横河電機株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
（
2011年：第68位 573件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
（
2011年：第102位 331件）
（ランキング更新日：2025年2月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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横河電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4962760 | 移送システム | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962804 | コリオリ流量計 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962795 | 半導体試験装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962794 | コネクタ装置および半導体試験システム | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962790 | ＬＳＩテスタ | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962786 | 半導体試験装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962774 | ＩＣテスタ及びＩＣテスタの制御方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962763 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962511 | 創薬スクリーニング装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962112 | 検査装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961924 | ＩＣテスタ及び試験方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961889 | パラメータ設定装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962769 | ３次元顕微鏡システム | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962444 | 半導体メモリ検査装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962277 | 半導体メモリ試験装置 | 2012年 6月27日 |
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4962760 4962804 4962795 4962794 4962790 4962786 4962774 4962763 4962511 4962112 4961924 4961889 4962769 4962444 4962277
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