０．２５ｍ
ｍ）のＲｚ，例えばＲｚが「０．６μｍ」とは，
山谷の平均標高差 ０．６μｍ
山谷の密度 ２０個／ｍｍ（５／０．２５）以上
② Ｒｚが「０．８μｍ超で６．３μｍ以下」（基準長さ０．８ｍｍ）
のＲｚ，例えばＲｚが「３μｍ」とは，
山谷の平均標高差 ３μｍ
山谷の密度 ６．２５個／ｍｍ（５／０．８）以上
③ Ｒｚが「６．３μｍ超で２５μｍ以下」（基準長さ２．５ｍｍ）の
Ｒｚ，例えばＲｚが「１０μｍ」とは，
山谷の平均標高差 １０μｍ
山谷の密度 ２個／ｍｍ（５／２．５）以上
④ Ｒｚが「２５μｍ超で５０μｍ以下」（基準長さ８ｍｍ）のＲｚ，
例えばＲｚが「３０μｍ」とは，
山谷の平均標高差 ３０μｍ
山谷の密度 ０．６２５個／ｍｍ（５／８）以上
を意味する。
山谷の平均標高差が大きくなれば（例えば「０．６μｍ」から「３μｍ」
になれば），山谷の密度は低くなる（「２０個／ｍｍ」から「６．２５個／
ｍｍ」になる）という関係にある。
-7 -
そして，例えば，平均標高差「０．５μｍ」の山谷が，０．２５ｍｍの基
準長さ内に５個以上存在するから，換言すれば，山谷の密度は「２０個／ｍ
ｍ」以上であるから，明縞の発生本数が最も少ない波長８３０ｎｍ（０．８
３μｍ）の赤い光でも，５個の山谷で，最低でも１０本（なお最高は２０
本）の明縞が発生する。この場合でも，明縞の平均間隔は２５μｍ（０．２
５ｍｍ／１０）となり，人間の目の識別可能距離（分解能力）である７５μ
ｍより小さいため，各明縞は区別できないことになるのである。
このことは，本件考案のＲｚの範囲である「０．５∼５０μｍ」の，いず
れの場合であっても当てはまり，山谷の平均標高差と山谷の密度の関係で，
発生する各明縞は区別できないことになり，本件考案の作用効果を奏するの
である。すなわち，本件考案の作用は，Ｒｚの山谷の平均標高差のみで奏す
るのではなく，もう１つの要素であるＲｚの山谷の密度が関係するのである。
(7) 控訴人は，昭和５７年以降平成５年出願分までの公開公報を調査した結果，
Ｒｚの範囲を規定した公開公報として合計９０件を得た（平成６年以降は，
１９８２年ＪＩＳ規格（ＪＩＳ−８２）の改定版であるＪＩＳ−９４が適用
されるからである。）。このうち，１９８２年ＪＩＳ規格の適用が明記され
ているか，あるいは適用される可能性のあるものは８０件であったが，この
８０件の中には，１９８２年ＪＩＳ規格で「区間表示」の表示として説明さ
れている「（○【大きい数字】∼△【小さい数字】）Ｚ」とする表示で，か
つ，【大きい数字】も【小さい数字】も表６の数字を使用した表示は存在し
なかった。【大きい数字】を先に，【小さい数字】を後に記載し，かつ，両
方の数字とも表６の数字を使用した公報は２件のみで，他の公報はいずれも
【小さい数字】を先に，【大きい数字】を後に記載したものであり，また，
上下限とも表６の数字を使用している例はなかった。
被控訴人は，区間表示と数値限定との２種類があるとすれば，被控訴人の
調査した昭和５６年から平成１７年に公開された公開公報では，両方の表記
-8 -
が存在するはずであるのに，「（○【大きい数字】∼△【小さい数字】）
Ｚ」と記載されたものが存在しなかったから，本件考案の場合も区間表示で
ある旨主張する。しかしながら，公開公報には必ず２種類の表記が存在する
とはいえないばかりか，調査結果が１種類しかないとすれば，区間表示かそ
れとも控訴人主張の測定方法による数値かは不明なはずである。むしろ，１
９８２年ＪＩＳ規格に規定する形式の表示がないなら，控訴人主張の測定方
法による数値であって，区間表示を記載した例ではないと解するのが通常の
結論である。
(8) そして，１９８２年ＪＩＳ規格及び同規格制定当時（昭和５７年）の技術
常識に基づくなら，被告物件のＲｚ値を測定する「基準長さ」は，原判決の
認定した０．２５ｍｍではなく，０．８ｍｍとしなければならなかったので
ある。
すなわち， N 博士は，原審での鑑定嘱託の資料（断面曲線）からすれば，
被告物件のＲｚ値算出のための「基準長さ」は０．８ｍｍであるとしている
（甲１６の１）。
なお，控訴人が原審において主張した「基準長さ」の決定に予備測定を採
用する手順（甲１４），すなわちＲｚ値が予測できない被測定面の場合は，
表５の「基準長さ」とされている「０．２５」，「０．８」，「２．５」，
「８」及び「２５」のうちの，中央の値である「２．５ｍｍ」からその３倍
の長さである２．５∼７．５ｍｍ程度の長さで予備測定を行い，この予備測
定されたＲｚ値から基準長さを決めるという手順も，相当長い断面曲線をと
り，その断面曲線の平均値になりそうな部分からＲｚ値を推定して「基準長
さ」を決定するという，１９８２年ＪＩＳ規格の方法及び N 博士の説明と
符合（むしろ，より正確性が高い。）するものであるところ，原審の鑑定嘱
託における基準長さ２．５ｍｍにおける測定結果を予備測定として使用すれ
ば，その「基準長さ」は，「０．８ｍｍ｣となる。次のとおり，いずれのサ
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ンプルも「０．８μｍＲｚ」を超えるが「６．３μｍＲｚ」以下の値を示し
ているからである。
サンプル No.(1) 1.227
サンプル No.(2) 1.409
サンプル No.(3) 1.607
サンプル No.(4) 1.269
サンプル No.(5) 0.968
サンプル No.(6) 1.158
サンプル No.(7) 1.325
サンプル No.(8) 1.409
(9) そして，基準長さ０．８ｍｍにおける被告物件の各サンプルのＲｚ値は下
記のとおりであり，いずれも本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μ
ｍ」の範囲内である（なお，サンプル No.(7)の５つの測定点のうち，A と
E 以外のすべての測定点で山谷は各５個以上存在している。）。
サンプル No.(1) 0.825
サンプル No.(2) 1.039
サンプル No.(3) 0.896
サンプル No.(4) 0.863（２回目の測定）
サンプル No.(5) 0.698
サンプル No.(6) 0.760
サンプル No.(7) 0.663
サンプル No.(8) 0.851
