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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2011-527507 | プラズマ処理チャンバで用いるための真空ギャップを備えたプラズマ対向プローブ装置 | 2011年10月27日 | |
特表 2011-527508 | プラズマ処理チャンバ内のプラズマ不安定性を検出するための受動型容量結合静電(CCE)プローブ構成 | 2011年10月27日 | |
特表 2011-527506 | プラズマ処理チャンバ内のその場(in−situ)アーク放電事象を検出するための受動型容量結合静電(CCE)プローブ構成 | 2011年10月27日 | |
特表 2011-527520 | クランプ式シャワーヘッド電極組立体 | 2011年10月27日 | |
特表 2011-527123 | 低粘性流体を用いた粒子除去のための単一基板処理ヘッド | 2011年10月20日 | |
特開 2011-211225 | デュアルドープゲートの用途におけるプロフィル制御とN/Pローディングを改善する方法 | 2011年10月20日 | |
特表 2011-527080 | 多要素電極を再生するプロセス | 2011年10月20日 | |
特表 2011-526415 | プラズマを自動的に特性化するための方法、及び、その方法の少なくとも1つを実行するコンピュータ可読コードを格納するプログラム格納媒体 | 2011年10月 6日 | |
特表 2011-526405 | 無線周波数(RF)複合波形のマッチング回路 | 2011年10月 6日 | |
特表 2011-525040 | 静電チャックエッジビード材料の浸食を監視するための電気的及び光学的なシステム及び方法 | 2011年 9月 8日 | |
特表 2011-524948 | 処理チャンバ内へのガス供給のタイムスケールを制御するための方法 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-175977 | 均一なプロセス速度を生成するためのプラズマ処理装置及び結合窓構成 | 2011年 9月 8日 | |
特表 2011-523774 | 微量気体濃度の監視によるウエハプラズマ処理中のアーキング現象の検出 | 2011年 8月18日 | |
特表 2011-523229 | プラズマ処理装置のためのシャワーヘッド電極アセンブリ | 2011年 8月 4日 | |
特表 2011-522420 | 集束イオンビームデバイスおよび走査型電子顕微鏡を用いた半導体構造の三次元画像作成方法 | 2011年 7月28日 |
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2011-527507 2011-527508 2011-527506 2011-527520 2011-527123 2011-211225 2011-527080 2011-526415 2011-526405 2011-525040 2011-524948 2011-175977 2011-523774 2011-523229 2011-522420
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10月21日(月) -
日常実務の疑問点に答える著作権 (周辺領域の商標・不正競争防止法を含む)に関するQ&A ~日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Q&A形式で平易に解説~
10月22日(火) - 東京 港
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10月23日(水) -
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10月24日(木) -
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10月24日(木) - 東京 港
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