横河電機株式会社
※ ログインすれば出願人(横河電機株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
（
2011年：第68位 573件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
（
2011年：第102位 331件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
横河電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4962760 | 移送システム | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962804 | コリオリ流量計 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962795 | 半導体試験装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962794 | コネクタ装置および半導体試験システム | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962790 | ＬＳＩテスタ | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962786 | 半導体試験装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962774 | ＩＣテスタ及びＩＣテスタの制御方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962763 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962511 | 創薬スクリーニング装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962112 | 検査装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961924 | ＩＣテスタ及び試験方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4961889 | パラメータ設定装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962769 | ３次元顕微鏡システム | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962444 | 半導体メモリ検査装置 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4962277 | 半導体メモリ試験装置 | 2012年 6月27日 |
494 件中 241-255 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4962760 4962804 4962795 4962794 4962790 4962786 4962774 4962763 4962511 4962112 4961924 4961889 4962769 4962444 4962277
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。横河電機株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月27日(木) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
