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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第68位 573件 (2010年:第65位 641件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第102位 331件 (2010年:第161位 202件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-234171 | Modbus制御システム | 2011年11月17日 | |
特開 2011-232076 | 半導体試験装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-234007 | 時刻管理システムおよび時刻管理方法 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-232075 | 電池特性評価装置および電池特性評価方法 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-227795 | データ収集装置 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-228131 | 電池触媒の活性表面積算出方法 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-226980 | 光スペクトラムアナライザ | 2011年11月10日 | |
特開 2011-229041 | フィールド通信システムおよびフィールド通信方法 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-226945 | 熱伝導式水素ガスセンサ | 2011年11月10日 | |
特開 2011-226981 | 半導体試験システム | 2011年11月10日 | |
特開 2011-226840 | 磁気特性測定方法および磁気特性測定装置 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-226883 | 電圧発生回路 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-226801 | 赤外線分析装置 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-221592 | バス変換回路 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-222818 | 半導体デバイスの冷却構造 | 2011年11月 4日 |
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2011-234171 2011-232076 2011-234007 2011-232075 2011-227795 2011-228131 2011-226980 2011-229041 2011-226945 2011-226981 2011-226840 2011-226883 2011-226801 2011-221592 2011-222818
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1月31日(金) -
1月31日(金) -
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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