(10) よって，基準長さを０．２５ｍｍとして，被告物件のＲｚ値は「０．５
∼５０μｍ」の範囲内にはないと判断した原判決は誤りである。
３ 被控訴人の当審における主張の要点
(1) 本件考案の構成要件Ｃ②の「基板の凹凸の平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５
０μｍ」との記載が１９８２年ＪＩＳ規格の区間表示を意味することは，１
９８２年ＪＩＳ規格の記載内容，十点平均粗さが基準長さにより大きく変動
するという性質を有していること，本件考案の作用効果（下限値である０．
５μｍの有する技術的意義）等の観点から明らかである。そして，被控訴人
の主張の正当性は特許（実用新案登録）請求の範囲における十点平均粗さの
範囲の指示の記載の実務によって実証されている。以下，これらについて詳
述する。
(2) １９８２年ＪＩＳ規格の「３．６．２」及び「３．６．４」（甲７の７
頁）には，ある測定対象物の十点平均粗さが，ある範囲で指示された場合に，
その範囲にあるか否かを判断する際の判断方法について明確に記載されてい
る。
すなわち，上限と下限に対応する基準長さの標準値が異なる場合には，①
上限に対応する基準長さで測定を行い，当該基準長さに基づく十点平均粗さ
が上限値以下であること，かつ，②下限に対応する基準長さで測定を行い，
当該基準長さに基づく十点平均粗さが下限値以上であることのそれぞれを充
足する必要がある旨述べられている（「３．６．４」の例２）。さらに，上
限と下限の基準長さの標準値が異なる場合であっても同じ基準長さを用いる
場合には，かかる旨を明記するように記載されている（「３．６．４」の備
考１）。
本件明細書の実用新案登録請求の範囲には，「基板の凹凸の平均粗さ（Ｒ
ｚ）が０．５∼５０μｍ‥‥‥」と記載されているものであって，これは，
正にある測定対象物の十点平均粗さが，ある範囲で指示された場合にほかな
らないから，１９８２年ＪＩＳ規格の区間表示の記載に基づき，当該区間表
示の要件を充たすか否かを判断すべきである。
本件考案の構成要件Ｃ②の十点平均粗さの下限は０．５μｍで，上限は５
０μｍであって，下限値と上限値の基準長さの標準値が異なる場合に該当す
るところ，本件明細書には，同じ基準長さを用いて十点平均粗さを求める旨
は一切記載されていない。したがって，本件においては，下限値０．５μｍ
に対応する基準長さの標準値である０．２５ｍｍを基準長さとして十点平均
粗さを算出し，当該十点平均粗さが０．５μｍ以上であること，上限値５０
μｍの基準長さの標準値である８ｍｍを基準長さとして十点平均粗さを算出
し，当該十点平均粗さが５０μｍ以下であることのそれぞれを充足するかに
ついて判断をすべきである（なお，本件訴訟においては，被控訴人は上限値
の充足性については特に争っていないため，下限値のみの問題となる。）。
以上述べたとおり，１９８２年ＪＩＳ規格を素直に読めば，本件考案の構
成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」との記載は，同規格の区間表示を意味す
ると解すべきである。
(3) この点に関して，控訴人は，本件考案の構成要件Ｃ②のＲｚ値が１９８２
年ＪＩＳ規格の区間表示を意味するなら，その表記は「（５０∼０．５）
Ｚ」と大きい数字から小さい数字の順に記載されるべきであり，また，標準
数列が用いられるべきであるなどと主張する。
しかし，大きい数字から小さい数字の順に記載したもの以外は区間表示で
ないと解すべき合理性は全くないし，１９８２年ＪＩＳ規格においても，そ
のような順番を要求するものとは読めない。また，標準数列についても，当
該数字のみを使う旨規定されているのではなく，特に必要がある場合には標
準数列以外の数値を使用する旨が述べられているのである。本件考案におい
ては，極めて狭い間隔で多数の干渉縞を発生させるという作用効果の観点か
ら標準数列以外の０．５μｍという数値が指定されているのであって，標準
数列の数値が用いられていないのは極めて当然であり，何ら１９８２年ＪＩ
Ｓ規格の記載に反するものではない。
被控訴人の上記主張が正しいことは，後述するように，６７８件の公開公
報の特許（実用新案登録）請求の範囲の記載において，標準数列の数値を用
いているか否かの点を不問にしても，控訴人が区間表示の記載方法であると
主張する「（○【大きい数字】∼△【小さい数字】）Ｚ」と記載されたもの
が，１件たりとも存在していないことからも明らかである。
(4) 次に述べるとおり，十点平均粗さにおける範囲の指示は，区間表示の考え
に基づく必要がある。
(ｱ)１９８２年ＪＩＳ規格の解説には，基準長さが大きくなれば十点平均粗
さも大きくなる旨及び基準長さは測定の目的によって異なるべきである旨
が明確に述べられている（解説「４．１」及び「５．３」。甲７の１２頁
１２行∼２０行，１３頁２４行∼３０行）。
また，基準長さが大きくなれば十点平均粗さも大きくなることは，技術
的な面からも明らかである。すなわち，十点平均粗さは，基準長さの全領
域を測定した上で，最も高いものから順に５つの山頂と最も深いものから
順に５つの谷底をそれぞれ採って平均するものであり，基準長さが長けれ
ば長いほど，平均の対象となる５点の山頂と谷底につき，より高い山頂と
より深い谷底を選択することができるようになるものであるから，当然そ
の平均値である十点平均粗さも大きくなるのである。
このことは，原審における鑑定嘱託の結果からも，実証される。すなわ
ち，同鑑定嘱託におけるサンプル№１において，基準長さが０．２５ｍｍ，
０．８ｍｍ，２．５ｍｍ，８ｍｍと長くなるにつれて，十点平均粗さも０．
２３１μｍ，０．８２５μｍ，１．２２７μｍ，１．５６２μｍと大きく
なっており，その変動の度合いも極めて大きいものがある。そして，同鑑
定嘱託における他のサンプルも，すべて，同様に基準長さが長くなるにつ
れて十点平均粗さが大きくなるという結果を示しているのである。
このように，１９８２年ＪＩＳ規格の記載，技術的理由及び鑑定嘱託の
結果から，十点平均粗さは，基準長さが長くなればなるほど，大きくなる
ものであることが明らかである。
上記のとおり，十点平均粗さは基準長さにより大きくその数値が変動す
るため，下限値と上限値にそれぞれ対応する基準長さの標準値が同一であ
