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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第262位 161件 (2013年:第225位 210件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第205位 206件 (2013年:第151位 273件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-149266 | 分光測定装置及び分光測定方法 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-150412 | 画像取得装置及び撮像装置 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-149267 | 分光測定装置、及び分光測定方法 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-147946 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2014年 8月21日 | |
特開 2014-142316 | 光検出装置および光検出方法 | 2014年 8月 7日 | |
特開 2014-143443 | フォトダイオードアレイ | 2014年 8月 7日 | |
特開 2014-138956 | レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法 | 2014年 7月31日 | |
再表 2012-147744 | 紫外光発生用ターゲット、電子線励起紫外光源、及び紫外光発生用ターゲットの製造方法 | 2014年 7月28日 | |
特開 2014-137338 | 断面画像計測装置及び計測方法 | 2014年 7月28日 | |
再表 2012-147804 | 撮像装置 | 2014年 7月28日 | |
特開 2014-133928 | 電子部品 | 2014年 7月24日 | |
特開 2014-135420 | レーザ装置 | 2014年 7月24日 | |
特開 2014-135421 | 固体レーザデバイス及びその製造方法 | 2014年 7月24日 | |
再表 2012-132645 | テラヘルツ波分光計測装置及びプリズム部材 | 2014年 7月24日 | |
再表 2012-132647 | テラヘルツ波分光計測装置 | 2014年 7月24日 |
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2014-149266 2014-150412 2014-149267 2014-147946 2014-142316 2014-143443 2014-138956 2012-147744 2014-137338 2012-147804 2014-133928 2014-135420 2014-135421 2012-132645 2012-132647
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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