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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
(2011年:第68位 573件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
(2011年:第102位 331件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4967690 | 接触検査装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967652 | 電流電圧増幅回路および半導体試験装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4968575 | 共焦点顕微鏡 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4968358 | 多点切換え型測定装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967639 | 赤外線厚さ・配向計及び赤外線厚さ・配向測定方法 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967638 | シート状物体の厚さ測定装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967433 | スイッチ故障検出回路 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4968579 | フィールド機器 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967735 | 接続監視装置並びにこれを用いたネットワーク機器及びネットワーク試験装置。 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967387 | ギャップフィラー装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4968211 | 回路基板収納装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4968586 | ネットワーク制御システム、ネットワーク制御システムのコントローラ、ネットワーク制御システムのネットワーク制御およびネットワーク制御システムの制御対象プラント | 2012年 7月 4日 | |
特許 4967939 | デジタル指示調節計 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4968587 | オブジェクト移動装置 | 2012年 7月 4日 | |
特許 4962786 | 半導体試験装置 | 2012年 6月27日 |
494 件中 226-240 件を表示
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4967690 4967652 4968575 4968358 4967639 4967638 4967433 4968579 4967735 4967387 4968211 4968586 4967939 4968587 4962786
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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