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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第104位 438件
(2011年:第68位 573件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第77位 494件
(2011年:第102位 331件)
(ランキング更新日:2025年5月29日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4858055 | 光パルス発生器及び光パルス試験器 | 2012年 1月18日 | |
特許 4858827 | 調芯方法 | 2012年 1月18日 | |
特許 4858255 | シミュレーションにより異常診断支援を行うフィールド機器 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857807 | 制御装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4858823 | 差分データ管理装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4858852 | ネットワーク試験システム | 2012年 1月18日 | |
特許 4853726 | 半導体テスタ用テストヘッド | 2012年 1月11日 | |
特許 4853395 | 半導体試験装置のインタフェース回路 | 2012年 1月11日 | |
特許 4853273 | 半導体テスタ | 2012年 1月11日 | |
特許 4853255 | ガス分析装置 | 2012年 1月11日 | |
特許 4853234 | 磁気式酸素計 | 2012年 1月11日 | |
特許 4853055 | 波形検査装置 | 2012年 1月11日 | |
特許 4853039 | ダイアフラムシール形圧力伝送器及びフィールド機器の接続構造 | 2012年 1月11日 | |
特許 4853727 | 電子機器の電源装置 | 2012年 1月11日 |
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4858055 4858827 4858255 4857807 4858823 4858852 4853726 4853395 4853273 4853255 4853234 4853055 4853039 4853727
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