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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第844位 33件
(
2015年:第519位 61件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第686位 36件
(
2015年:第869位 24件)
(ランキング更新日:2026年10月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5982711 | 半導体受光装置 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5979530 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5973745 | 光トランシーバ | 2016年 8月23日 | |
| 特許 5970736 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 8月17日 | |
| 特許 5967518 | 信号伝送路 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5952998 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5948695 | 光モジュール、光モジュール生産物 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5948693 | パッケージ | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5927666 | 半導体スイッチ素子の試験方法 | 2016年 6月 1日 | |
| 特許 5913442 | ドハティ増幅器 | 2016年 4月27日 | |
| 特許 5910963 | カプラおよび半導体装置 | 2016年 4月27日 | |
| 特許 5909838 | 光モジュール | 2016年 4月27日 | |
| 特許 5907454 | 半導体装置およびデバイスパッケージ部材 | 2016年 4月26日 | |
| 特許 5897379 | 半導体面の加工方法 | 2016年 3月30日 | |
| 特許 5895322 | 光機器温度特性測定方法 | 2016年 3月30日 |
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5982711 5979530 5973745 5970736 5967518 5952998 5948695 5948693 5927666 5913442 5910963 5909838 5907454 5897379 5895322
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