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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第232位 190件
(2013年:第251位 186件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第251位 157件
(2013年:第252位 155件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2014-74628 | 測光装置 | 2014年 4月24日 | |
特開 2014-74604 | プローブ装置、基板検査装置およびプローブ矯正方法 | 2014年 4月24日 | |
特開 2014-71091 | プローブユニットおよび検査装置 | 2014年 4月21日 | |
特開 2014-71090 | 基板検査装置 | 2014年 4月21日 | |
特開 2014-71089 | 基板検査装置 | 2014年 4月21日 | |
特開 2014-66678 | プローブ装置、基板検査装置およびプローブ矯正方法 | 2014年 4月17日 | |
特開 2014-66627 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2014年 4月17日 | |
特開 2014-62800 | 交流電圧生成装置および電圧検出装置 | 2014年 4月10日 | |
特開 2014-64244 | 測定装置 | 2014年 4月10日 | |
特開 2014-59199 | 測定装置および測定結果表示方法 | 2014年 4月 3日 | |
特開 2014-54658 | 穿孔装置および穿孔方法 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-55879 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-55848 | 電圧測定機器における電圧入力抵抗部の周波数特性補正構造放熱構造 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-55818 | 基板検査装置および基板検査方法 | 2014年 3月27日 | |
特開 2014-57241 | 半導体スイッチ回路 | 2014年 3月27日 |
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2014-74628 2014-74604 2014-71091 2014-71090 2014-71089 2014-66678 2014-66627 2014-62800 2014-64244 2014-59199 2014-54658 2014-55879 2014-55848 2014-55818 2014-57241
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