株式会社村田製作所
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第51位 803件
（
2012年：第45位 861件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第53位 695件
（
2012年：第62位 587件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社村田製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5251824 | セラミック焼結体の焼結密度の管理方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5251924 | 無線ＩＣデバイス | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5252237 | 巻線システム | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5252007 | 電子部品の製造方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5251603 | 信号伝達用通信体及びカプラ | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5251589 | セラミックコンデンサの製造方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5251506 | 抵抗記憶素子 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5251953 | スイッチ回路、半導体装置及び携帯無線機 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5253351 | 積層セラミック電子部品およびその製造方法、積層セラミック電子部品用の扁平状導電性微粉末ならびに積層セラミック電子部品用の扁平状導電性微粉末分散液 | 2013年 7月31日 | 共同出願 |
| 特許 5246892 | 赤外光線用透過光学部材とその製造方法、光学デバイス、及び光学装置 | 2013年 7月24日 | 共同出願 |
| 特許 5247095 | レーザ加工におけるレーザ照射位置の補正方法 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5246185 | 誘電体セラミック、及び積層セラミックコンデンサ | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5246172 | 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5246347 | 積層型セラミック電子部品 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5246338 | ＥＳＤ保護デバイスおよびその製造方法 | 2013年 7月24日 |
695 件中 361-375 件を表示
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5251824 5251924 5252237 5252007 5251603 5251589 5251506 5251953 5253351 5246892 5247095 5246185 5246172 5246347 5246338
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