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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
(2011年:第68位 573件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
(2011年:第102位 331件)
(ランキング更新日:2025年5月29日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4883362 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2012年 2月22日 | |
特許 4883347 | XY波形表示装置 | 2012年 2月22日 | |
特許 4882425 | 差圧測定装置 | 2012年 2月22日 | |
特許 4882393 | ビット誤り率測定器 | 2012年 2月22日 | |
特許 4877602 | 渦流量計 | 2012年 2月15日 | |
特許 4877572 | サンプラー | 2012年 2月15日 | |
特許 4877315 | ステージの昇降装置 | 2012年 2月15日 | |
特許 4876860 | ICテストシステム | 2012年 2月15日 | |
特許 4876815 | 信号波形表示装置、方法及びプログラム | 2012年 2月15日 | |
特許 4876735 | 光パルス試験器 | 2012年 2月15日 | |
特許 4876673 | ジルコニア式酸素濃度計 | 2012年 2月15日 | |
特許 4876489 | 断線検出装置 | 2012年 2月15日 | |
特許 4877588 | 合焦補正方法 | 2012年 2月15日 | |
特許 4877583 | 入力装置を用いた入力方法 | 2012年 2月15日 | |
特許 4876671 | 燃料電池の特性測定装置及び方法 | 2012年 2月15日 |
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4883362 4883347 4882425 4882393 4877602 4877572 4877315 4876860 4876815 4876735 4876673 4876489 4877588 4877583 4876671
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