る場合を除き，十点平均粗さがある範囲に入っているか否かを確認するに
は，上限値に対応する基準長さにおける十点平均粗さが上限値以下であり，
下限値に対応する基準長さにおける十点平均粗さが下限値以上であること
を確認するという，基準長さがあらかじめ確定されている方法によるしか
ない。だからこそ，１９８２年ＪＩＳ規格は，十点平均粗さにおいて範囲
の指示があった場合には，かかる方法により判断する旨を明記しているの
である。
(ｲ)区間表示の考えによるべきであるとの上記結論は，数値限定における上
限及び下限の有する意味からも当然の帰結といえる。
すなわち，Ａ≦ｘ≦Ｂというのは，
①Ａ≦ｘ 作用効果Ｘに対応
②ｘ≦Ｂ 作用効果Ｙに対応
を一般的に意味するものであって，①及び②のそれぞれの充足が重要であ
ることを意味している。よって，①及び②のそれぞれを充足しているか否
かを確認する必要がある。
さらに，①の数値以上であることの意味（作用効果Ｘとの関連），②の
数値以下であることの意味（作用効果Ｙとの関連）が異なる場合には，そ
れぞれ異なる意味（作用効果）との関係から来る限定であるため，それぞ
れの条件を充足しているか否かの確認がとりわけ必要となる。
既に述べたように，１９８２年ＪＩＳ規格の解説の「４．１」において，
「基準長さは，測定の目的によって異なるべきであるという考え方をとっ
ている」（甲７の１２頁１３行）と明示されているが，正にこの観点に立
てば，上記に述べた区間表示の考え方に従うべきであることは当然の帰結
となる。
本件において，上記①，②の技術的意味について検討するに，①の０．
５μｍ以上であることの技術的意味は，後述のとおり，「光の干渉縞が極
めて狭い間隔で多数発生していることになり，人間の目で見た場合，判別
できなく，干渉縞が発生していないと同じこととなる」との作用効果に関
連する（本件明細書５欄２５行∼３１行参照）。すなわち，光の干渉縞を
極めて狭い間隔で多数発生させるためには，十点平均粗さが０．５μｍ以
上であることが必要であるという点にある。他方，②の技術的意味につい
ては，基板の電極間で短絡が生じないように５０μｍ以下であることが必
要であるという点と考えられる（本件明細書４欄１２行∼１４行参照）。
このように，本件考案の数値限定は，上限と下限で異なる理由（作用効
果）により設けられている。したがって，本件考案においても，①の数値
以上であること，②の数値以下であることの確認がそれぞれ必要かつ絶対
であり，本件で争いとなっているのは，①の数値の充足の有無，すなわち，
①の数値以上であるか否かが重要なのであるから，当該数値に対応する基
準長さで十点平均粗さを測定し，当該十点平均粗さの数値が①の数値以上
か否かをみるべきであることは当然である。すなわち，①の数値限定の持
つ意味（作用効果）からすれば，とりわけ上記に述べたように，基準長さ
０．２５ｍｍで行うべきなのである。
このように，数値限定のもつ技術的意味からしても，区間表示の考えに
沿って判断すべきであることが明確に裏付けられる。
(5) 上記のうち，Ｒｚ値が０．５μｍ以上であることの技術的意味を，本件考
案の作用効果との関連で詳述する。
本件明細書においては，〔作用〕欄及び〔考案の効果〕欄において，以下
に指摘するように，本件考案の技術的意義が光の干渉縞を極めて狭い間隔で
多数発生させ，人間の目で干渉縞を見えなくすることであることが明確に記
載されており，また，出願経過において，「本願考案では，数μｍのオーダ
ーで凹凸があるため，１／２波長の数十倍になり，光の干渉縞が極めて狭い
間隔で多数発生，例えば１００μｍ（＝０．１ｍｍ：被控訴人が記入）の幅
の間で２０本発生していることになる」旨述べられており（乙４の４，４頁
下から３行∼５頁１行参照），十点平均粗さが０．５μｍ以上であるか否か
は，光の干渉縞が極めて狭い間隔で多数発生しているか否かの作用効果と直
接関連するメルクマールであり，その幅も重要である旨述べられている。
このように，本件考案は，ある幅において，一定の凹凸があることを前提
にして，極めて狭い間隔で多数の干渉縞を発生させる点に作用効果がある旨
明示しており，「いかなる幅」に一定の凹凸があるのかが重要である。
そして，被控訴人が主張する区間表示の考えによった場合には，本件考案
の構成要件Ｃ②の技術的意味は，基準長さ０．２５ｍｍという一定の幅にお
いて，５つ以上の凹凸が平均して０．５μｍ以上の高さを有するか否かを判
断することになり，本件考案の極めて狭い間隔で多数の干渉縞を発生させる
という作用効果に直接関連することが明らかである。
このような本件考案の作用効果（技術的意義）の観点からは，仮に本件考
案の構成要件Ｃ②の「平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍ」の記載が厳密
な意味で１９８２年ＪＩＳ規格の区間表示ではないとしても，本件考案の下
限値（０．５μｍ）の充足の有無については，いずれにしても０．２５ｍｍ
を基準長さとして測定した数値を用いるべきである。
(6) 本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」との記載が１９８２年Ｊ
ＩＳ規格の区間表示を意味するとの被控訴人の主張は，実用新案の考案の創
作の実務に照らせば，実施例として控訴人が指摘する特定の数値が記載され
ていることと何ら矛盾するものではない。
すなわち，本件考案は，まず，ある特定の条件下で，ある透明電極付基板
の凹凸の十点平均粗さが「約３μｍ」（本件明細書６欄１２行）や「約５μ
ｍ」（本件明細書５欄４３行）であるものにおいて，干渉縞が人間の目で見
えないことをまず発見し，その後，本件考案の技術的範囲の外延を確定すべ
く，本件考案の請求項において，下限値を０．５μｍまで拡げるとともに，
上限値を５０μｍまで拡げ，その過程で本件考案の技術的意義が確定され，
考案が完成したものと考えられる。逆に言うと，本件考案の技術的範囲の外
延を確定するに際し，十点平均粗さが，０．５μｍ未満の場合には，極めて
狭い間隔で多数の干渉縞を発生させ干渉縞を見えなくするという作用効果が
得られず，５０μｍを超える場合には，基板の電極間で短絡が生じる問題が
