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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第251位 186件 (2012年:第261位 163件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第252位 155件 (2012年:第348位 106件)
(ランキング更新日:2025年2月3日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-174626 | コンタクトプローブ | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-171007 | 光パワーメータ | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-170862 | 電池選別装置および電池選別方法 | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-170981 | 回路基板検査装置 | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-167571 | 赤外線センサおよび赤外線センサの製造方法 | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-164798 | 測定結果記録装置および測定結果記録方法 | 2013年 8月22日 | |
特開 2013-164326 | 測定装置 | 2013年 8月22日 | |
特開 2013-164308 | 移動経路作成装置、検査装置および移動経路作成方法 | 2013年 8月22日 | |
特開 2013-165360 | 正弦波形データ生成装置、回路素子定数測定装置および正弦波形データ生成方法 | 2013年 8月22日 | |
特開 2013-161553 | 導電性シートおよび基板検査装置 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-160577 | 電気化学センサおよび電気化学測定装置 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-161869 | 実装状態判別装置および実装状態判別方法 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-162198 | 信号測定装置 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-161849 | 実装状態判別装置および実装状態判別方法 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-156019 | 抵抗測定装置 | 2013年 8月15日 |
186 件中 61-75 件を表示
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2013-174626 2013-171007 2013-170862 2013-170981 2013-167571 2013-164798 2013-164326 2013-164308 2013-165360 2013-161553 2013-160577 2013-161869 2013-162198 2013-161849 2013-156019
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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