※ ログインすれば出願人(日置電機株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第232位 190件
(2013年:第251位 186件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第251位 157件
(2013年:第252位 155件)
(ランキング更新日:2025年6月6日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-74628 | 測光装置 | 2014年 4月24日 | |
特開 2014-74604 | プローブ装置、基板検査装置およびプローブ矯正方法 | 2014年 4月24日 | |
特開 2014-71091 | プローブユニットおよび検査装置 | 2014年 4月21日 | |
特開 2014-71090 | 基板検査装置 | 2014年 4月21日 | |
特開 2014-71089 | 基板検査装置 | 2014年 4月21日 | |
特開 2014-66678 | プローブ装置、基板検査装置およびプローブ矯正方法 | 2014年 4月17日 | |
特開 2014-66627 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2014年 4月17日 | |
特開 2014-62800 | 交流電圧生成装置および電圧検出装置 | 2014年 4月10日 | |
特開 2014-64244 | 測定装置 | 2014年 4月10日 | |
特開 2014-59199 | 測定装置および測定結果表示方法 | 2014年 4月 3日 | |
特開 2014-54658 | 穿孔装置および穿孔方法 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-55879 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-55848 | 電圧測定機器における電圧入力抵抗部の周波数特性補正構造放熱構造 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-55818 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-57241 | 半導体スイッチ回路 | 2014年 3月27日 |
190 件中 121-135 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-74628 2014-74604 2014-71091 2014-71090 2014-71089 2014-66678 2014-66627 2014-62800 2014-64244 2014-59199 2014-54658 2014-55879 2014-55848 2014-55818 2014-57241
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日置電機株式会社の知財の動向チェックに便利です。
6月6日(金) -
6月6日(金) -
6月10日(火) -
6月10日(火) -
6月11日(水) -
6月11日(水) -
6月12日(木) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月10日(火) -
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都練馬区豊玉北6-11-3 長田ビル3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 鑑定 コンサルティング