あることが分かり，本件考案の技術的範囲が確定し，考案が完成したものと
考えられる。
その結果，完成した本件考案は，基準長さ０．２５ｍｍで，十点平均粗さ
が０．５μｍ以上であり，かつ，基準長さ８ｍｍで十点平均粗さが５０μｍ
以下である透明電極付基板となり，その技術的範囲が確定したものである。
このような過程を経て本件考案が創作されたと考えられるのであって（数値
による限定を含む考案は，このようにして考案の技術的範囲の外延が確定し，
考案が完成する場合が多々あると考えられる。），実施例において控訴人が
指摘する特定の数値が記載されているからといって，本件考案が「０．５∼
５０μｍ」のようにある範囲で特定され，完成した以上，被控訴人の主張す
る区間表示等の解釈を妨げるものでは全くない。
(7) 十点平均粗さが範囲で指示されている場合には区間表示の考えによるべき
であるとの被控訴人の主張が正しいことは，被控訴人が行った特許（実用新
案登録）請求の範囲の記載方法の実務に関する調査結果からも明確に裏付け
られる。
被控訴人において昭和５６年∼平成１７年の公開公報（より多くのサンプ
ルを集めるために，実用新案に加え特許も含めた。）について，「Ｒｚ」及
び「十点平均粗さ」という語句で明細書の全文の検索を行ったところ，当該
語句が含まれている明細書の中で「上限値及び下限値」が，「特許（実用新
案登録）請求の範囲」に記載されているものは６７８件存在した。これらに
ついて，特許（実用新案登録）請求の範囲に，控訴人が主張するような
「（○【大きい数字】∼△【小さい数字】）Ｚ」と表示されているものが存
在するかどうか確認を行ったが，そのような記載がされたものは１件も存在
しなかった（なお，控訴人は区間表示というためには，さらに，標準数列に
ある数字を用いることが必要であるとしているが，この点の充足の有無を考
慮しなくとも，結果は同じであった。）。この調査結果は，被控訴人の「十
点平均粗さが範囲で指示されている場合には，区間表示の考えによるべきで
ある」という主張を正に裏付けている。
すなわち，十点平均粗さがある範囲で指示された場合に，ある対象物の十
点平均粗さがその範囲内にあるか否かを判断する際に，１９８２年ＪＩＳ規
格の区間表示の方法で確認する方法と控訴人主張の測定方法の２種類があり
得るとすれば，当然「（○【大きい数字】∼△【小さい数字】）Ｚ」と記載
されたものと「○∼△μｍ」と記載されたものの２種類の記載が，それぞれ
相当数存在するはずである。これに対し，被控訴人が主張するように区間表
示の考えが必然であるとすれば，２種類の記載がそれぞれ相当数存在するこ
とにはならないはずである。そして，被控訴人の公開公報の調査結果によれ
ば，十点平均粗さがある範囲で指示された場合において，「（○【大きい数
字】∼△【小さい数字】）Ｚ」と記載されたものは６７８件中に１件も存在
しなかったのである（なお，「（△【小さい数字】∼○【大きい数字】）
Ｚ」との記載も６７８件中１件たりとも存在しなかった。）。このように，
「（○【大きい数字】∼△【小さい数字】）Ｚ」及び「（△【小さい数字】
∼○【大きい数字】）Ｚ」という記載が１件も存在しなかったことは，控訴
人の主張が誤りであり，被控訴人の主張（十点平均粗さが範囲で指示されて
いる場合には区間表示の考え方によるべきである。）が正しいことを正に裏
付けているのである。
(8) 控訴人は，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」につき，予備
測定として対象物の表面の断面曲線からＲｚ値を推定し，該Ｒｚ値に対応す
る「基準長さ」を１９８２年ＪＩＳ規格の表５から決定し，その上で本測定
として当該「基準長さ」だけの部分を断面曲線から抜き取り，Ｒｚ値を算出
したものが，「０．５∼５０μｍ」の間にあることを意味すると主張する。
しかし，控訴人の主張は，１９８２年ＪＩＳ規格の記載に基づくものでは
なく，また本件明細書及び本件考案の出願経過のどこにも記載されていない
ものであり，本件考案の出願時における技術常識でもない。
控訴人は，あたかも控訴人主張の測定方法が１９８２年ＪＩＳ規格に記載
されているかのように主張するが，控訴人主張の測定方法は同規格に記載さ
れたものではない。１９８２年ＪＩＳ規格は，単に，十点平均粗さを測定す
る際に，表面粗さが小さく出たり大きく出そうな箇所ではなく大体の平均的
な値になりそうな部分を抜き出すように述べているのみであり，控訴人の主
張するような測定方法については何ら言及していない。かえって，１９８２
年ＪＩＳ規格の解説「５．３」には，基準長さに関する記載として，「‥‥
‥今までのところ，各種加工面に対し，どのような基準長さを採ればよいの
かということについては定説もないので，‥‥‥」（甲７の５頁３２行）と
記載されており，基準長さの決定方法には定説がないことが明記されている
のである。
本件明細書には，基板の凹凸の平均粗さを十点平均粗さとして測定する際
の基準長さにつき，全く記載がなく何らの指定もない。このことは原判決の
認定するとおりであり，控訴人の主張は，本件明細書の記載に基づくもので
もない。また，本件考案の出願経過における資料（乙４の１ないし１８）に
おいても，基準長さの設定方法等についての記載は一切存在しない。
このように，控訴人の主張が１９８２年ＪＩＳ規格の記載や本件明細書の
記載に何ら基づくものではないことから，控訴人は， N 博士や T 博士作成
の書面（甲１６の１，甲１７）を提出して，控訴人の主張内容が，あたかも
１９８２年ＪＩＳ規格の制定当時の技術常識であったかのように見せかけよ
うとしている。しかし，控訴人の主張内容が技術常識ではないことは，上記
のとおり，１９８２年ＪＩＳ規格の解説「５．３」に「各種加工面に対し，
どのような基準長さを採ればよいのかということについては定説もない」と
明記されていることに加えて，第１審，控訴審を通じて控訴人の基準長さに
関する主張内容が大きく変遷していること，さらに次に述べるとおり控訴人
の主張内容が不合理であることに照らせば，明らかである。
すなわち，控訴人の主張する予備測定により基準長さを決定するという方
法は，１９８２年ＪＩＳ規格にも本件明細書にも何ら記載がないものである。
また，基準長さにより十点平均粗さが大きく変動するものであることに照ら
