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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第256位 160件
(2015年:第615位 52件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第230位 147件
(2015年:第485位 51件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2016-139186 | 論理シミュレーション方法、論理シミュレーション装置及びプログラム | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139203 | 設計情報作成方法、設計情報作成装置及びプログラム | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139341 | 設計支援装置、および設計支援方法 | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139394 | プロセッサ及びプロセッサシステム | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139448 | 半導体装置における信号レベルの調整方法及び半導体装置 | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139854 | 電子回路、電源回路、回路の特性測定方法、及び振幅及び位相特性の演算プログラム | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139921 | 出力回路及び集積回路 | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-139939 | 出力回路及び半導体装置 | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-136660 | 集積回路および集積回路による画像処理方法 | 2016年 7月28日 | |
特開 2016-133348 | 半導体素子試験用コンタクタ | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-134080 | 設計方法、設計装置及びプログラム | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-130919 | 半導体装置の設計方法及び半導体装置の製造方法 | 2016年 7月21日 | |
特開 2016-131291 | 受信回路、送受信回路および集積回路 | 2016年 7月21日 | |
特開 2016-128757 | 半導体素子検査用接触治具 | 2016年 7月14日 | |
特開 2016-126727 | 設計支援装置、および設計支援方法 | 2016年 7月11日 |
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2016-139186 2016-139203 2016-139341 2016-139394 2016-139448 2016-139854 2016-139921 2016-139939 2016-136660 2016-133348 2016-134080 2016-130919 2016-131291 2016-128757 2016-126727
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6月17日(火) -
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6月18日(水) -
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6月19日(木) -
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6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
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6月16日(月) - 東京 大田
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6月24日(火) -
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6月25日(水) -
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6月25日(水) -
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6月26日(木) -
6月26日(木) -
6月27日(金) -
6月27日(金) - 大阪 大阪市
6月27日(金) -
6月27日(金) -
6月27日(金) -
6月23日(月) -
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