株式会社トプコン
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第182位 236件
（
2019年：第166位 284件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第188位 155件
（2019年：第158位 175件）
（ランキング更新日：2024年12月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社トプコンの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-193919 | 光干渉測定装置および光干渉測定方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-193920 | 光干渉測定装置および光干渉測定方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-190527 | 米の成分測定装置、コンバイン、及び米の成分測定方法 | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-190578 | レーザ測量装置 | 2020年11月26日 | |
| 再表 2019-103154 | 測量装置、測量システム、測量方法および測量用プログラム | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-185099 | 眼科装置、その制御方法、眼科情報処理装置、その制御方法、プログラム、及び記録媒体 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-187033 | 測定システム、測定方法、及び測定プログラム | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-188369 | 測量機の通信管理システム | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-179171 | 再構成されたスペクトルを用いた２次元多層厚測定 | 2020年11月 5日 | |
| 特開 2020-179174 | 眼科装置 | 2020年11月 5日 | |
| 特開 2020-179175 | 眼科装置 | 2020年11月 5日 | |
| 特開 2020-179271 | 眼科装置 | 2020年11月 5日 | |
| 特開 2020-179272 | 眼科装置 | 2020年11月 5日 | |
| 特開 2020-180841 | 測位装置、測位方法およびプログラム | 2020年11月 5日 | |
| 特開 2020-180842 | 赤外線写真画像の処理方法、赤外線写真画像の処理装置、および赤外線写真画像の処理用プログラム | 2020年11月 5日 |
242 件中 16-30 件を表示
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2020-193919 2020-193920 2020-190527 2020-190578 2019-103154 2020-185099 2020-187033 2020-188369 2020-179171 2020-179174 2020-179175 2020-179271 2020-179272 2020-180841 2020-180842
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