せば，当該予備測定により算出される十点平均粗さも大きく異なる数値が算
出される可能性が高く，当該数値に基づき決められる基準長さも極めてあい
まいなものとなるといわざるを得ない。
現に，原審における鑑定嘱託の結果によれば，基準長さ０．８ｍｍにおけ
る被告物件の各サンプルのＲｚ値は，サンプル No.(5),(6),(7)については
いずれも０．８μｍ未満であるから，控訴人の主張に従えば，これらのサン
プルについては，基準長さを０．２５ｍｍとしてＲｚ値を再度測定しなけれ
ばならないはずである（控訴人は，原審においては，予備測定により決定さ
れた基準長さに基づく本測定によるＲｚ値が当該基準長さに対応するＲｚ値
の範囲に入っていなかったとしても，当該Ｒｚ値を最終的な測定値として用
いると主張していたが（原審における原告第５準備書面４頁），控訴審に至
って，前記２(5)のとおり主張を変更した（控訴審における控訴人第３準備
書面３頁，第３準備書面の訂正書１頁∼４頁，第４準備書面１頁∼３頁））。
そして，基準長さを０．２５ｍｍとしてＲｚ値を測定すれば，これらのサン
プルについては，Ｒｚ値が「０．５∼５０μｍ」を充たさない結果となるこ
とは原判決の判示するとおりである。この点からみても，控訴人主張の測定
方法が不合理であることは明らかである。
(9) 控訴人は，控訴審に至って，突然，本件考案の作用効果を各明縞の平均間
隔や山谷の密度と関連付けて主張することで，控訴人主張の測定方法を根拠
付けようとしている（前記２(6)参照）。しかし，「平均粗さ（Ｒｚ）が０．
５∼５０μｍ」という本件考案の要件が，控訴人の主張するような各明縞の
平均間隔や山谷の密度に基づくものであることは，本件明細書に一切記載も
示唆もないことはもちろん，出願経過においても全く指摘も示唆もされてい
ない。控訴人の主張は，考案の内容を第三者に開示することの対価として独
占権が付与されるという実用新案権の本質を忘れた主張であり，理由がない
ことは明らかである。
仮に，控訴人主張のような理由により，本件考案において構成要件Ｃ②の
「平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍ」と規定されているというのであれ
ば，当該事項は全く明細書に記載も示唆もされていないから，明細書のサポ
ート要件（実用新案登録を受けようとする考案は，詳細な説明に記載した考
案であることを要すること）を充足せず，本件考案は無効事由を有すること
になる（平成２年法律第３０号による改正前の実用新案法５条４項１号，３
７条１項３号）。
第３ 当裁判所の判断
１ 当裁判所も，控訴人の請求は理由がなく，棄却すべきものであると判断する。
その理由は，次のとおり付加するほか，原判決の「第３ 当裁判所の判断」の
とおりであるから，これを引用する。
２ 控訴人は，本件考案の構成要件Ｃ②において，基板の凹凸の平均粗さが「０．
５∼５０μｍ」とされている点について原判決の判断を争うので，この点につ
いて補足して説明する。
(1) 本件明細書（甲２）における実用新案登録請求の範囲の請求項１の記載は，
「２枚の透明電極付基板を電極面が相対向するように５∼２００μｍ程度の
間隔を置いて設置したタッチスイッチにおいて，少なくとも一方の透明電極
付基板の電極側の表面に，その高さが基板間隔よりも小さく，基板の凹凸の
平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍとされている微細な凹凸を形成してな
ることを特徴とするタッチスイッチ」というものである。
そこで，本件明細書をみるに，上記の「基板の凹凸の平均粗さ（Ｒｚ）が
０．５∼５０μｍ」に関しては，「考案の詳細な説明」欄に「この微細な凹
凸は，少なくとも基板間隙の間隔よりも低い高さの凹凸とされ，上下の基板
の電極間で短絡が生じないようにされる必要がある。一般的には，基板間隙
の間隔の半分以下程度とされる。より具体的には，ＪＩＳ Ｂ ０６０１に
基づく凹凸の平均粗さ（Ｒｚ）を，０．５∼５０μｍとする。また，基板間
隙を周辺のシールと面内におけるスぺーサーを含有した支柱によって保持す
る場合には，最大粗さ（Ｒｍａｘ）は両基板間隙を保つためのスぺーサー径
とＲｚとの和より小さくなければならない。」（甲２の４欄１２行∼２０
行）との記載があり，他に，基板の凹凸の平均粗さの測定方法についての記
載は見当たらない。
(2) 他方，上記「ＪＩＳ Ｂ ０６０１」に該当するものであることにつき当
事者間に争いのない１９８２年ＪＩＳ規格（甲７）には，前記引用に係る原
判決認定（１０頁１９行∼１３頁２２行）のとおり，「３．６．４ 十点平
均粗さの区間表示」の項に，「十点平均粗さをある区間で指示する必要があ
るときは，その区間の上限（表示値の大きい方）及び下限（表示値の小さい
方）に相当する数値を表６から選んで併記する。」とされ，当該記載に続け
て「例」が挙げられ，「例２」として「上限と下限の基準長さの標準値（表
５）が異なる場合 上限２５μｍＲｚ，下限６．３μｍＲｚのときの区間表
示は（２５∼６．３）Ｚと表示する。この場合は，基準長さ２．５ｍｍで測
定した十点平均粗さが２５μｍＲｚ以下であり，基準長さ０．８ｍｍで測定
した十点平均粗さの値が６．３μｍＲｚ以上であることを意味する。」とさ
れ，更に続けて「備考１」として「上限及び下限に対応する基準長さを同一
にする必要がある場合又は表５の標準値以外の基準長さを用いる場合には，
基準長さを併記する。例２：において，上限及び下限に対応する基準長さを
２．５ｍｍとするときは，（２５∼６．３）Ｚ，Ｌ２．５ｍｍと表示す
る。」とされ，１９８２年ＪＩＳ規格の解説（甲７）には，「４．１ 表面
粗さ」の項に「‥‥‥表面粗さを指定し，又は測定する場合“カットオフ値
”（又は基準長さ）が最も重要な要素となるが，カットオフ値（基準長さ）
は，測定の目的によって異なるべきであるという考え方をとっている。‥‥
‥一般にカットオフ値（基準長さ）が長いと，表面粗さの値は大きく出る。
この規格を適用した表面粗さを求める場合，カットオフ値又は基準長さはあ
らかじめ関係者によって決定されるべきであるが，今までの多くの経験から，
ある程度の大きさが決まっていることと，計測器を製作する立場からは数種
類に限定されていることが望ましいことなどから，規格としてはＩＳＯやそ
の他の外国の規格とも合うような数種類に限定した。」とされ，「５．３
基準長さ」の項に「一定のピッチで山形が並んでいるような規則的な表面で
は，基準長さの採り方に注意しなくても粗さの値はほぼ一定に定まるが，研
削やラップ仕上げのような不規則な山形の並んだ表面や，大きなピッチのう
ねりのある表面では基準長さを大きくすれば，得られた表面粗さの値が大き
くなることが知られており，これが生産現場での粗さの測定の大きな問題点
であった。‥‥‥この規格で，断面曲線から粗さを求めるには，まず，基準
長さが定められるべきであるとしていることは前述のとおりである。…基準
長さの選定は，表面粗さの測定を始める前に，測定を企画する側から指定さ
れるべきである。しかし，今までのところ，各種加工面に対し，どのような
基準長さを採ればよいのかということについては定説もないので，ここでは
基準長さの種類だけを規定してある‥‥‥」とされている。
また，同解説の「５．７ 最大値表示，区間表示について」の項には，
「区間表示（６．３∼１．６）ａの意味は，カットオフ値の標準値０．８ｍ
ｍで測定した中心線平均粗さの値が，１．６μｍＲａ以上で６．３μｍＲａ
以下であることを指示している。また，（２５∼６．３）ａの場合には，２
５ａに対するカットオフ値の標準値は２．５ｍｍであり，６．３ａに対する
カットオフ値の標準値は０．８ｍｍであるから，カットオフ値２．５ｍｍで
測定した加工面内の多数の箇所での値の算術平均値が２５μｍＲａ以下で，
カットオフ値０．８ｍｍで測定した値が６．３μｍＲａ以上であることを意
味している。もし，（２５∼６．３）ａの場合に，同一のカットオフ値を使
用したい場合には，カットオフ値を指定する必要がある。すなわち（２５∼
６．３）ａλｃ２．５ｍｍのように使用するカットオフ値を記入する。最大
高さ，十点平均粗さの区間表示についても同様である。」（甲７の１６頁７
行∼１４行）との記載がある。
(3) 上記によれば，本件明細書の実用新案登録請求の範囲の請求項１に「基板
の凹凸の平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍとされている微細な凹凸を形
成してなる」と記載されているのであるから，本件考案の構成要件Ｃ②の
「平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍ」は，基板の凹凸の平均粗さ（Ｒ
ｚ）について下限値と上限値を規定したものと解するのが相当であるところ，
本件明細書に「より具体的には，ＪＩＳ Ｂ ０６０１に基づく凹凸の平均
粗さ（Ｒｚ）を，０．５∼５０μｍとする。」と記載されているのであるか
ら，それは，１９８２年ＪＩＳ規格に定められた「十点平均粗さ」について
下限値と上限値を示したもの，すなわち１９８２年ＪＩＳ規格にいう「十点
平均粗さの区間表示」に該当するものと解するのが相当である。そして，１
９８２年ＪＩＳ規格によれば，「上限及び下限に対応する基準長さを同一に
する必要がある場合又は表５の標準値以外の基準長さを用いる場合には，基
準長さを併記する」ものとされているところ，構成要件Ｃ②においては，そ
のような基準長さは併記されていないから，下限値である０．５μｍについ
ては対応する標準値である０．２５ｍｍを基準長さとして，上限値である５
０μｍについては対応する標準値である８ｍｍを基準長さとして，それぞれ
測定するものと解するのが相当である。これは，具体的には，基準長さ０．
２５ｍｍで測定した加工面の多数の箇所での値の算術平均値が０．５μｍ以
上で，基準長さ８ｍｍで測定した加工面の多数の箇所での値の算術平均値が
５０μｍ以下であることを意味する。
(4) １９８２年ＪＩＳ規格の「３．６．４ 十点平均粗さの区間表示」の項に
は，確かに，控訴人の指摘するように，「その区間の上限（表示値の大きい
方）及び下限（表示値の小さい方）に相当する数値を表６から選んで併記す
る。」と記載され，また，例２として「上限２５μｍＲｚ，下限６．３μｍ
Ｒｚのときの区間表示は（２５∼６．３）Ｚと表示する。」ことが示されて
おり，上記の表記例にならえば，「（５０∼０．５）Ｚ」と記載すべきもの
である。また，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」における
「０．５μｍ」は表６に標準数列として掲げられた数値ではない。
しかしながら，前記引用に係る原判決認定のとおり，１９８２年ＪＩＳ規
格の「３．６．２」には「十点平均粗さによって表面粗さを指定するときは，
特に必要がない限り，表６の標準数列を用いる。」と記載されているのであ
って，これによれば，上限値及び下限値として必ず表６の標準数列から選ん
だ数値を用いなければならないものではなく，必要に応じてそれ以外の数値
を用いることもできるというべきである。また，請求項１の記載は，確かに
１９８２年ＪＩＳ規格に掲げられた表記方法によるものではないが，控訴人
の主張に係る昭和５７年から平成５年出願分までの公開公報の調査結果及び
被控訴人の主張に係る昭和５６年から平成１７年の公開公報の調査結果によ
れば，本件考案の出願当時，十点平均粗さの区間表示を行うに際して同規格
の掲げる「（上限値〔大きい数字〕∼下限値〔小さい数字〕）Ｚ」という表
記方法によるべきことが，当業者の間における一般的な理解であったと認め
ることはできないところ，本件明細書の「考案の詳細な説明」欄には「ＪＩ
Ｓ Ｂ ０６０１に基づく凹凸の平均粗さ（Ｒｚ）を，０．５∼５０μｍと
する。」と記載されているのであるから，この記載から請求項１の「０．５
∼５０μｍ」が，１９８２年ＪＩＳ規格に定められた方法により平均粗さ
（Ｒｚ）の上限値及び下限値を画したもの，すなわち同規格の定める区間表
示であることを理解することに困難はないというべきである。なお，甲１９
の１（特開昭５９−６１１９６号公報），１９の２（特開昭６３−１５９１
６号公報），１９の３（特開昭５９−２８２３９号公報）及び１９の４（特
開昭６２−２５９２２１号公報）は，いずれも特許請求の範囲に，１９８２
年ＪＩＳ規格に基づく十点平均粗さの区間表示による平均粗さの上限値及び
下限値を規定しているものと解されるところ（このうち，甲１９の１及び１
９の２には，いずれも基準長さを用いて１９８２年ＪＩＳ規格の定める測定
を行うべきことが明記されている。なお，平均値の代わりに中央値を用いて
いる〔１９８２年ＪＩＳ規格「３．５．１」の備考１参照〕。），これらは
いずれも，同規格の掲げる「（上限値〔大きい数字〕∼下限値〔小さい数
字〕）Ｚ」という表記ではなく，「下限値〔小さい数字〕∼上限値〔大きい
数字〕」という表記をしている。
(5) 控訴人は，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」を１９８２年
ＪＩＳ規格の「区間表示」と解すると，本件考案においてＲｚを「５μｍ」
とした基板を用いた実施例１及びＲｚを「３μｍ」とした基板を用いた実施
例２が，いずれも本件考案の実施例でなくなる可能性があると主張する。す
なわち，上記実施例における「５μｍ」及び「３μｍ」は，「０．８μｍ超
で６．３μｍ以下」の範囲内のＲｚであるから，基準長さは０．８ｍｍを標
準値としているため，０．５μｍのＲｚ（０．８μｍ以下のＲｚ）の基準長
さ０．２５ｍｍ内に山谷が５個以上ずつ存在するとは限らず，Ｒｚは求めら
れないことになってしまうというのである。
しかしながら，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」を１９８
２年ＪＩＳ規格の「区間表示」と解する場合には，上記実施例は，いずれも
基準長さ０．２５ｍｍで測定した結果が０．５μｍ以上で基準長さ８ｍｍで
測定した結果が５０μｍ以下という要件を満たしているはずであるから，上
記実施例にいう「５μｍ」及び「３μｍ」は，基準長さ０．２５ｍｍで測定
した結果も基準長さ８ｍｍで測定した結果もそれぞれ当該数値となることを
いうものと解するのが相当である。したがって，控訴人の主張するような矛
盾は生じない。なお，１９８２年ＪＩＳ規格の解説の「５．３ 基準長さ」
の項には，前記のとおり，「一定のピッチで山形が並んでいるような規則的
な表面では，基準長さの採り方に注意しなくても粗さの値はほぼ一定に定ま
る」と記載されているところ，本件明細書には，基板の表面に微細な凹凸を
形成する方法として，基板自体を化学的又は物理的に加工する方法や基板上
に酸化ケイ素等の物質を凹凸状に形成する方法が記載されているが（甲２の
４欄２１行∼２７行），甲１９の１ないし４及び弁論の全趣旨によれば，本
件考案出願当時，所望の基準長さ内に所望の数値の凹凸を形成する技術が公
知であったと認められるから（控訴人自身が，そのように主張している。控
訴人第３準備書面５頁，第５準備書面７頁参照），本件明細書の実施例にお
ける「５μｍ」及び「３μｍ」が，基準長さ０．２５ｍｍで測定した結果も
基準長さ８ｍｍで測定した結果もそれぞれ当該数値となることを記載したも
のと解することは，技術的な点からも裏付けられる。
そもそも，控訴人の上記主張は，本件明細書の実施例における「５μｍ」
及び「３μｍ」を控訴人主張の測定方法により特定することを前提とした上
で，構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」を１９８２年ＪＩＳ規格の「区間
表示」と解する場合に矛盾が生じ得ることを述べるものであり，その前提が
不合理であって，主張自体，採用の余地のないものというべきである。
(6) また，本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」を１９８２年ＪＩ
Ｓ規格の「区間表示」と解することは，本件考案の作用効果との関係からみ
ても，相当である。
すなわち，前記引用に係る原判決の認定及び説示（２０頁２２行∼２１頁
１４行）のとおり，本件明細書の「考案の詳細な説明」欄には，「問題を解
決するための手段」の項に「本考案では，タッチスイッチの一対の透明電極
付基板の，少なくとも一方の透明電極付基板の電極側の表面に，その高さが
基板間隙よりも小さい微細な凹凸を形成しているので，基板間隙が微細な状
態では大きく変動していることになり，光の干渉縞はほとんど発生しな
い。」，「作用」の項に「本考案のタッチスイッチでは，その一対の透明電
極付基板の，少なくとも一方の透明電極付基板の電極側の表面に，その高さ
が基板間隙よりも小さい微細な凹凸を形成しているので，基板間隙が微細な
部分で見れば，数μｍのオーダーで大きく変動していることになる。ところ
で，光の干渉縞は，光の波長の１／２で１本発生する。しかし，本考案では，
前述の如く，数μｍのオーダーで凹凸があるため，１／２波長の数十倍にな
るため，光の干渉縞が極めて狭い間隔で多数発生していることになり，人間
の目で見た場合，判別できなく，干渉縞が発生していないと同じことにな
る。」とそれぞれ記載されており，これらの記載に照らせば，本件考案の構
成要件Ｃ②において，基板の凹凸の平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍと
されている微細な凹凸を形成していることとした技術的意義は，人間の目で
判別することができない程度の狭い間隔で光の干渉縞を多数発生させるため
の凹凸を基板の表面に形成することにあると解される。
そうすると，本件考案の上記作用効果を奏する範囲を画するためには，所
定の基準長さ内に一定の密度及び高低の山谷が存在するか否かにより判断す
ること，すなわち平均粗さ（Ｒｚ）の下限値については常に０．５μｍに対
応する基準長さ０．２５ｍｍをもって判断することが合理的というべきであ
る。
(7) 本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」につき，控訴人は，対象
物の表面の相当長い断面曲線をとって，その断面曲線からＲｚ値を推定し，
該Ｒｚ値に対応する「基準長さ」を１９８２年ＪＩＳ規格の表５から決定し，
その「基準長さ」だけの部分を断面曲線から抜き取り，Ｒｚ値を算出したも
のが，「０．５∼５０μｍ」の間にあることを意味するものであると主張す
る。
(ｱ)しかしながら，控訴人の主張する測定方法は，１９８２年ＪＩＳ規格
（甲７）には，その解説部分を含めても，何ら記載も示唆も見当たらない。
また，控訴人の主張する上記測定方法によるときには，対象物により本測
定に用いるべき基準長さが異なることになり，その結果，基準長さの長短
によって測定結果たる平均粗さの数値が変動し，当該数値が意味する内容
も異なることになるが，このようなことは，前記のとおり，１９８２年Ｊ
ＩＳ規格の解説の「４．１ 表面粗さ」の項に「表面粗さを指定し，又は
測定する場合“カットオフ値”（又は基準長さ）が最も重要な要素となる
が，カットオフ値（基準長さ）は，測定の目的によって異なるべきである
という考え方をとっている。‥‥‥この規格を適用した表面粗さを求める
場合，カットオフ値又は基準長さはあらかじめ関係者によって決定される
べきである」と記載され，「５．３ 基準長さ」の項に「この規格で，断
面曲線から粗さを求めるには，まず，基準長さが定められるべきであると
していることは前述のとおりである。…基準長さの選定は，表面粗さの測
定を始める前に，測定を企画する側から指定されるべきである。」と記載
されていることと相容れないものであり，また，上記(6)のような本件考
案の作用効果を奏する範囲を画するという観点にも合致しないこととなる。
本件考案の構成要件Ｃ②の「０．５∼５０μｍ」につき，控訴人主張の上
記測定方法による測定結果の数値を意味するものとは到底解することがで
きない。
(ｲ)１９８２年ＪＩＳ規格の解説中，控訴人が，その主張に係る上記測定方
法を記載ないし示唆するものとして挙げる部分は，正確に引用すれば，
「なお，基準長さを定めても，理論上はその基準長さより長い波長の周期
性のあるうねりの影響が完全に除かれるとは限らない。また，実際上うね
りの頂上や谷底の部分で表面粗さを求めるときと，うねりの斜面の部分で
表面粗さを求めるときで，結果の数値は異なる。これは，結果の数値が測
った部分（抜取り部分）の値にすぎないからで（本体３．３．１及び３．
５．１参照），実際の測定では測定される表面全体としての表面粗さを求
めたいわけである。このような場合は，まず断面曲線を基準長さより相当
長く，できれば表面の数箇所でとる。その断面曲線の中できずのような大
きな山又は谷があるとか，曲線が全体として曲がっているような部分は避
けて，平らな部分を目測によって計算結果としての表面粗さが大体の平均
値になりそうな部分から基準長さだけの部分を抜き取る。この断面曲線の
抜取り部分で，Ｒｍａｘ又はＲｚを求める。特に，表面粗さが小さく出そ
うな所や大きく出そうな所を抜き取ってはならない。この操作を厳密にす
るには，測定表面上で無作為に数箇所をとり，その部分の断面曲線から基
準長さだけ抜き取って，各々の部分のＲｍａｘ又はＲｚを求めて平均とす
る。この方法でも，やはり測定値に任意性が残るが，これを避けるために
はＲａを採用し，かつ，上述のように多くの場所で測定した表面粗さの値
の平均を求めることが好ましい。」（甲７の１３頁３７行∼１４頁７行）
というものであり，あらかじめ決定された基準長さの下において，抜き取
り箇所を適切に選定するための方法について説明したものであって，控訴
人主張のような予備測定及び本測定を行う方法が記載されているものでは
ない。
控訴人は自らの主張を根拠付けるものとして，N 博士作成の書面（甲１
６の１）及び T 博士作成の書面（甲１７）を挙げる。しかし，N 博士作
成の書面（甲１６の１）が，「Ｒｚ測定に際し，基準長さが明記されてい
ない場合，基準長さはどの様に決めて測定すればよいでしょうか」という
質問に回答したものであり，回答の（注１）に「・大量に生産を続けてい
る工業製品のように予め，表面粗さが予想できる場合には，予め定めた基
準長さでＲｚを測定していました。・測定依頼品やサンプル試験品作成時
の測定の場合のように，事前に情報がなく，Ｒｚ値が予想できない場合に
は，アナログ電気式測定器で断面曲線を描き，この断面曲線からＲｚを推
定し，表５から基準長さを決め，Ｒｚを手計算する方法で求めていまし
た。」と記載されていること， T 博士作成の書面（甲１７）も，「以上が，
事前に被測定対象物のＲｚ値に関する情報がない場合の基準長さの決定方
法である。」と記載されていることから分かるように，これらの書面は，
いずれも事前に基準長さの指定が全くされていない状態において，事前に
情報なく与えられた測定対象物につき十点平均粗さを測定する方法につい
て説明したものであって，本件考案の構成要件Ｃ②におけるように，１９
８２年ＪＩＳ規格に基づくＲｚ値として上限値と下限値による範囲があら
かじめ指定されている場合における測定方法について論じたものではない
から，これらをもって控訴人主張に係る測定方法を根拠付けることはでき
ない。なお，前記のとおり，甲１９の１（特開昭５９−６１１９６号公
報），１９の２（特開昭６３−１５９１６号公報），１９の３（特開昭５
９−２８２３９号公報）及び１９の４（特開昭６２−２５９２２１号公
報）は，いずれも特許請求の範囲に１９８２年ＪＩＳ規格に基づく十点平
均粗さの区間表示による平均粗さの上限値及び下限値を規定していると解
されるものであるが，これらを見ても，控訴人主張に係るＲｚ値の測定方
法は一切記載も示唆もされていない（このうち，甲１９の１及び１９の２
には，いずれも基準長さを用いて１９８２年ＪＩＳ規格の定める測定を行
うべきことが明記されているが，それに先だって基準長さ決定のための予
備測定を行うことは記載されていない。）。
(ｳ)控訴人は，本件考案の作用効果は各明縞の平均間隔や山谷の密度と関連
するものであって，控訴人主張の測定方法はこれに基づくものであると主
張する。しかし，「平均粗さ（Ｒｚ）が０．５∼５０μｍ」という本件考
案の構成要件が，控訴人の主張するような各明縞の平均間隔や山谷の密度
に基づくものであることは，本件明細書には記載も示唆もされておらず，
出願経過において問題とされたような事情も認められない。控訴人の主張
は，採用できない。
３ 結論
以上によれば，控訴人の本訴請求は，その余の点について判断するまでもな
く理由がない。よって，控訴人の本訴請求を棄却した原判決は相当であるから，
本件控訴を棄却することとし，当審における訴訟費用の負担につき民事訴訟法
６７条１項，６１条を適用して，主文のとおり判決する。
知的財産高等裁判所第３部
裁判長裁判官 佐 藤 久 夫
裁判官 三 村 量 一
裁判官 古 閑 裕 二